Плотность почернения

Регистрирующий микрофотометр МФ-4. Регистрирующий микрофотометр предназначен для автоматической записи на фотопластинку плотности почернения фотографической эмульсии. Принцип его устройства основан на том, что свет, прошедший через спектрограмму / (рис. 36) узким пучком, действует на фотоэлемент, связанный с зеркальным гальванометром. Зеркальце зеркального гальванометра освещается светом, отражение которого направляется на фотопластинку, помещенную в кассете верхнего столика 2. При движении фотометрируемой спектрограммы и верхнего столика световой пучок производит запись кривой плотности почернения (рис. 37). [c.56]

Микрофотометры, например типа МФ-2, служат для измерения плотности почернений 5. Они снабжены линейной (миллиметровой) и логарифмической шкалами. Линейная шкала имеет диапазон делений от нуля до 1000. Так как [c.28]

Необходимым условием при этом является исключение всех фотографических факторов, влияющих на плотность почернения. Соответственно следует различать случаи гомохромной и гетерохромной фотометрии. [c.77]

В заключение отметим ряд возможных источников ошибок при нанесении марок почернений и измерении оптической плотности почернения линий. [c.125]

Измеряют плотности почернений этих линий, соответствующих им участков в спектре ленточной лампы, а также линий в спектре железа, снятом через ступенчатый ослабитель. Построив характеристические кривые для всех исследуемых линий, определяют отношение их интенсивностей к интенсивности соответствующих участков сплошного спектра и по формуле (а) — см. выше — рассчитывают относительную интенсивность линий внутри триплета цинка и дублета бария. [c.130]

Чтобы по значению почернения сделать надежные выводы о количественном содержании вещества, необходимо между плотностью почернения и интенсивностью светового потока (/ ) наличие прямой пропорциональной зависимости [c.372]

Эмиссионная спектроскопия — метод элементного анализа по атомным спектрам испускания. Атомизацию растворов производят так же, как и в атомно-абсорбционной спектроскопии. Спектры испускания регистрируют обычно в спектрографах на фотопластинках — получают спектрограммы. Плотность почернения линий определяют с помощью микрофотометров. Для количественного анализа используют зависимость плотности почернения линий от концентрации излучающих атомов. Этот метод позволяет определять практически все элементы прн содержании Ю" —10 мае. долей, %. [c.241]

Одним из основных недостатков камер РКД и РКУ, как и других камер с фотографической регистрацией рентгеновского излучения, является неточность в значениях интенсивностей линий. Возможно, этот недостаток будет преодолен при более широком распространении микроденситометров -приборов для определения плотности почернения пленки I). Плотность почернения определяется формулой [c.17]

Плотность почернения. Для измерения относительной интенсивности линий аналитической пары спектр исследуемой пробы фотографируют на пластинку. На пластинке получается ряд линий, степень почернения которых зависит от интенсивности снятых спектральных линий. Коли- [c.227]

Микрофотометрирование. Для определения железа в пробе кварцевого песка берут линию спектра железа Я = 2510 А. В качестве линии внутреннего стандарта берут линию в спектре кремния Я = 2503 А. При помощи планшета № 10 атласа спектральных линий находят линию кремния (элемент сравнения) I = 2503 А и линию железа X = 2510 А. На микрофотометре МФ-2 определяют величину плотности почернения 5ре линии железа и величину плотности почернения 5з1 линии кремния, затем находят их разность А5 А5 = 5ре — 5з1. [c.241]

Калибровочный график. На миллиметровой бумаге наносят по одной оси координат значения разности плотностей почернений линий железа и кремния в спектре каждого эталона № 1, № 2 и № 3 (А5 , Д52, Д5з). По другой оси наносят значения логарифмов соответствующих концентраций железа. При помощи этих данных получают график, который имеет вид прямой. [c.241]

Фотопластинки. В качестве приемников излучения в спектрографах используют фотопластинки. Возникающее при воздействии света (излучения) почернение пластинки характеризуют плотностью почернения S [c.191]

При качественном анализе проводят относительное измерение длин волн. Положение искомой линии определяют чаще всего сравнением со спектром железа I15]. Отсутствие линии надежно свидетельствует об отсутствии элемента. Уверенный вывод о присутствии данного элемента (ввиду возможного наложения линий) делают при наличии по крайней мере двух линий обнаруживаемого элемента. При количественном анализе измеряемой величиной является почернение фотопластинки, описываемое уравнением (5.2.9). Необходимыми предпосылками количественного определения являются съемка всех спектров при одинаковых условиях и калибровка прибора по пробам известного состава. Особенно часто спектрографический анализ выполняют в полуколичественном варианте. При визуальном сравнении плотности почернений для стандарта и анализируемой пробы можно оценить порядок содержания определяемого элемента (например, 10 , [c.195]

Рис. 3.19. Кривые- обыскривания хрома при анализе закаленных и отожженных образцов стали (5 — плотность, почернения спектральных линий)

Можно считать, что для близко расположенных линий свойства фотоэмульсии практически одинаковы, т. е. 71=72 = 7. Тогда разность оптических плотностей почернений будет равна [c.106]

Способ использования переводного множителя. В этом случае спектры стандарта с концентрацией С фотографируют на двух фотопластинках. Измеряемые плотности почернений должны находиться в области нормальных почернений. Аналитическое выражение для относительных почернений спектральных линий на двух фотопластинках имеет вид [c.109]

Первая фотопластинка — основная, относительно которой для следующих определяют к. Обычно выбирают две линии на фотопластинке и находят два значения к, затем их усредняют. Зная множитель к, можно привести относительные оптические плотности почернений, полученные на какой-то пластинке в соответствии с основной, а затем совместить градуировочные графики. [c.109]

Почернение фотографической пластинки определяют так же, как оптическую плотность любого тела, поглощающего свет. Оптическую плотность обработанной фотографической пластинки (негатива) называют плотностью почернения или просто почернением и обозначают буквой 5. Для измерения почернения данного места негатива нужно найти отношение интенсивности света /о, падающего на пластинку, к интенсивности света /j, прошедшего через нее (рис. 103) [c.158]

Л.В. Вилковым, В. П. Спиридоновым и другими в Московском университете при исследовании строения газовых молекул. Важно то, что на электронограммах, снятых с помощью вращающихся секторов, нет большого различия в плотностях почернения в ее центральной и периферийной частях, вследствие чего часто отпадает необходимость учета поправки на нелинейность зависимости почернения от экспозиции. [c.96]

Характеристическая кривая фотографической эмульсии. В основе всех фотографических методов количественного спектрального анализа лежит зависимость оптической плотности почернения фотографической эмульсии от ее освещенности, от интенсивности спектральной линии, т. -с. [c.676]

Фотометрирование проводят последовательно от спектра к спектру, измеряя оптическую плотность почернения линий элементов примеси и элемента сравнения. По данным фотометрирования строят градуировочные графики, откладывая на оси абсцисс среднее из трех значений Д5, а на оси ординат- [c.683]

Ослабитель склеен со второй кварцевой пластинкой таких же размеров, к которой прикреплены полоски фольги, закрывающие линии раздела платиновых слоев. Два крайних участка кварца не покрыты платиной и являются контрольными ступенями со стопроцентным пропусканием. При работе ступенчатый ослабитель устанавливают перед щелью спектрографа, благодаря чему спектральные линии на спектрограмме получаются разделенными на девять ступенек различной плотности почернения. В табл. 30.3 приведены паспортные данные такого ослабителя, а на рис. 30.18 — схематический вид аналитической пары линий, сфотографированный через девятиступенчатый ослабитель. [c.688]

Пример 5. Для количественного определения содержания элемента Z в пробе использован метод эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией спектра. Плотность почернения аналитической линии элемента Z на фотопластинке Sz = 0,5. На этой же пластинке снят спектр эталона, содержащего искомый элемент Z в концентрации Сэт = 10 %. Плотность почернений линии элемента Z в эталоне S = 0,32. Приняв предельную относительную погрешность в определении концентрации эталона р = 0,03 (3%), а предельные абсолютные погрешности определения значений плотности почернения С2, пр J,, пр 0,03, оценить относительную предельную погрешность ре [c.123]

Измеряют плотности почернений заданных линий, а также -линии в спектре железа, снятом через ступенчатый ослабитель. По линии железа строят характеристическую кривую и определяют с ее помощью относительную интенсивность группы линий марганца. По почернениям линий алюминия, снятых через ступенчатый ослабитель, строят две характеристические кривые и по ним определяют относительную интенсивность линий. Полученные результаты сравнивают с теоретическимк отношениями интенсивностей, [c.129]

В спектрографе приемником излучения является фотопластинка. При постоянной выдержке между интенсивностью светового потока // и плотностью почернения 5 фотопластинки существует зависимость, представленная на рис. 1.10 и называемая характеристической кривой фотопластинки. Угол наклона а прямолинейного участка характеристической кривой к оси 1 / называют контрастностью фактор контрастности у соответствует tg а. С повышением чувствительности фотопластинки ее контрастность обычно падает. В количественном анализе используют фотопластинки с большой контрастностью эмульсии. Характеристическая кривая включает три участка область недодер- [c.27]

Основываясь на микрофото-метрических записях, можно рассчитать плотности почернения фотопластинки, а затем пересчитать их в величины,пропорциональные интенсивности рассеянных электронов. Для этого по флуктуациям микрофотометрической записи проводят плавную кривую и через определенный интервал по оси абсцисс производят считывание ординат микрофотометрической кривой. Точки отсчета по оси абсцисс Э (так называемые реперные точки) в виде штрихов автоматически наносят пером самописца на микрофотометрическую кривую через каждые 5-10 или [c.143]

Если интервал плотностей почернения фотопластинки невелик (Р< по П1кале D), то полагают, что интенсивность рассеянных электронов прямо пропорциональна плотности почернения. [c.144]

Картины дифракции ориентированных полимеров в зависимости от степени растяжения представляют собой либо системы концентрическ/.х колец с неодинаковой плотностью почернения, либо совокупность отдельных дуг различной протяженности. Такие картины называют текстур-рентгенограммами (рис. VI. 16). На них различают меридианальные и экваториальные линии. Меридианом является воображаемая линия, проходящая через центр текстур-рентгенограммы параллельно направлению ориентации образца. Экватором называют линию, перпендикулярную меридиану и также проходящую через центр текстур-рентгенограммы. [c.179]

Электронограмма паров исследуемого вещества представляет собой фотопластинку с системой диффузных концентрических колец различной плотности почернения. Заключительной стадией эксперимента является фотометрирование — измерение светопропуска-ния электронограммы по радиусу дифракционной картины. Результаты фотометрических измерений позволяют рассчитать интенсивность рассеяния электронов / в зависимости ог координаты 8=(4ту>.)зт(0/2), где X — длина волны электронов 0 — угол рассеяния. [c.279]

Микрофотометрирование. Плотность почернения можно измерить на микрофотометре. Принцип работы микрофотометра заключается в следующем. Поток световых лучей пропускают через незачерненную часть фотографической пластинки и затем направляют на фотоэлемент, связанный с гальванометром. Определяют отклонение стрелки гальванометра ао при помощи миллиметровой шкалы. Затем поток световых лучей пропускают через зачерненную часть пластинки (фотография спектральной линии) и опять определяют отклонение стрелки гальванометра а. Предполагая пропорциональность между количеством света, упавшего на фотоэлемент, и отклонением стрелки гальванометра, получаем величину почернения [c.228]

Пример 4. В спектроаналитических целях проведено сравнение стабильности возбуждения искры в двух генераторах различных типов. Для каждого из них по 16 измеренным величинам с 15 степенями свободы для найденных разностей плотностей почернения получили следующие средние квадратичные ошибки [c.31]

При постоянной выдержке 1иежду плотностью почернения S н интенсивностью светового потока Ф существует зависимость, приведенная на рис. 5.5, а. Угол наклона среднего прямолинейного участка кривой характеризует контрастность (7 — коэффициент контрастности). Для спектрографического анализа используют фотопластинки с большим коэффициентом контрастности (контрастные). Несмотря на то что они обладают малой светочувствительностью, снимки спектров на них получаются мелкозернистыми, с малой вуалью, а плотность почернения весьма сильно зависит от концентрации. Чувствительность фотопластинок в длинноволновой области спектра регулируют добавкой подходящих сенсибилизаторов. [c.191]

Ю- % или при более тонких градациях 10 , 5-10" , 2-10 , 10 %). В полуколичественном анализе охватывается интервал концентраций определяемого элемента в несколько порядков. Несколько более точные измерения плотностей почернения возможны со шкалой стандартных плотностей почернения (spd-шкала ) по Аддинку [16, 17]. Эта шкала представляет собой полоску фотобумаги с изображением около десятка расположенных рядом пронумерованных линий с увеличивающимся почернением. Для измерения выбирают те линии spd-шкалы, интенсивность которых совпадает с интенсивностью сравниваемых спектральных линий. Эти линии spd-шкалы используют в качестве эталона при калибровке и работе. [c.195]

Рис. 3.16, И.шеиение плотности почернений спектральных линий элементов 5 во времени / — метод вдунания порошка, 2 — метод испарепия пробы и 1 канала электрода

В фотографических методах спектры анализируемых и стандартных образцов снимают на фотографическую пластинку. После ее проявления, фиксирования, промывания и высушивания с помощью специальных приборов — денситометров или микрофотометров — определяют оптические плотности почернения линий аналитических пар. По результатам фотометрирова-ния строят градуировочные графики в системе разность оптических плотностей почернения аналитической пары — логарифм концентрации и по ним определяют содержание элементов в анализируемых образцах. [c.676]

Для повышения точности определения целесообразно проводить трехкратную съемку спектрограмм эталонов и анализируемых образцов, а для построения градуировочных графиков применять не менее трех стандартных эталонов. Проявленную, отфиксиро-ванную и высушенную пластинку со спектрограммами эталонов и образцов фотометрируют с помощью денситометра или микрофотометра, измеряя оптическую плотность почернения линий аналитических пар определяемых элементов. Спектрограмму устанавливают эмульсией вверх на предметном столике микрофотометра МФ-2 (рис. 30.17) так, чтобы на экране прибора деления шкалы читались слева направо. На экран выводят ту часть спектра, где расположена ана- [c.682]

Например в ходе количественного эмиссионного спектрального определения с конечной фотографической регистрацией спектра осуществляются следующие основные процессы и операции а) испарение и перенос пробы из канала угольного электрода в плазму разряда б) возбуждение атомов элементов в плазме и излучение характеристических спектральных линий элементов в) отбор определенной доли светового потока из общего потока, излучаемого плазмой, с помощью дозирующей щели спектрографа г) пространственное разложение полихроматического излучения на соответствующие характеристические частоты (развертка спектра) с помощью призмы илн дифракционной решетки д) фотохимическое взаимодействие светочувствительного материала с квантами электромагнитного излучения (образование скрытого изображения спектра на фотопластинке или фотопленке) е) химические реакции восстановления ионов серебра до металла и растворения галогенидов серебра в комплексующих агентах (проявление и фиксирование) ж) поглощение света спектральными линиями на фотографической пластинке при измерении плотности почернения спектральных линий определяемого элемента и фона с помощью микрофотометра а) сравнение полученных значений интенсивностей спектральных линий с илтен-сивностью соответствующих линий эталонов или стандартов и интерполяция искомого содержания элемента в пробе по градиуровочному графику. [c.42]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология