Кривая почернения

Рис. 80. Кривая почернения (5) и кривая интенсивностей (/), полученные по электронограмме от аморфной окиси алюминия. Внизу дана теоретическая кривая, полученная по приведенной на рис. 79 модели

Для определения интенсивности спектральной линии необходимо знать зависимость между почернением 5 фотопластинки и интенсивностью / излучения, вызвавшего это почернение. Зависимость между 5 и lg / выражают кривой, которую называют кривой почернения или характеристической кривой фотопластинки. На прямолинейном участке этой кривой зависимость 5 от g/ выражается уравнением [c.228]

Прямолинейный участок характеристической кривой (кривой почернения) соответствует области нормальных почернений. — Прим. перев. [c.191]

Решающее значение имеют также свойства фотоматериала (крутизна кривой почернения), на котором регистрируется дифракционная картина. Интенсивность освещения щели подбирается таким образом, чтобы нри данной экспозиции нежелательные посторонние максимумы имели интенсивность ниже порога чувствительности фотоматериала. Более подробно этот вопрос исследован Вольтером [18]. [c.57]

Величина почернения спектральной линии на негативе связана с интенсивностью сложным математическим уравнением. Поэтому эту зависимость лучше всего изображать графически (рис. 20) в виде характеристической кривой почернения фотопластинки. Для построения характеристической кривой по оси абсцисс откладываются десятичные логарифмы количества освещения (IgЯ), а по оси ординат — величины почернения (5). Однако при практическом построении характеристической кривой фотопластинок для целей спектрального анализа удобнее 1 Я заменять через lg/ согласно уравнению [c.46]

Измерение интенсивности спектральных линий. Методику фотографического метода спектрального анализа можно было бы значительно упростить, если бы можно было непосредственно измерять интенсивность спектральных линий. Тогда процентное содержание элемента в пробе определялось бы по однажды построенному графику зависимости отношения интенсивностей спектральных линий от его концентрации. Однако неоднократно предпринимавшиеся попытки трансформирования кривых почернений в кривые интенсивностей с помощью различного рода шаблонов — механических [21.1], электромеханических [21.2], электронно-механических [21.3] и фотометрических [21.4 21.5], построенных на усредненной характеристической кривой, не привели к удачному [c.190]

Рис. 75. Микрофотограмма (а) и кривая почернения (б), полученные по электронограмме от тонкой пленки алюминия с окисью

На рис. 75 Приведена микрофотограмма и кривая почернения за вычетом фона, полученные по электронограмме от тонкой пленки алюминия, окислявшейся в кислороде при тлеющем электрическом разряде. По 21 ординате кривой почернения была построена кривая радиального распределения, представленная на рис. 76. [c.141]

Первый максимум был интерпретирован как простой максимум, принадлежащий расстоянию А1 — О, второй — как сложный максимум, принадлежащий расстоянию Л1—Л1 и О—О. Была построена модель строения окисной пленки и по ней была рассчитана кривая молекулярного рассеяния, которая в основном совпала с исходной кривой почернения (см. дальше). [c.141]

Почернения спектральных линий измеряют на микрофотометре МФ-2 или МФ-4. Для построения градуировочных графиков по абсолютным почернениям используют область нормальных почернений (прямолинейный участок характеристической кривой почернения фотопластинки). Некоторые элементы (V, N1, Ре и др.) в золах нефтей присутствуют в больших концентрациях определение больших концентраций элементов спектральным количественным анализом затруднено. [c.284]

На рис. 41 приведены кривые почернения линий, зарегистрированные на движущейся пластинке, при добавлении к пробе различных соединений калия, серебра и меди. Условия испытания приведены на стр. 89. [c.94]

При введении в пробу 10% буфера испарение примесей происходит более равномерно. Дуга горит стабильнее (см. рис. 49, б). Падение почернения между 40 и 80 сек экспозиции значительно Меньше, однако все еще ясно выражено. Влияние буфера сказывается не только на испарении примесей, но и на температуре дуги. Об этом можно судить по кривым почернения линии углерода, для возбуждения которой требуется горячая дуга (потенциал возбуждения линии 7,69 эв). Почернение линии углерода в течение всей экспозиции находится в обратной зависимости от почернения линии лития. [c.101]

Другим возможным источником ошибки в спектрографических определениях является дискриминация, возникающая вследствие различных траекторий движения ионов разных масс. Ошибка может быть внесена и при калибровке фотопластинки. Воздействие света или рентгеновских лучей на пластинки отличается от воздействия положительных ионов [76]. Поэтому при калибровке обычно используется образец с известным изотопным составом, и линии эталонного и изучаемых образцов возникают на пластинке одновременно. Например, медь (которая обладает изотопами с массами 63 и 65) изучали в присутствии цинка. Относительная распространенность изотопов цинка была определена ранее на масс-спектрометре, и эти данные использовали для калибровки каждой экспозиции в интересующем диапазоне шкалы масс. Точность, достигаемая при подобных измерениях, равна 0,3%. Относительное содержание нескольких изотопов в элементе, используемом в качестве калибровочного, как это у называлось выше, может быть установлено непосредственно при помощи большого числа экспозиций различной продолжительности. Для линии данного изотопа строится кривая почернения, и путем сопоставления времени, необходимого для получения определенной плотности линий различных изотопов, устанавливается их относительная распространенность. Боль- шинство элементов впервые было исследовано этими двумя методами. Ошибки возникают из-за нелинейной зависимости между почернением и экспозицией, а также из-за неравномерной плотности линий на пластинке. Это связано с трудностью оценки интегральной экспозиции, когда почернение не является ее линейной функцией. Чувствительность фотопластинок, используемых в масс-спектрографии, изменяется даже по длине данной пластинки. Для того чтобы, обнаружить и исключить ошибки, вызываемые этим фактором, для каждого спектра обычно несколько раз повторяют экспозиции. [c.73]

Допустим, что линии А я В расположены на более или менее интенсивном фоне и надо найти отнощение их интенсивностей. Для учета фона следует отдельно измерить его почернение вблизи линий. Если фон неравномерен, то необходимо провести измерения почернения по обе стороны от спектральной линии и взять среднее. По кривой почернения находим соответствующие измеренным почернениям интенсивности. Введем следующие обозначения 1а, 1в — интенсивности линий А, В /ф,/ф — интенсивности фона вблизи линий А, В 1а + и , /в + ф — суммарные интенсивности этих линий и фона. Тогда искомое отношение интенсивностей определяется следующим выражением [c.145]

Учет фона. Обычно линии видны на фоне сплошного спектра источника. В этом случае для измерения относительных яркостей необходимо учитывать фон. Для этого после построения кривой почернения измеряют почернение фона справа и слева от каждой из линий. Берут среднее значение и по характеристической кривой определяют яркость фона под линией в условных единицах. Затем в тех же единицах измеряют яркость фона совместно с линией. Из нее вычитают яркость фона и получают яркость линии. Так же поступают для второй липни и берут отношение полученных яркостей. [c.312]

В16. Е л а 1 d II., Фотометрическое определение редких изотопов. (Относительное содержание изотопов и атомный вес никеля. Известный метод, описанный в ссылке В. 15, модифицирован с целью провести точное сравнение между распространенными и редкими изотопами. Использовали ионный источник с постоянным током кривая почернения фотографической пластинки может быть неизвестной.) Там же, pp. 686—696. [c.603]

Цель работы ознакомление с методом получения кривых почернения фотопластинки при помощи ступенчатого ослабителя ознакомление с техникой фотометрирования. [c.54]

Для спектрального анализа подходят только специально изготавливаемые мелкозернистые и противоореольные фотографические эмульсии с низким уровнем вуали. Более того, для количественного анализа очень важно, чтобы линейный участок кривой почернения фотоэмульсии был как можно больше, значение у практически не зависело от длины волны света и было достаточным по величине. И наконец, фотоэмульсия должна быть ровной и без повреждений. Эти требования предъявляются также к подложке для фотоэмульсий. [c.6]

Тангенс угла наклона прямолинейного участка кривой называется контрастностью пластинки tg = Y. Фактор контрастности (у) показывает крутизну кривой почернения и зависит от свойств фотоэмульсии. Если фактор контрастности = = 1, то почернение увеличивается прямо пропорционально экспозиции. [c.47]

Чем круче подымается кривая, тем выше контрастность пленки. Последнюю, следовательно, можно характеризовать тангенсом угла наклона прямолинейной части кривой. Обозначается эта величина через у. Чем более полого идет кривая почернения, тем больше интервал интенсивностей лучей, различаемых по пленке. Качество рентгеновской пленки, следовательно, тем выше, чем меньше у. Величина, обратная контрастности, называется фотографической широтой пленки. [c.161]

Величину фактора контрастности можно вычислить из отношения разности ординат к разности абсцисс двух точек прямолинейной части характеристической кривой почернения [c.50]

Как уже было показано выше, логарифмы пропускаемости ступенек, приведенные в паспорте, отличаются от логарифмов интенсивности на постоянную величину, что приводит к смещению характеристической кривой относительно начала координат, не меняя, однако, ее формы. По оси ординат наносят величины почернения 5 отдельных ступенек спектральных линий, измеренных на негативе микрофотометром для соответствующих пропускаемостей 1 /. Полученные таким образом точки на графике соединяют между собой, получая характеристическую кривую почернения для изучаемой фотопластинки (рис. 28). [c.59]

Характеристическую кривую почернения можно построить, измеряя почернения ступенек для одной спектральной линии. Однако для многих типов фотопластинок одной линии бывает недостаточно, чтобы воспроизвести всю кривую. В таком случае кривая строится по нескольким близко расположенным спектральным линиям разной интенсивности. При помощи более слабой линии строится нижняя часть, а по более интенсивной линии (линиям) строится остальная часть кривой (рис. 29). [c.60]

В таком случае характеристическую кривую (кривую почернения) также строят в координатах абсцисса — 1д/, взятый из таблицы ордината — почернение 5, измеренное на микрофотометре для соответствующих линий железа (на негативе). [c.61]

Не следует, однако, относиться к числовым значениям характеристик, приписываемых отдельным сортам пленок, как к некоторым неизменным параметрам. Наклон и форма кривой почернения В = ( И) зависят не только от сорта пленки, но и от многих других факторов времени существования пленки, состава и степени истощения проявителя, его температуры и времени проявления. Поэтому при определении интенсивности излучения фотографическим методом необходимо снимать эталонные характеристические кривые, пользуясь пленкой того же сорта (и даже той же партии), на которой снимаются рентгенограммы исследуемого объекта. Существенно и совпадение условий проявления. Наиболее целесообразно проявлять эталонную пленку и [c.164]

Протопопов в. Н. Новый способ построения кривой почернения для рентгеновских лучей. Сообщ. 2. Зав. лаб., 1948, 14, № 2, с. 196—201. 1159 [c.51]

На рис. 71 даны кривые почернения, полученные фотометрированием негативов спектров флуоресценции растворов мочи жеребых (Ж) и нежеребых (Я) маток они дают нам представление о распределении интенсивностей в соответствующих спектрах флуоресценции. Сопоставление этих кривых показывает следующее для всех кривых Ж максимум почернения на негативе, а следовательно, и максимум интенсивности флуоресценции отвечает длинам волн, лежащим в интервале от 456 до 465 ммк, т. е. колеблется в пределах 9 ммк. На кривых же Н максимум смещен в сторону корот ких волн, и, кроме того, длины волн, отвечающие максимуму, колеблются в более широком интервале от 426 до 440 ммк. Ясно выявляется сходство [c.297]

В ". Тваровская не дает кривой почернения для спектра флуоресценции растворов флуорена, но приводит длины волн максимумов четырех полос 389 407,5 432 II 456 ммк они и нанесены в таблице. [c.368]

Для этого метода определения удобнее всего использовать с. б. п.-шкалу, для которой почернения линий между первой и наиболее интенсивной седьмой ступенями (еще попадающими на линейный участок кривой почернения) распределены насколько возможно равномерно. Сравнение облегчается, если контуры линий на шкале и спектральных линий с примерно одинаковыми почернениями близки друг к другу. Для изготовления с. б. п.-шкалы и получения спектров анализируемых проб целесообразно использовать один и тот же спектрограф. В этом случае отпадает необходимость в калибровочной шкале, так как в описанном выше методе с. б. п.-шкала нужна только для облегче1шя сравнения между собой почернений спектральных линий. [c.58]

Количественные методы анализа основаны на том, что теоретически существует линейная корреляция (разд. 4.2) между логарифмом отношения интенсивностей линий аналитической пары X, г АУх,г) и логарифмом относительной концентрации Сх1сг=с определяемого элемента и элемента сравнения g ). Однако, поскольку корреляция между почернением 5 и логарифмом интенсивности У линейна только для линейного участка кривой почернения, все современные методы анализа основаны на использовании величин У и АУ, а не 8 и АЗ. Поэтому в дальнейшем методы, в которых используются только почернения, будут обсуждаться поверхностно. Сегодня эти методы можно рассматривать в качестве классических . Методы, основанные на использовании Р, АР и других величин,, полученных в результате применения преобразованных почер- [c.70]

Вайнштейн Э. Е. и Туранская Н. В. Новый способ построения кривой почернения и его использование в рентгенохимическом анализе. ЖАХ, 1952, 7, вып. 3, с. 180—182. Библ. 5 назв. 1149 [c.51]