Оптические поверхности

Тонкие пленки. Они получили гораздо большее распространение в науке и технике. Помимо широкого использования в оптических устройствах (покрытие зеркал, различные интерференционные я поглощающие фильтры, просветляющие покрытия, защитные покрытия, предотвращающие окисление и повреждение оптических поверхностей, и др.), тонкие пленки в настоящее время применяют для контроля температуры космических объектов, а также в качестве приемников видимого и инфракрасного излучения. Во всех перечисленных случаях весьма важно иметь точные данные об оптических свойствах пленок и прежде всего данные о коэффициентах отражения, пропускания и поглощения света в однослойных или многослойных системах пленок. [c.502]

Незаменимым инструментом для подобных изучений является поляризационный микроскоп с большой способностью увеличения, используемый для рассмотрения отшлифованных участков кокса, подготовка которых должна быть такой же тщательной, как подготовка оптических поверхностей. Мы увидим, что можно таким образом различать коксы, получаемые из разных типов углей. Например, существует очень четкое различие между коксом из такого угля, как 536, который является изотропным и поэтому представляется равномерно черным при наблюдении с помощью пересекающихся николей, и коксом из угля 025, который в тех же условиях показы- [c.106]

Существенную роль играет рассеянный свет и потери света Б спектральном приборе. Снижения рассеянного света добиваются уменьшением числа оптических поверхностей, а также применением оптических систем, не имеющих специальной фокусирующей оптики. Например, в квантометрах с этой целью применяют вогнутые отражательные решетки, которые сами фокусируют спектр в фокальной окружности, где установлены выходные щели. [c.72]

Особенно следует остерегаться попадания пыли на алюминирован-ные зеркала, поверхность которых легко повредить при чистке. Совершенно недопустимо попадание пыли на дифракционные решетки. При попадании пыли на поверхность объективов, конденсоров, призм и других оптических деталей ее следует осторожно смахнуть кисточкой, которая имеется в комплекте приборов. Протирать поверхность деталей можно только после удаления пыли, иначе твердые пылинки будут царапать поверхность. Удобно также промывать детали целиком в подходящем чистом растворителе. Просветленные оптические поверхности нельзя протирать влажными растворителями. При протирании склеенных объективов или призм нужно следить, чтобы растворитель не попадал на торцовые поверхности, так как он может растворить лак между склеенными поверхностями. Алюминированные детали можно промывать в петролейном эфире, слегка протирая поверхность мягкой тканью под слоем жидкости. Дифракционные решетки промывают петролейным эфиром, не прикасаясь к заштрихованной поверхности. Их чистку могут производить только опытные спектроскописты в исключительном случае. [c.151]

Четвертый способ. Для уменьшения деформации оптической поверхности кварцевого диска при спаивании с трубкой из кварцевого стекла предложен интересный способ — спаивание с [c.282]

По мере разработки спектрофотометров с более высоким разрешением и универсальностью требования к предельным условиям работы узлов прибора становятся все более жесткими. Важно часто их контролировать, чтобы застраховаться от непредвиденного ухудшения качества спектральных измерений, так как даже наиболее надежные узлы электроники спектрофотометров могут расстраиваться, источник может искривляться, а оптические поверхности могут загрязняться и мутнеть. [c.59]

Дифракционная решетка представляет собой совокупность большого числа регулярно расположенных штрихов (канавок, щелей, выступов), нанесенных тем или иным способом на плоскую или вогнутую оптическую поверхность. Фронт световой волны, падающей на решетку, разбивается ее штрихами на отдельные когерентные пучки, которые, претерпев дифракцию на штрихах, интерферируют, образуя результирующее пространственное распределение интенсивности света — спектр излучения. В спектральных приборах применяют, в основном, отражательные решетки. [c.382]

Линзы, призмы и т. п. Непосредственно оптические поверхности приборов, включая и кюветы, которые подвергаются воздействию атмосферы или химических растворов, требуют частой очистки поверхности. Такую очистку следует проводить очень осторожно, не допуская повреждения очищаемых поверхностей. Отпечатки пальцев (чего следует избегать в первую очередь), следы хлористого аммония и других веществ, не обладающих зернистой структурой, обычно удаляют аккуратным протиранием поверхности линзы специальной мягкой тканью, в случае необходимости увлажняя поверхность дыханием. На применяемой для этой цели ткани не должно быть посторонних твердых частиц. [c.313]

Если требуется промывание, то для этого необходимо использовать обычные моющие средства с последующей промывкой сначала водопроводной, а затем дистиллированной водой. Ни в коем случае не следует использовать для этой цели хромовый раствор или царскую водку, за исключением особых случаев и то только по разрешению преподавателя. В случае, если оптическая поверхность окажется загрязнена цементом или другим вяжущим материалом, следует обратиться за советом к преподавателю. При попытке очистить такое загрязнение можно непоправимо испортить прибор. Если возникнет подозрение, что оптическая система прибора разрегулирована, то не следует пытаться регулировать ее самому, а следует обратиться к преподавателю. [c.313]

А, фтористый магний — при 1100—1400 А коротковолновая граница пропускания этих материалов зависит от характера обработки их оптических поверхностей и может несколько смещаться в сторону коротких длин волн при понижении температуры. Кривые пропускания и дисперсии флюорита и фтористого лития представлены на рис. 15.1—15.3 [14 15.1 15.2] толщина образцов 1,5—2,0 мм. Под действием облучения с длиной волны короче 1100 А в вакууме прозрачность этих кристаллов падает, но может быть восстановлена полировкой [15.3—15.5]. [c.127]

Крепление оптических деталей и узлов прибора должно быть достаточно надежным, чтобы не вызвать разъюстировки прибора при его переноске или транспортировке. Вместе с тем следует избегать пережатий оптических деталей, вызывающих напряжение в материале деталей, деформацию оптических поверхностей и ухудшение вследствие этого качества изображения. [c.141]

Кюветы должны быть чистыми и сухими [3]. Все операции с кюветами следует проводить очень аккуратно на оптических поверхностях кювет не должно быть отпечатков пальцев или пыли, вызываюшей различного рода электростатические явления. Желательно пользоваться хлопчатобумажными перчатками, на которых нет свободных волокон, и антистатическими щеточками. [c.134]

Затем следует осторожно поместить две чистые кюветы в термостатируемый держатель кювет спектрофотометра и аккуратно заполнить каждую из кювет холостым раствором или раствором сравнения. Необходимо проверить отсутствие подтеков жидкости на оптических поверхностях кювет (или в отделении для кювет ), а также отсутствие волокон или пузырей воздуха в растворах, закрыть кюветы и подождать, пока установится равновесие. Записывать спектр необходимо во всем рабочем диапазоне длин волн с целью регистрации всех погрешностей, обусловленных различиями кювет. Такую поправку следует учитывать как систематическую ошибку при обработке данных с применением точного метода наименьших квадратов (см. разд. 4.4). [c.135]

Характеристики рабочих ячеек. Для титрования в области длин волн >350 кж годятся обычные стаканы из пирексового стекла никаких особых оптических поверхностей высокого качества не требуется. Однако очень важно, чтобы стакан был защищен от рассеянного света и надежно зафиксирован в течение всего времени титрования, так как даже незначительный поворот или боковое освещение может заметно изменить оптические характеристики раствора. Объем анализируемого раствора составляет обычно 100-200 мл. [c.173]

Этим методом удается получить полезные сведения относительно формы частиц так, выяснилось, что большинство металлических частиц имеет сферическую форму, в то время как для пятиокиси ванадия характерна волокнистая структура, а окись вольфрама обычно встречается в виде пластинок. В случае порошков, размер частиц которых варьирует в широком интервале, частицы, не обнаруживаемые оптическим микроскопом, могут быть сделаны видимыми в электронном микроскопе так, образцы саж, имеющие оптическую поверхность 75 ж /г, при измерениях с помощью электронного микроскопа обнаруживают в три раза большую величину поверхности. Другое важное преимущество электронного микроскопа состоит в возможности наблюдать изменения, происходящие в образцах в результате обработки, которая применяется в том или ином исследовании. Так, успешно были изучены процессы агломерации первичных частиц во время спекания старение гидроокисей, например пятиокиси ванадия, с образованием сначала гибких волокон, затем эллиптических тактоидов и, наконец, кристаллитов рост частиц и соответствующее уменьшение поверхности окиси алюминия при паровой дезактивации и многие другие изменения систем. [c.149]

Выше было указано (стр. 410), что при экспонировании химически несенсибилизированных фотографических эмульсий образуется главным образом внутреннее скрытое изображение, которое можно проявить лишь после его обнажения в результате травления поверхности каким-либо растворителем галогенида серебра. Установить распределение и свойства этого скрытого изображения опытным путем на микрокристаллах тех размеров, какие имеют место в фабричных эмульсиях, очень трудно вследствие малой величины поверхности, доступной для микроскопического исследования. Поэтому в последние годы для таких целей использовали главным образом большие тонкие кристаллы с оптическими поверхностями [24—26]. Свойства, о которых идет речь, иллюстрируются рис. ба и 66. Рис. 6а представляет микрофотографию поверхности большого монокристалла, который экспонировался до образования видимого изображения в результате выделения серебра по границам субструктуры, а затем был проявлен. На рис. 66 приведена микрофотография соседнего участка того же самого кристалла, которому сообщалась гораздо меньшая экспозиция, не сопровождавшаяся видимыми изменениями. Поверхностные слои перед проявлением были удалены обработкой разбавленным раствором цианистого калия. На поверхности нетравленого кристалла (рис. 6а) не видно центров проявления, между тем как на [c.423]

Примечание — Указанный метод предполагает изменение поглощения света около 0,10 для каждых 100 мкг серы в 50 мл раствора, измеренных в кювете в 50 мм. Спектрометр, применяющий кюветы с меньшим расстоянием между оптическими поверхностями, не даст точности, установленной в этом методе. [c.345]

На определении оптической границы изображения могут сказываться различные факторы, в том числе интенсивность рассеянного света, зависящая от изменения апертуры, способ приготовления образца и чистота оптических поверхностей. При визуальных измерениях граница изображения зависит от индивидуального восприятия, и каждым наблюдателем ее местоположение оценивается по-разному. Контрастность изображения зависит от величины отношения коэффициентов преломления образца и среды. Если коэффициенты преломления близки, отличаются не более чем на 0,1, визуальное наблюдение затрудняется [7], а фокусировка осуществляется [c.336]

Линзы, призмы и т. п. Оптические части, включая и кюветы, которые подвергаются воздействию атмосферы или растворов, требуют частой очистки последнюю нужно проводить осторожно, чтобы не поцарапать очищаемых поверхностей. Отпечатки пальцев (чего необходимо избегать в первую очередь), налет хлорида аммония и аналогичные небольшой твердости вещества обычно удаляют, осторожно вытирая стеклянную поверхность тканью для линз, в которой не должно содержаться твердых частиц, и, в случае необходимости, увлажняя дыханием. Если требуется промывание, то для этой цели следует использовать обычный моющий раствор, после него необходимо ополоснуть водопроводной водой и затем дистиллированной. Хромовую смесь и царскую водку можно применять в исключительных случаях и только с разрешения руководителя. Если оптическую поверхность загрязнили цементом или другим вяжущим веществом, нужно проконсультироваться у руководителя относительно удаления загрязнения. Оптическим приборам может быть причинен непоправимый вред при очистке их неправильными приемами. Если имеется [c.427]

Наполните одну кювету водой порции окрашенных растворов поместите в другие кюветы. Нужно следить за тем, чтобы оптические поверхности кювет были чисты и сухи и чтобы пузырьки воздуха не приставали к внутренним стенкам. [c.472]

Круглая заготовка из органического стекла разогревается до требуемой температуры и зажимается между камерой 1 и кольцом 5. В камеру через штуцер подается сжатый воздух, который раздувает через кольцо заготовку в сферу требуемого диаметра. Для получения правильной оптической поверхности необходим очень равномерный разогрев заготовки и точное регулирование давления воздуха. [c.254]

В процессах низкотемпературного ожижения газов, в частности водорода, значительную роль играет качество предварительной очистки газов от примесей (азота и кислорода), которые затвердевают в ожижителе, мешая нормальной работе как ожижителя, так и различных физических приборов, используюш,их жидкий водород. В ряде случаев, например при работе с жидководородными пузырьковыми камерами, где опасно загрязнение оптических поверхностей, требуется водород с содержанием примесей менее 5-10" объемных долей. Чтобы уменьшить взрывоопасность системы, применяют предварительную каталитическую очистку водорода, которая производится нри комнатной или более высокой температуре. Для удаления примеси азота на входе серийного водородно-гелиевого ожижителя ВГО-1 включены два блока очистки водорода, осуш,ествляемой под высоким давлением и при низкой температуре. Каждый блок имеет осушитель, теплообменник и адсорбционную секцию. Максимальная производительность блока очистки составляет 360 м /ч, рабочее давление —15-1 О Па (150 кгс/см ), скорость газового потока в адсорбере 5 м/мин в расчете на полое сечение. [c.174]

Кюветы изготовляют из стекла, пропускающего все лучи видимого спектра. Для анализа в ультрафиолетовой области спектра применяют кюветы из кварца, пропускающего не только видимые, но и ультрафиолетовые лучи. Оптические поверхности кювет, т. е. поверхность, на которую падает световой поток, и поверхность, через которую выходит непоглощенная часть света, должны быть строго параллельны. [c.417]

Периодически требуется проверять градуировку шкалы длин волн, так как она нарушается вследствие колебаний температуры помещения, истирания движущихся частей прибора, старения оптических поверхностей и т. п. [c.32]

В том случае, если из кварца нельзя вырезать настолько тонкую пластинку, чтобы она могла быть четвертьволновой, можно сконструировать эквивалентную систему. Такая система представляет собой компенсатор Брава, изготовляемый путем наложения двух пластин сравнимой толщины так, чтобы их оси пересекались. Фактор толщины, вводимый в формулу для расчета запаздывания, определяется как разность толщин двух пластин. Если одна из пластин состоит из двух призматических частей, каждая из которых имеет острый угол при вершине, и если они могут скользить одна параллельно другой таким образом, что общая толщина будет увеличиваться, тогда систему можно регулировать для каждой длины волны и поддерживать условие четверть волны по всему спектральному диапазону. Угловое поле компенсатора Бравэ ограничено больше по сравнению с кристаллической пластинкой. Вводимое запаздывание является единой константой для всей поверхности компенсатора, если качество оптических поверхностей достаточно высокое. [c.59]

Рассмотрим коротко погрешности, источником которых являются расхождения в оптических плотностях кювет, загрязнения оптических поверхностей кювет, рассеянный свет, неточность в установке длины волны, влияние ширины щели. [c.172]

X 100 мкм для 1 < 250нм минимальное количество оптических поверхностей отсутствие движущихся деталей. [c.812]

И. Г. Бейм, Т. М. Буркат, Д. П. Добычин (Ленинградский государственный педагогический институт им. А. И. Герцена). Мы остановимся на использовании теории капиллярной конденсации для исследования структуры микрообъектов тина тонких пленок па оптических поверхностях по данным о сорбции криптона при температурах ниже его тройной точки. В качестве модельного объекта использовался ряд образцов пористых стекол с монотонно меняющимся радиусом пор. Величина эффективного радиуса пор гц,о рассчитывалась по десорбционным ветвям изотерм для воды при 293 К по уравнению Кельвина. При этом мы исходили из того, что для воды уравнение Кельвина выполняется вплоть до 1,5 нм [1]. [c.220]

Оптиками принято при полировке оптических поверхностей точность изготовления называть качеством поверхности и оценивать ее в долях полосы АЫ, понимая под этим относительную величину местного искажения интерференционной полосы, наблюдаемой в воздушном клине при наложении на обрабатываемую деталь пробного стекла. Для пластины эталона Фабри—Перо пробное стекло заменяет вторая, парная ей, пластина эталона. Выразим отклонение пластин эталона от взаимопараллельности в долях полосы [c.107]

Мультиплетная структура рентгеновских спектральных линий является наиболее общим типом дефектов линий в рентгеновских фокусирующих спектрографах. Она порождается крупноблочной структурой изогнутой в кристаллодержателе прибора тонкой кристаллической пластинки. Эта структура изогнутого кристалла возникает главным образом из-за недостаточной тщательности обработки двух цилиндрических поверхностей кристаллодержателя, между которыми осуществляется изгиб кристалла. Микроскопические неровности на поверхности кристаллодержателя приводят к появлению в отдельных местах кристалла значительных перенапряжений и способствуют таким образом процессу блокообразования в нем. Поэтому необходимо обратить особое внимание на совершенство обработки поверхности изогнутых шаблонов кристаллодержателя. Эта обработка должна вестись с тщательностью, не уступающей обработке оптических поверхностей. В связи с этим целесообразно изготовление кристаллодержателей из стекла. В этом случае надлежащая обработка рабочих поверхностей кристаллодержателя гораздо легче осуществима, нежели обработка поверхности держателя из металла. [c.67]

Значительный успех в повышении точности измерений был достигнут после замены одного луча несколькими. Соответствующий метод был разработан Толанским. Согласно этому методу, на изучаемую поверхность наносят тонкую пленку серебра (- 500 А толщиной). Используемый для получения пленки молекулярный пучок получают испарением в вакууме, поскольку при этих условиях контуры исследуемой поверхности надежно воспроизводятся в пределах ощибок измерений, т. е. 30 А. Оптическая поверхность (обычно из кварца) может быть изготовлена с точностью +л/20 по всей поверхности. [c.153]

Однако для многих поверхностей либо отдельные ступеньки расположены очень близко друг к другу, либо их высота слишком мала. В таких случаях полосы Физо могут быть приведены в соответствие с конкретным характером рельефа при условии, что изменение его превышает А,/2. Оптическая поверхность тогда должна быть параллельной плоским террасам поверхности кристалла, образующим последовательные ступеньки. Если п ступенек имеют одинаковую высоту, то высота каждой ступеньки h дается выражением h= kl2n. [c.154]

Появление таких полос связано с интерференцией лучей в тонких пластинках, образуемых двумя близко расположенными поверхностями. Эти полосы могут образоваться в результате интерференции в тонкой пластинке, расположенной перед щелью прибора. Рис. 3.21. К вопросу об интерференции при При использовании желатиновых сту-отрашении от двух оптических поверхностей. пеНЧатЫХ фиЛЬТроВ ОТ НИХ ЧаСТО ТруДНО [c.92]

Гигроскопические вещества (к ним относятся все галоидные соли металлов) нельзя промывать или протирать растворите лями, содержащими хотя бы следы влаги. Работа с деталями инфракрасных спектрофотометров должна производиться в резиновых перчатках или напальчниках. Просветленные оптические поверхности также нельзя протирать влажными растворителями. При протирании склеенных объективов или призм нужно следить, чтобы растворитель не попадал на торцовые поверхности, так как он может растворить лак между склеенными поверхноетями. Алюминированные детали можно промывать в петролейном эфире, слегка протирая поверхность мягкой тканью под слоем жидкости. Дифракционные рещеткн промывают пет-ролейным эфиром, не прикасаясь к заштрихованной поверхности. Их чистку могут производить только опытные спектроскописты в исключительном случае. [c.167]

Трехлинзовая кондеисорная система — одна из наиболее совершенных систем освещения, хотя потери света здесь из-за большого числа отражений от оптических поверхностей несколько выше, чем в других системах. [c.66]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология