Спектрометр горизонтальный

Спектрометр. В спектрометре с горизонтально расположенным кристалл-анализатором счетчик можно вращать вокруг общей оси. Условие отражения выполняется только тогда, когда перпендикуляр к пробе или соответственно перпендикуляр к поверхности кристалл-анализатора делит угол между падающим и отраженным лучами пополам (рис. 5.9). Если угловая скорость вращения счетчика в два раза больше скорости вращения кристалл-анализатора, то это требование выполняется при любом положении кристалла. [c.205]

Рис. 8.4-4. Блок-схема 7-спектрометра высокого разрешения. Детектор расположен вертикально (а) или горизонтально б).

Количество выделяющегося водорода измеряли с помощью масс-спектрометра. Для анализа 10 г металлического алюминия (чистота 99,9% и выше) помещают в пористый графитовый (или стальной) тигель, который опускают на дно кварцевой пробирки длиной 20 см (рис. 9-1). Пробирка присоединяется к системе с помощью шлифа с воронкообразной трубкой. Подлежащие.анализу пробы, обычно массой около 1,5 г, размещают в горизонтальной трубке длиной см с затвором, припаянной к шлифу под прямым углом. С помощью магнита можно поочередно сбрасывать образцы в тигель с расплавленным алюминием, нагреваемым током высокой частоты с помощью индуктора. Через второй боковой отвод с шаровым шлифом пробирку присоединяют к масс-спектрометру через охлаждаемые ловушки и диффузионный ртутный насос. Систему откачивают и прогревают тигель при 900 °С около 2,5 ч. Затем снижают температуру и с помощью масс-спектрометра измеряют скорость выделения водорода до тех пор, пока она не снизится до 4—5 мкмоль в 1 ч. Далее с помощью магнита осторожно сбрасывают в тигель с расплавленным алюминием первую пробу, подлежащую анализу. Водород вначале вскипает и затем продолжает выделяться с умеренной скоростью. Через [c.506]

Применение катализатора с малой площадью поверхности облегчает выбор типа катализатора и обработку его поверхности различными способами. Для наблюдения за скоростью реакции удобно применять масс-спектрометр. Тип реакционной камеры зависит от особенностей реагентов. На рис. 13 показана реакционная камера, которая была использована для изучения реакции гидрогенизации этилена на поверхности катализатора, имевшего форму тонких листочков с общей площадью от 1,5 до 2 см . Возможность загрязнения была сведена к минимуму благодаря отделению реакционной камеры от остальной части установки системой холодных ловушек и металлических вакуумных кранов, которые можно было прогревать. Для перемещения катализатора из точки А, где он очищался посредством бомбардировки ионами аргона, в точку В, где определялась его активность, применяли держатель, управляемый с помощью магнита. Во время очистки затвор можно было передвигать в такое положение в трубке дегазации, что он ограничивал местонахождение образующейся при очистке пленки этой трубкой. За исключением маленького крючка из вольфрамовой проволоки В, в том отсеке камеры, где происходила реакция, не было никакого другого металла, кроме катализатора. Чтобы реакция не протекала в горизонтальном отсеке установки, где находится ввод А и где во время очистки образуется металлическая пленка, его при проведении реакции помещали в баню с сухим льдом и ацетоном. [c.345]

Точная установка спектроскопа в масс-спектрометрии так же важна, как и в масс-спектрографии, однако нововведения, сделанные группой Нира, работающей в Миннеаполисе, облегчили эту работу использованием умножителя в качестве детектора [742, 1645]. Поскольку чувствительность умножителя очень велика, то постоянные времени связанной с ним электрической схемы должны быть очень малы. Для питания катушек электромагнита используется переменное напряжение, имеюш,ее пилообразную форму импульсов и частоту около 30 гц. Оно же одновременно подается на горизонтальные. Х-пластины катодного осциллографа. Развертка ионного пучка, проходящего выходную щель, осуществляется изменением магнитного поля через определенные интервалы. Ионный ток после усиления поступает на вертикальные У-пластины осциллографа таким образом, что только небольшая часть спектра, порядка одного или двух массовых чисел, появляется на экране. Благодаря этому возможно оценить величину сигнала, ширину и форму пика, что ускоряет процесс настройки и его контроль, а также обеспечивает лучшее понимание эффектов каждой настройки. [c.53]

К числу важнейших недостатков спектрографов с горизонтальной фокусировкой лучей относится их относительно небольшая разрешающая сила, которая, как правило, гораздо меньше, чем для обычных спектрографов с плоским кристаллом, не говоря уже о двойном кристалл-спектрометре. Это объясняется сравнительно большой шириной [c.27]

Прибор тина тандем , построенный авторами, является масс-спектрометром с двойной фокусировкой системы Нира [22] на этом приборе получается а-, р- и а -фокусировка. Геометрические параметры этого прибора приведены на рис. 6. Масс-спектрометр установлен на базовой алюминиевой плите таким образом, что ось траектории ионного пучка лежит в горизонтальной плоскости. [c.65]

Масс-спектр регистрируется осциллографом со ждущей разверткой, синхронизированной с масс-спектрометром. Регулируя скорость горизонтальной развертки осциллографа и меняя время задержки между импульсом ускоряющего напряжения и импульсом запуска осциллографа, можно было достаточно подробно наблюдать любую область масс-спектра. [c.254]

Принцип времени пролета позволяет осуществить простую и удобную конструкцию прибора. Сечение трубопроводов вакуумной системы не ограничивается размерами магнита. Нет необходимости в точной геометрии щелей. Все сетки имеют диаметр, равный по крайней мере 20 мм. Ионный пучок направляется на детектор с помощью вертикальных и горизонтальных отклоняющих пластин, подобно тому как это делается с электронным пучком в катодном осциллографе. Простота и малая инерционность этого масс-спектрометра позволяют использовать прибор для многих целей, как это будет показано в дальнейшем. [c.255]

Выбор режима работы спектрометра для каждого параметра спектра необходимо осуществлять, последовательно уменьшая возмущающее влияние всех возможных характеристик прибора до тех пор, пока регистрируемый параметр спектра (в пределах случайных ошибок либо требуемой для него в эксперименте точности) не перестанет изменяться. При этом зависимость параметр спектра — характеристика прибора выйдет на горизонтальный участок, плато, которое и является основой для выбора рабочего диапазона варьируемой величины. [c.123]

Кювета связана отводами с системой напуска газа и вакуумирования. Печь с вольфрамовой спиралью окружает образец для нагревания его при восстановлении. Вследствие горизонтального расположения образца ход оптического пути спектрометра нужно было изменить для вертикального прохождения пучка через кювету. Наклоняя кювету, изображенную на рис. 10, б (Литтл, [c.45]

Гц). Под влиянием этой разности напряжения плавно или периодически в незначительных пределах (например, на 1 мкм) меняется продольный размер цилиндра. Высокая точность параллельной установки интерферометрических пластин контролируется по разности между напряжениями, приложенными к трем парам электродов. Излучение источника света попадает на фотоумножитель после интерферометра и монохроматора, выделяющего соответствующую область длин волн. Фототок, преобразованный подходящим электронным блоком, можно регистрировать с помощью либо потенциометрического самописца, если размер пьезоэлектрического тела увеличивают линейно во времени, либо осциллоскопа, если пластины интерферометра Фабри — Перо подвергают периодическому смещению. Движение регистрирующей бумаги и соответственно разность напряжений между горизонтальными отклоняющими пластинами осциллоскопа регулируются источником напряжения, используемым для пьезоэлектрического тела. Таким способом на записи или осциллограмме будет правильно и с очень высоким разрешением представлено распределение интенсивности по длинам волн. Спектрометр с интерферометром особенно подходит для определения, например, соотношения стабильных изотопов по изотопному смещению линий с использованием возбуждения спектра в полом катоде. [c.214]

Упражнение 82. С помощью спектроскопии необходимо проверить идентичность двух полимеров. Спектры, приведенные на рис. 84, а и 6, проанализировать, чтобы установить их идентичность или неидентичность. При этом нужно учесть, что оба спектра сняты на разных спектрометрах, у которых различаются шкалы как по горизонтальной, так и по вертикальной оси сумма процентов пропускания и поглощения для каждой определенной длины волны (волнового числа) составляет 100%, т. е. поглощение 90% соответствует пропусканию 10%. [c.197]

Практически во всех конструкциях спектрометров ось г располагается горизонтально, поэтому будем предполагать, что вращение образца происходит относительно вертикальной оси у. [c.107]

Были исследованы смеси дейтерия, содержащие 0,98 и 1,96% D2O соответственно. В таких растворах большая часть дейтерия находится в форме HDO. Анализы были сделаны на масс-спектрометре. Образцы нагревали в горизонтальных контейнерах, которые пропускали через серию охладителей и нагревателей. Начиная со смеси, содержащей 0,98% D2O, было установлено, что [c.106]

Рис. 12. Наблюдаемая линия КР монокристалла цинка при 300 К. Горизонтальный отрезок указывает разрешение спектрометра [35].

Схемы двухкристального спектрометра, для которых была развита теория (рис. 65), основаны на комбинировании двух кристаллов с отражением по Брэггу в симметричном положении, т. е. от системы плоскостей, параллельных входной грани. Падающий на первый кристалл или кристалл-монохроматор А рентгеновский пучок после выхода из трубки проходит через две параллельные щели, в результате чего он характеризуется двумя значениями расходимости или плоскими углами а—горизонтальная расходимость, соответствующая ширине щелей (в плоскости чертежа), и ф — вертикальная расходимость, соответствующая высоте щелей. Таким образом, максимальные значения этих углов [c.238]

Органические вещества осадочных пород подвергаются различным биохимическим изменениям, в результате чего образуются относительно стабильные полимерные продукты различного состава, называемые гумусовыми веществами. Различные почвы характеризуются разными видами гумуса. Для идентификации осадочного, органического вещества успешно применяют методы ПГХ и сочетание этого метода с масс-спектрометрией. С применением указанных методов исследованы как гумусовые вешества в самих почвах, так и в отдельных фракциях, выделенных из почв. Получены специфические пирограммы, позволяющие установить тип гумуса и различия, обусловленные генетическими слоями по вертикальному разрезу почвы, на основе полученных данных проведена классификация почв [291, 292]. На рис. 71 показаны пирограммы [291] поверхностного слоя и двух горизонтальных слоев бедного подзола, откуда видно, что в слое В обнаружены бензонитрил, аце-тофенон и нафталин (пики 16-18) метоксифенолы (пики 19. 20 и 23), характерные для лигнина, присутствуют лишь в поверхностном слое почвы. [c.233]

Спектрометр ЭПР устроен таким образом, что он работает при фиксированной частоте микроволнового излучения. Напряженность магнитного поля меняется, и горизонтальная ось на рис. 9.5 прокалибрована в эрстедах. Можно установить любую величину напряженности поля и проводить рег страцию спектра с этой точки. Если нужно произвести идентификацию, точность измерения должна быть выше, чем дают приборные щкалы. В этом случае наряду с частотомером пользуются внешним стандартом — дифенилпикрилгидразилом (ДФПГ), -фактор которого равен 2,СЮ37 0,(ХЮ2. Предполагается, что развертка поля является [c.16]

Так при установке образца в плоскости фокусировки оптического микроскопа ручками регулировки положения столика образца происходит его установка в фокус рентгеновского спектрометра. Направление малой оси эллипсоида является наиболее критичным. Для приборов с малыми углами выхода рентгеновского излучения это направление почти параллельно оси Z, и установка образца по оси Z является самой критичной юстировкой. При больших углах выхода за счет наклона области фокуса Z-компонента увеличивается в l/ os0 раз, что в свою очередь немного уменьшает чувствительность к изменению положения образца по высоте. Другим подходом к решению проблемы -является поворот плоскости круга фокусировки вокруг направления выхода рентгеновского излучения. Такой принцип лежит в основе конструкции горизонтального спектрометра. В этом спектрометре большая ось эллипсоида почти параллельна направлению оси Z, и положение образца по вертикали наименее критично. Вместо этого более вероятной становится расфокусировка в плоскости X —Y. Следует отметить, что в РЭМ, снабженном кристалл-дифракционным спектрометром, отсутствие оптического микроскопа с малой глубиной фокуса для нахождения фокуса спектрометра может вызвать серьезные проблемы при проведении количественного анализа. В этом случае большая глубина фокуса РЭМ является помехой, поскольку трудно наблюдать изменение рабочего расстояния на несколько микрометров, которые критичны для рентгеновских измерений. [c.195]

Целью ЭТОГО раздела является обсуждение различных методов, используемых в настоящее -время. Приведенные на рис. 8.12 рассчитаиные на мини-ЭВМ сплошные кривые иллюстрируют проблему. Верхияя кривая, состоящая из двух приведенных внизу кривых, является пр Име1ром спектра, который мы могли бы получить с помощью спектрометра с дисперсией по энергии, если бы отсутствовали фон или статистическая модуляция и горизонтальная (энергетическак) ось была бы по существу непрерывной, а не дискретной. Нижние кривые — это то, что мы должны восстановить, имея лишь информацию, содержащуюся в верхней кривой. Площадь под каждой нижней кривой [c.119]

Спектр сканируется перемещением маски вдоль горизонтальной плоскости шаговым двигателем, так что каждый участок спектра или беспрепятственно проходит, или блокируется щелью маски (рис. 2.12). Далее, как обычно, излучение собирается на приемнике и сигнал усиливается. В одной из конструкций излучение дедиспергируется (дисперсия вычитается), проходя через монохроматор в обратном направлении, и попадает на детектор, расположенный за входной щелью (рис. 2.11). При отсутствии в кюветном отделении образца, а следовательно, и поглощения в процессе перемещения маски около выходного отверстия сигнал не изменяется. В случае поглощающего образца, когда через прозрачную часть маски проходит участок длин волн, соответствующий полосе поглощения, детектор чувствует изменение в сигнале, а при попадании излучения на непрозрачную часть маски изменения сигнала на детекторе не происходит. Выходящий с детектора сигнал, который соответствует сумме всех длин волн, прошедших через спектрометр, направляется в память ЭВМ, декодируется и выдается в виде графика длина волны — интенсивность (т. е. спектра) [64]. Система называется спектрометром Адамара из-за того, что маска в выходной фокальной плоскости сконструирована в соответствии с матрицей Адамара [77]. Если спектр содержит N [c.36]

Спектрометр Х-Арт. В качестве детектора рентгеновского излучения в спектрометре Х-Арт используется 81 (Ы)-детектор фирмы В81 (Латвия), охлаждаемый жидким азотом. Особенностью данного детектора является то, что он является термоциклируемым и не требует постоянною охлаждения жидким азотом (т. е. его можно периодически размораживать). Прибор можно использовать в мобильном варианте, питая его от автомобильного аккумулятора. Конструкция переносного дьюара емкостью 0,8 л обеспечивает автономность работы прибора в течение 18 час. Компоновка прибора и его малые размеры позволяют работать с ним не только в лаборатории, но и непосредственно в полевых условиях (цех, поле, стапель и т. п.). Анализировать исследуемый объект можно в направлениях вверх , вниз , вбок , так как аналитический блок имеет горизонтальную ось вращения и может передвигаться по высоте с помощью простого манипулятора. [c.26]

Сигнал от стандарта ДСС отсутствует. Крестами отмечены боковые полосы HDO от вращения (сигнал HDD расположен около 5 т). Каждый спектр разделен на 3 части, для которых масштабы по горизонтальной и вертикальной шкале различны. Отрицательный сигнал, который расположен около —32 т, на левой части верхнего спектра в действительности представляет собой пик, расположенный при -1-33,2 т, но записанный на центральной полосе). (В спектрометре HR-220 Вариан используется модуляция поля частотой iO КГц. Обычно для регистрации используется первая верхняя боковая полоса. Если наблюдаются очень большие контактные сдвиги, часть спектра на центральной полосе может накладываться на спектр, записанный на верхней боковой полосе). Пики, отмеченные значком (а), принадлежат метильным rpynnaiM гема, сигналы которых смещены за счет контактного [c.381]

Двухлучевые спектрометры очень удобны и используются для всех обычных исследований и для аналитических целей. В двухлучевом приборе свет от источника расщепляется на два пучка одинаковой интенсивности. Один нучок проходит через образец, а другой служит для сравнения. Таким образом компенсируется непрерывное изменение интенсивности источника и получается горизонтальная основная линия. Нри исследовании веществ в растворах один пучок пропускается через чистый растворитель той же толщины, что и раствор, а поэтому в зависимости от того, в какой степени удается подогнать толщины слоев, полосы растворителя полностью или приблизительно компенсируются. Полосы растворителя могут [c.295]

Хорошо иллюстрирует возможности аналитического использования ИК-спектрометрии в интервале от 2,5 до 15 мкм рис. 21-2, на котором для сравнения приведены ИК-спектры нитробензола и толуола. Несмотря на структурную аналогию этих двух соединений, их спектры значительно отличаются. На спектре, изображенном на рис. 21-2, имеются две горизонтальные оси, одна прокалибрована в мкм (длины волн), а другая в см- (волновые числа). Обычно используются как те, так и другие единицы отчасти выбор зависит от аппаратуры для регистрации спектров. Для спектроскопистов, интересующихся изучением фундаментальных молекулярных колебаний, предпочтительны волновые числа, поскольку они прямо пропорциональны частоте и энергии. Вертикальные оси на рис. 21-2 откалибровываются чаще всего в процентах пропускания. Однако в некоторых случаях их калибруют в единицах поглощения. [c.727]

За последние несколько лет система преподавания химии в американских колледжах и университетах подвергалась коренной перестройке. Специалисты пришли к выводу о необходимости принципиальных изменений. Предметы были разделены на две отдельные группы — вертикальные , например неорганическая и органическая химия, и горизонтальные , например химическая динамика. Пятнадцать лет назад основной курс химического анализа повсеместно изучался на 3-ем и 4-ом семестрах. Этот курс был профилирующей дисциплиной студентов-химиков (углубленное представление о предмете можно было получить на следующих семестрах), а также одной из профилирующих дисциплин для студентов других специальностей, например биологов (которые ее терпеть не могли ). К 1970 г. этот вводный курс был, по существу, исключен из программ 3-го и 4-го семестров. Требования, предъявляемые современной системой образования, заставили ввести новый предмет на мервом семестре — вводный курс по аналитической химии. Такое резкое изменение учебной программы потребовало новых учебников, а их не было. Современная аналитическая химия профессора Пиккеринга является удачной попыткой заполнить этот пробел. Книга представляет собой сжатый лекционный курс, рассчитанный на студентов двухгодичных и четырехгодичных колледжей и университетов. Однако предмет изложен на достаточно высоком уровне с очевидным акцентом на основные принципы методов. Это хорошо защищает студентов от опасной тенденции воспринимать химию как сборник рецептов . Пиккеринг, в ногу со временем, концентрирует внимание на аналитических методах, основанных на взаимодействии между материей и энергией (инструментальный анализ). Среди аналитических методов, основанных на взаимодействии между материей и материей (химический анализ), наибольшим вниманием автора пользуются методы, которые сохраняют свое значение (например, титриметрия). В целом Пиккеринг написал замечательную и небольшую по объему книгу, в которой ему удалось (причем не поверхностно) охватить разнообразные методы термические методы радиохимический анализ эмиссионные методы и методы, основанные на атомной и молекулярной абсорбции спектроскопию комбинационного рассеяния микроволновую спектроскопию ЯМР- и ЭПР-спект-роскопию масс-спектрометрию измерение дисперсии оптической актив- [c.14]

Ионно-оптическая система отечественного масс-спектрометра с двойной фокусировкой МС 3301 [47] построена по типу схем Хин-тербергера — Кенига. Эта система обеспечивает полную коррекцию аберраций второго порядка, обусловленных горизонтальной расходимостью и разбросом ионов по энергиям (рис. 11). На этом приборе достигается разрешение 20 тыс. а. е. м. на уровне 5% пиков равной интенсивности. [c.30]

Для проведения спектрографического исследования по единой программе несколькими различными лабораториями с целью получения данных об относительном содержании индивидуальных алкилбензолов С в данном бензине объединялись фракции, содержащие алкилбензолы С , полученные в результате аналитической разгонки ароматической части. Фракции для спектрального анализа объединялись на участках, указанных на фиг. 25-4 горизонтальным рядом чисел в середине графика. На каждом из этих двенадцати участков отбирались и запаивались в стеклянные ампулы пять образцов (каждый объемом от 2 до 4 мл), а на участках от 3 до 12 — один образец объемом 10 мл. Остальное вещество запаивалось для хранения. Данные спектрального анализа, полученные различными лабораториями, работавшими по общей программе, сведены в табл. 25-3. Результаты показывают хорошее совпадение не только между данными лабораторий, пользующихся спектрометрами одинакового типа (инфракрасными), но и между данными лабораторий, пользующихся спектрометрами различных типов (комбинационного рассеяния, ультрафиолетовыми, инфракрасными). Кроме того, результаты спектрального анализа хорошо согласуются с анализами, проводившимися по исследовательской проблеме 6 АНИ [АНИИП 6-122]. [c.374]

Загруженные пробой и реактивами трубки подключаются к высоковакуумной системе и откачиваются до тех пор, пока внутри их не образуется вакуум 10 2-5 х X 10 мм рт. ст. Обычно для этого необходимо 5 мин для неорганических или органических соединений с низким давлением пара и 15 мин для растительного или аналогичного материала. Без образцов давление в трубках после откачивания должно достигать 5 10 мм рт. ст. После откачивания трубка отпаивается, отпаянный конец отжигается в течение 2 мин для предотвращения растрескивания стекла. Содержимое трубок тщательно перемешивается. Затем их помещают в горизонтальном положении в муфельную печь и проводят пиролиз при температуре не выше 570 °С в течение 3-4 часов. После охлаждения газовое содержимое трубок вводится в напускную систему масс-спектрометра после прохода через ловушку с жидким азотом. Следует учитывать, что при температуре более 570 °С стекло марки Pyrex размягчается и трубка может разрушиться под давлением находящихся в ней газов. Следует учитывать также то обстоятельство, что некоторые марки термостойкого стекла реагируют с окисью кальция, образуя силикаты кальция. Вследствие этого при охлаждении появляются трещины. Это относится и к кварцу при температуре 600 °С. [c.545]

После распределения соли метал-ла на подложке порошор можно нанести на пластинку из соли или спрессовать в диск, как это описано выше в разделе, посвященном окисным адсорбентам. Хотя некоторое количество порошка и может удерживаться на вертикально расположенной пластинке соли, количество образца, обычно необходимое для получения удовлетворительных спектров, требует горизонтального расположения пластинки. Использование горизонтально расположенной подложки требует внесения изменений в конструкцию спектрометра при помощи системы зеркал так, чтобы ИК-пучок проходил через образец вертикально. Если это сделано, пучок света можно сфокусировать у входной щели спектрометра. Спрессованный в диск порошок можно закрепить в вертикальном положении, кроме того, рассеяние света данным количеством вещества при этом уменьшается по сравнению с тем же количеством вещества в виде порошка. После того как образец помещают в кювету, его обезгаживают и восстанавливают водородом при температурах пе ниже 300— 400° С (в зависимости от природы мета.тла). [c.344]

Приборы ГХ — МС, в которых анализатор масс имеет высокую разрешаюш ую способность, обладают несколькими преимуществами. Во-первых, в этих приборах стандартное соединение для калибровки шкалы масс можно вводить одновременно с исследуемым образцом. Это не затрудняет анализ, так как на спектре линии стандартного соединения разрешены от линий образца. Во-вторых, линии спектра, соответствующие ионам неподвижной жидкой фазы колонки (испарение жидкой фазы) и ионам образца, также обычно разрешены друг от друга благодаря различному элементарному составу этих ионов. В-третьих, можно разрешить и линии примесей, даже таких, молекулярный вес которых сравним с молекулярным весом исследуемого образца, при условии, конечно, что элементарный состав этих примесей отличается от элементарного состава образца. И наконец, если спектры регистрируют на фотопластинке, то любые изменения ионного тока, связанные с изменением концентрации хроматографически разделенного соединения, 1штегрируются. Некоторые из этих преимуществ приборов ГХ — МС высокого разрешения видны из рис. 5-23. На этом рисунке в увеличенном виде показана часть изображения спектра на фотопластинке, соответствующая диапазону значений величины т/е 280—295 (масс-спектрометр СЕС-21-110 типа Маттауха — Герцога). Каждый из показанных спектров (с номерами от 16 до 23), полученных при последовательных экспозициях, представляет собой горизонтальный ряд отчетливых вертикальных линий. Расстояние между линиями спектра определяется разностью квадратных корней из массовых чисел соответствующих ионов. Для выбранных характеристических ионов на спектрах указаны соответ- [c.236]

При описании распределения магнитного поля в зазоре магнита спектрометра принято считать, что внешнее поле Но направлено горизонтально и что с направлением этого поля совпадает координатная ось г, а координатная ось у направлена вертикально. Предположим, что образец находится в центре воздушного зазора магнита, и совместим с этой точкой начало координат. В результате краевого эффекта, т. е. выпучивания магнитного поля из зазора в окружающее пространство, поле в разных точках внутри зазора не будет одинаковым ни по величине, ни по направлению. Однако поперечные компоненты Нх и Ну, характеризующие отклонения направления вектора поля от оси 2, в центре зазора малы в сравнении с величиной продольной составляющей НПоэтому мы будем говорить только о последней составляющей. [c.104]

И 7, на щель спектрометра 4. Фокальная область линзы 3 представляет приблизительно цилиндрический объем. Поскольку рассеивающая плоскость горизонтальна, для формирования изображения рассеивающего объема на щели спектрометра 4, которая почти всегда вертикальна, используется устройство, поворачивающее изображение. Оно состоит из призмы Дове (6) или эквивалентной системы на основе призм (призмы Печана и т. д.) или зеркал. Модификацией системы на рис. 18 служит система, предложенная Плилером и Костковским [98] для усиления инфра- [c.204]

Примером многоканального диспергирующего спектрометра является прибор с преобразованием Адамара. Его принципиальное отличие от обычного монохроматора с дифракционной решеткой связано с тем, что вместо выходной щели в фокальной плоскости, где излучение разложено в спектр, имеется полевая диафрагма и так называемая маска или матрица Адамара с множеством вертикальных щелей. Через диафрагму и маску проходит весь изучаемый интервал длин волн, и этим обеспечивается бо./ гьшой выгрыш в энергии, попадающей на приемник, по сравнению с обычным сканирующим спектрометром. Маска перемещается в горизонтальной плоскости шаговым двигателем и происходит кодирование спектра по Адамару. Сигнал с прием-пика, соответствующий суммарной интенсивности для всех длин волн, усиливается, поступает в ЭВМ, декодируется по преобразованию Адамара и выдается в виде спектральной кривой обычного вида. Для всестороннего сравнения этого типа приборов с другими типами, например, фурье-спектрометрами, пока еще опубликовано недостаточно данных. [c.271]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология