Фотография в электронной микроскопии

Структура изопористой мембраны (фотография получена с помощью сканирующего электронного микроскопа). [c.57]

Для повышения контрастности изображения в электронном микроскопе пользуются оттенением объекта, сущность которого состоит в том, что на исследуемый прозрачный препарат или его отпечаток в вакууме под острым углом напыляется тонкий слой металла с большим атомным номером (например, хром, золото, уран и т. д.). Напыленный слой металла распределяется на поверхности препарата неравномерно возвышенные места поверхности покрываются больше, чем трещины. В результате иа фотографии получается более отчетливая черно-белая картина объекта. [c.134]

С помощью электронного микроскопа можно очень точно определить размеры коллоидных частиц, так как увеличение, с которым сделаны электронномикроскопические фотографии, всегда известно. [c.47]

В электрохимических исследованиях широко используют методы микроскопии, электронной микроскопии и т. п. и результаты обычно представляют в виде фотографий. [c.95]

Рис. 98. Фотографии частиц сажи в электронном микроскопе.

Непосредственно толщину черной углеводородной пленки в водной среде можно определить из электронно-микроскопических фотографий ее поперечного среза 12, 82—84]. С этой целью пленку формируют в среде с тяжелыми металлами, затем перемещают ее в желатиновую капсулу, где после соответствующей обработки фиксируют и замораживают. Далее с помощью ультрамикротома получают поперечные срезы пленки и исследуют их под электронным микроскопом. Наблюдаемые в электронном микроскопе картинки поперечного среза пленки представляют обычно трехслойную структуру, состоящую из двух темных линий, проявляющих полярные области пленки, где адсорбируются тяжелые металлы, и более светлого участка между ними, относящегося к углеводородной части пленки. [c.76]

Полученные методом просвечивающей электронной микроскопии фотографии наноструктурного сплава А1 1420 приведены на [c.207]

Наиболее точные измерения толщины пленки производятся на самих пленках. В основе таких методов лежат оптические и гравиметрические измерения, а также поглощение и эмиссия рентгеновского излучения. Наибольшую точность обеспечивает многолучевая интерферометрия, и в зависимости от используемого метода можно получить точность в пределах 1 или 2 нм. Для проверки толщины пленки можно использовать метод Фи-30, который заключается в нанесении отражающего покрытия поверх ступеньки осажденной пленки и в измерении серии интерференционных полос. Толщину пленки можно измерить также, делая срезы плоских кусков смолы, на которые было нанесено покрытие, и измеряя толщину слоя металла с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Погрешность этого метода зависит от того, насколько точно под прямым углом к металлическому слою можно сделать срез смолы н фотографии среза. Простой метод точного определения толщины пленки и размеров зерна был описан недавно в [307]. Было установлено, что в линейных агрегатах латексных сфер материал покрытия накапливается только на свободной поверхности сфер. Увеличение толщины поперечного по отношению к линейному агрегату диаметра сферы будет равно удвоенной толщине пленки, в то время как толщина диаметра, параллельного агрегату, будет соответствовать толщине пленки. С помощью такого метода были измерены толщины пленок, полученных при различных способах их нанесения, с точностью 2 нм. Толщину пленки можно оценить по цветам интерференции илп в случае углерода по плотности осадка на белой керамической плитке. [c.214]

Оптическая и электронная микроскопия широко используется для изучения процесса формирования и превращения жидкокристаллической фазы [85,86]. Метод непосредственного наблюдения за процессом карбонизации с помощью специальной приставки к оптическому микроскопу 47] позволяет не только фиксировать момент появления частиц мезофазы, но замерить их количество и средний диаметр. Фотография и киносъемка дают наглядное представление о деформации и коалесценции частиц, динамике изменения их размеров и их регулирование различными приемами. [c.45]

Широкие возможности изучения поверхностей появились с развитием растровой электронной микроскопии и появлением сканирующих электронных микроскопов [258, 259, 261—263]. Преимуществом сканирующих микроскопов при изучении поверхностей является то обстоятельство, что благодаря значительной глубине резкости (в несколько сот раз выше, чем у обычных микроскопов) удается достигнуть четкого изображения шероховатых и грубых поверхностей. В качестве примера на рис. III.3 (см. вклейку) приведена фотография [260] поверхности биологического объекта, выполненная с помощью сканирующего микроскопа. [c.97]

Отбор образцов и исследование капель производится теми же методами, что и для анализа пыли. Обычно образец отбирается фильтрованием или осаждением, взвешивается для определения весовой концентрации, подсчитывается число частиц в единице объема газа определяются их размеры. Для отбора капель с минимальной погрешностью часто используется пластина, покрытая парафином пли жиром. Отбор окрашенных капель иногда производят на фильтровальную бумагу, принимая в расчет расширение следов при впитывании капель в бумагу. Подсчет и измерения можно осуществлять с фотографии или непосредственно с образца с помощью увеличительных линз, оптического или электронного микроскопа. Метод электронного сканирования фотографического негатива для оценки распределения капель по размерам , возможно, позволит отказаться от визуального подсчета. Разработан струйный импульсный прибор для экспрессного стандартного определения кумулятивного объемного распределения капель распыленной жидкости прибор рекомендуется для работы с каплями крупнее 100 мкм. [c.76]

На рис. 111.104 в качестве примера показана типичная микрофотография продуктов выделения, полученная с помощью сканирующего электронного микроскопа. Наиболее интересной особенностью приведенной фотографии является то, что все структуры, образовавшиеся в системе к.определенному моменту полимеризации, [c.284]

На рис. 1 представлены данные распределения частиц для некоторых сортов сажи, представленных в табл. 2, показывающие что при переходе от термической сажи к печной, а затем к канальной, уменьшается разброс в размерах частиц. Изучая фотографии сажи в электронном микроскопе (рис. 2, 3, 4, 5, 6) можно заметить, что во многих сортах сажи отдельные частицы сгруппированы в агрегаты, имеющие вид разветвленных трехмерных цепей. Эти агрегаты образуют так называемую вторичную структуру . Структурные свойства сажи проявляются наименее заметно в образцах термической сажи (рис. 2) и наиболее заметно в ацетиленовой саже (рис. 3). В зависимости от структуры сажи меняются различные физические свойства каучуков, [c.194]

Фотография в электронном микроскопе и сажи сорта стерлинг МТ. [c.195]

Рис. 3. Фотография ацетиленовой сажи в электронном микроскопе, заметна структура сажи.

Рис. 4. Фотография в электронном микроскопе и распределение частиц сажи Сферой 6 .

В случае же воздействия при термообработке магнитного поля вдоль одного из направлений <100> % в сплаве тиконал метастабильные > тетрагональные фазы сопрягаются по оси с, ориентированной вдоль направления магнитного поля, и образуют одноосную кристаллическую текстуру. На рис. УИ1.16 показаны электронно-микроскопи- 4/ ческие фотографии фольг сплава тиконал в высококоэрцитивном состоянии. Отчетливо видно, что в плоскости 001 , перпендикулярной к направлению магнитного поля, выделения образуют правильную прямоугольную сетку и периодически расположены по направлениям [100] и [010]. В плоскости, параллельной направлению магнитного поля, выделения имеют вид стержней, расположенных периодически в направлении, перпендикулярном к магнитному полю. Толщина выделений - 200 А, а отношение длины к толщине порядка 30 40, т. е. выделения характеризуются достаточно большой анизотропией формы. [c.173]

Из прямых методов наиболее перспективным является метод электронной микроскопии, дающий детальную статистику распределения пор [30, 93]. Однако обработка электронно-микроскопических фотографий представляет собой весьма трудоемкий процесс. В настоящее время применяется метод изучения шлифов пород под световым микроскопом с применением статистической обработки и построением кривых распределения расстояния между стенками пор [8]. Л.И. Орлов и В.Ф. Малинин [61] предложили изучать специально подготовленную полированную поверхность исследуемой породы под микроскопом путем подсчета с помощью интегратора площади сечения поровых каналов. Оба эти метода очень трудоемки и имеют невысокую разрешающую способность, зависящую от данньЕХ световых микроскопов. [c.68]

На рис. 2.13 и 2.14 воспроизведены два снимка, полученные при помощи электронного микроскопа. На них показаны молекулы вируса, вызывающего заболевание томатных растений. Диаметр каждой такой молекулы вируса кустистой карликовости равен приблизительно 23 нм. Молекула этого вируса состоит примерно из 750000 атомов. Молекулы вируса некрии (отмирания тканей) несколько меньше — их диаметр достигает примерно 19,5 нм. На обеих фотографиях ясно вид ны отдельные молекулы. [c.41]

ОДНОГО штамма смешать с г-цепями другого штамма и подвергнуть их отжигу , то будет наблюдаться образование двухцепочечной ДНК-Поскольку, однако, в одном штамме имеется делеция, гомологичная область нормальной ДНК фага Я образует одноцепочечную петлю, которую можно легко увидеть при помощи электронного микроскопа. На рис. 15-24 в качестве примера показана электронная микрофотография такой гетеродуплексной молекулы с делеционной петлей. На этой фотографии виден также пузырь ( bubble ), образованный в том месте, где в одну из нитей был включен фрагмент негомологичной ДНК [c.263]

Заметим, что точное определение физической и химической природы таких мелких частиц, как ядра конденсации, является трудной задачей С помощью оптического микроскопа можно измерить лишь крупные ядра Электронный микроскоп позволяет измерить более мелкие ядра но из за высокого вакуума и нагревания эаектронным пучком происходит значительное испарение воды и других составляющих ядер, и на фотографиях получаются лишь сухие остатки ядер Многие ядра представляют собой более или менее гигроскопические частицы их конденсационная активность видна на рис 12 2 Верхняя кривая, показывающая при какой относительной влажности будет происходить конденсация на капельках чистой воды разного размера, относится равным образом [c.380]

Как в миелине, так н в наружных члениках палочек сетчатки на электронно-микроскопических фотографиях видны близко прилегающие друг к другу пары таких мембран, суммарная толщина которых составляет 18 нм Аналогичные структуры можно наблюдать при помощи электронного микроскопа после окраски и фиксации фосфолипидов, находящих1Ся в ламеллярной жидкокристаллической фазе Для корректной интерпретации этих результатов необходимо ответить еще [c.339]

Рис. 3.6. Фотография, полученная с помощью сканирующего электронного микроскопа, на которой показаны офаненные впадины, развившиеся в местах нарушений в полевом шпате из гранита юго-западной Англии. Отметим, что местами впадины сращиваются, что вызывает полное растворение полевого шпата. Масштабное деление = 10 мкм. Фотография, любезно предоставленная ЕСС International, St Austrell, UK.

Рис. 3.12. Фотография каолинита, полученная с помощью сканирующего электронного микроскопа, на которой показаны плитчатые кристаллы, собранные в слои. Фотофафия любезно предоставлена S. Bennett.

Значительный интерес представляет факт превраш ения нитевидных кристаллов в изометричные [95]. На рис. 60 приведена фотография изометричного кристалла алмаза диаметром 20 мкм, сделанная с помош,ью сканируюш,его электронного микроскопа. [c.108]

В связи с исследованиями [264] по очистке расплавленной серы от твердых примесей с использованием предварительно нанесенного слоя вспомогательного вещества определены гранулометрические составы разных сортов диатомита. Для тех же сортов диатомита сделаны фотографии при помощи электронного микроскопа. На этих фотографиях видно, что частицы диатомита- представляют собой пластинки с отверстиями размером 0,04—0,5 мкм. Диатомит некоторых сортов имеет разрушенны е пластинки, которые могут увеличить сопротивление слоя вспомогательного вещества. [c.297]

Хекман и сотр. [107] обрабатывали капилляры из твердого боросиликатного и мягкого известково-натриевого стекла раствором КНРг. На фотографиях, полученных с помощью растрового электронного микроскопа, ясно видно, что в этом случае образуется шероховатая поверхность мозаичной структуры. Авторы работы [107] предполагают, что на поверхности капилляра образуются кристаллики К281Рв. Аналогичный эффект достигается при травлении парами метил-2-хлор-1, [c.64]

Рис. 6.Э. Фотографии, сделанные с помощью электронного микроскопа. Показывают, что опал состоит из правильно расположенных мелких шариков ремиезема.

Методом оптической и растровой электронной микроскопии изучены поверхности разрушения трубопровода в двух сечениях (N2, N4), соответствующих вертикальному (N2) и горизонтальному (N4) участкам трубопровода. Схематизация поверхности разрушения, фотографии изломов трубопровода и схема вырезки темплетов (образцов) для изучения микропараметров разрушения представлены на рис. 3.32-3.33. [c.302]

Необходимо отметить, что при травлении полимерного образца н пем могут происходить определенные структурные нзменент1Я, и на фотографиях, полученных на электронном микроскопе, может присутствовать структура, вовсе не типичная для данного полимера. Подобного рода явления представляют собой обычные артефакты, которые неоднократно получались при исследовании полимеров методами электронной микроскопия. [c.53]

Рис. V-14. Фотография микрокристаллов Na l, полученная с помощью сканирующего электронного микроскопа. (С разрещения д-ра Р. Ф. Байкера.)

Что касается обнар5гженной при помощи электронного микроскопа формы частиц, то цитированные выше первые измерения показали, что частицы всех саж имеют сферическую форму. Кроме того, было обнаружено, что только ацетиленовая и ламповая сажи образуют некоторое подобие неправильной структуры из связанных между собой частиц сажи, частицы же остальных саж казались совершенно не связанными между собой, и наблюдаемые на фотографиях агрегаты объясняли как случайное наложение частиц друг на друга. [c.61]

Рис. 111.49. Фотография кристаллических осадков, образовавшихся при полимеризации этилена из газовой фазы в присутствии каталитической системы Т1С1з— А1С1Е12 (фотография. получена с помощью сканирующего электронного микроскопа).

Справочник химика 21

Химия и химическая технология