Масс-спектрометрия вторичных ионов масс-спектрометр с двойной

Локальный микроанализ с ионным зондом используют в случае природных объектов [41, 576, 857, 931]. Сконструирован простой малогабаритный микрозондовый анализатор, способный регистрировать присутствие миллионных долей элементов [931]. В качестве зонда используют сфокусированный пучок ионов аргона диаметром 0,25 мм, угол падения которого на мишень составляет 45°. Ток пучка на мишени равен 10 а, ускоряющее напряжение 5 кв. Для анализа масс вторичных ионов используется масс-спектрометр с двойной фокусировкой. Предел обнаружения хрома в железе 0,0001%. Метод применяют для изучения распределения никеля и хрома в железных метеоритах. [c.120]

С помощью двухступенчатой системы электростатических линз, аналогичной той, которая используется в ионном микрозонде. Вторичные ионы исследуемого образца отклоняются вспомогательным электродом на 45° и направляются в масс-спектрометр с двойной фокусировкой. [c.414]

Анализатор этого прибора сконструирован таким образом, чтобы обеспечить максимальную чувствительность, и характеризуется рядом особенностей. Масс-спектрометр с двойной фокусировкой не имеет входной щели, что позволяет увеличить степень пропускания ионов и сфокусировать изображение во вторичных ионах всей бомбардируемой поверхности образца непосредственно па выходной щели прибора, регулирующей разрешение по массам. В методе с применением ионного микрозонда это осуществимо только в том случае, когда бомбардируемая поверхность имеет предельно малые размеры. При этом не происходит отсев ионов, имеющих большой разброс по энергиям. [c.414]

Номером 3 обозначен вариант метода внешней ионизации, в котором необходимые первичные ионы выделяются из пучка в одном масс-анализаторе, затем направляются в камеру столкновений, а вторичные ионы, полученные в ней, подвергаются новому масс-спектральному анализу. Такие установки часто называются двойными масс-спектрометрами. [c.10]

В первых главах рассматриваются физика вакуумного разряда, а также основные принципы масс-спектрометрии с двойной фокусировкой и измерение ионных токов при помощи электрической или фотографической систем регистрации. Далее следуют главы, в которых обсуждаются проблемы количественной расшифровки масс-спектров и определение на основании полученных данных действительного состава образца. Подробно изложены специальные приемы анализа изоляторов, порошков, микрообразцов, биологических образцов, агрессивных, радиоактивных и легкоплавких веществ, а также определение газов в твердых телах. Последние главы посвящены использованию лазера в масс-спектрометрии для анализа твердых тел и исследованию поверхности главным образом методом вторичной ионной эмиссии. [c.8]

Кроме оперативности анализа, системы двойной масс-спектрометрии обеспечивают возможность проведения структурных исследований без выделения изучаемого соединения в физически индивидуальном виде. В этом случае масс-спектральный анализатор первой ступени служит для выделения молекулярного иона исследуемого соединения из ионного луча, образованного суммарным ионным током всех компонентов образца. Выделенный поток молекулярных ионов, поступает затем в специальную камеру, где они подвергаются разнообразным воздействиям, которые вызывают дальнейшую фрагментацию или превращения этих ионов. В этой камере могут происходить, бомбардировка молекулярных ионов электронами высоких энергий, соударения с нейтральными атомами, вторичная химическая ионизация или ион-молекулярные реакции со специальными газами-реагентами и т. п. Ионы любой полярности, образующиеся в этой камере, анализируются после формирования из них вторичного ионного луча масс-спектрометром второй ступени системы MG/M . Выбор типа анализатора определяется для каждой ступеиж в соответст- [c.7]

Одним из наиболее чувствительных методов исследования метастабильных ионов является метод Барбера — Эллиота [50], в котором обычные ионы дефокусируются электростатическим анализатором масс-спектрометра с двойной фокусировкой. Метод позволяет обнаружить все метастабильные переходы, ведущие к данному вторичному иону, и позволяет определить массу этого вторичного иона с высокой точностью. Однако определение массы исходного иона может быть ошибочным, а для установления кинетической энергии, высвобождаемой при образовании ионов, необходимо осуществить весьма сложные операции [51]. [c.33]

Электростатический анализатор (ЭСА) масс-спектрометра с двойной фокусировкой может служить энергетическим фильтром и фокусировать кинетическую энергию вторичных (дочерних) ионов, образовавшихся в первом бесполевом пространстве [c.35]

Круг задач, решаемых с помощью масс-спектрометрии вторичных ионов, заметно расширился после того, как источник для распыления твердых полярных образцов под действием ускоренных атомов был включен в систему масс-спектрометра с двойной фокусировкой [284, 285]. Масс-спектры большого числа соединений, полученные на приборах MS902 (фирма AEI) и ZAB (фирма VG), характеризовались интенсивными пиками псевдомолекулярных положительных (М+1)+ и отрицательных (М—1)- ионов. Осколочные ионы адекватно отражали структурные особенности молекулы, что подтверждалось наличием метастабильных ионов, наблюдаемых в первом и втором бесполевом пространстве анализатора. [c.220]

Для задержания вторичных электронов и рассеянных положительных ионов применяют экранирующие диафрагмы напрян е-нием 50 в. Некоторые масс-спектрометры нмеют две коллекторные системы. Положение щелей рассчх1тано так, что на два отдельных коллектора попадают ионные токи от близких по массе изотопов. Такой масс-снектрометр называется двулучевым и дает возможность одновременно измерять интенсивность двух линий изотопов, не очень спльно отличающихся по массе. Эти измерения позволяют исключить ряд ошибок, связанных с изменением общей интенсивности ионного тока во временп. Схема устройства двойного коллектора нрш едеиа на рис. 78. [c.219]

Методы определения кинетических констант в этой и всех других таблицах имеют следующие обозначения - метод внутренней ионизации электронным ударом при низком давлении газа - то же при повыиюнном Давлении 2 - метод внутренней ионизации Фотонным ударом 3. метод внешней ионизации с использованием двойных масс-спектрометров - метод внешней ионизации с разделением по массе только первичных ионов -метод внешней ионизации с разделением по массе только пучка вторичных ионов 2 - импульсный метод с внутренней ионизацией 6 - метод дрейфовой трубки Т - метод ионного циклотронного резонанса - метод, основанный на изучении ионного состава плазмы 9 - метод, основанный на изучении ионного состава пламени - метод, основанный на радиацион-но-химических исследованиях 1Л - метод, основанный на фотохимических исследованиях - метод сталкивающихся пучков - метод, основанный на изучении распада плазмы в потоке газа - метод совпадений, при котором производится одновременная регистрация частиц продуктов данного элементарного акта - расчетный метод. [c.15]