Почернение первичное

Для образца со степенью ориентации 300—500 % получают рентгенограмму по методике, описанной в работе VI. 2. Полученную рентгенограмму фотометрируют на микрофотометре с помощью приставки, позволяющей вращать рентгенограмму вокруг центра в горизонтальной плоскости. На экваторе рентгенограммы выбирают интенсивную дугу, расположенную возможно ближе к пятну от первичного пучка. Вращая рентгенограмму, измеряют по визуальной шкале изменение интенсивности прошедшего через рефлекс пучка света, причем измерения проводят через каждые 5°. Поскольку почернение дифракционного пятна определяется не только рассеянием рентгеновских лучей упорядоченно расположенными областями, но и некогерентным рассеянием, то фон, им обусловленный, необходимо исключить. Распределение фона на пленке от центра к периферии определяют фотометрированием по радиусу рентгенограммы в направлении, в котором отсутствуют рефлексы, обусловленные когерентным рассеянием. Фотометрирование по кругу и меридиану обязательно проводят при одинаковой настройке прибора. Почернение собственно дифракционного пятна в каждой точке дуги Еп рассчитывают по формуле [c.194]

Применение радиоактивных изотопов, т. е. хроматографирование смеси, один или несколько компонентов которой являются радиоактивными, облегчает задачу качественного анализа. Пятно на хроматограмме, содержащее радиоактивный компонент, можно обнаружить счетчиком Гейгера— Мюллера, либо методом радиоавтографии. Этот метод заключается в том, что бумажная хроматограмма, содержащая радиоактивный изотоп, контактирует некоторое время со светочувствительной пленкой или бумагой, после проявления которых наличие радиоизотопа легко обнаруживается по почернению того места, которое соответствует положению пятна радиоизотопа на первичной хроматограмме. Методом радиоавтографии можно обнаруживать любое неорганическое или органическое вещество, молекула которого содержит радиоизотоп. [c.124]

Два световых потока от линий аналитической пары (/] /2), ослабляясь соответственно в аз и 5 раз, дают в ступенях 3 и 5 одинаковую интенсивность, о чем свидетельствует равенство их почернений (5,, 3 = 52,5). Зная степень пропускания этих ступеней ослабителя (см. табл. 30.3), можно, исключив свойства фотографической пластинки, оценить отношение первичных интенсивностей линий аналитической пары [c.690]

Кривую lg с, ДУ, полученную с помощью описанного выше метода, называют первичным градуировочным графиком [1а]. Этот график обычно линеен в области двух-трех порядков величины концентраций, если для анализа как следует выбраны условия возбуждения, дисперсия прибора, пары линий, способы фотометрического измерения и преобразования почернений. [c.76]

Повышенное почернение фона вокруг интенсивных линий называется гало. Оно вызвано вторичной эмиссией, обусловленной первичными ионами, попадающими на поверхность пластинки. Экспозиции в пределах 10" кулона могут быть на половину обусловлены этим фоном, значительно понижающим чувствительность. Подавить гало удалось Мею [124]. Оп предотвратил взаимодействие между интенсивным ионным лучом основы и эмульсией, вырезая нерабочие части фотопластинки. Предел обнаружения примесей в алюминии был увеличен таким путем на один порядок. [c.358]

Таким образом, при сопоставлении экспериментальных и расчетных значений интенсивности следует, во-первых, оценивать не наибольшее, а суммарное почернение пятна, и, во-вторых, применять расчетную формулу не максимальной, а интегральной интенсивности. При нахождении этой расчетной формулы нет необходимости отказываться от тех допущений, которыми мы до сих пор пользовались. Поскольку интегральная интенсивность не зависит от условий эксперимента — степени расходимости первичного пучка и характера мозаики в строении кристалла, расчетная формула может быть выведена и для идеальных условий. [c.52]

Интенсивности, оцениваемые по почернению пятен рентгенограммы, являются относительными марки почернения позволяют сопоставить их друг с другом, но не с интенсивностью первичного пучка. С другой стороны, почернение пятен зависит от многих факторов, не имеющих отношения к строению кристалла режима работы аппарата, экспозиции, сорта пленки, режима ее проявления. Поэтому разные рентгенограммы, снятые с одного и того же кристалла, не могут быть непосредственно сопоставлены друг с другом необходимо предварительно привести почернение пятен разных рентгенограмм к одной общей шкале. [c.164]

При нанесении капли раствора фосфолипидов на отверстие в перегородке наблюдается так называемое первичное почернение мембраны — ее толщина значительно превышает длину волны видимого света. Затем мембрана истончается и дает интерференционную картину, так как толщина ее становится соизмеримой с длиной волны видимого света. Терминальная стадия процесса образования бислоя— вторичное почернение — наблюдается в результате уменьшения толщины мембраны до 5—6 нм. Истончение пленки обусловлено выталкиванием воды из густого внутреннего слоя мембраны в электролит и перемещением фосфолипидных молекул к краям отверстия. В результате этих процессов на отверстии в гидрофобном материале формируется двойной фосфолипидный слой, причем полярные группы монослоев обращены в раствор, омывающий мембрану, а неполярные ориентированы внутрь структуры. Мембрана стабилизируется электростатическими взаимодействиями между ионами электролита и заряженными группами фосфолипидов, а также силами сцепления Лондона и Ван-дер-Ваальса, которые действуют между гидрофобными участками фосфолипидных молекул. [c.133]

Для опенки Отклонения осей цепей от оси текстуры можно ис пользовать рефлексы, расположенные на экваторе рептгенограммь и соответствующие небольшим величинам угла 0. Для этого на экваторе текстуррентгенограммы выбирается дуга средней интенсивности, расположенная возмох<но ближе к первичному лучу. На микрофотометре измеряют степень почернення вдоль дуги. Затем строят кривую распределения интенсивности по дуге, которая может характеризовать разброс осей молекул около оси текстуры. [c.111]

При экранирующих или теневых методах (глава 12), известных по рентгеновской диагностике, несплошность материала обнаруживается по ее действию как экранирующего препятствия для распространения звука от излучателя к приемнику. Такие методы называют также прозвучива-нием. При этом первичной измеряемой величиной является амплитуда звукового давления, регистрируемая приемником. При теневом методе можно работать и с непрерывными звуковыми волнами, и с импульсами. Он возник исторически как первый метод ультразвукового контроля (непрерывными волнами) по аналогии с рентгеновским просвечиванием (просвечивание—проэву-чивание). Поэтому применяется и историческое название-— метод контроля интенсивности, так как при просвечивании рентгеновскими или гамма-лучами почернение используемой пленки пропорционально интенсивности излучения. При ультразвуковом теневом методе первичной измеряемой величиной является амплитуда звукового давления, пропорциональная квадратному корню из интенсивности, если применяют, как почти во всех, случаях, пьезоэлектрические приемники. [c.189]

Если построить характеристическую кривую в виде зависимости плотности почернения от времени экспозиции t при постоянной освещенности, то можно видеть, что кривые D = fi t) при Е = onst ж D = (Е) при t = = onst не совпадут друг с другом. Отсюда следует, что по своему фотографическому действию изменение времени экспозиции неравносильно такому же изменению освещенности. Между тем для первичного фотохимического процесса имеет место закон Бунзена — Роско, согласно которому общее количество продуктов фотохимической реакции определяется только поглощенной световой энергией. Для случая фотографирования она зависит только от величины экспозиции Н = Et. Вследствие равноправности величин Е я t закон Бунзена — Роско называют обычно законом взаимозаместимости. При воздействии света на фотографическую эмульсию протекает много вторичных процессов, кроме того, идет химическое взаимодействие слоя с проявителем и фиксажем. Поэтому для фотографических эмульсий наблюдаются отклонения от закона взаимозаместимости, иногда очень значительные. Для учета этих взаимодействий в конце 19-го века Шварцшильд предложил эмпирическое уравнение [c.294]

Первичный пучок не должен попадать на стенки кассеты или корпуса это вызовет почернение пленки под действием рассеянных металлом лучей. Прошедшие через кристалл первичные лучи либо вьшус- [c.193]

Для исследования совершенства кристаллической структуры монокристалла применено проходящее монохроматическое излучение [40]. Рентгеновские лучи, расходящиеся из точечного источника, попадают на кристалл, который ориентирован та , что 01НИ отражаются от плоскостей, составляющих большой угол с поверхностью кристалла. Если отражающая плоскость выбрана таким образом, что падающие и отраженные лучи составляют примерно одинаковый угол с кристаллом, то поглощение в кристалле примерно одинаково для всех лучей. В случае совершенного кристалла на пленке получится пятно с однородным почернением. Изменение интенсивности свидетельствует о наличии неодинаковой отражающей способности рассматриваемого кристалла. Разработано два вида методик секционной и проекционной топографии. В методе секционной топографии плоскость отражения должна быть перпендикулярна к поверхности кристалла и кристалл должен передвигаться. При проекционной топографии кристалл и пленка совершают равномерное поступательное движение относительно первичного пучка при строгом выполнении условий отражения Вульфа-Брегга данными плоскостями. Между кристаллом и пластинкой ставился экран, не пропускающий прямой рентгеновский пучок (рис. 3). [c.309]

В связи с большим разнообразием устройств визуализации с преобразованием первичного излучения, целесообразно остановиться на наиболее часто встречающихся в практике неразрушающего контроля. Такой является, например, фотомодуляционная система визуализации. Первичное излучение, прошедшее контролируемое изделие или отраженное от него, сканируется чувствительным датчиком. Аналоговый сигнал датчика усиливается и преобразуется в оптический сигнал посредством фотомодуляцион-ной лампы, светодиода и т. п. Оптический сигнал проецируется на поверхность фоточувствительного материала, который может двигаться синхронно с исследуемым объектом, так и с измерительным датчиком. После проявления фотоматериала степень почернения несет информацию о распределении параметров волнового поля [c.233]

На основании этих работ механизм вторичного почернения можно представить следующим образом. Плотность почернения зависит главным образом от первичного заряда ионов, плотности ионного тока и сопротивления пластины. При бомбардировке ионно-чувствительного слоя первичными ионами образуются отраженные первичные и различные вторичные частицы электроны, положительные и отрицательные ионы и нейтральные частицы, причем две последние категории характерны в основном для желатинного покрытия и зерен AgBr. В случае высокой плотности первичного тока на поверхности образуется положительный потенциал в несколько тысяч вольт, который затем служит источником вторичных ионов. Поле магнитного анализатора вынуждает ионы двигаться по полукруговой траектории (рис. 4.8) и образует спектр вторичных ионов, сдвинутый в направлении больших масс относительно первичных линий. Расшифровав вторичную линию по соседству с такой линией основы, как Н+, можно установить поверхностный потенциал первичной линии и рассчитать массы других вторичных ионов. Для получения подробного вторичного спектра желатины, который включает 9 [c.131]

Поскольку процесс обработки и фиксации пластин подробно описан (Оуэнс, 1966, Мак-Кри, 19666, 1967), здесь будут обсуждены лишь несколько работ. Влияние проявителей различного типа и условий проявления на форму кривой чувствительности детально изучено Франценом и др. (1966). Кенникот (1966) усовершенствовал способ снижения вторичного почернения вблизи линий основы, вызванного вторичными ионами и третичными электронами. Поскольку эти частицы с низкими энергиями способны сенсибилизировать лишь поверхностные слои, процесс отбеливания проявителем эффективно снижает уровень фона, не влияя серьезно на чувствительность пластины к первичным ионам. Этот метод изучался также Кавардом (1968), который применил его к различным проявителям и увеличил чувствительность втрое (подробнее см. Кавард, 1969). После обработки фотопластины информацию можно получить либо визуально, либо — при количественных анализах — на микрофотометре, с которого ее можно передать на ЭВМ (гл. 6 и 7). [c.136]

Во время экспозиции первичный и вторичный механизмы действуют одновременно. Па средних экспозициях преобладает первичный механизм почернения. С увеличением экспозиции все зерна AgBr в пределах внедрения ионов становятся пора-укенными и внешний слой эмульсии насыщается. Люминесценция поражает более глубокие слои эмульсии, и их насыщение может наступить прн более продолжительной бомбардировке ионами. [c.75]

Автоматизация основных этапов структурного анализа. Во многих злектронографических лабораториях микрофотометры, при помощи которых определяются плотности почернения электронограмм, снабжены выводными устройствами, позволяющими получать исходные данные для дальнейшей обработки в виде, пригодном для непосредственного ввода в ЭВМ, минуя трудоемкий процесс считывания микрофотограмм и стадию подготовки данных к расчету на ЭВМ, что резко сократило затраты ручного труда. Благодаря использованию методов современной вычислительной математики на протяжении последних 15 лет были созданы и реализованы на ЭВМ алгоритмы первичной обработки экспериментальных данных (включая наиболее трудно поддающийся формализации этап проведения линии фона электроио-грамм), поиска предварительной и уточненной модели структуры, нахождения стандартных ошибок в значениях молекулярных параметров и оценки достоверности структуры при помощи статистических критериев [30—47]. При этом наиболее крупным достижением следует считать разработку аппарата метода наименьших квадратов применительно к анализу интенсивностей и кривых радиального распределения [30—34]. [c.229]

Фотографическая регистрация рентгеновских лучей исключает прямое сравнение интенсивности первичного и дифрагированного лучей, так как интенсивность первичного пучка находится за границей почернения пленки. Сопоставление возможно только в том случае, если первичный пучок, в момент измерения его интенсивности, будет ослаблен в определенное, известное экспериментатору, число раз каким-либо фильтром. Более удобным методом является применение для этой цели стандартного кристалла, абсолютные интенсивности отражений от которого уже известны. Сопоставление яркости пятен, созданных исследуемым и стандартным кристаллами, дает объективную шкалу интенсивностей непосредственно в абсолютных единицах. Необходимо, чтобы оба кристалла снимались в одинаковых условиях при одинаковой мощности первичного пучка, на пленку одинакового сорта и при одинаковых условиях проявления. С наибольшей полнотой эти условия выполняются, если исследование проводится на специальном двухкристальном рентгенгониометре Вейсенберга. Прибор сконструирован таким образом, что оба кристалла, чередуясь, купаются в первичном [c.165]

При наличии сильной ориентации в образце следует снимать текстуррентгенограммы, фотометрировать их возможно большеё число раз по направлениям от центра рентгенограммы (первичного пучка) по радиусам через равные угловые интервалы в плоскости рентгенограммы и затем рассчитывать интенсивности по микрофотометрическим кривым. Это намного усложняет и удлиняет процедуру оценки фазового состава полимера и вовлекает, кроме того, дополнительные источники возможных ошибок, например, при расчетах истинных плотностей почернения разных участков рентгенограммы (см. гл. 111). Поэтому, ставя перед собой задачу определения рентгеновской степени кристалличности, например, волокна или высокоориентированной экструзионной пленки и пользуясь только фотографическим методом регистрации излучения, практически легче искусственно сделать эти образцы неориентированными мелко измельчить и приготовить холоднопрессованную таблетку из крошек образца или складывать тонкую пленку в несколько повернутых по отношению друг к другу слоев.. [c.27]

IЙ epяют посредством микроденситометра, причем на пленке Утрируются марки почернения для определения зависимости, ду оптической плотностью и интенсивностью. В полученные таьтаты должны быть внесены поправки на отражение от сте- аил кюветы и на различие в объемах в зависимости от направле-. ]4ЯВ, наблюдения. Первичный пучок в этом приборе гасится в специальной ловушке. При применении восьмигранной кюветы, можно измерять рассеяние света под углами в 45,90 и 235°. Соответствующие стенки кюветы снабжены экранами, в каждом из которых имеется небольшое круглое отверстие для выхода рассеян-нога света. Из отверстия свет попадает в трубку, служащую коллиматором. В этом случае поправки на отражение вносить не требуется. [c.707]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология