Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Вакуумные шлюзы

    Каратаев [276] описал быстродействующий вакуумный шлюз. Эберт [157] использовал ионно-геттерный насос. Сери и Верно [447] сконструировали устройство для поддержания постоянного питания ловушек с жидким азотом. [c.654]

Рис. 6-143. Вакуумный шлюз, содержащий тарельчатый затвор с сильфонным уплотнением. Рис. 6-143. Вакуумный шлюз, содержащий тарельчатый затвор с сильфонным уплотнением.

    Более широкое распространение получили системы прямого ввода образцов с помощью штоков через вакуумный шлюз. Твердый или жидкий образец [c.278]

    Одна из систем предназначена для непосредственного ввода твердых об разцов в ионныи источник и представляет собой длинныи зонд на конце ко торого расположен небольшой тигель для образца Тигель в большинстве промышленных приборов может охлаждаться или нагреваться от —20 до 400 С Зонд вводится в нонныи источник через специальный вакуумный шлюз так что тигель с образцом располагается непосредственно в облает высокого ва куума вблизи зоны ионизации [c.10]

    При непосредственном введении образца в ионизационную камеру отключать трубку, подводящую образец при помощи крана, невозможно. Для введения образца можно лишь использовать некоторую модификацию вакуумного шлюза. Стивенс [ 1933] предложил широко применяемое устройство, особенно распространенное при методе поверхностной ионизации (рис. 78). Оно состоит из трех цилиндрических брусков, два из которых выполняют роль переносчика образца. Эти бруски разделены третьим, холостым бруском. На [c.174]

Рис. 6-142. Вакуумный шлюз с вращаемой пробкой (переносимый предмет перемещается в тангенциальном направлении по отношению к пробке). Рис. 6-142. Вакуумный шлюз с вращаемой пробкой (переносимый предмет перемещается в тангенциальном направлении по отношению к пробке).
    В ряде случаев необходимо переносить внутрь вакуумных систем твердые тела, например различные образцы, фотопластинки, катоды или же смотровые окна. Иногда бывает необходимо извлекать эти предметы из вакуумной камеры наружу без нарушения при этом вакуума. Такой перенос осуществляется обычно с помощью вакуумных шлюзов. Если необходимо перенести материал из вакуума в вакуум, то такой перенос производится в откачанных ампулах. Калий и натрий (металлы, которые не могут подвергаться экспонированию на воздухе) могут быть внесены внутрь откачанных стеклянных сосудов с помощью электролитического переноса через стенки этих сосудов. [c.415]

    Вакуумный шлюз представляет собой камеру, присоединенную к вакуумной системе эта камера может открываться либо на атмосферный воздух, либо в сторону вакуумной системы. Процесс переноса какого-либо предмета внутрь вакуумной камеры с помощью вакуумного шлюза должен проводиться в следующей последовательности 1) затвор шлюза открывается на атмосферу (при этом он перекрыт по отношению к вакуумной камере) и переносимый объект вносится внутрь шлюза 2) шлюз перекрывается со стороны атмосферного воздуха и заключенное внутри него пространство откачивается с помощью отдельной линии откачки шлюза 3) шлюз открывается со стороны вакуумной камеры и пе- [c.415]


    На рис. 6-139,6 показан вакуумный шлюз, содержащий стержень, разделенный на три секции. Две крайние секции 1 предназначены для переноса, а средняя секция 2 представляет собой гладкий стержень. Переносимые образцы располагаются в углублениях, предусмотренных в концевых се1 циях, после чего стержень вдвигается внутрь вакуумной камеры через канал 3. Три линии откачки (Рь 1 Рз) присоединены к обеим сторонам канала и обеспечивают перепад давлений (охранный вакуум) от атмосферного давления до вакуума, достигаемого в камере 4. Зазор между стержнем 2 и стенкой канала 3 составляет 0,05—0,1 мм. На обоих концах стержня преду- [c.416]

    Вакуумные шлюзы, в которых используются поворотные пробки. В устройствах этого типа перемещаемый предмет вставляется во вращающуюся пробку с одной ее стороны и после поворота пробки оказывается возможным перенос этого предмета в сторону, противоположную участку внесения переносимого предмета внутрь шлюза. Направление перемещения предмета в процессе переноса при этом может быть радиальным, продольным (аксиальным) или тангенциальным в зависимости от конструкции пробки. [c.416]

    Вакуумные шлюзы, содержащие камеры с двойными затворами. Вакуумный шлюз этого типа содержит пространство, которое может, с одной стороны, присоединяться через затвор к вакуумной камере, а с другой стороны, через другой затвор с атмосферным воздухом. Кроме того, шлюз также соединен с линией откачки. [c.418]

    Вакуумный шлюз, используемый в электронной микроскопии и содержащий камеру с двумя затворами, показан на рис. 6-144. Исследуемый образец вносится внутрь камеры 1 между затворами Р1 и Рг и затем после открытия затвора Р1 переносится внутрь камеры 2. Вместо последовательного открывания и закрывания затворов можно использовать принцип перемещения самого шлюза. Устройство, в котором использован этот принцип, показано на рис. 6-145. В одном из устройств этого типа шлюз 1 (рис. 6-145,о) загружается подлежащим переносу объектом 7 через съемное уплотнение 2, после чего через патрубок 3 производится откачка. Затем шлюз перемещается по притертой поверхности 4, при этом его уплотнение достигается с помощью кольцевых прокладок 5 и 5. После того как [c.418]

Рис. 6-145. Вакуумный шлюз с подвижной камерой. Рис. 6-145. Вакуумный шлюз с подвижной камерой.
    Эффект памяти возникает в термоионном источнике из-за того, что часть исследуемого образца остается в источнике и проявляется при анализе следующего образца. Величина эффекта памяти для разных веществ различна и весьма заметна для летучих соединений, например галогени-дов. Для устранения эффекта памяти обычно приходится применять новый узел источника с нитями для каждого нового образца одного и того же элемента. Кроме того, мы обнаружили, что полезно до анализа образца прогреть новую нить при высокой температуре в ионном источнике и посмотреть, какие пики могут появиться от предыдущего анализа. В то же время это позволяет очистить нить от примесей, которые могут исказить анализ. Хотя эта операция требует дополнительного времени, она необходима. Достоинством прибора М8-5 является то, что он имеет очень эффективный вакуумный шлюз, который позволяет извлечь узел источника с нитями из вакуумной камеры или вставить его туда за одну минуту, [c.103]

    Для анализа молекулярного состава газов, жидкостей и твердых веществ с большой упругостью пара в СКБ аналитического приборостроения при участии Института химической физики АН СССР разработан и передан для серийного производства масс-спектрометр МХ-1303. Основное назначение прибора — анализ средних и тяжелых углеводородов. В приборе обеспечивается подогрев и стабилизация температуры источника ионов и системы напуска, автоматическое переключение чувствительности канала измерения ионного тока при записи масс-спектров и возможность работы источника ионов при малом ионизирующем напряжении (от 5 в) за счет применения низковольтной электронной пушки. Масс-спектрометр МХ-1303 оборудован вакуумным шлюзом 130 [c.130]

    Термо-эмиссионный масс-спектрометр, оборудованный вакуумным шлюзом для введения твердых образцов без излишней потери вакуума. [c.41]

    Максимальная температура, при которой может быть использована вольфрамовая лента, 2700°К. При этой температуре можно обнаружить вольфрам в ионном пучке интенсивность ионного тока достигает а [25]. Интенсивность этого пучка может быть использована для контроля температуры ленты. Источники с поверхностной ионизацией обладают еще тем преимуществом, что, имея малый разброс энергии ионов в пучке, могут быть использованы на обычном масс-спектрометре с простой фокусировкой. Большое преимущество этих источников состоит в отсутствии ионизации остаточ-. ных газов, находящихся в районе ионного источника. Это особенно существенно потому, что введение заряженных источников в вакуумную систему — сложная задача. Даже, несмотря на использование вакуумных шлюзов, давление в районе источника выше из-за выделения газов при прогреве лент. [c.116]


    Промышленный масс-спектрометр типа М8-5 был специально сконструирован с применением поверхностной ионизации. В этом приборе для введения образца имеется скользящий вакуумный шлюз [25] образец может быть введен менее чем за 1 минуту, причем в масс-анализаторе поддерживается давление не ниже 2.10 тор. Не представляет трудностей проводить анализ со скоростью одного образца в час. [c.119]

    За последнее десятилетие в литературе было описано большое число методов ввода образцов в масс-спектрометр [34], и в большинстве современных приборов предусмотрена возможность прямого ввода твердых или высококипящих образцов в ионный источник через вакуумный шлюз (затвор). Разъемное соединение хроматографа с масс-спектрометром выполняют иногда в виде металли- [c.215]

    Для разъемного соединения системы ГХ — сепаратор — МС удобно применять входной зонд. При этом газовый хроматограф вместе с сепаратором можно соединить с масс-спектрометром за несколько минут, так как для введения зонда в ионный источник необходимо только откачать вакуумный шлюз (рис. 5-18). Собственно хроматограф вместе со всем необходимым электрическим оборудованием, включая пламенно-ионизационный детектор, помещается в отдельном передвижном шкафу (рис. 5-17). В этом же шкафу можно смонтировать приборы, которые соединены с термопарами, расположенными во всех нагреваемых частях системы. [c.216]

    В работе [46] описан зонд из нержавеющей стали, причем размеры этого зонда таковы, что он подходит для устройства напуска образца спектрометра высокого разрешения типа СЕС-21-110 В. Один конец зонда через регулируемый вентиль соединяют с сепаратором, как показано в верхней левой части схемы на рис. 5-18. В верхней правой части рис. 5-18 показан зонд, введенный в ионный источник через вакуумный шлюз. Из сепаратора обогащенная смесь подается в ионный источник по металлическому капилляру, который проходит внутри зонда вдоль его оси. [c.216]

    На рис. 7-7 представлен разрез колонны электронного микроскопа третьей группы ЭМ-9, разработанного ГОИ. Оптика микроскопа состоит из длиннофокусной электронной пушки и двух электромагнитных линз. Микроскоп позволяет проводить визуальное наблюдение объекта в проходящих лучах, а также фотографировать изображение. Для получения качественных микрофотографий прибор снабжен трехкратной лупой и световым микроскопом (20><). Смена объектов производится с помощью вакуумного шлюза без нарушения вакуума в колонне микроскопа. Гарантированное разрешение прибора составляет 35 А, электронное увеличение изменяется в диапазоне 2500—7000><. Электронные микроскопы ЭМ-9 изготавливаются Красногорским механическим заводом. [c.224]

    В фотографической камере с([)ормированное электронно-микроскопическое изображение исследуемого объекта проецируется на (1) 1юо-ресцентный экран и ири необходимости фиксируется на фотон,"енке или фотопластинке. Изображение па экране можио шблюдать через специальные окна камеры. Кассеты с фотопластинками заменяют через вакуумный шлюз, не нарушая герметичности колонны мпкро-скоиа. [c.124]

    В масс-спектрометрии используют обычно три типа систем напуска пробы холодные или обогреваемые стеклянные резервуары с натекателями, различные штоки для ввода через вакуумный шлюз и системы, соединяющие масс-спектрометр с хроматографом в режиме on-line. [c.278]

    Тонкий слой элюата на транспортере проходит через область испарения растворителя, в которой интенсивное излучение, соз даваемое инфракрасными лампами, сфокусировано эллиптическим цилиндрическим зеркалом непосредственно на поверхности транспортера Остатки растворителя и анализируемое ве щество через два вакуумных шлюза поступают в вакуумную систему масс спектрометра Здесь имеется нагреваемая камера вблизи области ионизации, в которой образец подвергается мгновенному испарению На выходе из ионного источника предусмотрен нагреватель для удаления остатков вещества, которые могли бы дать ложные пики в масс спектрах при очеред- [c.41]

    Для превращения водной суспензии красителей в ледяную крошку и последующей передачи ее через вакуумный шлюз в сублиматор предназначен специальный питатель. Жидкий продукт подается на наружную поверхность медленно вращающегося пустотелого барабана льдогенератора, охлаждаемого изнутри рассолом. На поверхности барабана продукт замерзает, и чешуйки льда счищаются неподвижным стальным ножом, установленным вдоль образующей барабана. Далее продукт при помощи шнека высыпается в приемный бункер дегазатора. Последний служит для предварительного удаления воздуха из замороженного продукта. Наружные стенки дегазатора охлаждаются рассолом. Питатель имеет два попеременно работающих вакуумных дегазатора, благодаря чему обеспечивается непрерывная подача на ленту замороженного продукта. После загрузки определенной порции продукта дегазатор отключается и в нем создается вакуум. В дегазаторе происходит удаление воздуха из пор продукта и частичная сублимация. Далее продукт при помощи шнека ссыпается на ленту транспортера, где происходит его дальнейшая сушка. Если в сушилку необходимо подавать кусковые и сыпучие продукты, то отпадает необходимость в установке льдогенератора и продукт загружается не-посредственпо в дегазатор, где происходит удаление воздуха из продукта. [c.311]

    Максимальная температура, при которой может быть использована вольфрамовая нить, равна примерно 2700° К- При Ътой температуре можно обнаружить вольфрам в ионном пучке, и интенсивность его ионного тока достигает 10 а [1561]. Интенсивность этого пучка может быть испольгювана для контроля температуры нити и поддержания ее на максимально допустимом уровне. Источники с поверхностной ионизацией обладают преимуществами по сравнению с печными [1562] при решении большинства проблем, касающихся анализа твердых неорганических соединений. Основное их преимущество состоит в отсутствии ионизирующего электронного луча, который мог бы ионизировать остаточные газы и давать интенсивные фоновые линии в спектре. Это особенно существенно потому, что введение твердых образцов в вакуумную систему представляет собой сложную задачу, так как, несмотря на использование вакуумного шлюза, остаточное давление в камере обычно несколько выше, чем в источниках, работающих при комнатной температуре, вследствие начинающегося при включении обогрева выделения газов. Держатель нити конструктивно прост и дешев, и нить легко заменяется при переходе от одного образца к другому. Это исключает возможность загрязнения одного образца другим. Еще одно достоинство этого типа источника состоит в том, что для анализа требуется очень малое количество образца (типичная загрузка 10 мкг/мм при площади нити 5мм ). Возможно анализировать и меньшие количества для большинства веществ достаточно 1 мкг в отдельных случаях, как, например, при анализе рубидия, достаточно 10 г образца [911]. Серьезный недостаток метода состоит в возможности фракционирования изотопов при введении в источник легких элементов (гл. 3) этот недостаток можно преодолеть, если подвергать ионизации комбинации из нескольких атомов или применять источник с несколькими нитями (применять горячую нить). Изотопное фракционирование может быть вызвано также диффузией образца в нить. Это не наблюдается и вряд ли имеет большое значение, так как энергия активации гораздо больше для диффузии, чем для испарения. [c.126]

    Недостатки использования фотографических процессов на любой стадии регистрирующей системы приведены на стр. 72. Чувствительность пластинок к свету обусловливает необходимость их защиты от излучения, возникающего в источнике. Необходимость установления пластинки в высоком вакууме приводит к необходимости использовать вакуумный шлюз, что затрудняет установление хорошего вакуума. Сама пластинка, будучи помещена в вакууме, выде- [c.204]

    Вакуумные шлюзы, содержащие скользящие стержни. Пример вакуумного шлюза этого типа приведен на рис. 6-139,0. Стержень 1 может вдвигаться внутрь вакуумной камеры 2 через уплотнение 3 (см. разд. 5, 1-7). Стержень 1 несет на себе предмет, подлежащий переносу внутрь камеры. Для этого он снабжен углублеь[ием 4 (или несколькими углублениями) нужной формы. Это устройство похоже на конструкцию, показанную на рис- 6-138,в, но отличается от него тем, что содержит промежуточную камеру, которая может быть откачана. [c.416]

    На рис. 6-141 показан вакуумный шлюз, в котором переносимый предмет вносится в пробку в продольном (аксиальном) направлении, а извлекается из пее в радиальном направлении. Пробка 1 (рис. 6-141, а) имеет Т-образную полость. Средний участок этой полости присоединен к притертому коническому шли-фовому соединению 2. Оболочка ва. куумного шлюза имеет присоединительный трубопровод 4 к откачной системе, а также трубопровод 5, соединяющий шлюз с вакуумной камерой. При установке пробки в положение 1 (рис. 6-141,6) образец 3 вносится в систему через конический шлиф 2. После установки пробки в положение 2 пространство, содержащее образец, откачивается без нарушения вакуума в камере (присоединенной через трубопровод 5). При дальнейшем повороте пробки до положения 3 вакуумная камера и контейнер с образцом присоединяются к откачной системе. В этом положении образец переносится вначале в аксиальном направлении, а затем в радиальном через пробку внутрь вакуумной камеры 5. [c.417]

    На рис. 6-142 показан вакуумный шлюз, в котором объект переносится при зращении пробки. Переносимый объект (фотопластинка) помещается в положение 1 при вращении пробки он переносится вначале в положение откачки 2, а затем— в пространство вакуумной камеры 3. [c.418]

    Шлюзы этэго типа имеют обычно затворы шиберного типа (см. разд. 6, 1-3) могут использоваться также и тарельчатые (дисковые) затворы или перекрывающие устройства других конструкций. В вакуумном шлюзе (рис. 6-143) переносимый предмет вносится внутрь шлюза через затвор 1, после чего шлюз откачивается через присоединительную личию 2. Дисковый зат- [c.418]

Рис. 6-144. Вакуумный шлюз с двумя затворными устройствами. а — пepeнo мый предмет расположен в держателе б — предмет внесен в замкнутую камеру шлюза е — предмет переносится внутрь вакуумной камеры. Рис. 6-144. Вакуумный шлюз с двумя затворными устройствами. а — пepeнo мый предмет расположен в держателе б — предмет внесен в <a href="/info/336696">замкнутую камеру</a> шлюза е — предмет <a href="/info/328418">переносится внутрь</a> вакуумной камеры.
    А. Каратаев В. И., Быстродействующий вакуумный шлюз масс-спектрометра. Приб. и техп. экспер., № 4, 162 (1961). [c.682]

    В течение нескольких лет многие исследователи пользовались следующим простым методом анализа газохроматографически разделенных соединений. Вначале нужную фракцию улавливают в небольшом капилляре, температура которого ниже, чем температура на выходе из газохроматографической колонки. Затем либо извлекают эту фракцию из капилляра и напускают в масс-спект-рометр, либо сам этот капилляр частично вдвигают в ионный источник через вакуумный шлюз, который обычно используют для ввода твердых образцов [1, 18, 34, 77], Для эффективного улавливания газохроматографических фракций предлагалось также использовать короткий капилляр, наполненный газохроматографической насадкой [78]. Этот капилляр с уловленной фракцией также вводят в масс-спектрометр через систему прямого напуска для извлечения образца капилляр осторожно подогревают, но так, чтобы не допустить чрезмерного испарения из него неподвижной жидкой фазы. Для улавливания летучих соединений более эффективен небольшой капилляр, заполненный активированным кокосовым древесным углем (70—100 меш) [79]. Активированный уголь практически не дает фонового спектра, за исключением линий, соответствующих адсорбированному углем углекислому газу. [c.218]


Смотреть страницы где упоминается термин Вакуумные шлюзы: [c.662]    [c.279]    [c.37]    [c.90]    [c.127]    [c.127]    [c.175]    [c.38]    [c.415]    [c.415]    [c.419]    [c.464]    [c.591]    [c.597]    [c.602]    [c.119]   
Технология тонких пленок Часть 1 (1977) -- [ c.308 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Шлюзы,



© 2025 chem21.info Реклама на сайте