Излучение Частицы отражения

Обратное рассеяние Р-частиц веществом зависит от их энергии, толщины слоя абсорбирующего материала и порядкового номера абсорбирующего элемента. Связь между толщиной слоя т, обеспечивающего наибольшее отражение Р-частиц веществом, и максимальной энергией р-излучения (МэВ) выражается формулой [c.305]

В зависимости от длины волны видимого света и относительных размеров частиц дисперсной фазы рассеяние света принимает различный характер. Если размер частиц превышает длину световых волн, то свет от них отражается по законам геометрической оптики. При этом часть светового излучения может проникать внутрь частиц, испытывать преломление, внутреннее отражение и поглощаться. [c.295]

В. соответствии с этим уравнением энергия 3-излучения, отраженного от легких элементов, много меньше энергии 3-частиц, отраженных от тяжелых элементов. Это позволяет определять содержание элементов с большим г в смеси с элементами с малым 2, например вольфрама в сталях, железа в рудах и т. п. [c.367]

Электромагнитная волна индуцирует в атоме, молекуле или ионе периодический электрический диполь, так как электрический вектор падающего излучения стремится сдвинуть электроны от их положения равновесия относительно ядра. Энергия, связанная с электрической поляризацией, немедленно высвобождается, если частота падающего излучения не является характеристической частотой, которая поглощается частицей. Это вторичное излучение частицы интерферирует с падающим излучением подобная интерференция является основой таких явлений, как отражение, преломление и рассеяние света. [c.220]

Если протяженность границы раздела мала (например, когда мелкие частицы взвешены в виде суспензии в другом веществе), большая часть излучения не отражается, а рассеивается. Причиной рассеяния, так же как отражения и преломления, является индуцированное вторичное излучение частиц среды. Когда свет падает на протяженное тело, происходит наложение волн, возбуждаемых отдельными атомами или молекулами, входящими в его состав. Эта интерференция приводит к тому, что возникают только преломленный и отраженный пучки. Если же свет падает на отдельные частицы, размеры которых близки к длине волны падающего излучения или меньше ее, то нарушается закономерность излучения волн отдельными частицами и эффекты взаимной интерференции уменьшаются. Поэтому происходит рассеяние света по случайному закону- [c.222]

Концентрацию трудно доступных для исследования аэрозолей, например концентрацию воды в облаке, можно определять с помощью радиолокаторов. Прощупывающий пространство направленный радиолуч испускается источником в виде импульсов через определенные промежутки времени и регистрируется на экране осциллографа. С помощью осциллографа регистрируется и излучение, возвратившееся обратно в результате рассеяния объектом (облаком). По интервалу времени, прошедшему от подачи радиосигнала до приема рассеянного луча, можно определить расстояние до объекта, а по интенсивности отраженного луча можно судить о концентрации дисперсной фазы в объекте, так как рассеяние радиолучей малыми частицами описывается уравнением, в общем аналогичным уравнению Рэлея. [c.342]

Свет рассеивается микрогетерогенными системами только в том случае, если размер частиц г меньше длины световой волны X, а расстояние между частицами больше световой волны. При размере частицы г < X световая волна огибает частицу происходит дифракционное рассеяние. Если размер частиц значительно больше длины световой волны, происходит отражение света. Рассеяние света связано с тем, что переменное электрическое поле световой волны возбуждает частицу, индуцируя в ней переменный дипольный момент. В результате этого частица становится источником собственного излучения, сохраняя строгие фазовые соотношения с облучающим электрическим полем. Такое рассеяние света называется когерентным. Если падающий луч света монохроматичен, то свет, рассеянный частицами, таклсе монохроматичен и имеет такую же длину волны, как и свет падающий. Свет, рассеянный частицей, попадает на находящиеся вблизи частицы, происходит многократное рассеяние света. В результате возникает само-освещение среды рассеянными внутри нее электромагнитными волнами. Вследствие когерентности света, рассеянного частицами, волны рассеянного ими света интерферируют между собой и с волнами падающего света. На границе дисперсионная среда — дисперсная фаза происходит полное гашение облучающей волны, и вместо нее возникают преломленные и отраженные волны. [c.389]

При анализе поток р-частиц от источника направляется на анализируемый материал. Поток отраженного р-излучения попадает на детектор излучения через фильтр, толщина которого достаточна для поглощения излучения, отраженного от легких элементов. Последовательно измеряют потоки отраженного р-излучения от эталонов, содержащих известное количество определяемого элемента и анализируемого образца. Затем строят калибровочный график в координатах интенсивность излучения — содержание определяемого элемента в эталоне. По графику находят содержание определяемого элемента в образце. [c.367]

Поскольку торцы рубинового стержня (диаметр стержня обычно меняется от 0,5 до 1 см, а его длина — от 2 до 10 см) имеют зеркала, то за счет многократного отражения возникшее индуцированное излучение само себя лавинообразно усиливает — фотон, испущенный одной частицей параллельно оси 00 (рис. 209, а ), может играть роль сигнала для другой частицы. В частности, он может, отразившись от зеркала, сыграть вторично роль сигнала для той же самой частицы, которая его испустила, и произойдет весьма бурное высвечивание энергии, накопленной в возбужденных состояниях во время импульсной накачки. Возникает излучение рубинового лазера в виде вспышки. Выходная мощность руби- [c.522]

Методы основаны на том, что отражение р-частиц веществом зависит от заряда атомов отражающего материала и возрастает с увеличением этого заряда. Интенсивность отраженного р-излучения зависит также от толщины отражающего слоя и достигает максимума при толщине й отражающего мате- [c.319]

Вторая полоса свидетельствует о дальнейшем окислении карбонильного углерода в карбоксильный. В газовой фазе органические кислоты не появляются, т. е. карбоксильная группа и енольная форма представляют собой тупиковые формы. Таким образом, каталитическое окисление произошло однократно и не сопровождалось освобождением соответствующего активного участка. При применении ИК-спектроскопии к изучению адсорбированного состояния необходимо подбирать адсорбенты и катализаторы, достаточно прозрачные в исследуемой области спектра. Окисные адсорбенты сами пропускают излучение в области 4000—1200 см . Металлы в виде сплошных напыленных пленок почти полностью отражают, а металлические черни с частицами малых размеров почти полностью поглощают излучение. Частичное преодоление этих трудностей возможно при помощи отраженных инфракрасных спектров. Более перспективна методика нанесения частиц металла очень малых размеров на тонко измельченный прозрачный носитель типа силикагеля или окиси алюминия с достаточно развитой поверхностью. [c.178]

Если пучок параллельных лучей попадает на поверхность какой-нибудь частицы, линейные размеры которой велики по сравнению с длиной волны падающего излучения, то наблюдается отражение по законам геометрической оптики. Когда длина волны падающего света велика (примерно в 10 раз больше) [c.312]

Из уравнения 13.9 видно, что чем меньше длина волны падающего излучения, тем больше будет рассеяние. Следовательно, если на частицу падает белый свет, то наибольшее рассеивание будут испытывать синие и фиолетовые компоненты. Поэтому если пропускать через коллоидную систему белый луч, то в проходящем свете раствор будет окрашен в красноватый цвет, а в боковом, отраженном, — в голубой. Это хорошо видно на золях мастики, серы. [c.313]

Таким образом, степень отражения р-излучения растет с повышением порядкового номера элемента-отражателя. Кроме того, р-излучение, отраженное от образца, который содержит элементы, значительно отличающиеся по порядковому номеру, будет состоять из частиц, также весьма различающихся по энергии как известно, раздельное измерение потоков таких частиц может быть проведено с большой точностью. [c.171]

Интерес к химическому составу и физико-химическим свойствам аэрозолей связан с их участием в ряде важнейших процессов, протекающих в атмосфере. В их числе прежде всего следует упомянуть влияние на формирование радиационного режима планеты. Аэрозоли, в зависимости от размера и состава частиц, вносят существенный вклад в отражение, рассеяние и поглощение коротковолновой радиации Солнца и восходящего потока теплового излучения подстилающей атмосферу поверхности. Поэтому изменение содержания взвешенных частиц в атмосфере может вызывать значительные климатические пертурбации. [c.118]

В том случае, когда коллоидные частицы чрезвычайно однородны по размеру и форме, они могут соединяться, образуя очень однородный регулярно упакованный агломерат, точно так же как молекулы располагаются в кристаллической решетке. В действительности получается как бы кристалл , составленный из коллоидных частиц. Однако из-за того, что размеры такой решетки оказываются слишком большими, интерференционные законы Брэгга не могут быть приложимы к рентгеновским лучам, но остаются справедливыми по отношению к видимой области света, имеюш ей длины волн во много раз больше, чем рентгеновское излучение. В результате получается, что при рассмотрении в лучах отраженного света под определенными угла.ми упорядоченные агрегаты предстают заметно окрашенными. [c.545]

В тех случаях, когда требуется замерить толщину листа резины на валке каландра, применяется так называемый толщиномер отраженного типа. В таком устройстве р-частицы попадают на лист, и отраженная их часть поглощается ионизационной камерой. Интенсивность отражения зависит от среднего атомного веса отражающей среды и толщины листа, причем измерения интенсивности отраженного излучения пропорциональны толщине листа. Изотопные толщиномеры замеряют толщину листа до 2,5 мм (масса 1 м листа до 2,6 кг). Погрешность измерения изотопных толщиномеров равна 0,5—1 %. [c.164]

Методы, основанные на отражении излучения. Максимальная степень отражения р-частиц фтах связана с порядковым номером элемента-отражателя весьма простой зависимостью [c.171]

Один из наиболее прямых методов изучения того, каким образом наши глаза дают нам возможность воспринимать цвет, состоит в сложении световых потоков или, более точно, в сложении цветовых стимулов. Сначала направим световой пучок (например, от лампы накаливания) так, чтобы он создавал освещенный участок на белом экране. Энергия излучения отражается от этого участка и преломляется частицами пигмента, окрашивающего экран. Отраженная энергия имеет такое пространственное распределение, что наблюдатель может видеть освещенный участок одинаково хорошо из многих различных положений относительно экрана. В любом из этих положений лишь малая доля отраженного потока излучения попадает в глаз и становится цветовым стимулом. Поскольку частицы белого пигмента действуют на энергию излучения какой-либо одной длины волны видимого спектра примерно [c.60]

При взаимодействии радиоактивного излучения с веществом обязательным процессом является взаимодействие излучения с электронами атомных оболочек. При этом возможно частичное поглощение излучения, его рассеяние и отражение. Методы анализа, основанные на измерении абсорбции или изменении направления ядерного излучения в результате взаимодействия с веществом, хотя и не универсальны, но в ряде случаев могут быи. полезны, особенно при определении одного из компонентов бинарной смеси. В зависимости от типа излучения различают у -абсорбционный, Р -абсорбционный и нейтронно-абсорбционный методы. Кроме того, следует упомянуть методы, основанные на отражении уЗ-частиц и на замедлении нейтронов. Существуют и другие методы [c.381]

Помимо собственного излучения, физически связанного с энергетическими процессами внутри и между структурными частицами вещества (атомами, молекулами), тела посылают в окружающее пространство еще и отраженное внешнее излучение. Отражаемое телом внешнее излучение зависит от характера падающего излучения и от коэффициента черноты самого тела, но практически не зависит от его температуры. Сумма собственного и отраженного излучения называется эффективным излучением тела. [c.245]

Люминесценция (от лат. 1ит1п1з — свет) — послесвечение, представляющее собой избыток над тепловым излучением тела при данной температуре и имеющее длительность, значительно превышающую период световых волн (--10 с). Первая часть этого определения предложена Э. Видеманом (1888 г.), вторая часть — признак длительности (послесвечения) — введена С. И. Вавиловым (1945 г.) для того, чтобы отделить люминесценцию от других явлений вторичного свечения — отражения и рассеяния света, а также тормозного излучения Вавилова — Черенкова, индуцированного излучения и др [10]. Начальное возбуждение может быть вызвано облучением (излучением, частицами), деформацией (механическое или электрическое поле), а также химическим и биологическим воздействием. [c.431]

Приняв потери мощности электронного луча на рассеивание электронов испаряющимися частицами, отраженными электронами и т. п., равными 15% [7, 45], и зная зависимость от температуры потерь мощности на излучение Qt зя [30] и испарение Qu n [19], глубину ванны (см. рис. 6) и теплопроводность расплава Я [3], можно решить уравнение теплового баланса для элементарного объема жидкой ванны, используя данные рис. 7, и определить максималь- [c.227]

Точность анализа при этом принципиально зависит в первую очередь только от разности порядковых номеров компонентов сплава кроме того, последующие исследования показа.ли, что ее можно существенно увеличить при выполнении условий, связанных с некоторыми свойствами отраженного излучения. Например, существенное влияние на точность метода может оказать правильный выбор радиоактивного изотопа. Яаффе и Юстус [3] при определении коэффициентов отражения для различныхметаллов установили, что с увеличением максимальной энергии падающего -излучения интенсивность отраженного излучения значительно возрастает, причем до энергий порядка 1 Мэе соблюдается прямая пропорциональность между этими величинами. При дальнейшем увеличении максимальной энергии, как это видно из рис. 2, эта пропорциональность нарушается, что, по-видимому, объясняется ростом радиационных потерь, которые становятся особенно заметными при энергии р-частиц более 1 Мэе. [c.241]

Использующиеся на практике сублимационные испарители хрома разработаны Робертсом и Виа [75]. Как показано на рис. 14, хромовый стержень крепится внутри цилиндра, имеющего две стенки. Последний изготовлен из листового тантала толщиной 0,05 мм (наружный цилиндр) и 0,13 мм (внутренний цилиндр) цилиндры для создания электрического контакта соединены точечной сваркой. Так как испаритель компактный и хорошо экранирован, то потребляемая им мощность меньше 750 Вт. Сублимация происходит со всей площади поверхности хромового стержня, который равномерно нагревается излучением. Поэтому отражения частиц хрома не происходит и скорости испарения в течение длительного периода времени постоянны. Увеличивая напряжение питания испарителя, можно получить скорости осаждения пленок до ЮОА/с и более для типичных расстояний обычной колпачной установки. Емкость испарителя составляет по крайней мере 50% от первоначального количества испаряемого вещества. Стержни могут быть приготовлены из порошка хрома путем спрессовывания и спекания, однако наиболее чистые пленки получают из стержней, очищенных зонной плавкой. Сублимационные испарители часто применяются для испарения термически стойких соединений. Эти соединения обычно существуют либо в виде порошков, либо в виде неплотно спеченных кусков, содержащих большие количества абсорбированных или акклюди- [c.60]

При падении пучка монохроматических (т. е. одинаковых по длине волны) рентгеновских лучей на грань кристалла большая часть пучка проходит через кристалл, но некоторая его доля претерпевает отражение. Это отражение происходит от плоскостей, образованных частицами, составляющими кристал 1ическую решетку данного вещества. Такие плоскости играют роль штрихов дифракционной решетки расстояния между ними близки к длинам волн рентгеновских лучей, поэтому последние, отражаясь от параллельных плоскостей, интерферируют друг с другом. При определенных углах падения пучка лучей на грань кристалла наблюдается усиление отраженного луча, которое регистрируется на фотопленке или другим образом — получается рентгенограмма данного кристалла. Расшифровка ее, при известной длине волны применяемого излучения, приводит к определению расстояний между соседними плоскостями или, что то же самое, между соседними атомами (ионами) в кристалле [c.159]

Ионы хлора образуют решетку, идентичную решетке, образуемой ионами цезия. Поэтому отражения от плоскостей, содержащих ионы хлора, возможны точно под теми же углами, что и от плоскостей, содержащих ионы цезия. В рассматриваемом случае плоскости ионов хлора располагаются точно посередине между плоскостями ионов цезия, и расстояние между этими плоскостями составляет //2. Поэтому волны, отраженные от плоскости ионов хлора, будут смещены по сравнению с волнами, отраженными от соседней плоскости ионов цезия, на величину 51п0. При нечетных п эти волны смещены на половину волны и гасят друг друга. Однако в силу различий в амплитуде колебаний рассеяния (она существенно меньше для менее интенсивно рассеивающих ионов хлора) гашение будет неполное, т. е. рефлексы наблюдаются. При четных п волны, рассеянные от обеих плоскостей, совпадают по фазе, и рассеяние от ионов хлора будет несколько усиливать рассеяние от ионов цезия. Следовательно, рассеяние от системы плоскостей, содержащих грани элементарной ячейки, более интенсивно под углами 22 и 48,52°, чем под тремя остальными углами. Рассеивание от системы плоскостей, содержащих диагонали граней элементарной ячейки, под углом 31,95° существенно сильнее, чем под углами 15,34 и 52,54°. Следовательно, распределение интенсивности между рефлексами содержит информацию о распределении атомов в пределах элементарной ячейки, т. е. о структуре частиц, составляющих ячейку. Именно этим обстоятельством определяется возможность применения дифракции рентгеновского излучения для определения структуры молекул в кристаллах. Кристаллы, построенные из сложных молекул, дают очень сложную картину распределения интенсивностей отдельных рефлексов. Однако по ней можно полностью восстановить расположение отдельных атомов в элементарной ячейке и тем самым установить полную пространственную структуру молекул, из которых построен кристалл. Используя некоторые дополнительные приемы и применяя для расчетов быстродействующие электронно-вычислительные машины, удается получить пространственную структуру даже таких сложных молекул, как белки и нуклеиновые кислоты. [c.185]

Классическая теория постоянного или выпрямленного электрического тока в электролитах основана на предположении квазистационарных процессов. С одной стороны, квазистационарные процессы играют важную роль в познании прохождения электрического тока жидких веществ, обладающих свойствами е, ц и V. С другой стороны, быстропеременные во времени процессы, взаимосвязанные с электромагнитным излучением источника и взаимодействием с веществом на границе раздела фаз металл-электролит, зависящие от концентрации по времени, изменяющей электропроводность, зависящие от концентрации, плотности тока и поляризации , а также существование изменяющегося двойного электрического слоя на границе раздела двух фаз позволяют рассматривать электродную систему как бесконечно изменяющуюся в пространстве и времени под воздействием постоянно действующего возмущения. Рассматривая такую систему, отметим, что между электродами п электролитом происходит обмен энергии, имеет место переход материн иоп частицы с электрода в электролит и из электролита в электрод. Почи), ижу во всяком потоке электромагнитного излучения заключается не только определенная энергия, но и определенный импульс, всегда совпадающий с направлением излучения, то, следовательно, квант энергии заключает в себе определенный квант импульса, который и сообщает материальной частице толчок, совершая таким образом работу выхода материальной частицы. При переходе заряженной частицы с поверхности электрода в электролит происходит потеря (отражение) энергии, зависящая от диэлектрических и магнитных свойств среды, под влиянием которых существует та или иная контактная разность потенциалов электрод—электролит. С точки зрения волновой теории отражение происходит без изменения длины волны. Исходя же из квантовой теории длина волны может изменяться, если изменится размер кванта энергии. [c.60]

На поверхности всякого нагретого тела непрерывно протекает про-цесс перехода тепловой энергии в лучистую, т. е. колеблющиеся частицы тела отдают избыток своей энергии в виде электромагнитных колебаний различной частоты, распространяющихся в пустоте с постоянной скоростью, равной З-Ю см1сек это излучение подчиняется законам преломления и отражения и в однородной среде распространяется прямолинейно. Безвоздушное пространство вполне проницаемо для лучей они проходят его без каких-либо изменений. Практически большинство газов пропускает все лучи также без изменений. Наоборот, большую часть жидких и твердых тел, применяемых в технике, можно считать совершенно непроницаемыми для лучей. [c.291]

Рассеяние света происходит при взаимодействии электромагнитных волн с электронами рассеивающего вещества Падающие вопны вызывают периодические колебания в системе электронов, испускающих вторичные волны, которые и составляют рассеянное излучение В него входят также дифрагированная претомленная и отраженная составляющие, имеющие большое значение при рассеянии света макроскопическими частицами Существуют два пути рассмотрения явления замена электронов линейным осциллирующим диполем или группой диполей и теория электромагнитного [c.114]

Некоторые другие методы ИК-спектроскопии находят все большее применение в анализе. Методы внешнего и диффузного отражения применяются для анализа плоских отражающих образцов или тонкоизмельченных порошков. Для наблюдения этих сигналов промышленно вьшускаются ИК-микроскопы в качестве приставок для ИКФП-спектрометров. С их помощью можно проанализировать отдельные частицы или фазы размером до 10 мкм. Диаметр луча в современных ИКФП-спектрометрах ограничен лишь длиной волны излучения. Спектры микроучастков органических образцов можно легко получать в режиме пропускания или отражения. В обоих случаях толщина образца не должна превышать приблизительно 10 мкм (почему ) Минимально анализируемая толщина слоя обычно составляет 10 нм, что соответствует пределам обнаружения около 1 нг вещества плотностью 1 г/см . Этот метод используют в фармацевтической и электронной промышленности для фазового анализа и определения загрязнений. [c.185]

Дифрактометрия поликристалличесних порошковых образцов обычно имеет целью идентификацию фазового состава твердых веществ. Главное требование к подготовке образцов для дифрактометрических исследований — формирование гладкой плоской поверхности. Как правило, материал для исследования подвергают тонкому измельчению до получения порошка с размером частиц 2-5 мкм. После измельчения порошок засыпают в форму-держатель и прессуют, формируя ровную плоскую поверхность. Идеальный образец должен быть однороден по составу со случайным распределением кристаллитов по объему, т.е. в идеальном случае в образце складывается случайное распределение всех возможных плоскостей h, к, I. Вклад в формирование пучка отраженного излучения дают только те кристаллиты, в которых отражающие плоскости /z, к, I расположены параллельно поверхности образца. Если распределение всристаллитов в образце действительно случайно, то в формировании каждого луча, образованного отражением от плоскостей с данной комбинацией индексов h, к, I будет участвовать равное число кристаллитов. Для получения полной дифрактограммы достаточно перемещать образец в пределах угла падения пучка первичного рентгеновского излучения. [c.47]

Не входя в детали, стоит еще раз отметить, что такие явления, как отражение и преломление спета, можпо понять, если нредиоложить, что свет состоит из отдельных корпускул, распространяющихся прямолинейно. С другой стороны, такие явления, как дифракция и интерференция света, казалось бы, можно истолковать только с точки зрения представлений о непрерывном волновом движении. Естественно, что в этой главе основное внимание уделено той группе явлений, которая подтверждает корпускулярную или квантовую природу излучения. Свет с частотой V здесь рассматривался как нечто, обладающее энергией /IV и массой к/Хт. Но хорощо известные опыты по интерференции света не теряют своей убедительности, и поэтому следует считать доказанным, что свет обладает двойственным характером. В одних случаях он проявляет волновые свойства, а в других — свойства частиц. Правильность соотношения де-Бройля заставляет нас использовать такой же своеобразный подход и к материи. [c.130]

В качестве простейшего и наиболее ясного примера использования этих явлений можно указать случай, иозволяюш пй вывести закон отран<ения рентгеновских лучей от поверхности кристалла — закон Брэгга—Вульфа. В самом деле, каждый атом или ион в кристалле действует в качестве центра, от которого излучение рассеивается во всех направлениях, совместимых с законами оптики. Однако излучение, рассеянное в направлении связи между двумя атомами, многократно усиливается рассеянием излучения в том же направлении другими атомами. Суммарная дифракция в избранном направлении составляет одно из брэгговских отражений. Другое применение, некоторые обоснования которого были даны в гл. VII, принадлежит Дебаю, Менке и Принсу опо позволяет установить распределение атомов в жидкости. Наконец, метод смешанных порошков, развитый независимо Гуллом, а также Дебаем и Шерером, позволил сэкономить большое количество труда. В этом методе рентгеновские лучи рассеиваются во всех направлениях маленькими частицами смеси кристаллов, причем структура одного из них (обычно каменной солп) долл<на быть известна. В этом случае измерение межъядерных расстояний производится относительным методом, который сводится к измерению диаметров дифракционных колец, принадлежащих изученному и неизученному рассеивающим веществам. [c.463]

Первая часть этого определения, данная Видеманом, подчеркивает отличие люминесценции от свечения нагретых тел — свечение люминофоров происходит без нагревания ( холодный свет ). Вторая часть определения была введена Вавиловым [1, с. 282] для отличия люминесценции от свечения при отражении и рассеянии света, тормозного излучения заряженных частиц и излучения Вавилова — Черенкова. Все указанные виды свечения исчезают сразу же после прекращения возбуждения, тогда как люминесценция продолжается в течешге некоторого времени после этого. [c.7]

В потоке электронов отдельные частицы взаимодействуют друг с другом [4]. Рассеяние электронов ведет к распространению электронного излучения по всем направлениям. Следовательно, и электронорезист (рис. УП. 1) экспонируется в тех местах, куда первоначально не направлялся пучок электронов. Поток электронов в слое резиста делят на излучение, сохраняющее направление первоначального пучка, и обратно отраженное электронное излучение. На рис. УИ.2 показаны рассчитанные методсзм Монте-Карло траектории 100 электронов в слое резиста на подложке при разных ускоряющих напряжениях. Хорошо заметна доля электронов, имеющих направление первоначального пучка, и рассеянных. При 10 кВ рассеянные электроны расходятся на расстояние около 1 мкм, а при 20 кВ —уже на 3—4 мкм. [c.214]

Первая часть этого определения отделяет люминес-ценщтю от теплового равновесного излучения. Действительно, любое вещество, имеющее температуру выше абсолютного нуля, излучает электромагнитные волны. Это излучение является температурным, несмотря на то, что температура вещества может быть существенно ниже температуры окружающей среды. Вторая часть определения люминесценции, касающаяся длительности свечения, позволяет отделить люминесценцию от других видов свечения — отражения и рассеяния света, тормозного излучения заряженных частиц и т. д. Так как период световых волн составляет величину порядка 10 с, то длительностью, достаточной для того, чтобы отнести какой-либо вид свечения к люминесценции, считается величина 10 с и выше. [c.498]

Методы анализа, основанные на отражении 0 -частиц, целесообразно использовать тогда, когда определяемые элементы сильно различаются по величине атомного номера, поскольку отражение 0 -частиц возрастает с увеличением 2. Интенсивность отряженного 0 -излучения зависит также от толщины отражающего слоя. Метод применяют для определения толщины металлических по1фытий и анализа бинарных сплавов. [c.382]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология