Метод светлого поля

Метод светлого поля в проходящем свете позволяет получить равномерно освещенное поле в плоскости изображения. При этом свет из конденсора проходит через препарат и объектив. Изображение объекта становится видимым вследствие частичного поглощения и отклонения отдельными его элементами падающего на них света. Метод светлого поля в отраженном свете основан на освещении препарата сверху через объектив, который одновременно выполняет роль конденсора. При косом освещении в проходящем или отраженном свете при соответствующем диафрагмировании можно создать боковое освещение препарата, отчего изображение становится более контрастным. [c.214]

Метод светлого поля в проходящем свете применяется при исследовании прозрачных препаратов, у которых различные участки неодинаково поглощают свет. К таким препаратам относятся и волокна. Ход лучей при методе светлого поля в проходящем свете показан на рис. 9. Пучок лучей из конденсора 2 проходит препарат АВ и объектив 1 и дает равномерно освещенное поле в плоскости изображения А В. Поглощающие элементы структуры препарата частично поглощают и отклоняют падающий на них свет (пунктирные линии), что и обусловливает возникновение изображения. [c.18]

Рис. 9. Ход лучей при методе светлого поля в проходящем свете

Метод светлого поля [c.39]

Метод светлого поля в проходящем свете — один из наиболее распространенных и доступных для наблюдения. При прямом освещении им пользуются для изучения прозрачных объектов, у которых различные участки неодинаково поглощают свет, что и служит основой для создания изображения. К прозрачным объектам относятся срезы и отдельные клетки растений, которые монтируют на предметных стеклах и накрывают покровными. [c.39]

В цитологии, эмбриологии, анатомии и цитохимии методом светлого поля в проходящем свете широко пользуются для изучения окрашенных препаратов. [c.39]

Для изучения непрозрачных биологических объектов (например, мелких плодов) можно применить метод светлого поля в отраженном свете, при котором освещение идет сверху через объектив, служащий одновременно и конденсором. [c.39]

Метод косого освещения относят к методу светлого поля. Косое освещение достигается путем смещения апертурной диафрагмы в направлении, перпендикулярном к оптической оси. Эффект косого освещения можно наблюдать в микроскопах с использованием конденсора ОИ-14. [c.39]

Заменяют в микроскопе обычный конденсор и объектив на фазовые. При этом фазовый конденсор устанавливают для нормального освещения по методу светлого поля (иа 0). [c.43]

Микрофотографии фибробласта мыши, полученные методом светлого поля (Л) и фазово-контрастным методом (Б). Обратите внимание на существенно лучший контраст на снимке Б. [c.44]

В обоих случаях контроль может производиться, в зависимости от конкретной задачи и специфики объекта, при освещении по методам темного или светлого поля, в различных спектральных диапазонах (УФ, ИК, ВИ), в поляризованном или естественном свете, при стационарном, модулированном или импульсном режиме излучения источника. Различают также освещение источниками направленного (лазер, коллиматор) и диффузного (лампа с диффузором) излучения. [c.489]

Возможно получение изображения дефектов решетки с высоким разрешением в светлом поле по методу отражения высоких порядков. Образец ориентируется так, чтобы дифракционная картина содержала систематический ряд рефлексов высокого порядка отражения. [c.521]

Биологические микроскопы представляют наиболее многочисленную группу. В научных институтах для проведения детальных микроскопических исследований получили применение универсальные исследовательские микроскопы МБИ, в частности МБИ-6. Они позволяют изучать как прозрачные, так и непрозрачные препараты различными современными методами — путем визуального наблюдения и фотографирования в проходящем свете — в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете, с фазовым контрастом, а также в отраженном свете в светлом или темном поле. [c.215]

Конденсоры служат для освещения препарата, исследуемого под микроскопом, проходящим светом. В зависимости от требуемого метода наблюдения в микроскопах применяются конденсоры различных типов конденсор светлого поля, конденсор темного поля и специальный конденсор для наблюдения по методу фазового контраста. Конденсоры представляют собою двух- или трехлинзовую оптические системы с ирисовой апертурной диафрагмой. [c.15]

Метод темного поля в проходящем свете применяется для получения изображений прозрачных непоглощающих, а поэтому и невидимых при наблюдении в светлом поле объектов. [c.18]

Рис. 4-10 Фибробласт в культуре ткани при наблюдении с помощью четырех различных типов световой микроскопии. А. Изображение получено при прямом прохождении лучей через клетку (микроскопия в светлом поле). Остальные изображения получены с помощью методов, рассматриваемых в тексте Б-фазово-контрастная микроскопия В -интерференционная микроскопия /" микроскопия в темном поле Простая замена

Конденсор расположен под столиком микроскопа и состоит из двух или трех линз. Различают несколько типов конденсоров в зависимости от метода наблюдения конденсор светлого поля (рис. 2,Л), конденсор темного поля (рис. 2,Б), конденсор для наблюдения по методу фазового контраста, конденсор с апертурной диафрагмой для косого освещения и др. Современные микроскопы снабжены апланатическим конденсором ОИ-14 для прямого и косого освещения. Для темного поля выпускают конденсор ОИ-13. Во время работы конденсор приводят в соответствующее положение, поднимая и опуская его специальным винтом. Под конденсором микроскопа находится ирисовая диафрагма. [c.6]

Указанный метод не изменяет разрешающей способности микроскопа, но чувствительность его возрастает, а слабые включения прозрачных объектов, невидимые в светлом поле, дают контрастную интерференцию с фоном и становятся видимыми. [c.42]

На рис. 7.4 представлен пример более сложной текстуры. Черные, темно-серые, светло-серые и белые квадраты перемешаны так, что их относительные количества равны на левом и правом полях. Поскольку есть отличия в статистике второго порядка, эти две текстуры различимы. Однако различия в статистике третьего порядка уже не могут быть обнаружены нашими органами чувств. Здесь необходимы более тонкие исследования. Неприменим, конечно, и метод наложения диполя. Здесь понадобился бы метод наложения треугольника . [c.188]

В случае окрашенных гидрозолей у электрода, заряд которого по знаку противоположен заряду частиц, появится светлый слой жидкости. Этим методом определяют заряд частиц. Как называется явление перемещения частиц в электрическом поле [c.426]

Разрешение индивидуальных металлических атомов как в виде отдельных атомов, так и их кластеров находится на грани чувствительности просвечивающей электронной микроскопии (или даже за ее пределами). Теоретический анализ, проведенный Хашнмото и др. [23—25], показал, что для последовательности из нескольких атомов разрешение метода наклонного темного поля лучше, чем метода светлого поля. Конечно, для очень небольших агрегатов из нескольких атомов возникновение контрастности изображения полностью обусловлено эффектом фазового контраста, в то время как для больших частиц наблюдается дифракционный контраст. Флин и др. [26] рассмотрели, насколько фазовый контраст от таких атомных агрегатов определяется условиями фокусировки. В частности, оказалось, что связь между геометрическим расположением атомов-в агрегате и характером расчетного изображения существенно зависит от условий фокусировки и даже качественное соответствие между ними не обязательно. Очевидно, что интерпретацик> изображения, которое на первый взгляд показывает наличие кластера из нескольких атомов, следует принимать с большой осмотрительностью. Прежде всего необходимо детально исследовать изображение в зависимости от дефокусировки. Данное рассмотрение также показывает, что, поскольку речь идет об измерении размера частиц, зависящих от условий фокусировки, связь между истинным и кажущимся размером частиц при их [c.409]

Следует также подчеркнуть, что объектив микроскопа, используемый для эпифлюоресцентного счета, должен обладать способностью пропускать максимальное количество света. Фазово-контрастные объективы с вделанными в них фазовыми пластинками, как правило, для этого непригодны. Среди объективов, предназначенных для микроскопии методом светлого поля, нужно выбрать тот, который имеет большую числовую апертуру. Однако сильное увеличение не только не нужно, пО даже нежелательно, поскольку оно влечет за собой снижение интенсивности изображения. Лучше пользоваться маломощными окулярами. По сравнению с обычной микроскопией флюоресцентная микроскопия так же, как и темнопольная, позволяет разглядеть клетки значительно меньших размеров, поскольку каждая клетка в этом случае представляет собой точечный источник света. Многие затруднения при эпифлюоресцентном счете, которые упоминаются в литературе [55, 108],. могут быть вызваны как ошибками при самом микроскопическом исследовании, так и тонкостями процесса мембранной фильтрации. Если соблюдены все предосторожности, то под. микроскопом мы увидим ярко светящиеся бактерии на совершенно черном фоне (рис. 8.3). [c.217]

О а р а п Р о и Ь е п 1 о р а п - Р о и и п V а г (.Австрия) — универсальные фотомикроскопы, предназначенные для всех известных методов исследования в отраженном и проходящем свете в светлом поле, темном поле, поляризованном свете, при фазовом контрасте, флуоресценции, можно производить микрофотографирование, микрокиносъемку, микротелевидение, микропроекцию, спектральную микрофотометрию, испытание на микротвердость, высокотемпературную микроскопию, измерение крупности зерна, интерферометрию При исследовании применяют низковольтные лампы мощностью 30 Вт, низковольтные галогенные лампы 100 Вт, ксеноновые излучатели высокого давления, ртутные газоразрядные лампы сверхвысокого давления, фотоосветительные устройства для микрофотографирования. [c.112]

Изменение плотности при прохождении газа через пламя может быть визуализировано примепепием шлпрен-метода, основанного па том, что локальному изменению илотпостн газа соответствует изменение показателя преломления с образованием так называемой шлиры (S hliere) [183]. Пучок света от резко ограниченного источника, например освещенной щели, нри прохождении через шлиру испытывает определенное отклонение. В варианте шлпрен-метода ио схеме Теплера (рис. 133) пучок света концентрируется на среде, содержащей шлиру , объективом или сферическим зеркалом и после прохождения через шлиру попадает в объектив фотокамеры. Установленная перед ним диафрагма (нож) перекрывает часть поля объектива с таким расчетом, что после отклонения шли-рой пучок света либо перекрывается диафрагмой, давая потемнение на светлом поле, либо, наоборот, выходит за край диафрагмы, усиливая освещение фотопленки. В зависимости от того или другого способа установки шлира фиксируется либо усилением, либо ослаблением освещенности поля. [c.171]

Фотографирование морфологических картин, выявленных травлением, производили на металлографическом микроскопе МИ] 1-8М в светлом поле. Этим методом была исследована структура полиамидных образцов непосредственно после литья и по истечении длительного срока, термообработанных при разных условиях и подвергнутых деформации. [c.373]

Метод темного поля в проходящем свете дает возможность определить точно контуры рассматриваемых объектов, так как на темном фоне образуются светлые изображения мелких деталей за счет рассеяния ими света. При таком способе пучок лучей выходит из конденсора в виде полого конуса и в объектив не попадает. Метод темного поля в отраженном свете основан на освещении препарата сверху с помощью специальной кольцевой зеркальной системы, называемой эпиконденсором. При этом методе изображение образуется только рассеянными лучами, имеющими слабую интенсивность. Поэтому для освещения препарата необходимо применять наиболее яркие источники света. [c.214]

Жается к пределу разрешающей способности микроскопа для определения их размеров требуется более мощный инструмент. Длину и другие размеры толщин можно определить с помощью микроскопа в светлом поле определение же глубинь трещин и их влияния на топографию поверхности требует применения других методов. [c.223]

Одним из методов препарирования растительных масел является их полимеризация. Полимеризованпые масла получаются нагреванием рафинированных масел. Полимеризацию льняного и периллового масел осуществляют при температуре до 300—315° рыбьих жиров— при температуре 285—290°,а тунговое и отисиковое масло полимеризуют при 230°, но не выше 260°. Степень полимеризации контролируется измерением вязкости масел. Продолжительность полимеризации зависит от природы масла, заданной вязкости и температуры полимеризации. В процессе полимеризации йодное число масла уменьшается и оно темнеет. Для получения светлых поли-меризованных масел процесс ведут под вакуумом. Полимеризованпые масла применяются для производства масляно-смоляных лаков и эмалей, а также для изготовления литографских олиф. [c.144]

К микроскопам 1 группы могут быть отнесены приборы Телевал ( К- Цейсс, Йена , ГДР) и Биолам-П (ЛОМО, СССР). Приборы этой категории позволяют осуществлять наблюдения методом светлого и темного поля, фазового контраста с увеличением до 250— 300 крат. Тринокуляр обеспечивает возможность микрофотографирования. [c.26]

Микрофотографии бактерий ( . oli) при наблюдении их методами светлого (А) и темного (Б) поля, а также в фазово-контрастный микроскоп (В). Обратите внимание, что на снимке А бактерии почти не видны. [c.41]

Рис. 4-10. Фибробластв культуре ткани при наблюдении с помощью четырех различных типов световой микроскопии. А Изображение получено при прямом прохождении лучей через клетку (микроскопия в светлом поле). Остальные изображения получены с помощью методов, рассматриваемых в тексте Б-фазово-контрастная микроскопия В -интфференционная микроскопия Г микроскопия в темном поле. Простая замена компонентов оптики большинства современных микроскопов позволяет получать все четыре типа изображения.

В настоящее время широко применяют метод выщелачивания компонентов светлых нефтепродуктов (бензинов, керосинов, летних и зимних дизельных топлив и др.) в электрическом поле высокого напряжения с применением электроразделителей двух типов 1ЭРГ-50 и 1ЭРГ- 00. На рис. 58 приведена схема узла выщелачивания компонентов светлых нефтепродуктов в электрическом поле, входящего в состав укрупненной установки ЭЛОУ — АТ. Установка рассчитана на переработку азербайджанских нефтей, [c.157]

При работе по темнопольному м е то д у через апертурную диафрагму проходят лишь электроны, рассеянные образцом, при этом на экране наблюдается темное поле, окаймляющее светлые участки, отвечающие по форме плотным ( рассеивающим ) частицам об1эекта. Особенность темнопольного метода — повышенная контрастность изображения. Пользуясь темнопольным методом, можно более отчетливо определить принадлежность рассматриваемого материала к кристаллическому или аморфному классу веществ, что весьма важно при распознавании гидратированных новообразований и компонентов смеси. Он позволяет установить связь между электронно-микроскопическим изображением данного участка объекта и его электронограммой. [c.132]

Настоящая работа —пример использования физико-химического метода анализа — поляриметрии — в кинетическом исследовании. Угол вращения определяют с помощью поляриметра (рис. XIII. 14,а). Основные узлы прибора поляризатор 3, состоящий из двух поляризационных призм 3 и 3", и анализатор 5. Монохроматический пучок света, проходя через поляризатор, становится линейно-поляризованным. Маленькая призма 3", закрывающая половину оптического поля, установлена по отношению к призме 3 так, что плоскости поляризации света в двух половинах светового пучка образуют небольшой угол. Анализатор 5, представляющий собой тоже поляризационную призму, вращается вокруг оптической оси прибора. Если анализатор повернут так, что плоскость поляризации света, входящего в него, перпендикулярна к плоскости поляризации выходящего света, то свет через анализатор не пройдет. Соответствующая половина поля, наблюдаемого в окуляр 6, будет темной, а другая —светлой (рис. XIII. 14,б). Между двумя положениями анализатора, отвечающим затемнению одной из [c.794]

VII. Автоэлектронная (АЭМ) и автоионная (ЛИМ) микроскопия приобрели за последние годы большое значение д.чя исследования структуры поверхностей. Принцип методов заключается в создании поля очень высокой напряженности (>10 В/см) между полированным металлическим острием и флуоресцентным экраном. Такие поля вырывают электроны (АЭМ) из атомов, составляющих острие, посылая их радиально к экрану в методе-АИМ на острие подается положительный заряд, и приближающаяся молекула газа (обычно Не, находящийся в сверхвысоковакуумиой камере) ионизируется и посылается на экран. В таком ионном микропроекторе разрешающая способность составляет десятые доли нм. На рис. IX. 1 светлые пятна — отдельные атомы вольфрама, располагающиеся в соответствии с геометрией плоскостей вольфрамового острия. [c.140]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология