спектры второго порядка

Сдвигающие реагенты применяются, в частности, для упрощения спектров второго порядка (т.е. при Д У). При комплексообразовании сигналы различных протонов в молекуле сдвигаются по-разному, и с увеличением концентрации СР Д становится больше, чем У (рис. 12.9). В системах, содержащих СР, образующих комплексы 1 1, средний сдвиг -го [c.191]

Если комплексообразование проходит полностью, зависимость 6, от имеет вид пря.мой, тангенс угла наклона которой равен 5 — . Отсекаемый этой прямой отрезок 5 представляет собой химический сдвиг, который наблюдается в спектре ЯМР свободного соединения, если используется спиновая развязка или если спектр второго порядка анализируется с помощью вычислительной машины. [c.192]

Как отмечено в предыдущем разделе, спектр ПМР имеет второй порядок в том случае, если не выполняется соотношение (4.3) или химически эквивалентные ядра системы магнитно неэквивалентны. При работе со спектрами второго порядка предъявляются повышенные требования к качеству спектра. Все мультиплетные сигналы. следует записывать при сканировании с малой скоростью 0,3—1 Гд/с и с большой разверткой 0,3 -—1 Гц/мм. Особое внимание уделяется определению интенсивностей линий в мульти-плетах, потому что интенсивности наряду со значениями частот учитываются при анализе спектра. Спектры ПМР второго порядка наблюдаются обычно в том случае, если протоны имеют одинаковое ближнее, но различное дальнее окружение (например, для различных конформеров или геометрических изомеров). Нередко для подтверждения правильности расшифровки спектра второго порядка сравнивают экспериментальный и ожидаемый спектры путем сопоставления частот и интенсивностей линий. В рассматриваемых ниже примерах приводятся лишь упрощенные способы анализа спектров двух- и трехспиновых систем типа АВ, АВг и АВХ. Подробное изложение этих вопросов см. в монографиях, указанных в списке литературы. [c.10]

Сложнее выявить мультиплеты в спектрах второго порядка. [c.152]

Спектры разных порядков частично накладываются друг на друга. Действительно, ультрафиолетовое излучение с длиной волны 2500 А в спектре второго порядка распространяется по тому же самому направлению, что и видимый свет сХ = 5000 А в спектре первого порядка. Перекрытие спектров разных порядков показано на рис. 62, б. [c.90]

Какая длина волны линий в спектрах других порядков, перекрывающих яркую зеленую линию хрома 5208,4 А в спектре второго порядка [c.93]

Какую область спектра должен устранять светофильтр, помещаемый перед входной щелью прибора, для того, чтобы предотвратить наложение спектра второго порядка на область 410- 650,0 нм спектра первого порядка и наложения спектров двух других порядков на область 250350 нм спектра второго порядка. [c.116]

Дифракционные спектрометры ДФС-8 и ДФС-13 большой дисперсии. Диспергирующим элементом служат плоские решетки, имеющие 600, 1200 и 1800 штр/мм. Роль объектива выполняет вогнутое алюминированное зеркало. Свет от щели поворачивается плоским зеркалом, проходит под решеткой, попадает на вогнутое зеркало и направляется на решетку. Разложенный решеткой свет попадает снова на зеркало и, отражаясь от него, проходит под решеткой и фокусируется на фотографической пластинке. Приборы рассчитаны на работу в первом порядке решетки. Для устранения мешающего влияния спектров второго порядка применяют светофильтры. Спектры фотографируются на фотопластинку участками по 540 нм. Оптические схемы приборов приведены на рис. 30.6. [c.658]

Рабочий диапазон дифракционной решетки 1800 штр/мм в спектре первого порядка 190—500 йм с обратной линейной дисперсией 0,27 нм/мм. На участок спектра первого порядка 380 —500 нм налагается спектр второго порядка 190—250 нм с дисперсией [c.692]

Для установки ДФС-36 в качестве аналитических линий используют линии в спектре первого порядка, а в спектре второго порядка используют только наиболее интенсивные. Линия сравнения может быть выбрана в любой области спектра, независимо от длины волны аналитической линии, что позволяет работать с одной линией сравнения для нескольких аналитических линий, имеющих близкий потенциал возбуждения. Если они отличаются по потенциалам возбуждения, целесообразно подобрать несколько линий сравнения в каждой программе. [c.693]

Спектры второго порядка образуются, если разделение между мультиплетами (разность химических сдвигов между сигналами) мало (Аб спектры сильно искажены, сигналы сближаются, внутренние пики становятся больше за счет внешних пиков, меняется положение линий. Такие спектры обычно называют АВ-спектрами (или спектрами сильного взаимодействия), что характеризует значительно большую близость химических сдвигов друг к другу, чем в случае системы АХ. [c.321]

Многие спектры второго порядка были анализированы расчетным путем и приводятся в литературе. [c.321]

Если получается спектр второго порядка, то можно применить ряд методик для их упрош,ения (разд. 20.5 и 20.6). [c.321]

Для спектра второго порядка кривая распределения интенсивности будет иметь меньшую полуширину, т. е. дисперсия решетки будет больше в два раза и, следовательно, масштаб по оси абсцисс в длинах волн будет изменен в два раза. [c.112]

Таким образом, если для наибольшей наблюдаемой длины волны спектр первого порядка расположен под углом ф к нормали, то под этим же углом будет наблюдаться излучение с длиной волны Х/2 в спектре второго порядка, Ш — в спектре третьего и т. д. [c.48]

Си 5105,54 (выходная щель 0,15 мм, с фильтром БС-8, устраняющим ультрафиолетовый спектр второго порядка). [c.23]

Согласно этой формуле в первом порядке аномалии будут иметь место при длинах волн Яд = 2ё/3 2 /5 2й/7 и т. д. Для спектров второго порядка Яд = й/2 d/3 й/4,. .. и т. д. [c.39]

Фирмами, изготавливающими приборы, разработаны различные типы многоканальных спектрометров. Основные характеристики новых моделей приведены в табл. 6.1. Данные таблицы показывают, что дисперсия этих приборов достаточно высока. Величина обратной дисперсии в спектре первого порядка обычно заключена между 4 и 7 А/мм, а в одном случае даже превышает эти значения. Очевидно также, что можно использовать спектр второго порядка, где дисперсия практически удваивается, хотя в соответствии с уравнением дифракционной решетки верхний предел области длин волн уменьшается вдвое по сравнению со спектром первого порядка (разд. 3.8.4 в [1]). Нижний предел спектральной области зависит [c.212]

Поскольку некоторое количество света попадает в другие спектральные порядки, пучок света, выходящий из решеточного монохроматора, содержит дополнительные длины волн, существенно отличающиеся от той длины волны, на которую установлен монохроматор. Например, через монохроматор, установленный на 500 нм для спектра первого порядка, будет проходить свет с длиной волны 250 нм из спектра второго порядка. Если монохроматор используется с целью выделения монохроматического света для возбуждения вещества, поглощающего при 500 нм, то в данном случае в некоторой степени могут возбуждаться и другие вещества, не поглощающие при 500 нм, но поглощающие свет 250 нм. Если такие вещества присутствуют в больших количествах, это может приводить к существенным ошибкам. Аналогично, если решеточный монохроматор используется для анализа флуоресценции образца, возбуждаемого светом 250 нм, то можно наблюдать слабый сигнал при 500 нм, возникающий из-за рассеянного возбуждающего света, проходящего через монохроматор во втором порядке спектра. [c.147]

Иногда штрихи нарезают так, что свет концентрируется в спектре второго порядка. — Прим. ред. [c.147]

Иногда для того, чтобы удалить спектры второго порядка возбуждающего света, выделяемого решеточным монохроматором, приходится использовать фильтр. Например, если монохроматор установлен на пропускание линии возбуждающего света около 500 нм, то через монохроматор будет проходить также небольшая доля света с длиной волны 250 нм. Этот свет можно удалить подбором соответствующего отсекающего фильтра, например для удаления света с длиной волны 250 нм используют обычную плоскую стеклянную пластинку. [c.183]

При измерениях с высокой чувствительностью иногда необходимо использовать фильтры для увеличения эффективности анализирующего монохроматора. Например, спектр второго порядка, проходящий через решеточный монохроматор, может вызывать нежелательный сигнал рассеянного света. Так, на кривой 2 (рис. 67) пик при 500 нм вызван рассеянным возбуждающим ветом с длиной волны 250 нм, проходящим в анализирующий монохроматор во втором порядке спектра. Его можно удалить (см. кривую 3 на рис. 67) с помощью фильтра из сульфата меди 12 на рис. 65), который поглощает свет 250 нм, но пропускает свет с длиной волны более 300 нм. [c.184]

В зависимости от сложности спектров, задачи на структурный анализ сгруппированы в три раздела. Первый из них содержит простейшие спектры ПМР без проявления спин-спинового взаимодействия, второй — задачи на расшифровку спектров первого порядка и третий — на расшифровку спектрой второго порядка. Для тренировки в оценке химической и магнитной эквивалентности протонов сначала дается несколько задач на классификацию спиновых систем. [c.102]

В отличие от призмы дифракционная решетка дает сразу несколько спектров. Действительно, свет одной и той же длины волны имеет максимум в любом из направлений, для которого выполняется условие, записанное в формуле (17). В зависимости от значения т образуются спектры разных порядков (рис. 62, а). При т = О свет любой длины волны не имеет разности фаз, и в направлении, перпендикулярном поверхности решетки ( р = 0), получается белое пятно неразложен-ного света — спектр нулевого порядка. При т = 1 разность хода для волн, идущих от соседних щелей, равна одной длине волны. По обе стороны от нулевого порядка получаются спектры первого порядка. Меньше отклоняются лучи более коротких длин волн, потому что для них разность хода, равная длине волны, получается ири меньших углах дифракции. При т = 2 образуются два спектра второго порядка и т. д. [c.90]

Этот знак может быть определен экспериментально только из сложных спектров ( второго порядка ), (Обсуждение анализа таких сложных спектров проводится в разд. VIII.К, посвящеииом специальным методам исследования.) [c.297]

Спектр ароматических протонов ООСВ представляет собой систему АА ВВ, которая содержит 24 линии. Каждая из них может использоваться для измерения ширины. Но в сильных полях и сравнительно концентрированных растворах начинает проявляться эффект радиочастотного затухания, вызывающий уширение линии, поэтому надежные измерения можно делать только на самых слабых сигналах, находящихся с края мультиплетов. Радиочастотное затухание - это ускорение спада сигнала свободной индукции за счет индуктивной связи с резонансным окружением датчика. Оно в меньшей сгепени оказывается на сигналах малой интенсивности и может быть ослаблено небольшой преднамеренной расстройкой приемного контура, На приборах с частотой 400 МГц и выше можно использовать 1 %-ные растворы ООСВ. На рнс. 3.2 приведены тестовые спектры приборов на 250 и 500 МГп. Еще одно неудобство представляют собой заметные изменения в спектрах второго порядка при переходе к более сильным полям. Обычно на 5-мм датчиках легко получается разрешение 0,1 Гц или немного меньше. Производители спектрометров в большинстве случаев гарантируют разрешение 0,2 Гц. [c.64]

Константу спин-спинового взаимодействия обозначают V, где п - число о-связей, которыми отделены ядра. Знак постоянной спин-спинового взаимодействия соответствует параллельному - ) или ан-типараллельному (+7) расположению магнитных моментов ядер и может быть определен экспериментально только из сложных спектров второго порядка. [c.258]

Если с фосфаном (354) при —78 °С смешивать эквивалентное количество метилиодида и затем прекратить охлаждение, то с количественным выходом образуются белые кристаллы иодида 1-ме-тилфосфания (356) (схема 152). Из его спектра ЯМР нельзя сделать заключения о расположении протона, связанного с фосфором, из-за трудности интерпретации спектра второго порядка. [c.393]

Такое переналожение порядков затрудняет расшифровку спектра. Для устранения этого необходимо использовать светофильтры или фотографировать спектры на пластинках с ограниченной спектральной чувствительностью. Вместе с тем это наложение спектров может помочь расшифровать спектр в коротковолновой области высокого порядка по спектру более длинноволновой области налагающегося низкого порядка. Например, по видимому спектру первого порядка можно определять длины волн ультрафиолетового спектра второго порядка. [c.31]

KImm. Легко видеть, что перемещение рычага от I = 6 мм до / = 20 мм даст участок спектра второго порядка между 2000 и 6660 А. При точности отсчета в 10 мм можно осуществить выведение нужной линии с точностью 0,3 A. [c.44]

На рис. 4.3 приведен для примера спектр второго порядка типа АА ВВ. Сравнение с аналогичным спектром первого порядка (тип А2Х2 на рис. 4.2) наглядно показывает степень усложнения спектрограммы и невозможность расшифровки спектров второго порядка простым визуальным восприятием. Определен>1е основных параметров простейших сректров второго порядка рассматривается ниже в специальном разделе этой главы, но полная расшифровка сложных спектров требует применения специальной техники, изложение которой выходит за пределы данного пособия. [c.78]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология