Помехи спектральные

Таблица 8-2. Аналитические характеристики наиболее важных приборов, используемых для элементного анализа. Аналитические характеристики включают пределы обнаружения (ПО) в растворе (нг/мл) или твердой пробе (млн ), помехоустойчивость (робастность, отсутствие влияния основы), селективность (отсутствие спектральных помех) и воспроизводимость. Инструментальные характеристики включают желательную форму пробы, жидкую или твердую, минимальный расход пробы и максимальную солевую концентрацию в случае раствора. АЭС — атомно-эмиссионная спектрометрия, А АС— атомно-абсорбционная спектрометрия, МС —масс-спектрометрия, ИСП — индуктивно-связанная плазма, ЛТР — лампа с тлеющим разрядом, ГП — графитовая печь, ТИ — термоиониэация, ИИ — искровой источник, ЛИФС - лазерно-индуцированная флуоресцентная спектрометрия, РФСВД — рентгенофлуоресцентная спектрометрия с волновой дисперсией

Спектральные помехи. Спектральные помехи возникают, когда элементы в анализируемой пробе испускают рентгеновские лучи, которые из-за перекрывания спектральных пиков детектор не может отличить от характеристического Х-излуче-ния серы. Для приборов с ионным пропорциональным детектором такое влияние в основном могут оказывать элементы, вызывающие помехи при содержании более одной десятой от измеренного содержания серы, или более 100 мг/кг. Мешающее влияние оказывают свинец, кремний, фосфор, кальций, калий и галогены. Анализируемые продукты, содержащие эти элементы, находятся вне сферы действия указанного международного стандарта. [c.541]

Селективность в методах ААС часто выше, чем в АЭС, поскольку абсорбционные спектры большинства элементов соответствуют переходам почти исключительно из основного состояния и содержат значительно меньшее количество спектральных линий, а это, в свою очередь, обусловливает малую вероятность совпадения линий разных элементов и малую возможность появления помех спектрального происхождения. [c.850]

Оптическая схема анализатора ПАЖ-1 позволяет компенсировать спектральные помехи собственное излучение пламени и излучение других элементов, например натрия при определении кальция и наоборот. В этом преимущество данного типа пламенного фотометра перед фотометром ФПЛ-1. [c.27]

Спектральные помехи, связанные с наложением постороннего излучения на спектральную линию или полосу определяемого элемента либо связанные с недостаточной монохроматичностью прибора (инструментальная ошибка). [c.13]

Рассмотрим, наконец, случай, когда помимо взаимодействия между измерениями входных процессов на выходе системы присутствует посторонняя помеха, спектральная плотность которой <7п =0,25Л. Значения частотных характеристик Ни и Я21 не меняются Я12 = Я21=0,50. При этом спектры входных процессов и взаимные спектры, связывающие входные процессы с выходом [c.233]

Метод СКР обладает несколькими преимуществами по сравнению с ИК-спектроскопией. Так, спектр КР воды в большинстве случаев не создает помех спектральным измерениям. [c.286]

Чтобы исключить возможные помехи при измерениях, возникающие вследствие рассеяния света на каплях воды и других оптических неоднородностях, иногда используют величину разности оптической плотности эмульсии в двух близко расположенных спектральных областях. [c.169]

Однако для такой высокотемпературной плазмы характерны очень развитые спектры, с большим числом линий, принадлежащих атомам, а также одно- и двузарядным ионам. В связи с этим применение ИСП-разряда осложнено эффектами спектральных помех, что обусловливает более высокие требования к разрешающей силе спектральных приборов. Из-за меньщей яркости источника возрастает роль рассеянного света в приборе. [c.65]

Избежать помех в пламенах или уменьшить их можно различными приемами, а именно правильно подбирая аппаратуру, тип пламени, его зону, вводя различные реагенты, например, с целью изменения условий генерации аэрозоля, или связывая мешающие элементы в соединения, имеющие малую упругость пара. В связи с влиянием катионов и анионов на интенсивность спектральных линий большое значение приобретает способ перевода твердой пробы в раствор. [c.14]

Наблюдаемые в пламенах спектры атомов относительно просты, так как при таких температурах наблюдаются спектральные линии, обусловленные переходами только с уровней с низкими энергиями возбуждения (1,5—2,5 эВ). Поэтому в методе эмиссионной фотометрии пламени применяют очень простые приборы — пламенные фотометры, в которых монохроматором являются интерференционные светофильтры, а детектором излучения — фотоэлементы. Как правило, пламенные фотометры позволяют определять несколько элементов последовательно (натрий, калий, кальций, литий). Сконструированы также одноканальные многоэлементные фотометры с прямым отсчетом, позволяющие определять до И элементов, в том числе бор (по молекулярной полосе ВО2) и цезий (по резонансному дуплету). Более совершенны пламенные фотометры, имеющие компенсационную схему, которая устраняет спектральные помехи, связанные с инструментальной ошибкой (анализаторы типа ПАЖ). [c.14]

Отрезок на оси абсцисс от условного нуля до пересечения графика будет равен неизвестной концентрации Сх. Метод добавок неприменим, если имеются спектральные помехи (фоновое излучение), которые нужно либо устранить, либо учесть измерением фототока холостой пробы, если это возможно. [c.16]

Далее свечение пламени с помощью линзы 6 превращается в слабо расходящийся пучок лучей, который проходит через абсорбционный светофильтр, выделяющий у определяемого элемента резонансную линию (натрий, калий, кальций) или молекулярную полосу (кальций). После пластинки 8 световой пучок попадает на интерференционный светофильтр 9. При этом часть излучения с узким интервалом длин волн, соответствующим полосе пропускания интерференционного светофильтра, проходит через светофильтр и попадает на фотоэлемент 11 основного канала, остальная часть излучения частично поглощается, частично отражается. Отраженный свет направляется в компенсационный канал с помощью пластинки 8, проходит через оптический клин 12 и попадает на фотоэлемент компенсационного канала 14. Фотоэлементы основного // и компенсационного 14 каналов включены навстречу друг другу, поэтому их электрические сигналы вычитаются. Таким образом, прибор регистрирует полезный сигнал, из которого исключен сигнал мешающего элемента (за счет последнего возникает инструментальная ошибка). Уменьшая или увеличивая прозрачность оптического (17 на рис. 13) клина, можно полностью сбалансировать постороннее излучение, прошедшее через интерференционный светофильтр. Это относится к собственному излучению пламени. Такую операцию выполняют на сухом пламени перед началом работы. Следовательно, оптическая схема фотометра ПАЖ-1 позволяет регистрировать аналитический сигнал определяемого элемента, исключить фоновое излучение пламени в этом спектральном интервале и скомпенсировать спектральные помехи, возникающие в присутствии посторонних элементов, если их спектральные линии или полосы не совпадают с шириной пропускания интерференционного светофильтра. [c.29]

Число атомов, находящихся в возбужденном состоянии, незначительно по сравнению с их числом в основном состоянии, поэтому переходы атомов, сопровождающиеся поглощением энергии, с уровней, отличающихся от основного, будут встречаться крайне редко. Это обусловливает простоту спектров поглощения атомно-абсорбционного метода из-за меньшей вероятности спектральных помех. [c.37]

Спектральные помехи возникают, когда в пламени присутствуют молекулярные частицы, имеющие широкие полосы поглощения, которые перекрываются с атомной линией поглощения определяемого элемеита. Так, папример, линия поглощения Ва 553,6 им проявляется практически в центре широкой полосы поглощения молекулы СаОН, которая расположена в интервале от 548,0—560,0 им. Естественно, следовало бы ожидать помехи со стороны Са нри определении Ва. Однако такая помеха легко устраняется, если в качестве окислителя использовать не воздух, а закись азота. Пламя ацетилен—закись азота имеет более высокую температуру, и молекула СаОН разлагается. [c.159]

К специфическим помехам в АИ-методе следует отнести возможность ионизации атомов элементов, входяш,их в состав основы пробы, а также помехи вследствие перекрывания спектральных линий атомов определяемого элемеита и элементов основы пробы.,. Аналитическая лазерная АИ-спектрометрия является новым методом, который все больше н больше привлекает внимание хи-миков-аналитиков своими основными достоинствами — высокой чувствительностью и селективностью. Разработка новых эффективных способов атомизации в АИ-методе позволит существенно расширить его область применения. [c.188]

Каждый элемент излучает множество спектральных линий, В настоящее время их известно более полумиллиона. Поэтому важным моментом в качественном анализе являются помехи, связанные [c.668]

Химические помехи в плазме минимальны благодаря сравнительно высокой температуре ИСП. Однако высокая температура, достигаемая в плазме, приводит к испусканию богатого линиями спектра, особенно когда в пробе присутствуют такие элементы, как и, Ге и Со. Эта проблема спектральных помех является возможным ограничением ИСП. [c.36]

Так как поглощение излучения пропорционально числу атомов в основном состоянии, становится понятным, почему ААС является эффективным методом. Кроме того, спектры поглощения намного более просты, чем спектры испускания. В противоположность атомно-эмиссионной спектрометрии вероятность спектральных помех из-за совпадения линий мала. [c.40]

В ААС возможность спектральных помех от спектральной линии другого элемента, попадающей в спектральную полосу пропускания диспергирующей системы, крайне мала. Более того, эти спектральные помехи хорошо известны. Примерами являются С<1 228,802 нм и Аз 228,812 нм, А1 308,215 нм и [c.50]

Влияние катионов на эмиссию и абсорбцию натрия (катионный эффект). Влияние различных катионов описано в работах [15, 26, 61, 62, 73, 99, 150, 168, 171, 203 213, 263, 269, 300, 311, 324, 406, 419, 438, 453, 468, 555,575,599,636,730, 780,798,821,844,947,948,974, 1013, 1054, 1077, 1098, 1106, 1107, 1137, 1207, 1208, 1215, 1280]. Причиной влияния могут быть изменение степени ионизации натрия в присутствии катионов щелочных элементов (К, Li, s) [821, 991, 1107, 1284] — так называемое взаимное влияние элементов спектральные помехи за счет наложения постороннего излучения, например, Са, Fe, Mu [15, 61, 62, 115, 150, 203, 213, 555, 599, 636, 798, 1106]. В некоторых случаях посторонний элемент снижает аналитический сигнал, видимо, за счет изменения условий испарения частиц в пламени. Так, отмечено [1207], что кальций уменьшает поглощение натрия. [c.121]

Для снижения спектральных помех используют приборы с компенсацией постороннего излучения или с большей разрешающей способностью, маскировку мешающих. элементов, разные пламена. Например, определение натрия в присутствии кальция неселективно нри использовании пламенных фотометров из-за пропускания светофильтром на натрий излучения молекулярной полосы СаОН с Х,пах = 622 им. Для устранения влияния кальция можно в раствор ввести какой-либо освобождающий реагент , например соль алюминия, который на сгаднн десолызатацин аэрозоля свяжет кальцин в термически устойчивое соединение (алюминат кальция). [c.127]

Оптическая схе1у4а прибора. Оптическая схема анализатора ПАЖ-1 позволяет сконцентрировать световой поток, излучаемый пламенем, на светочувствительную поверхность фотоэлемента, скомпенсировать спектральные помехи и выделить спектральную линию определяемого элемента (рис. 14). Для определения каждого из четырех элементов (натрия, калия, лития и кальция) в приборе ПАЖ-1 применяется один вакуумный фотоэлемент Ф-9. [c.27]

Одна пз существенных спенифических трудностей прн проведении анализа — спектральные наложения на аналитические линии со стороны спектров основы проб. Вследствие неравновесностн ИСП прн высокой температуре в наблюдаемых спектрах проявляется значительно больн1ее число линий атомов и ионов элементов, чем в спектрах ранее описанных источников (нолый катод, искра и т. п.). Количество новых линий столь велико, что возникла необходимость опубликовать специальные таблицы, содержащие положения линий атомов и ионов, наблюдаемых в спектре испускания ИСП. Для устранения таких спектральных помех на практике используют спектральные приборы с большой разрешающей силой. [c.72]

Для метода атомно-эмиссионной спектрофотометрни пламен характерны спектральные и неспектральные помехи за счет генерации аэрозоля, катионного и анионного эффектов и реакции в газовой фазе. Влияния, вызванные составом пробы, подробно обсуждены в третьей главе, поэтому остановимся на спектральных помехах. [c.127]

Вторым источником спектральных помех является собственное излучение пламени, например полосы Сваиа в области 500— 600 нм (рнс. 3.23). [c.127]

Этот вид помех возникает, когда частица сопутствующего компонента поглощает в том же спектральном диапазоне, что и атомы определяемого элемеита, В этом случае использование монохроматора не устраняет тако11 вид помех. [c.159]

Как и во всех методах спектрального анализа, в атомно-иопи-зациомпой спектрометрии для определения концентрации элемента в пробе необходимо использовать стандарты и построение градуировочных графиков. Все рассматриваемые выше вопросы, связанные с приготовлением стандартов п требованиями к ним, в АИ-методе те же. В пламенном варианте АИ-метода возможны помехи, аналогичные тем, которые имеют место в методах пламенной фотометрии или атомно-абсорбционнои спектрометрни, где пламя используется как атомизатор (неполнота испарения капель аэрозоля, влияние различных факторов иа степень атомизации определяемого элемента, таких, папример, как образование трудно-диссоциирующих соединений, и т. п.). [c.188]

В настоящем разделе мы познакомимся кратко с существующими приемами повышения концент[)ацин примесей и дадим примеры достигнутых результатов. При ана.пнзе особо чистых веществ основной компонент отделяют по нескольким причинам а) для повышения копцептрацт" п мгмесс11, применяя различные способы концентрирования б) для снижения спектральных помех за счет наложения спектральных лини 11, полос основы и сплошного фона в случае анализа элементов с м1[01 0Л[1не11чатымн спектрами (уран, торий, молибден и др.) в) для унификации физико-химической формы с целью использования единой системы стандартов. [c.195]

Чисто случайный процесс называют еще бельш шумом, что объясняется аналогией с белым светом, все компоненты которого имеют одинаковую интенсивность. В действительности белый шум не существует, так как постоянство спектральной плотности означает равномерное и безграничное распределение энергии по частоте, что приводит к бесконечно суммарной энергии. У реальных процессов 5 (о)) снижается с частотой (штриховая линия на рис. 2.18, б), для них сигналы могут быть представлены в виде белого шума в том случае, когда в исследуемом диапазоне частот 5 (<о) сохраняет значение, близкое к постоянному. Формула (2.109) показывает, что у системы первого порядка Л ((в) уменьшается с увеличением частоты со. Вследствие этого, как видно из соотношения (2.159), спектральная плотность на выходе такой системы при наличии на ее входе белого шума будет уменьшаться с частотой. Другими словами, система первого порядка осуществляет фильтрацию помех (шума), носящих случайный характер. [c.68]

Прн А.-а.а. необходимо исключить наложение излучения атомизатора на излучение источника света, учесть возможное изменение яркости последнего, спектральные помехи в атомизаторе, вызванные частичным рассеянием и поглощением света твердыми частицами и молекулами посторонних компонентов пробы. Для этого пользуются разл. приемами, напр, модулируют излучение источника с частотой, на к-рую настраивают прнемно-регистрирующее устройство, применяют двухлучевую схему или оптич. схему с двумя источниками света (с дискретным н непрерывным спектрами). Наиб, эффективна схема, основанная на зеемановском расщеплении н поляризации спектральных линий в атомизаторе. В этом случае через поглощающий слой пропускают свет, поляризованный перпендикулярно магн. полю, что позволяет учесть неселектнвные спектральные помехи, достигающие значений /4 = 2, при измерении сигналов, к-рые в сотни раз слабее. [c.217]

За меру селективности определения элементов методом атомноэмиссионного анализа Полуэктов и сотр. [402] предлагают принимать факторы специфичности , которые являются характеристиками прибора, позволяющими оценить спектральные помехи при определении элемента в присутствии посторонних солей. В табл. 44 приведены факторы специфичности при определении натрия в присутствии солей калия, лития, стронция, кальция и бария для различных пламен в зависимости от класса прибора. [c.120]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология