Постоянная решетки

Определить параметр решетки. Параметр или постоянную решетки вычисляют по уравнению (IV,3) для каждой линии отдельно, исключая те значения а, которые существенно отличаются от средних. Если расхождения в значениях а больше 0,03А, то ошибку следует искать в определении 2L. [c.126]

Мысленно построим в кристалле прямоугольную систему координат, оси которой расположены параллельно поверхностям, на которых лежат узлы решетки. Тогда каждая такая узловая плоскость отсекает на осях координат отрезки, которые можно использовать в качестве характеристики строения кристалла. При этом используют обратные величины отношений этих отрезков к постоянной решетки , выражаемые как наименьшие целые числа. Эти числа называют индексами Миллера. Например, плоскость (123) отсекает на осях координат отрезки 1, и 7з длины ребра элементарной ячейки. Узловая плоскость (100) параллельна плоскости г/2и смещена в направлении оси х на расстояние постоянной решетки. Плоскость (110) проходит [c.109]

Рис. 38. Изменение постоянной решетки (а) и плотности (d) фаз.

При прохождении света через узкую щель происходит дифракция световых лучей, при которой они способны интерферировать, т. е. усиливать или поглощать друг друга. При этом между длиной волны излучения, углом падения лучей и постоянной дифракционной решетки существуют простые соотношения, вытекающие из волновой теории света. Именно эти закономерности и лежат в основе так называемых дифракционных методов изучения структуры кристаллов. В настоящее время применяют два основных метода получения дифракционных рентгенограмм кристаллов порошковый и метод вращения кристалла. И в том и в другом методе используют монохроматическое рентгеновское излучение. Анализ получаемых рентгенограмм не всегда прост, тем не менее удается определить не только размеры и форму элементарной ячейки, но и число частиц, входящих в ее состав. Так, ориентируя кристалл определенным образом, можно установить постоянные решетки,а следовательно, и размеры элементарной ячейки. Зная плотность кристалла, можно рассчитать массу эле- [c.91]

Количество взаимодействующих атомных орбиталей не влияет на ширину зоны, а определяет лишь плотность ее заполнения электронами. Ширина энергетических зон в твердых телах существенно зависит от внутренней структуры их кристаллов. Эта зависимость тесно связана с волновой природой движения электронов. Перемещаться по кристаллу способны лишь те электроны, длины волн которых не укладываются целое число раз между узлами кристаллической решетки. Электроны с длиной волны, равной (2а//г), где а — постоянная решетки, будут находиться в кристалле в условиях замкнутого отражения и не способны переносить энергию. [c.83]

По уравнению (]V,3) вычисляют постоянную решетки для всех линий и определяют среднее значение. В данном случае а = 3,60 А. [c.128]

В кристаллах с занятыми междоузлиями следует ожидать более высоких, а в кристаллах с вакансиями — более низких средних значений постоянной решетки, чем в кристаллах с идеально заполненной решеткой, [c.38]

Твердое тело характеризуется значительно более упорядоченной структурой по сравнению с газами и жидкостями. По этой причине даже расчеты простых свойств, таких, как плотность или теплопроводность, требуют знания других характеристик, которые мо1-ут быть известны с еще меньшей вероятностью (например, постоянные решетки кристаллов), чем сами эти свойства. [c.188]

Здесь т — порядок спектра (т = О, 1, 2,. ..) с1—постоянная решетки а — угол отклонения световых лучен, [c.68]

Дискретность структуры кристалла несущественна, когда длина упругой (звуковой) волны Л много больше постоянной решетки — среднего расстояния между ближайшими атомами в кристалле. Отсюда легко понять, что модель Дебая хороша для колебаний с малыми частотами (большими длинами волн). [c.73]

Сравнение экспериментальных значений постоянной решетки и теплоты сублимации с результатами квантово-химического расчета [c.514]

Для постоянной решетки кубического кристалла [c.145]

При этом наряду с такими параметрами, как постоянные решетки и координационные числа, важной характеристикой кристалла становится энергия кристаллической решетки. Последнюю определяют как энергию, которую необходимо затратить на разрушение данного монокристалла и удаление образуюш,их его частиц за пределы их взаимодействия. Энергию кристаллической решетки обычно измеряют в килоджоулях и относят к одному молю кристаллического вещества. [c.76]

Дифракционная решетка состоит из очень большого числа узких щелей-штрихов одинаковой ширины (рис. 61). Расстояния между штрихами Ь (постоянная решетка) сохраняются строго одинаковыми. Ширина каждой щели несколько превышает длину световой волны в рабочей области спектра. [c.89]

Угловая дисперсия зависит от постоянной решетки. Чем меньше расстояние между соседними щелями, тем больше угол между линиями с разной длиной волны. [c.91]

Например, для определения длины волны в спектре, полученном с помощью дифракционного прибора, можно воспользоваться формулой (17) (стр. 90). Зная постоянную решетки и дифракционный порядок и измерив угол дифракции для данной линии, можно вычислить длину ее волны. Определение угла дифракции при этом должно быть выполнено с очень большой точностью, что представляет значительные трудности. [c.204]

Важнейшими параметрами кристалла являются размеры элементарной ячейки их определяют как равновесные расстояния в направлении характеристических осей между центрами частиц, занимающих соседние узлы решетки, и называют постоянными решетки. Более ста лет тому назад А. Бравэ показал, что существует всего 14 типов элементарных ячеек. Таким образом, кристаллы многих веществ имеют сходную пространственную струк- [c.65]

При этом наряду с такими параметрами, как постоянные решетки и координационные числа, важной характеристикой кристалла становится энергия кристаллической решетки. Послед- [c.66]

Другие оироделисия [2] дали соответственно 1,53 А и 110°. У парафина с температурой плавления 53,5° постоянная решетки С—С [c.46]

Термодинамика как феноменологическая теория имеет дело только с макроскопическими величинами. Эти величины либо определимы только для макроскопической системы (точечная масса не имеет температуры), либо, по крайней мере, структура материи не входит в их определения (в этом смысле постоянная решетки кристалла не является макроскопической величиной). Величины, которыми оперирует термодинамика, уже частично определены в механике, частично в самой термодинамике, в ее основных законах. [c.14]

Отсюда следует зависимость коэффициента теплоотдачи от теплопроводности газа а / а,., более близкая к наблюдаемой на опыте, чем (111.22). В (П1.24) в явной форме появилась зависимость от теплофизическнх констант материала зерен С Рт, т. е. теплоемкости единицы объема вещества твердой фазы. Однако эта величина для непористых материалов меняется в нешироких пределах, поскольку средние постоянные решетки в кристаллических телах, т. е. число атомов в единице объема, близки и каждый атом имеет 3 степени свободы колебательного движения. В среднем можно считать, что =2-10 Дж/(м -К). [c.145]

Катализатор ЛКТНЕаТОр 1 Постоянная решетки катализатора, О А 1 Постоянная решетки активатора, о А Диагональ кубической гра[[и Разность, % [c.64]

Использовалась элементная сера — попутный продукт переработки нефти, исследованы пять (исходный и четыре механически обработанных) образцов. Седиментационный анализ показал, что измельчение завершается на начальных (первые два образца) этапах обработки, в результате основная часть порошка (95%) имела размеры в интервале от 1-годо Юмикрон. Рентгенофазовый анализ показал на существенные изменения структурных характеристик материала на всех этапах механической обработки наблюдались сдвиги рентгеновских линий, свидетельствующие о наличии однородной упругой деформации макроскопических областей, разупорядочении атомов кристаллической решетки, а следовательно, к одинаковому сдвигу атомов от их нормального, что проявляется в изменении периодов решетки. Наряду со сдвигом линий зафиксировано уширсние линий, указывающее на флуктуацию межплоскостных расстояний и постоянных решетки вокруг некоторого среднего значения. Оба вида структурных изменений могут рассматриваться как искажения решетки, служить мерой несовершенства структуры твердых веществ и в конечном итоге привести к изменению растворимости и реакционной способности серы. [c.104]

Если же подвергнуть натрий воздействию газообразного хлора, то на поверхности натрия получается пленка Na l с постоянными решетки 6,08 [c.115]

Как известно, алмаз по своему химическому составу является чистым углеродом, так же как и графит, которые таким образом являются полиморфными модификациями одного и того же элемента, однако свойства их резко различны. Это объясняется отличием в строении их кристаллических структур (рис. 33). Алмаз (рис. 33, а) обладает кубической гранецентрированной решеткой с расстояниями между атомами 0,154 нм постоянная решетки алмаза равна 0,356 нм. Графит (рис. 33,6) имеет гексагональную слоистую решетку расстояние между атомами в слое равно 0,142 нм, а между слоями—0,339 нм. Такое большое расстояние между слоями обусловливает слабость химической связи по этому направлению, благодаря чему графит является рыхлым, мягким веществом — слои легко скользят и отделяются друг от друга. Алмаз >ке, как известно, является самым твердым из всех известных нам веществ. Следует сказать, что это свойство в основном определяет ценность алмаза как материала в самых разнообразных отраслях промышленности (резцы, фрезы, абразивные круга, шл.чфовальные порошлн и пасты. [c.124]

Мультиплетная теория ставит геометрическое строение активного центра в прямое соответствие со строением претерпевающей превращение молекулы. Главной основной предпосылкой гетерогенного катализа является интенсивная адсорбция реагирующего вещества на поверхности катализатора. Особенно энергично адсорбируется вещество, когда между расположением атомов в адсорбируемой молекуле и атомов в кристаллической рещетке катализатора существует определенное соответствие. Например, при адсорбции циклогексана на октаэдрических гранях металлов молекула располагается на кристалле (рис. 189). Каталитическое действие происходит тогда, когда соответствующие связи в реагирующей молекуле ослабляются. Для такого ослабления связей необходимо удаление друг от друга соседних атомов в молекуле. Когда размеры постоянной решетки кристалла превышают расстояние между атомами в реагирующей молекуле, связи ослабляются и происходит каталитическое ускорение реакции. Поверхностное соединение образуется из одной или нескольких молекул вещества и из нескольких атомов катализатора. Группа атомов катализатора, вступающих в поверхностное соединение, называется мультиплетом. Обычно эта группа состоит из двух-трех атомов. [c.444]

Последние и более точные работы по изучению плот-иостк (рис. 38) и постоянной решетки позволили оценить число вакансий кал<дого типа. Результаты представлены [c.99]

Важными параметрами являются размеры элементарной ячейки их определяют как равновесные расстояния в направлении характеристических осей между центрами частиц, занимающих соседние узлы решетки, и называют постоянными решетками. Более ста лет тому назад А. Брава показал, что существует всего 14 типов элементарных ячеек. Таким образом, кристаллы многих веществ имеют сходную пространственную структуру. Если при этом их химическая природа также подобна, то такие вещества называют изоморфными. Если же эти вещества различной химической природы, их называют изострук-турными. Размещение частиц в пространственной решетке осуществляется таким образом, чтобы обеспечить максимально возможную для данного типа кристалла энергию их связи, а также энергетическую однородность в целом. Для частиц сферической формы наиболее благоприятным часто оказывается такое их размещение, при котором каждая сфера находится в соприкосновении с наибольшим числом ближайших соседей. Подобные пространственные образования называются структурами плотнейшей упаковки. [c.74]

Для работы со сложными спектрами применяют автоколлимацион-ные призменные спектрографы большой дисперсии или дифракционные приборы. Призменные приборы имеют в начале рабочей области спектра линейную дисперсию до 1 к мм, которая затем быстро уменьшается с ростом длины волны. Линейная дисперсия дифракционных спектрографов во всем рабочем диапазоне 2—8 к мм в зависимости от постоянной решетки и фокусного расстояния объектива. [c.125]