Почернение фона оптимальное

Для аналитических задач второго типа E = кЕф) 5ф, опт = = 0,4—0,6, также несколько колеблясь для разных фотопластинок. Поскольку в этом случае максимум отношения сигнал/шум гораздо шире, чем в первом, то практически допустимы довольно значительные колебания в величине 5ф (для некоторых пластинок в пределах 0,3—0,7 —см., например, рис. 12). Учитывая, что в рассматриваемом случае экспозицию и время экспозиции можно в принципе изменять в широких пределах (так как аналитическая линия все время присутствует), здесь с успехом можно применять фотоэмульсии разной светочувствительности, но характеризующиеся наибольшей контрастностью у и наименьшей зернистостью в области оптимального почернения фона. К таким [c.51]

Оптимальное почернение фона на спектрограммах не всегда можно обеспечить выбором подходящего фотоматериала. Тогда приходится изменять экспозицию. Так, слишком большая экспозиция может быть уменьшена применением неселективного ( серого ) светофильтра — ослабителя, устанавливаемого перед щелью спектрографа, или, если это позволяет длительность экспозиций, фотографированием спектра на движущуюся фотопластинку либо дроблением экспозиции на несколько равных частей (т. е. получением нескольких спектрограмм от одной экспозиции). Использование метода дробного экспонирования дает также дополнительный выигрыш в отношении сигнал/шум за счет усреднения результатов измерений по нескольким спектрограммам [7]. [c.53]

Часто возникают ситуации противоположного характера, когда экспозиция недостаточна для получения оптимального почернения фона на спектрограммах даже при использовании чувствительных фотоматериалов. В этих случаях необходимые почернения фона можно получить, используя некоторые специальные приемы регистрации. К их числу относится, например, предварительная засветка фотопластинки сплошным спектром постоянной интенсивности, позволяющая обнаружить слабые аналитические линии, которые в отсутствие фона на спектрограммах совсем не регистрируются. Таким образом удается существенно снизить предел обнаружения, иногда более чем на порядок величины [1166, 1334]. Так, в работе [1047] дополнительная засветка фотопластинки, повысившая почернение фона от 0,03 до 0,6 ед., привела к снижению предела обнаружения примесей в КОН от до ЫО" г для олова и от 1 10 до 6-10 г для хрома. [c.53]

Другой распространенный способ получения достаточного почернения фона — фотографирование спектров нескольких одинаковых анализируемых проб на одно место фотопластинки. В этом случае достигается также дополнительное усреднение результатов анализа, но увеличивается расход пробы. Повысить почернение фона на спектрограмме до оптимального уровня можно с помощью более светосильных систем и способов освещения щели спектрографа (подробнее см. 3.3, гл. 13, а также [270, 144, 265]). [c.53]

Случай постоянства почернений фона при смене спектрального прибора. Для лучшего обнаружения слабых спектральных линий фон на спектрограммах должен находиться в сравнительно узкой области оптимальных значений почернения (в зависимости от рода аналитической задачи — в переходной области или в начале прямолинейного участка характеристической кривой фотоэмульсии см. 2.1.2). Если это требование хотя бы приблизительно выполняется при замене одного спектрального прибора другим (что обычно происходит на практике), то, вследствие слабой зависимости.а. от величина минимального обна- [c.71]

Глядя на выражение (34), можно подумать, что в рассматриваемом случае значение предела обнаружения не зависит от светосилы спектрального прибора. В действительности это не так. Прежде всего ясно, что при одинаковой разрешающей способности приборов наименьший абсолютный предел обнаружения элемента будет достигаться с помощью более светосильного спектрографа. Чем больше светосила, тем меньше экспозиция, а значит при прочих равных условиях и абсолютное количество пробы, необходимое для получения оптимального почернения фона и обнару- жения аналитической лпнии определяемого элемента на спектрограммах. [c.73]

Согласно основному условию рассматриваемого случая анализа — поддержанию постоянного почернения фона на спектрограммах, снижение предела обнаружения при переходе от спектрального прибора с меньшей разрешающей способностью к прибору с большей разрешающей способностью может быть обеспечено лишь в том случае, если светосила второго прибора будет, по крайней мере, не ниже светосилы первого прибора. Однако обычно приборы с большей дисперсией и разрешающей способностью характеризуются меньшей светосилой, и поэтому переход к таким приборам, при указанной выше полной неизменности всех остальных условий анализа, может привести не к улучшению, а даже к ухудшению как абсолютных, так и относительных пределов обнаружения элементов. (Конечно, если анализ на приборе с малой разрешающей силой и большой светосилой проводился так, что почернения фона на спектрограммах. были значительно выше оптимальных, то переход к прибору с большей разрешающей [c.73]

Все перечисленные приемы достижения оптимального почернения фона, за исключением увеличения навески анализируемого образца, способствуют снижению не только относительных, но и абсолютных пределов обнаружения примесей. [c.81]

ДОВ элементов примерно на порядок. Увеличение чувствительности обнаружения особенно существенно в видимой области спектра, поскольку оптимальное почернение фона (5 opt) в соответствии с со-отнощением S opt = у/5,4 зависит от наклона характеристической кривой эмульсии (y) [14]. [c.34]

Большое влияние на результат анализа оказывает температура испарения. При низкой температуре испарение длится долго, значительная часть пробы впитывается телом электрода. Проба частично просачивается на наружную поверхность электрода и покрывает ее в виде смолистого или лакового отложения. При использовании таких электродов для съемки спектра получают низкие чувствительность и точность. При повышении температуры испарение протекает интенсивнее, незначительное количество пробы впитывается электродом и просачивается на наружную поверхность электрода. В результате этого повышаются чувствительность и точность анализа. При дальнейшем повышении температуры испарение протекает слишком бурно, часть примесей теряется вследствие их испарения и разбрызгивания пробы. Результаты анализа ухудшаются. Таким образом, оптимальная температура испарения зависит от летучести основы. В табл. 1 приведены значения разности почернений аналитических линий и фона и коэффициентов вариации в зависимости от температуры испарения основы машинного масла СУ, содержащего по 12 мкг/г железа, алюминия, меди и свинца, по 3 мкг/г олова, хрома и никеля в виде стеаратов и пальмитатов. Из данных, приведенных в табл. 1, видно, что для определения примесей металлов в масле СУ оптимальная температура испарения основы составляет 400 °С. При этом достигается для большинства элементов наибольшая интенсивность сигнала при минимальной погрешности анализа. [c.14]

Таким образом, одной из первоочередных задач аналитика при разработке методики является выбор оптимальной скорости вращения электрода. Эта скорость зависит от вязкости пробы и летучести ее основы, режима горения дуги, размеров электрода и. т. д. На рис. 11 приведены зависимости почернения аналитических линий и фона от скорости вращения электрода. В конкретных условиях использования данной методики скорость вращения диска, равная [c.33]

В табл. 10 показана зависимость почернения линий от силы тока при испарении пробы из канала угольного электрода диаметром 2 мм и глубиной 5 м,м. Почернение большинства линий усиливается с повышением тока вплоть до 16 а. Исключение составляют наиболее чувствительные линии хрома 4254,33 А и никеля 3414,76 А, расположенные в области интенсивного фона. При токе 8—10 а наступает максимум почернений этих линий, причиной которого служит резкое возрастание интенсивности фона (рис. 32). Линия никеля 3050,82 А, расположенная в области слабого фона, усиливается без максимума до величины тока 16 а. По-видимому, при дальнейшем увеличении силы тока дуги для других линий наступает максимум почернений. Разумеется, с другими размерами электродов оптимальное значение тока иное. [c.58]

Когда пробы испаряют при оптимальной температуре, влияние основы практически полностью устраняется. В табл. 42 приведены результаты определения разности почернений аналитических линий и фона для масел АУ, СУ и МС-20, содержащих одинаковое количество примесей (железа, алюминия, меди и свинца 0,0012%, олова, хрома и никеля 0,0003%). [c.169]

ПЯТИ различных температурах (с интервалом 25—30 °С). Одновременно готовят по 15 электродов. В стандартных условиях фотографируют все спектры на одной пластинке. По полученным данным подсчитывают для каждой температуры средние разности почернений линий и фона и коэффициенты вариации разности почернений. При выборе оптимальной температуры учитывают особенности решаемой задачи. [c.173]

Из приведенных теоретических и экспериментальных данных о зависимости отношения сигнал/шум от экспозиции можно сделать следующие практические выводы относительно выбора фотоматериалов и условий регистрации с целью наилучшего обнаружения слабых спектральных линий при наличии интенсивного излучения сплошного фона. Условия регистрации должны быть такими, чтобы при оптимальных параметрах и условиях работы источника света и спектральной аппаратуры было обеспечено получение оптимального почернения сплошного фона 5ф. опт на спектрограммах (в соответствующей области спектра), при котором отношение сигнал/шум максимально. [c.50]

В микроанализе при малом количестве пробы в ущерб пределу обнаружения можно использовать более чувствительные, мягкие фотоэмульсии. Уменьшения величины порога эмульсии можно добиться путем ее дополнительной подсветки. При этом поднимается уровень фона контрастной эмульсии до оптимального почернения [6, 14]. Этим способом можно уменьшить предел обнаружения сле- [c.33]

С внутренней полостью глубиной 9 мм и диаметром 4 Л1М. Стаканчик зажимали между графитовыми электродами испарителя и нагревали током 300—400 а. Нагрев производили в воздухе ири атмосферном давлении. Возгоняющийся из образца бор улавливали на отшлифованный торец цилиндрического графитового капсюля диаметром 6 мм, охлаждаемого водой. В дальнейшем пару капсюлей с осевшим на них конденсатом использовали в качестве электродов искры. Зависимость разности почернений линии В 2497, 73А и фона на спектрограмме от температуры нагрева стаканчика показана на рис. 7. Как видно, оптимальные условия создаются при температуре, близкой к 1700°. При этой температуре бор практически полностью возгоняется из навески в 50 мг за 1,5 мин. Контроль за температурой стаканчика осуществляли при помощи пирометра. [c.148]

Поскольку спектрографы большой дисперсии, как правило, характеризуются меньшей светосилой по сравнению с приборами средней дисперсии, то переход к этим приборам может привести к уменьшению ожидаемого снижения пределов обнаружения (см. 3.1). Это связано с тем, что при фотографировании спектра на приборе большой дисперсии при неизменности всех остальных условий анализа почернение фона станет ниже оптимального. Однако и в этой ситуации в ряде случаев, как уже указывалось, сни-ясение относительных пределов обнаружения может быть достигнуто путем соответствующего увеличения времени экспозиции и расходуемой навески образца. Можно также рекомендовать с целью уменьшения потерь света использовать для освещения щели спектрографа однолинзовый конденсор, проектирующий изображение источника на щель спектрографа. Это позволяет в несколько раз увеличить освещенность на фотопластинке и соответственно повысить почернение фона. Дополнительный выигрыш, по-види-мому, может быть получен и при использовании сферического зеркала, в фокусе которого располагается источник света [240, 144, 1313] (см. 13.5). Рекомендованные в работе [265] безлинзовое освещение при очень близком расположении источника от щели прибора или помещение цилиндрической линзы перед фотоэмульсией, вероятно, не всегда являются рациональными. В этих случаях по- [c.80]

Согласно интерференционной картине, за фазовой пластинкой (фиг. 23, б) теоретически при соответствующей экспозиции можно получить интерференционный минимум любой четкости. Почернение фотопленки приблизительно пропорционально логарифму энергии экспозиции, равной произведению освещенности на время экспозиции. Влияние постепенного увеличения экспозиции можно проследить по фиг. 23, б. Для единичной амплитуды световая энергия точно равна порогу чувствительности нри определенном времени экспозиции. В этом случае на фотографии получаются симметричные максимумы (амплитуды больше 1) и минимумы, причем па линии раздела волнового фронта образуется широкий минимум. При десятикратном увеличении экспозиции порогу чувствительности будет соответствовать амплитуда, равная 0,1. В этом случае измерительным лучам соответствует очень узкая незасве-ченная полоса на засвеченном фоне. Дальнейшее снижение этого минимума огранпчеио размером зерна фотопленки и особенно рассеянным светом, энергия которого при некотором значении экспозиции достигает порога чувствительности пленки, после чего минимум засвечивается. По данным Вольтера, оптимальное время экспозиции составляет половину времени, при котором энергия рассеянного света достигает порога чувствительности. Однако в экспериментах по исследованию шлиры такие большие экспозиции нежелательны по другим причинам. [c.58]

Очень важно правильно выбрать экспозицию. С увеличением ее длительности повышается интенсивность аналитической линии вначале быстро, затем все медленнее, а интенсивность фона продолжает расти по-прежнему. Поэтому разность почернений аналитической линии и фона после максимального значения снижается. Время наступления максимального сигнала очень сильно различается для разных элементов в зависимости от многих факторов. Наибольшее влияние на длительность оптимальной экспозиции оказывают физико-химические свойства пробы (в первую очередь ее летучесть), применяемый буфер, форма и размеры электродов, сила тока, а при дуге постоянного тока — полярность электродов, чувствительность и характер аналитических линий, интенсивность фона, свойства фотоэмульсии. Но при испарепии сложной пробы в конкретных условиях оптимальная экспозиция для разных элементов зависит главным образом от их летучести. [c.121]

В настоящей работе был исно.льзован метод фракционной дистилляции в дуге постоянного тока, позволивший избежать влияния спектра циркония. Для повышения чувствительности определений и стабильности дугового разряда применяли носитель — окись галлия GajOg [5]. Оптимальная добавка окиси галлия к эталонам и анализируемым образцам оказалась равной 2 вес. %. Влияние окиси галлия на интенсивность линий примесей иллюстрируется па примере железа (рис. 1). На этом рисунке, как и на всех последующих, AS означает разность почернений спектральной линии и фона. [c.142]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология