Фокусировка оптическая

Оптическая система для координатной разметки заготовки и совмещения инструмента с разметкой, а также для измерения размера торца инструмента укреплена на трех взаимно перпендикулярных каретках, две из которых (горизонтальные) перемещаются параллельно кареткам координатного стола и имеют свои отсчетные устройства. С помощью этих кареток осуществляется измерение, а с помощью вертикальной каретки, не имеющей отсчетных устройств, осуществляется фокусировка оптической системы. Оптическая система состоит из объектива, окуляра и призмы. [c.230]

ВОВ ДЛЯ передачи получаемого при помощи микроскопа изображения через толщу защитной стены. Для рассматривания переданного таким образом изображения служит окуляр, входящий в комплект микроскопа. Вертикальная часть трубы, расположенная в камере, сделана съемной, что позволяет вводить перископ сквозь защитную стену. Перископ соединен с микроскопом резиновой гофрированной трубкой, допускающей вертикальное перемещение для фокусировки. Оптически плоские зеркала с наружной отражающей поверхностью можно регулировать при первоначальной их установке. [c.94]

Поставить ячейку с кристаллом флюорита в рабочее положение и рукояткой 5 (см. рис. 173) фокусировки оптического микроскопа сфокусировать изображение поверхности кристалла. [c.310]

Фокусировка спектра осуществляется приближением окуляра к фокальной поверхности. Для этого его перемещают внутри оправы вдоль оптической оси. [c.118]

Одновременно с вращением призмы при переходе от одного участка спектра к другому автоматически происходит перемещение объектива вдоль оптической оси и обеспечивается фокусировка спектра в поле зрения. [c.119]

Стилометр СТ-7 (рис. 78). Стилометр собран в виде очень компактного прибора, в котором совмещены спектральный аппарат, фотометр и тубус с однолинзовой осветительной системой. Щель, ширину которой можно регулировать, расположена в фокусе объектива. Световой пучок, идущий от щели к объективу, поворачивается на 90" поворотной призмой. Фокусировку коллиматора производят перемещением объектива вдоль его оптической оси. [c.122]

Окончательную точную фокусировку прибора производят перемещением одной-двух деталей с помощью микрометрических винтов. Положение лучшего фокуса находят на заводе и указывают в паспорте прибора. Только в редких случаях в лаборатории требуется делать дополнительную фокусировку, а тем более изменять положения жестко закрепленных оптических деталей. [c.127]

Щель укрепляют на основании спектрального аппарата так, что возможно ее перемещение вдоль оптической оси и вращение на небольшой угол вокруг оси. Перемещение щели вдоль оптической оси часто используют для фокусировки коллиматора и всего спектрографа. [c.130]

Объектив коллиматора в спектрографах обычно бывает жестко закреплен в своей оправе на основании прибора. В некоторых приборах объектив можно перемещать вдоль оптической оси для фокусировки. В тех случаях, когда объектив не исправлен на хроматическую аберрацию при переходе от одной области спектра к другой, его также приходится перемещать вдоль оптической оси. [c.130]

Фокусировку спектрографа осуществляют перемещением щели вдоль оптической оси с помощью микрометрического винта. Правильное положение этого винта указывается в аттестате прибора. Угол наклона кассеты точно устанавливается на заводе. [c.133]

Начальная фокусировка спектрографа осуществляется перемещением щели вдоль оптической оси. Оптические детали смонтированы на массивном основании, которое устанавливается на рабочем столе на пружинящих опорах для уменьшения вибрации прибора. [c.138]

Весь прибор смонтирован на массивном основании, которое устанавливают на рабочем столе на пружинящих опорах. Фокусировка прибора осуществляется перемещением щели вдоль оптической оси. При переходе к другой области спектра не требуется перефокусировки, так как объективы зеркальные. Для установки параллельности щели и штрихов решетки щель вращается вокруг оптической оси с помощью микрометрического винта. [c.138]

Универсальный монохроматор УМ-2. Для работы в видимой области спектра выпускается промышленная модель универсального монохроматора со стеклянной оптикой УМ-2 (рис. 98). Этот прибор может быть использован как для работы с абсорбционным, так и с эмиссионными спектрами. Оптическая схема монохроматора включает входной и выходной коллиматоры, оптические оси которых расположены под углом 90 °. Оба объектива можно перемещать вдоль оптической оси для фокусировки коллиматоров. [c.147]

Оптическая ось фотометрической части прибора дважды поворачивается под прямым углом призмами полного внутреннего отражения для более удобного и компактного монтажа прибора. Для уменьшения рассеянного света, попадающего на фотоэлемент, за конденсором установлена осветительная щель 3 с прозрачными зелеными ножами. Нижний микрообъектив 5 строит изображение этой щели на фотографической пластинке. Для фокусировки изображения объектив можно перемещать вдоль оптической оси. Верхний микрообъектив также может перемещаться вдоль оптической оси для фокусировки изображения спектра на экране. Обычное увеличение, даваемое этим объективом, 2Р. Можно сделать увеличение еще большим, до 30 если в световой пучок ввести одну или две рассеивающие линзы. Объек- [c.172]

На рис. 53 приведена оптическая схема, включающая в себя лампу И, систему линз и диафрагм, фильтр и приемник излучения. Линзы подбираются исходя из следующих требований Л для получения параллельного пучка света, проходящего через фильтр Ф Лч для сужения пучка света до такой величины, чтобы он имел наименьший диаметр приблизительно в центре кюветы К Лз для фокусировки света на приемник излучения Я. Диафрагмы Ди Да, Дз служат для того, чтобы весь свет проходил через линзу Ли фильтр Ф и фотохимическую кювету К соответственно. [c.149]

Источник Ь8, расположенный на оптической оси, создает обычную пространственную систему интерференционных полос (фиг. 38, б). Кружками обозначены максимумы, а точками — минимумы. Пересечения волновых фронтов с плоскостью фокусировки [c.103]

С — ось мнимого клина, а также ось поворота измерительного и сравнительного пучков (плоские волновые фронты) е — угол между волновыми фронтами измерительного и сравнительного пучков (е = 2ф, где ф — угол клина) г — оптическая ось к — ось интерференционного поля, составляющая с осью г угол е/2 у — ось, перпендикулярная интерференционным полосам р — ось интерференционного поля, перпендикулярная интерференционным полосам I — интенсивность 3 — порядок полосы кружками обозначены максимумы интенсивности (5 = 0 1,. . точками — минимумы интенсивности (5= 0,5 1,5 . . . ) справа — распределение интенсивности в плоскости фокусировки. [c.104]

Рис. 5.3 иллюстрирует также дополнительное геометрическое требование постоянства угла выхода рентгеновского излучения i(j, которое вызвано малыми размерами входного окна спектрометра для рентгеновского сигнала, выходящего из электронно-оптической камеры. Требование полной фокусировки обеспечивается. перемещением кристалла-анализатора по прямой линии от образца с одновременным поворотом кристалла и перемещением детектора по довольно сложной траектории, в результате чего круг фокусировки поворачивается вокруг точечного источника. Интересная особенность такого устройства заключается в том, что расстояние L от кристалла до источника прямо пропорционально длине волны. Это можно показать с помощью рис. 5.3. Запишем [c.193]

В пневматическом приемнике Голея, или оптико-акустическом приемнике (ОАП) [31,9], используется тепловое расширение непоглощающего газа, находящегося в зачерненной приемной камере, задняя стенка которой представляет собой гибкую пленку с зеркальным покрытием с внешней стороны. Движение зеркала усиливается оптической системой и регистрируется фотоэлементом (рис. 2.4). Чувствительность такого приемника примерно того же порядка, что и термоэлектрических приемников, но требования к фокусировке на приемную площадку не столь жесткие, а чернение может быть сделано более чувствительным к длинноволновому излучению. [c.21]

Для приготовления образца каучука, нерастворимого, но хорошо набухающего в том или ином растворителе, можно применить метод расплющивания набухшего образца между пластинками, прозрачными в ИК области. Растворитель, в котором производится набухание, либо полностью испаряется, либо его поглощение компенсируется поглощением растворителя в кювете сравнения. Набуханию подвергают либо мелкую крошку каучука, либо тонкий срез, полученный на микротоме. В последнем случае кусочек каучука замораживают, поливая его жидким азотом. Размер полученного среза должен быть не меньше размера изображения источника света на образце в спектрометре. Если не удается получить срез достаточно большой площади, удобно применить микроскоп-приставку - совокупность двух оптических систем, смонтированных в одном корпусе. Каждая система (одна - для образца, другая - для сравнения) состоит из двух объективов, расположенных один под другим и способных к независимому перемещению для фокусировки. Один из объективов дает уменьшенное изображение источника света, одновременно фокусируя его на образец. После прохождения образца изображение увеличивается до первоначальной величины и направляется на входную щель. [c.218]

Если исследуемое вещество изотропное или кристаллы его относятся в кубической сингонии, то, выведя из оптической системы анализатор, приступайте к измерениям показателя преломления. Для этого, вращая ручку точной фокусировки, по направлению перемещения полоски Бекке определите соотношение показателей преломления кристалла и жидкости. Если больший показатель преломления оказался у кристалла, то следующий препарат готовьте, используя иммерсионную жидкость из стандартного набора с большим показателем преломления, если меньший — наоборот. [c.111]

Так при установке образца в плоскости фокусировки оптического микроскопа ручками регулировки положения столика образца происходит его установка в фокус рентгеновского спектрометра. Направление малой оси эллипсоида является наиболее критичным. Для приборов с малыми углами выхода рентгеновского излучения это направление почти параллельно оси Z, и установка образца по оси Z является самой критичной юстировкой. При больших углах выхода за счет наклона области фокуса Z-компонента увеличивается в l/ os0 раз, что в свою очередь немного уменьшает чувствительность к изменению положения образца по высоте. Другим подходом к решению проблемы -является поворот плоскости круга фокусировки вокруг направления выхода рентгеновского излучения. Такой принцип лежит в основе конструкции горизонтального спектрометра. В этом спектрометре большая ось эллипсоида почти параллельна направлению оси Z, и положение образца по вертикали наименее критично. Вместо этого более вероятной становится расфокусировка в плоскости X —Y. Следует отметить, что в РЭМ, снабженном кристалл-дифракционным спектрометром, отсутствие оптического микроскопа с малой глубиной фокуса для нахождения фокуса спектрометра может вызвать серьезные проблемы при проведении количественного анализа. В этом случае большая глубина фокуса РЭМ является помехой, поскольку трудно наблюдать изменение рабочего расстояния на несколько микрометров, которые критичны для рентгеновских измерений. [c.195]

Оптические волокна находят применение в основном в области оптической связи, нередко их используют в информационных устройствах, медицинских приборах, аппаратуре общетехнического назначе ния (рис. ЗЛ16), Примеры применения перечислены в табл. 3.38 [851, Недавно были проведены эксперименты с использованием оптических волокон по расширению области обитания растений с фотосин-тетической деятельностью путем введения солнечного света в море [86]. Цель этих исследований состояла в том, чтобы с помощью системы из устройства с автоматической фокусировкой, оптического волокна и осветительной линзы передать солнечный свет на глубину более нескольких десятков метров, куда почти не проникает солнеч- [c.283]

Понятие апертуры (от лат. apertura — отверстие) в оптике определяет диаметр D действующего отверстия — зрачка оптической системы. Угловая апертура — угол между крайними лучами конического светового пучка, входящего в это отверстие. Такое же понятие апертуры сохраняется в акустике при создании фокусирующих систем (см. п. 1.6.4). Фокусировка — один из видов когерентной обработки, поскольку в этом случае фаза излучаемых или принимаемых из фокальной зоны сигналов делается одинаковой. [c.269]

Оптимальные условия при регистрации ИК-спектров отражения-поглощения на стандартных спектрофотометрах достигаются с помощью специальных приставок, которые позволяют выполнять измерения без изменения оптической схемы прибора. Приставки представляют собой систему зеркал, располагаемую на специальном плато и служащую для фокусировки пучка излучения спектрофотометра на входную апертуру системы исследуемых образцов и далее, после ero многократного отражения между образцами, для перефокусировки в соответствии с оптической схемой спектрофотометра. Различают в основном два типа приставок для спектрофотометров, -имеющих пучок излучения, сфокусированный на входном окне корпуса монохроматора, и для спектрофотометров с пучком, сфокусироваипым в центре кюветного отделения. В первом случае схема приставки (рис. 7.9) включает два или три плоских зеркала, направляющих пучок на входную 7.9. Оптическая схема ириставки апертуру образцов, и ис- многократного отражения, следуемые зеркала, рас- 2 - плоские направляющие зеркала . 4 -полагаемые параллельно обпа.ць, - фото етрнчес.нй [c.151]

Если разрешение на полученной спектрограмме хуже, чем на контрольной, то еще раз в тех же условиях фотографируют несколько спектров, слегка изменяя от спектра к спектру положение деталей, с помощью которых делают фокусировку, например перемеа[,ая щель вдоль оптической оси. На спектрограмме выбирают спектр, дающий лучшее разрешение. Оно дол жно быть не хуже, чем на контрольной спектрограмме. На спектрограмме ставят значения шкалы, при которых была получена эта спектрограмма. [c.143]

Имеются две конструктивные схемы оптической части фоторегистра. В однообъективной схеме щель расположена вблизи заряда. В двухобъективной схеме щель расположена в плоскости изображения заряда, создаваемого первым объективом. Второй объектив отображает щель и промежуточное изображение заряда на пленку. В первом случае фронт засветки на пленке получается менее четким (так как заряд и щель находятся в разных, хотя и близких плоскостях), зато во втором случае ниже светосила системы и сложнее фокусировка. [c.129]

Направление распространения фронта показано стрелками. Фаза во всех точках фронта постоянна, поэтому происходит интерференция. Разность оптических путей g = S k выражается в длинах световой волны К. При целых значениях 5 получаются максимумы освещенности (обозначены светлыми точками). При нечетном числе половин длины волны Яо/2 получаются минимумы освещенности (обозначенные зачерненными точками). Интерферо-грамма, приведенная на фиг. 1 и 2, представляет собой пересечение пространственной интерференционной картины с неподвижной плоскостью (плоскость фокусировки). В рассматриваемом случае разность оптических путей возникает только за счет изменений пока-затсотя преломления. Наибольщая разность оптических путей на стенке трубы 5 = 11,3 соответствует наименьщему показателю преломления и наибольшей разности температур в рабочей камере. Наименьшая разность оптических путей 5 = 6,5 получается во внутренней части поперечного сечения трубы (наибольший показатель преломления, наименьшая разность температур). Для сравнения на фиг. 77 показана интерферограмма, полученная в аналогичных условиях. В этом примере наибольшая разность оптических путей 5=11,5 (наибольшая разность температур) приблизительно такая же, как и в примере, приведенном на фиг. 2. Область наименьшей разности оптических путей 5 = 0 соответствует нулевой разности температур. Температура в этой области равна первоначальной температуре. [c.72]

С ПЛОСКОСТЬЮ фокусировки, в области слабых градиентов волнового фронта разность оптических путей между измерительным и сравнительным иучками меньше 0,5. [c.73]

Поле интерференционных полос можно рассматривать также как интерференционную картину от фазового объекта, расположенного в сечении tm—tm и соответствующего мнимому клину (образованному плоскостями зеркала до поворота и после него. Подходящим фазовым объектом может быть, например, реальный очень тонкий двойной стеклянный клин, расположенный, как и зеркала интерферометра, под углом 0 относительно оптической оси (на фиг. 37, а он показал штриховыми линиями в сечении т — т)- Поскольку в данном случае рассматривается идеальный точечный источник света, излучающий незатухающие непрерывные волны, мнимую ннтерференцию можно наблюдать в любом сечении измерительного пучка. Следовательно, плоскость фокусировки может находиться в других сечениях, помимо сечения, показанного на фиг. 37, б. В случае реальных источников света, не обладающих указанными выше свойствами, мнимая область интерференции ограничивается окрестностью мнимого клина (или в других случаях— окрестностью фазового объекта), симметричной относительно оси вращения С. Этот вопрос будет подробно обсуждаться в дальнейшем. [c.97]

ПОСТОЯННОГО градиента коэффициента преломления в фазовом объекте. Точка С обозначает ось мнимого клина, соответствующую интерференционной полосе порядка 5 = 0, которая является также осью симметрии поля интерференционных полос, повернугого относительно оптической оси (оси г) на угол е/2. Интерференционные полосы получаются как пересечения пространственного интерференционного поля плоскостью фокусировки, которая в оптимальном [c.104]

Цилиндрические фазовые объекты с осесимметричным распределением показателей преломления являются не столь важными, как двумерные, но также достаточно щироко распространены. Особенно часто цилиндрические объекты встречаются в приложениях оптических методов к газодинамическим задачам и при исследованиях пламен. Чтобы упростить расчеты, иредноложим, что параллельные измерительные лучи входят в модель перпендикулярно ее оси симметрии и проходят через фазовый объект без отклонений. Это справедливо для малых объектов или объектов, не имеющих больших местных градиентов показателя преломления. Такие условия свойственны фокусировке на плоскость симметрии, проходящей через ось модели Рт на фиг. 59). [c.148]

Дополнительным устройством, которое имеется в некоторых РЭМ, является приставка для динамической фокусировки , которую не следует путать с коррекцией наклона . Прн динамической фокусировке (рис. 4.12) изменяется оптическая сила линзы в зависимости от положения пучка при сканировании для того, чтобы скомпенсировать изменение его размера из-за изменения рабочего расстояния. При наблюдении сильно наклоненного плоского образца оптическая сила линзы увеличивается при сканировании верхней части поля зрения и ослабляется по мере прохождения растра вниз по объекту, сохраняя, таким образом, все время пучок в положении оптимальной фокусировки. Сильно наклоненный объект останется в фокусе, даже если его вертикальное смещение превышает глубину поля зрения, как показано на рис. 4.13. Отметим, однако, что динамическая фокусировка зависит от выполнения простого и известного соотношения между положением пучка и рабочим расстоянием. Динамическая фокусировка не может применяться к шероховатым, нерегулярным объектам, ее можно использовать лишь для гладких, плоскпх объектов. [c.116]

Естественная зона детектирования образована приемным конусом на конце световода (рис. 7.8-15,а). Типичный сенсор, таким образом, может использовать два световода, чтобы направлять свет к отдаленному концу, где происходит аналитическая химическая реакция, и обратно от него [7.8-51]. Оптические волокна имеют эффективное поле зрения, описываемое численной апертурой (НА) волокна, и, как можно видеть из рис. 7.8-15,а, чем больше ЫА, тем больше поле зрения. В описываемой выше конфигурации с двумя световодами неправильный выбор ЫА может привести к большому мертвому объему (рис. 7.8-15,6), который, очевидно, будет уменьшать измеряемый сигнал. Тем не менее, фокусировку поля для получения видимого и мертвого объемов можно использовать как преимущество в конкурентном анализе (рис. 7.8-16), где связывающий белок (Вр) иммобилизован в мертвом объеме, а проба (А) и меченый аналог (а ) конкурируют за места связывания, остгшляя несвязанный а диффундировать в облучаемый объем, где его и определяют. [c.553]

Схема дифрактометра для анализа порошков с фокусировкой по Брэггу—Бреп-тано представлена на рис. 11.2-9. Порошковые образцы спрессовывают на металлическом держателе (Р), который можно вращать во время экспозиции вокруг оси, нормальной к его плоскости, с тем, чтобы дополнительно увеличить случайность ориентации кристаллитов. В данной схеме используется эффект парафокусировки, при котором добиваются того, чтобы линейный фокус (F) рентгеновской трубки (R) и выходная щель дифрактометра (D) лежали на одном круге, так чтобы они были эквидистантны относительно держателя образца (Р). Изогнутый кристалл-монохроматор (М), отъюстированный таким образом, чтобы выполнялось условие Брэгга Л = 2dhki sin в для сильного отп-ражения hkl (где Л — длина волны Ка-излучения), используют для того, чтобы сфокусировать рентгеновские лучи на входную щель F. Геометрия оптической схемы дифрактометра должна также обеспечивать эффективную фокусировку дифрагировавших рентгеновских лучей на щель детектора D. Расхождение падающего и дифрагировавших лучей внутри дифрактометра ограничивается пропусканием этих лучей через ряд тонких металлических пластин (S), известных как коллиматор Соллера. [c.402]

Несмотря на то что в электронной литографии для достижения субмикронного разрешения используются апертуры меньшие, чем в оптической литографии, и достигается большая глубина резкости, в результате рассеяния электронов наблюдается расширение линий. Обычно используемая фокусировка пучка электронов до сечения радиусом 50 нм может привести к экспонированию участков с линейными размерами порядка нескольких микрометров (эффект близости). Кроме того, имеет место и отрицательное влияние накопления заряда диэлектриком (например, Ог). Поскольку рассеяние и отражение электронов возрастает с ростом заряда ядра атомов элементов, входящих в состав подложки, влияние на эти величины Si и Se более ярко выражено, чем влияние органических материалов, состоящих только из углерода, водорода и кислорода, что и достигается в планаризационном слое. [c.270]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология