Искажения, коррекция

Последовательность 1,2,1 дает косинусно-квадратурную функцию, которая имеет нуль на том же самом месте, но теперь первая производная равняется нулю в нулях функции. Таким образом, она обладает более широким нулем, что должно приводить к наиболее лучшему подавлению. Вообще, последовательность, в основу которой положен и-й биноминальный ряд коэффициентов будет генерировать характеристику возбуждения вида os или sin и иметь п-1 нулевых производных высших порядков в нулях функций. Однако с увеличением длительности последовательности возникает проблема чем длиннее последовательность, тем больше частотно-зависимая фазовая коррекция, которую нужно применять к конечному спектру. Следовательно, увеличивается вероятность волнообразных искажений базовой линии. [c.17]

Параметр Яс практически важен только при хроматографическом анализе структуры веществ, когда значения Кт не должны быть искажены влиянием какого-то градиента. Искажения удается учесть благодаря преобразованию зависимости в линейную с привязкой к шкалам, соответствующим эталонному гомологическому ряду. Величина Кс не может считаться ни универсальной константой, ни выгодной вещественной константой. Она не может использоваться для коррекции внешних воздействий на систему и сама не является защищенной от таких мешающих воздействий (в той же степени, как и значение Кэт). [c.201]

Способы коррекции фазовых и амплитудных искажений, обусловленных поперечной интерференцией [c.166]

Способы коррекции искажений, обусловленных неидеальностью импульсов составные импульсы [c.170]

Составные импульсы, впервые примененные в 1979 г. [4.85], превратились в универсальный инструмент для коррекции искажений, связанных с неидеальностью импульсов. Особенно эффективно с помощью составных импульсов устраняются аномалии, обусловленные неоднородностью РЧ-поля по объему образца и нерезонансными эффектами (наклоненные РЧ-поля). [c.170]

НО прочная металлическая балка прикрепляется одним концом к оси, обеспечивающей небольшие вертикальные перемещения. В ней просверливается небольшое отверстие, напротив которого снизу к рычагу приклеивается прозрачная стеклянная пластина. Толщина пластины должна быть достаточно большой, чтобы при действии нагрузки не наблюдалось заметных искажений. При подвешивании груза к свободному концу рычага моноволокно сжимается между этой пластиной и нижней стеклянной пластиной, лежащей над небольшим отверстием в жестком основании., Сжимающее устройство укрепляется на столике микроскопа, снабженного вертикальным осветителем, и с помощью плоского зеркала, расположенного под углом 45°, увеличенное изображение зоны контакта проецируется на экран. При малых нагрузках очень заметны шероховатости и дефекты поверхности, а на обеих сторонах зоны сжатия возникают интерференционные картины. Они могут быть использованы для оценки действительной ширины контакта, но величина коррекции мала и лежит в пределах ошибки измерений. Типичный результат для волокон полиэтилентере- [c.220]

После преобразования Фурье ЭВМ должна осуществить коррекцию фазовых и амплитудных искажений, внесенных электронными схемами импульсного спектрометра. Можно указать три типа фазовых ошибок, обычно вносимых в результаты эксперимента [c.117]

Рис. 5. 5. Пример коррекции фазовых искажений в спектре. а — типичное изменение фазы, наблюдаемое в спектре после преобразования Фурье (спектр соединения НЛ) б— результат коррекции спектра а с помощью функции (5Л0).

При высоких значениях максимальной плотности ионов в пучке фокусирующие свойства анализатора могут нарушаться, в результате чего изображение объектной щели искажается или смещается относительно ионного детектора (фотопластины или электрического детектора). Кроме того, неравномерное освещение объектной щели приводит к искажению профиля линий. Подобный эффект в принципе можно скорректировать для каждого случая отдельно измерением полного профиля линий на фотопластинке. На практике такая коррекция очень трудоемка, значительно проще предотвратить появление таких искажений. [c.53]

Однако из-за наличия переходных цепей появляются фазовые искажения сигнала. Фазовые искажения в методах ВПТ-П, ВПТ-Т и ДИВ при реализации временной селекции могут привести к тому, что в момент измерения емкостный ток окажется не равным нулю. А в методе ВПТ-С ток сдвигается относительно питающего модулирующего напряжения на угол, отличный от предполагаемого. В результате ухудшаются условия оптимального выделения сигнала, в первую очередь сигнала малого уровня. Для трехкаскадного усилителя сдвиг может составлять от единиц до десятков градусов. Действие фазовых искажений удается уменьшить путем введения фазокорректирующих цепей (ФКЦ). ФКЦ представляет собой в простейшем исполнении ЛС-цепь (рис. 55, а). Фазовая коррекция может осуществляться и большим числом ФКЦ на входе и выходе усилительного каскада. Но лучше их располагать в пред-усилительном каскаде, чтобы далее сигнал проходил без фазовых искажений. [c.90]

Усилитель с временной селекцией сигнала, построенный на усилителях переменного тока, представлен на рис. 55, з. Он содержит скорректированный по фазе предварительный усилитель переменного тока (7, 2) и оконечный усилитель переменного тока 3, охваченный отрицательной обратной связью через управляемый диодный клапан. Предусилитель усиливает переменную составляющую тока ячейки, включающую емкостный ток и ток электрохимической реакции. Постоянная составляющая тока ячейки подавляется усилителем полностью межкаскадные разделительные / С-цепи эту составляющую не пропускают. Постоянные времени разделительных цепей выбраны такими, чтобы составляющая сигнала на частоте каплеобразования подавлялась в 150 раз. Для коррекции фазовых искажений, которые появляются из-за использования усилителей переменного тока с указанными разделительными цепями, предварительный усилитель снабжается фазокорректирующей цепью, которая компенсирует суммарные фазовые искажения этих цепей. Оконечный усилитель 3 охвачен отрицательной обратной связью через [c.95]

Коррекцией цвета при печати нельзя исправить все искажения цветопередачи, которые возникают на различных стадиях получения цветного фотографического изображения. Не поддаются исправлению искажения, вызванные разбалансировкой негативного или позитивного материала по контрастности, несовершенством красителей цветного изображения, недостаточной широтой негативного материала, использованием при съемке источников света разного спектрального состава н т. п. [c.197]

Коррекция цвета позволяет исправить искажения, связанные с разбалансировкой по светочувствительности отдельных слоев негативных и позитивных фотоматериалов или их разбалансировкой друг относительно друга. Эта разбалансировка может быть присуща самим используемым фотоматериалам, а может быть вызвана различными нарушениями фотографического процесса съемка при освещении, на которое пленка не рассчитана отклонения при химико-фотографической обработке использование при печати источника света с цветовой температурой, не равной 3200 К и др. [c.197]

Коррекция цвета при печати позволяет почти полностью устранить искажения из избыточного тона, образовавшиеся в результате даже очень значительного отклонения от баланса светочувствительности. Искажения от уменьшения фотографической широты в процессе печати не устраняются и могут быть столь значительны, что получить доброкачественное цветное изображение становится невозможным. Так бывает, например, при съемке фотоматериалами типа ДС при лампах накаливания и, наоборот, материалами типа ЛН при дневном свете. [c.119]

Для интерпретации результата измерения проводят его коррекцию. При этом необходимо знать полную динамическую характеристику ИС. Ее определение с учетом погрешностей измерения целесообразно проводить адаптивным методом, разновидность которого предложена в настоящей работе. Коррекция погрешности измере1шй формально сводится к решению обратной задачи динамики — нахождению выходного сигнала по известным выходному сигналу и оператору преобразования [6]. Существуют различные подходы к решению этой задачи. Коррекция статических и динамических погрешностей возможна как редукция к идеальному прибору [9], или восстановление неискаженного сигнала по искаженному [10]. Но проблема услож- [c.110]

Коррекция фазы по v, обычно не нужна, поскольку отсутствуют источники фазовых искажений, которые встречаются в Vj. Таким образом, фазовое соотношеиие между двумя импульсами, определяющее форму модуляции каждой компоненты, составляет точно величину О нли 90° (в предположении, что спектрометр настроен правильно ), поэтому не возникают не зависимые от частоты фазовые ошибки. Не требуется также задержка перед началом выборки данных по координате Vj, так как ty может начинаться с нуля это устраняет частотно-зависимые фазовые ошибки. На практике на некоторых спектрометрах нельзя стартовать по г, с нулевого значения. Только в данном случае noipe-буется зависимая от частоты коррекция фазы (в обозначениях гл. 4, разд. 4.3.5, а должна иметь нулевое значение, а Р необходимо подбирать), Это определяется при исследовании сечении по координате Vj, однако не является такой проблемой, как подстройка фазы по Vj, потому что может потребоваться лишь незначительная коррекция. [c.295]

В идеальном случае сетка точек изображения, создаваемых системой сканирования, должна была бы быть неискаженной, т. е. расстояние между любой соседней парой точек изображения должно быть одним и тем же в любой части растра. Однако развертке могут быть присущи многочисленные искажения. Если необходимо проводить серьезные измерения, следует произвести коррекцию этих искажений либо по крайней мере оценить их. Искажение, вйосимое гномонической проекцией, было рассмотрено выше. При исследовании лишь нерегулярных объектов с несимметричной формой распознать искажения развертки невозможно. Чтобы выявить искажения, необходим такой симметричный объект, как сфера или сетка. Пересечением нормальной плоскости развертки, имеющей равное значение увеличения во взаимно перпендикулярных направлениях, со сферой является круг. Отклонения формы сечения от круга указывают на существование искажения развертки, как показано на рис. 4.14, где искажение возрастает вблизи края поля зрения растра. Простейшее искажение — это неодинаковая длина сканирования во взаимно перпендикулярных направлениях по X [c.116]

Одним из наиболее коварных артефактов, связанных с установкой детектора в электронно-зондо-вом приборе, является появление одной или более наводок заземления. Обычно мы предполагаем, что металлические детали системы микроскоп — спектрометр находятся под потенциалом земли и ток между ними отсутствует. В действительности, между деталями могут иметься небольшие различия в потенциале, от милливольт до вольт по порядку величины. Такие различия -в потенциале могут приводить к появлению токов, изменяющихся от микроампер до нескольких ампер. Зги избыточные токи называются наводками заземления или токами заземления, так как они текут в деталях системы, которые номинально заземлены, например шасси или внешние экраны коаксиальных кабелей. Так как наводки заземления переменного тока связаны с электромагнитным излучением, такие токи, текущие в экранированном коаксиальном кабеле, могут модулировать слабые сигналы, идущие по центральному проводнику. В системах спектрометров с дисперсией по энергии обрабатываемые сигналы очень малы, особенно в детекторе и предусилителе, следовательно, для сохранения сигнала следует всячески избегать наводок заземления. Влияние наводок заземления может проявляться в потере разрешения спектрометра, в искажении формы пика, искажении формы фона и/или в неправильной работе цепи коррекции мертвого времени. Пример влияния наводки заземления на измеренный спектр показан на рис. 5.35. Обычный Ка—i p-спектр Мп (рис. 5.35, а) может превратиться в спектр с кажущимся набором пиков (рис. 5.35, б), в котором каждый из основных пиков имеет дополнительный. На рис. 5.35,6 можно наблюдать и промежуточную ситуацию, в которой ухудшается разрешение главного пика без появления второго отчетливого пика. Объяснение этого частного, Bbi3iBaHHoro наводкой заземления артефакта иллюстрирует рис. 5.36. Если посмотреть форму сигнала наводки заземления, проходящего через медленный канал цепи обработки, то можно установить, что он является периодическим, но не обязательно синусоидальным, с большим разнообразием возможных форм, как показано на рис. 5.36. Когда импульсы случайного сигнала, соответствующего характеристическому рентгеновскому излуче- [c.234]

ГИИ, с другой стороны, имеется ряд осложнений, которые могут привести ничего не подозревающего 0перат0 ра к затруднениям. Артефакты появляются на каждой стадии процесса спектральных измерений. Артефакты процесса обнаружения представляют собой ущирение и искажение формы пика, пики потерь кремния, поглощение и пик внутренней флуоресценции кремния. Артефакты, возникающие пря обработке импульсов, включают в себя наложение импульсов, суммарные пики и чувствительность к ошибкам при коррекции мертвого времени. Дополнительные артефакты появляются из-за окружения системы полупроводниковый детектор — микроскоп и включают микрофонные эффекты, наводки с земли и загрязнение маслом и льдом деталей детектора. Как в кристалл-дифракционном, так и в спектрометре с дисперсией по энб ргии может регистрироваться паразитное излучение (рентгеновское и электроны) от окружающих образец предметов, но из-за большего телесного угла сбора спектрометр с дисперсией по энергии более подвержен влиянию паразитного облучения. Однако из-за большого угла сбора такой спектрометр менее чувствителен к эффектам дефокусировки спектрометра при изменении положения образца. [c.265]

Искривление базовой линии может быть обусловлено разными причинами Наиболее важные из них ненулевое время восстановления спектрометра [21 24], перегрузка аналого-цифрового преобразователя (АЦП) и памяти ЭВМ (25, 26[, отклик частотного фильтра [24, 27], наложение отраженных крыльев сигнала дисперсии при линейной фазовой коррекции спектра с широкими сигналами (21, 22, 24] Основные способы ослабления искажений базовой линии оптимизация задержки между импульсом и началом считывания [24-27], установка усиления, исключаюшего переполнение АЦП [25, 26], снижение частоты выборки, в том числе за счет использования квадратурного детектирования [21, 22, 24], установка частот обрезания фильтра больше ширины спектра [24, 27] Однако перечисленные методы не гарантируют получения идеальной базовой линии Остаточные искажения базовой линии учитывают использованием различных аппроксимируюших функций [12, 28, 29[ [c.19]

Итак, ошибка интегрирования, связанная с искажением базовой линии (04), имеюшая систематический характер, зависит одновременно от особенностей спектрометра, условий эксперимента и исследуемого объекта Точность ее учета зависит от величины шума, размера участков интерполяции и выбранной аппроксимирующей функции при коррекции базовой линии [c.20]

Для определения ММР прежде всего желательно ликвидировать это искажение или, как говорят, скорректировать хроматограмму на приборное уширение , используя для этого его параметры, найденные при калибровочных процедурах. Полученная в результате такой коррекции хроматограмма в соответствии с калибровочной зависимостью (V.2) преобразуется затем в ММР заменой удерживаемых объемов на молекулярные массы. Из ММР, в свою очередь, по стандартной методике легко находят средние молекулярные массы и характеристики нолидисперсности анализируемого полимерного образца. [c.190]

Флинн и Сеймур [53, 54] использовали ряд, включающий моменты обобщенной функции уширения, для получения общей формулы коррекции искаженных линий (см. также [55]). Уилсон [4б] предложил метод коррекции форм линий, связав коэффициенты Фурье для модуляционно-уширенной линии и для полной истинной линии. [c.229]

Сколлимированный пучок необходимо фокусировать в центре рассеивающей ячейки. Уменьшение диаметра пучка приводит к увели чению на фотодетекторе когерентной области рассеянного света вследствие чего возрастает площадь на фотокатоде, обеспечивающа усиление детектируемого сигнала. Как правило, используются рас сеивающие ячейки двух типов. Цилиндрическая ячейка удобна дл работы при углах рассеяния от 20 до 160°. Поскольку падающш лазерный луч очень узкий, кривизна стенок ячейки вызывает незна чительное искажение рассеивающего объема, если ее диаметр больш одного сантиметра. Прямоугольная ячейка особенно удобна для наблк дения малоуглового рассеяния, однако ее можно использовать и пр больших углах рассеяния. Необходимо вводить коррекцию на пр [c.178]

В большинстве геофизических процедур невозможно получить такую полную коррекцию частотных искажений, которая схематически изображена выше, где все факторы, исключая однн равны. В случае когда коррекция частотных искажений неполная, важную роль при отсутствии другой информации играет то, что один нз сомножителей может значительно отличаться от остальных, и тогда остальные сомножители принимаются приблизительно равными. [c.258]

К.ЛСКАДНЛЯ ФИЛЬТРАЦИЯ И КОРРЕКЦИЯ ЧАСТОТНЫХ ИСКАЖЕНИЙ В ГЕОФИЗИКЕ [c.259]

Уравнения в таком общем виде составляют основу для любого последующего денств1 я над геофизически.ми данными. Для иллюстрации рассмотрим коррекцию частотных искажений спектров поверхностных волн, наблюденных при землетрясении на разных расстояниях Г1 н г по одному азимуту. Амплитудная коррекция из (57) приводит к следующему уравне[ ию [c.260]

Другой вид коррекции частотных искажений подразумевает приведение спектра к эпицентру илн к источнику. По отион1ению к поверхностным волнам (57) ( юрмально мы должны записать приведение X ( , г) к источнику как [c.260]

Амплитудная коррекция позволяет исследовать динал[нческие характеристики, т. е. свойства, влияющие на амплитуду, а фазовая коррекция — кинематические свойства (фазовые и групповые скорости). Можно найти много случаев использования этих уравнений при регнении различных задач в последующих главах. Сделанный здесь вывод касается распространения сейсмических волн, но совершенно аналогичные соотношения и процедуры коррекции частотных искажений выполняются и в других случаях. Поэтому коррекция частотных искажений является основным [c.260]

Во многих случаях нам не нужно проводить какой-либо коррекции частотных искажений для выделения различных эффектов. Например, спектр кривой изменения температуры со временем обычно рассматривается как окончательный результат. Естественно, его можно сравнить с другими похожими результатами, но обычно после этого не стремятся к подавлению различных факторов, влияющих на спектр, Другнл примером является гармонический анализ >луктуаций уровня воды, особенно прн исследовании приливно-отливных явлений. Полученные здесь спектры считаются окончательным результатом исследования. Подобные случаи часто встречаются в инженерной сейсмологии при исследовании колебаний зданий. [c.268]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология