Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Ориентированные образцы

Рис. 7.23. Деформирование и характер разрушения предварительно ориентированных образцов полиизопрена и полихлоропрена [31]. Рис. 7.23. Деформирование и <a href="/info/71673">характер разрушения</a> предварительно ориентированных образцов полиизопрена и полихлоропрена [31].

    В разных температурных интервалах может оказаться ближе к действительности та или иная модель при низких температурах— первая, при высоких — вторая. Структура и свойства ориентированных аморфно-кристаллических полимеров зависят и от их молекулярного строения, и от степени ориентации. Релаксационные процессы в ориентированном полимере в первом приближении можно рассматривать как суперпозицию их в полностью изотропном и полностью ориентированном образцах. При таком подходе можно использовать методы релаксационной спектрометрии для определения степени ориентации. Очень удобным является акустический метод, позволяющий определить ряд структурных характеристик ориентированных полимеров [55] и непосредственно дающий коэффициент ориентации в виде  [c.205]

    Наиболее распространенным типом ориентации, реализующимся в кристаллических полимерах, является аксиальная текстура. В этом случае какая-либо одна из осей у всех кристаллитов (например, ось с кристаллографической решетки) направлена параллельно прямой, называемой осью текстуры, а две другие оси расположены произвольно. В большинстве ориентированных полимеров ось текстуры совпадает с осью макромолекулы, хотя на промежуточных стадиях растяжения образца это может и не происходить. При этом оси всех макромолекул в ориентированном образце параллельны друг другу, а повороты кристаллитов вокруг оси текстуры беспорядочны. [c.178]

    Более полные представления о структуре жидких кристаллов можно получить, изучая распределение интенсивности ориентированных образцов. В этом случае по значениям интенсивности в экваториальном направлении рентгенограммы можно рассчитать цилиндрическую функцию распределения плотности проекции атомов на плоскость, перпендикулярную длинным осям молекул  [c.258]

    Это же уравнение справедливо и для неориентированного жидкокристаллического вещества. Для ориентированного образца имеет место несколько иное соотношение. [c.260]

    Кривая цилиндрического распределения осей молекул, вычисленная по распределению интенсивности вдоль экватора рентгенограммы ориентированного образца, показана на рис. Ю.к Максимумы этой [c.262]

    Ориентированные образцы. Предназначенные для исследования полимерные листы, пленки и волокна закрепляются в специальном держателе (Гониометре), схема устройства которого показана на рис. 28.16. Благодаря наличию круга (360°) образец можно поворачивать так, что ось его будет под любым углом к вертикали. С помощью горизонтального установочного круга [c.127]

    Эффекты рассеяния и наложения близлежащих пиков можно нивелировать путем соответствующего выбора базовой линии. Ошибки, обусловленные поляризационными эффектами, сводят на нет путем ориентации поляризатора и образца под углом 45° к входной щели монохроматора. Другие ошибки возникают из-за недостаточной разрешающей способности спектрометра, конвергенции пучка и спектрального разбавления. Для определения поглощения Д, в двухосно ориентированных образцах измерение поглощения проводят на вращаемых пленках [c.212]


    Е и 2 — звуковые модули для неориентированного и ориентированного образцов соответственно Ус — объемная степень кристалличности (разд. 31.8) /с —функция ориентации кристаллической [c.223]

    Собственную поляризацию прибора необходимо учитывать при работе с ориентированными образцами. - Прим. перев. [c.28]

    Исследования в поляризованном свете ориентированных образцов [c.220]

    Переход при 327° имеет характер точки плавления. Это доказывается потерей кристаллической структуры, видимой на рентгенограммах, и тем фактом, что полимер не может быть ориентирован при более высокой температуре. При нагревании до этой температуры предварительно ориентированные образцы уменьшаются до их размеров в неориентированном состоянии, что показывает на первый порядок перехода с приобретением дополнительной степени свободы. [c.386]

    Конечно, значительно более общее описание различных молекулярных областей и их ориентации получается с помощью трехмерных элементов. В случае поперечной симметрии молекулярные элементы должны определяться пятью константами упругости (или податливостями), ориентацией в одном или двух направлениях и граничными условиями для напряжения и деформации на границе элемента. Фохт [63] исходил в своих расчетах из предположения отсутствия разрыва деформации на всех границах. Реусс [64] предполагал однородность напрялсе-ния. Используя пространственное усреднение констант упругости с,/,п или податливостей 5,,тп молекулярных областей по Фохту или Реуссу, соответственно получают верхний и нил<ний пределы макроскопического модуля [83]. Для пространственной деформации совокупности таких элементов Уорд [84], а позднее Кауш [85] рассчитали зависимости макроскопических модулей упругости от ориентации областей. Расчетные кривые изменения модулей упругости от коэффициента вытяжки, в частности, характеризуются скоростью начального изменения модуля и его предельным значением. Если при вытяжке происходит только переориентация неизменных в других отношениях молекулярных областей, то свойства полностью ориентированного образца долл<ны соответствовать свойствам этих областей. На рис. 2.16 модуль Юнга, рассчитанный в направлении вытяжки в зависимости от коэффициента вытяжки и анизотропии областей, сравнивается с экспериментальными данными [13, 85]. Результаты Уорда и Кауша можно обобщить следующим образом  [c.48]

    В частично или совсем неориентированной системе микроскопические напряжения вдоль оси цепи больше сто на величину отношения Е/Ех, где Ei — продольный модуль упругости элемента объема, содержащего упругий элемент. Если все элементы объема ведут себя одинаково, то Ei — продольный модуль (частично) ориентированного образца. Естественно, ось наибольщих напряжений определяется теми элементами, которые ориентированы в направлении одноосного напряжения. В полностью ориентированной системе Е и Е% равны по определению. Также равны (в направлении ориентации) макро-и микроскопические напряжения. [c.84]

    Штейн внимательно рассмотрел значения степени ориентации, полученные при исследовании методом ШРР одноосно-ориентированных образцов [54—56]. Уилчинский [58] и Сэк [63] исследовали ориентацию неортогональных элементарных ячеек. Штейн [55] изучал и более сложную задачу, возникающую при исследовании двухосно-ориентированного состояния. Значения степени ориентации в трех направлениях, определенные на образцах полиэтиленового волокна, полученных при разной скорости вытяжки [39], представлены на рис. 3.19. [c.73]

    Предварительными опытами был выбран цилиндрический образец длиной 226 мм с рабочей частью диаметром 15 и длиной 50 мм, установлена допустимая величина биения (не выше 0,005 мм) и принята база испытания 10 циклов. Величину действующих на рабочей части образца напряжений авторы работы определяли по формуле а = = 32Я//(тгс/ ), где Р - приложенная нагрузка, МН / — расстояние от точки приложения нагрузки до ближайшей опоры (постоянная машины), см / - диаметр рабочей части образца, см. Усредненные по большему числу образцов результаты эксперимента (рис. 29) показали, что величина напряжений при одинаковом числе разрушающих циклов для параллельно ориентированных образцов на 15—30 % выше, чем для перпендикулярно ориентированных. Это различие объясняется более высокой прочностью параллельно ориентированных образцов. При этом характер зависимости напряжение — число циклов до разрушения для графита резко отличается от такового для металлов. Значительный разброс данных на графике (некоторь(е образцы при одинаковом напряжении резко различались по числу, циклов до разрушения) обусловлен присущей графиту исходной разнопрочностью, структурной неоднородностью и другими причинами. Предел усталости для исследованного графита при чистом изгибе вращающегося образца составил 14 МПа — для параллельно ориентированных образцов и 10 МПа — для перпендикулярно ориентированных. [c.75]

    Действительно, хорошо известно, что кристаллический полимер растворяется гораздо хуже, чем аморфный полимер того же химтеского строеим. Ориентированные образцы также хуже растворяются по сравнению с изотропными образцами. Возлюжно, что и в сл5 чае изотропных образцов аморфных полимеров надмолекулярная структура может быть разли шой, однако этот вопрос до сих пор является предметом дискуссии. На международной конференции в Лондоне в 1979 г были представлены экспериментальные и теоретические данные об отсутствии нодульной структуры в аморфных полимерах, причем данные электронно-микроскопических исследований поверхности пленок и сюлов были причислены к артефактам [142]. Трудно, однако, представить, что если поверхность пленки, полученной из раствора, и поверхность скола блочного образца, полученного из расплава, дают одн] и ту же электронно-микроскопическую картину глобул, то эта картина является следствием артефактов. [c.333]


    Исследования в поляризованном свете особенно ценны для ориентированных полимеров и монокристаллов. В ориентированном образце полоса поглощения имеет максимальную величину, если момент перехода параллелен электричесокму вектору излучения, и поглощение отсутствует, если эти векторы взаимно перпендшсулярны. Однако [c.220]

Рис. 1. Термограмма глины 6. ориентированных образцах чапан-атинской глины при перпендикулярной съемке можно диагностировать глинистый минерал, составляющий в основном породу нашего образца, как палыгор-скит. Рис. 1. Термограмма глины 6. ориентированных образцах чапан-атинской глины при перпендикулярной съемке можно диагностировать <a href="/info/132753">глинистый минерал</a>, составляющий в <a href="/info/923807">основном породу</a> нашего образца, как палыгор-скит.
    Прочность при растяжении увеличивается в на правлении ориентации пропорционально последней В ориентированном образце ударная вязкость меньше в направлении ориентации и больше в перпендикуляр ном ей направлении по сравнению с неорнентирован ным образцом. Ударная вязкость также повышается с ростом температуры расплава, так как при этом облегчаются процессы разориентации. [c.120]

    Таким образом, об ориентации полимерного образца можно судить по его рентгенограмме, снятой на плоскую кассету. При этом на рентгенограмме изотропного образца, в котором отсутствует ориентация, получаются сплошные кольца. Если образец ориентирован, то его устанавливают так, чтобы ось ориентации была перпендикулярна падающему рентгеновскому лучу. На плоской фотопленке, расположенной за ориентированным образцом, вместо колец появляются дуги, а в случае сильной ориентации - пятна. Более полное представление о характере текстуры можно получить, если на плоскую фотопленку снять еще одну рентгенограмму ориентированного образца, расположив его так, чтобы предполагаемая главная ось ориентации совпадала с направлением пучка рентгеновских лучей. При этом сплошные кольца на рентгенограмме ориентированного образца говорят об одноосной ориентации если вместо сплошных колец получаются дуги, то образец имеет аксиально-плоскостную текстуру [27]. Данные рентгеновского рассеяния под малыми углами (МУРР) позволяют получать дополнительные сведения о характере перехода от исходной сферолитной структуры полимера к ориентированной фибриллярной. [c.366]

    После расшифровки рентгенограммы или дифрактограммы определяют брег-говские углы (01, 02,. ..), а затем по закону Вульфа - Брегга рассчитывают постоянные решетки соответствующих систем плоскостей ( / , 2, /3. ..) н параметры элементарной ячейки, после чего строят модель ячейки данного полимера. С этой целью по распределению электронной плотности устанавливают координаты всех атомов с учетом конфигурации и конформации макромолекулы. При невозможности применения расчетного метода используют шаровые модели Стюарта - Бриглеба и метод проб и ошибок . Для построения моделей ячеек применяют метод просвечивания одноосно ориентированных образцов, тогда как порошковый метод используют главным образом для качественной характеристики полимеров, а также лля определения размеров кристаллитов и степени кристалличности (рентгенофазовый анализ). [c.146]

    Рентгенографические снимки образцов политетрафторэтилена показаны на рис. 1. Диаграммы Л и Б были получены на образцах неориентированной пленки, соответственно при 25 и 330°. Диаграммы В, Г, Д были получены на предварительно ориентированных пленках, соответственно при 25, 280 и ЗЗО . Все диаграммы получены при расстоянии 5 см от образца до камеры. В обоих сериях ясно видно отсутствие кристаллической структуры при 330°. Диаграмма Е, полученная на предварительно ориентированном образце при трехсантиметровом расстоянии от камеры до образца, показывает два ряда слоев линий, которые, соответствуют периоду вдоль оси ориентации, равному 2,49 и 2,60 Л. Основное кольцо в диаграмме А соответствует интервалу 4,86 А, и рассеянное [c.385]

    Рамановские спектры алмаза первого и второго порядков, полученные на ориентированных образцах при лазерном возбуждении, также описаны. Были уточнены однофононные дисперсионные кривые для алмаза, полученные ранее по данным нейтронной спектроскопии, приведены энергетические значения для фононов. На рис. 154, б показан спектр поглощения алмаза в области 1332 см . Вертикальными линиями обозначены значения волновых чисел, которые соответствуют по энергии двухфононным переходам, разрешенным правилами отбора для решетки типа алмаза. Значения энергий фононов в критических точках зоны Бриллюэна в сравнении с приведенными данными показывают, что на основании имеющихся в настоящее время сведений о динамике решетки алмаза детальное объяснение всех особенностей двухфононного участка спектра не представляется возможным. По-видимому, динамика решетки алмаза, возмущенной примесями и другими структурными дефектами, способными вызвать изменения в фононном спектре и привести к нарушению правил отбора, изучена недостаточно. физическая классификация алмазов, основанная на особенностях проявления реальной структуры кристаллов алмаза, при их исследовании различными методами непрерывно детализируется. В настоящее время известно более 50 различных дефектных центров в алмазной решетке, и лишь для некоторых из них удалось установить конкретную природу. [c.416]

    Величина большого периода не связана с размерами элементарной ячейки и при разлнчных видах обработки полимера значительно изменяется. Для ориентированных образцов, таких, как волокна и пленки, малоугловая рентгенограмма обладает определенной текстурой На текстуррентгенограмме рефлексы, соответствующие большому периоду, обычно располагаются на мериднанс, что говорит о существовании периодичности вдоль оси волокна. Предполагают, что большой период связан с чередованием кристаллических и аморфных областей вдоль оси волокна, одиако многое остается пока неясным. Непонятно, например, как объяснить изменение величины большого периода при различных видах обработки полимера, если рентгенограмма, полеченная при рассеянии под большими углами. При этом не изменяется. [c.117]


Смотреть страницы где упоминается термин Ориентированные образцы: [c.88]    [c.74]    [c.196]    [c.327]    [c.187]    [c.322]    [c.117]    [c.231]    [c.231]    [c.91]    [c.293]    [c.70]    [c.111]    [c.293]    [c.146]    [c.117]    [c.231]    [c.231]    [c.146]    [c.220]    [c.110]   
Смотреть главы в:

Инфракрасные спектры и структура полимеров -> Ориентированные образцы




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Образцы

Образцы ориентированные по отношению

Ориентированные образцы, приготовление

Форма спектра ориентированного образца



© 2025 chem21.info Реклама на сайте