Световая микроскопия микроскопом

Существует три основных метода световая оптическая микроскопия, трансмиссионная электронная микроскопия (ТЭМ), растровая (или сканирующая) электронная микроскопия (РЭМ или СЭМ). Методы различаются сферами применения, определяемыми разрешением микроскопа. Разрешающая способность микроскопов определяется длиной волны излучения А, показателем преломления среды между образцом и линзой п р и углом приема линзы 6 [c.353]

Рис. 4-10 Фибробласт в культуре ткани при наблюдении с помощью четырех различных типов световой микроскопии. А. Изображение получено при прямом прохождении лучей через клетку (микроскопия в светлом поле). Остальные изображения получены с помощью методов, рассматриваемых в тексте Б-фазово-контрастная микроскопия В -интерференционная микроскопия /" микроскопия в темном поле Простая замена

Световая (оптическая) микроскопия [c.75]

Рис. V. I. Принципиальная схема хода лучей а световом (а) и электронном (б) микроскопах

Химические соединения, из которых состоит цементный камень, сходны по своей химической природе и поэтому трудно разделяются чисто химическими методами. Размеры кристаллов настолько малы, что применение световой минералогической микроскопий [c.115]

Рис. 43. Сравнительные схемы устройств электронного (а) и светового (б) микроскопов

Световая и электронная микроскопия [c.247]

Разрешающая способность световы.х микроскопов ограничена волновой природой света и явлениями дифракции видимого света на частицах, размеры которых соизмеримы с длиной волны. Следовательно, для наблюдения мелких частиц длина волны X должна быть значительно уменьшена. Небольшой длиной обладают электронные волны, величину которых можно изменять в широких пределах, направляя электронный пучок через поля разного напряжения. Длина волны л электрона равна [c.122]

Принципиальная схема светового микроскопа представлена на рис. V. 1 а. Обычный микроскоп представляет собой двухступенчатый оптический увеличитель. В нем имеется система линз, называемая объективом 4, которая проектирует увеличенное изображение объекта S. Это промежуточное изображение 5 увеличивается другой системой линз — окуляром 6, через который ведет наблюдение исследователь. Объектив и окуляр помещены в тубусе микроскопа на одной оптической осн. Для устранения нежелательных дифракционных эффектов и обеспечения должной разрешающей способности предназначена система линз конденсора 2, благодаря которому пучок света от лампы / концентрируется в плоскости исследуемого объекта. Конечное изображение 7 регистрируется на фотопластинку 8. [c.248]

Рис. 50. Сравнительные схемы устройства электронного (а) и светового (б) микроскопов I — электронная пушка 2 —конденсор-ная линза 3 — изучаемый предмет 4 — объективная линза 5 — промежуточное изображение 6—проекционная линза / — окончательное изображение 8 — источник света

Для проверки качества распределения ингредиентов в смеси применяются методы рассмотрения срезов смесей с помощью светового, электронного микроскопа или рентгено-микрофотографии. Световой микроскоп при увеличении до 300 раз применяется для рассмотрения нераспределенных агломератов сажи в протекторных смесях и для других смесей. Сажа хорошо видна, плохо видны прозрачные ингредиенты. [c.196]

Клетки большей частью так малы, что их нельзя увидеть без микроскопа. Микроскопы делятся на два основных вида. В световом микроскопе световые лучи проходят через тонкий, прозрачный слой (срез) ткани и, отклоненные стеклянными линзами, дают увеличенное изображение. Такой прибор хорошо знаком всем изучающим биологию. Он увеличивает изображение приблизительно до 1000 раз. Для более сильного увеличения служит электронный микроскоп. В этом приборе через препарат проходит поток электронов и затем, преломившись в электромагнитных линзах, дает увеличенное изображение. Таким способом можно получать увеличение более чем в 100 000 раз. [c.78]

Для исследования микрофауны активного ила наиболее широко используется метод живой капли под покровным стеклом или в счетных камерах с помощью световой, фазовоконтрастной микроскопии. [c.38]

Крепость микрообъектов определяют по направлениям, где они имеют большую величину. Минимальные размеры частиц, различимых по данному методу, по-видимому, ограничены длиной световой волны. Однако смещение осветителя относительно оптической оси микроскопа усиливает дифракционные явления на краях микрообъектов, что позволяет несколько расширить разрешение прибора и фиксировать частицы размером около 0,3-0,4 мкм. [c.33]

Нижний предел применения световой микроскопии определяется уравнением [c.247]

Методы световой микроскопии классифицируют по способам освещения объектов исследования. Освещение в проходящем свете применяется при рассмотрении деталей тонких объектов, которые должны быть илп окрашенными, или, если они не поглощают света, отличаться по показателю преломления от той среды, в которую помещены, хотя бы на 0,1. Для исследования многих объектов лучше применять микроскопию с использованием падающего света (в отраженном свете). Для исследования непрозрачных объектов 8T0 единственно возможный метод. Боковое освещение является [c.248]

Устройство электронного микроскопа (рис. V. 6) в основном аналогично устройству обычного светового микроскопа. В электронном микроскопе вместо оптических проекционных линз (окуляра), оптического конденсора, объектива светового микроскопа применяются специальные электростатические или электромагнитные проекционные линзы 6, конденсоры 2 и объективы 4. В каче- [c.250]

Существенный недостаток электронной микроскопии состоит з том, что образец нельзя наблюдать в динамических условиях, он должен высохнуть или вообще оставить только отпечаток на реи-лике. Поэтому по возможности следует пользоваться и э-лектрон-ной, и световой микроскопией, которые дополняют друг друга. Например, рост кристалликов новой фазы можно наблюдать в световой микроскоп, а топкие детали их поверхности можно исследовать е помощью электронного микроскопа, [c.251]

Для дисперсионного аналнза дисперсных систем в коллоидной химии широко используется электронная микроскопия. Ее теоретические основы во многом сходны с теорией световой микроскопии. Как показывает уравнение (V. 1), увеличение разрешающей способности микроскопа можно обеспечить уменьшением длины волны лучей, освещаюы1,их образец. Для достижения наибольшей разрешающей способности вместо световых лучен в электронном микроскопе используют поток электронов. Длина волны движущейся частицы по де Бройлю составляет [c.250]

Схема распределения связующего, по данным исследований в световом и электронном микроскопе, показана на рис. 2-49. На поверхность частичек кокса выходят поры, избирательно сорбирующие низкомолекулярную часть связующего (в основном 7-фракцию). Избирательная сорбция связующего в зависимости от природы поверхности частичек усиливается при смешении и вальцевании смесей. [c.138]

Межграничные области в ПУ. На рис. 7-14 показана микроструктура слоистого ПУ, полученного при 2500 С. После травления ионами аргона в световом микроскопе хорошо видны параллельно располагающиеся межграничные области, отлича- [c.439]

Пока еще точно не установлено, когда начинается отложение лигнина, но благодаря многочисленным исследованиям ход процесса лигнификации в общем ясен. Результаты исследований с помощью ультрафиолетовой, флюоресцентной и световой ауторадиографической микроскопии, а также электронной микроскопии показали, что лигнин отлагается сначала в углах клетки, когда увеличение поверхности клетки уже закончилось, как раз перед началом утолщения вторичной стенки 1 (Sj). Затем протекает лигни-фикация межклеточного вещества и первичной стенки Р, начинаясь в тангенциальных стенках и распространяясь по направлению к центру. Лигнификация сложной срединной пластинки (Р -f М Р) продолжается и при дифференциации слоев Si и S2 вплоть до образования третичной стенки Т. Сначала лигнификация слоев вторичной стенки идет медленно, а затем ускоряется и заканчивается после утолщения третичной стенки [87, 88, 89, 155, 238, 257, 267, 268, 269, 270]. Эти исследования указывают на непрерывность процесса лигнификации в течение всего периода дифференциации клеточной стенки, но со значительным замедлением по срав- [c.111]

Эти требования были соблюдены благодаря использованию следующих приемов. Для того чтобы поверхность полностью гидратированной ткани, когда последняя поднята поршнем,находилась на расстоянии 1 мкм или менее от поверхности корпуса, использовали световой анатомический микроскоп (Zeiss, BDR). Пористую пластину устанавливали точно над тканью и прочно присоединяли к корпусу путем крепления пробной пластины в отверстие второго корпуса (рис. 24.4) (так что ее поверхность была на уровне поверхности корпуса). При этом весь узел с помощью направляющих прижимали к исходному корпусу скобами. Чтобы конец стержня был на одном уровне с поверхностью пластины, на стержень на расстоянии 2,5 мм от его конца одевали пластмассовое кольцо, которое действовало как ограничитель (рис. 24.4). Чтобы предотвратить дегидратацию ткани в этой открытой системе, через отверстия в пластинах к ткани периодически добавляли по нескольку капель воды. [c.397]

Информацию о форме несферическпх макромолекул можно получить, исследуя их двойное лучепреломление в условиях гидродинамического ориентирования, которое имеет место в потоке жидкости. Кристаллическое вещество, которому свойственно двойное лучепреломление, имеет по существу не один, а два показателя преломления, соответствующие различным осям кристалла это обстоятельство приводит к ряду оптических явлений, которые можно наблюдать с помощью светового поляризационного микроскопа. Даже макромолекулярные кристаллы , например гранулы крахмала, дают в поле поляризационного микроскопа характерное изображение (темные кресты и другие картинки). Двойное лучепреломление возникает вследствие анизотропии расположения молекул, благодаря чему свет распространяется вдоль одной из осей кристалла со скоростью, отличной от скорости распространения вдоль другой оси. Когда анизотропные вещества находятся в растворе, а не в кристалле, то при исследовании с помощью поляризационного микроскопа двойного лучепреломления не обнаруживают, что обусловлено беспорядочным расположением молекул. Если каким-то образом заставить молекулы принять определенную взаимную ориентацию, то можно было бы наблюдать двойное лучепреломление. Ориентирование молекул осуществляют двумя методами либо приложением электрического поля, либо гидродинамическим способом. Первый метод называют электрическим двойным лучепреломлением, второй — двойным лучепреломлением в потоке. Ориентирование молекул вдоль направления струи (вдоль линии потока) показано на рис. 7.21. [c.426]

Световые микроскопы. Разрешающая способность световых оптических микроскопов обьгчно составляет до 0,25 мкм. В растровых оптических микроскопах (РОМ) разрешающая способность достигает 100-300 нм в зависимости от длины волны. В так называемых РОМ ближнего поля в видимом диапазоне света достигнуто разрешение 20 нм. [c.301]

Отпускная хрупкость II рода может быть устранена по вторным высоким отпуском с быстрым охлаждением и вы звана вновь высоким отпуском с последующим медленны охлаждением. Поэтому такую отпускную хрупкость назы вают обратимой. Развитие обратимой отпускной хруп кости не сопровождается какими-либо изменениями други механических свойств, а также видимыми при световой электронной микроскопии структурными изменениям Лишь при травлении шлифов поверхностно-активными ре активами наблюдается повышенная травимость по грани цам аустенистных зерен. По этим границам происходит межзеренное хрупкое разрушение. [c.118]

В курсе коллоидной химии принято рассматривать только те оптические методы, которые используются в дисперсионном анализе (анализе дисперсности) для определения размера и формы частиц, удельной поверхностп, концентрации дисперсной фазы. К зтнм методам относятся световая и электронная микроскопия, методы, основанные на рассеянии лучей, двойном лучепреломлении и др. [c.247]

С помощью световой микроскопии проводят дисперсионный анализ порошков, суспензий, определяют линейные размёры зерен, кристаллов, пор, трещин в твердых материалах (в дисперсных системах твердое в твердом ). [c.249]

Концентрацию частиц в стационарном объеме можно определить с помощью ультрамикроскопа (Зидентонф и Жигмонди, 1903), однако это длительный процесс. Дерягин и Власенко (1962) пред-ложили прибор, в котором число частиц подсчитывают по числу световых вспышек. Стеклянная ячейка состоит из двух коаксиальных трубок. Образец при контролируемой скорости протекает в одном направлении через внутреннюю трубку и возвращается через наружную. На конце ячейки есть окошко, через которое образец просматривается с помощью микроскопа. Когда частица нересекает наблюдаемое ноле, появляется световая вспышка. Вспышки подсчитывают или непосредственно, или автоматическим фотоумножителем, электрические импульсы из которого попадают на усилитель постоянного тока и затем регистрируются автоматическим счетчиком [c.152]

Наиболее информативными, и поэтому широко используемыми методами опр деления дисперсности и формы частиц являются световая и электронная микроскопия. С помощью этих методов можно непосредственно наблюдать частгсцы и измерять их размеры. Нижний предел световой микроскопии составляет до 100 нм, электронной микроскопии— до 2—5 нм. Следует иметь в виду, что электронная микроскопия имеет существенный недостаток, а именно она применима только для исследования сухих образцов и не может быть использована для наблюдения их, например, в жидких средах. [c.111]

I. Электронно-оптическая система (колонна микроскопа) служит для формирования элекгронного, а затем и светового изображения исследуемого объекта. 2. Вакуумная система служит для создания разрежения в колонне микроскопа (10- —10- Па), чтобы обеспечить большой ( 1,5 м) свободный пробег электронов. 3. Система электрического питания предназначена >1ля снабжения различных узлов микроскопа постоянным электрическим током и высоким напряжением (50— 150 кВ), неоеЗходимым для ускорения потока электронов. [c.123]

Приготовленные препараты предварительно просматривают в световом микроскопе при увеличении 30—100 раз и выбирают сетки с наиболее чистой, ровной и нерастрескавшейся пленкой. Затем препа )аты исследуют с помощью электронного микроскопа. (Работу на электронном микроскопе проводят под руководством преподавателя.) [c.126]

В процессе кристаллизации чугуна за счет давления, которое оказываю силы поверхностного натяжения на малую частицу с большой кривизной поверхносчи раздела, кристаллы графита сворачиваются подобно тому, как из листа бумаги образуется компактньпТ комок [21], Эти первоначальные компактные включения графита слишком малы и не различимы в световом микроскопе Подрастая, они либо сохраняют компактную сфуктуру (например, в чугуне с шаровидным графитом), либо разветвляются. [c.21]

Мезофазные сферы в момент их возникновения и при последующем росте, по данным световой микроскопии в поляризованном свете, а также дифракционного и рентгеноструктурного анализов, являются оптически одноосными положительными кристаллами гегсагональной системы. Показанные на рис. 2-4, а изгибы слоев приводят к тому, что на краях они перпендикулярны к касательной поверхности сферы. Это, по-видимому, способствует начальной коалесценции. В условиях относительно низкой подвижности мезофазы и случайной взаимной ориентации коалесцирующих сфер образования простой слоистой структуры не происходит. При этом возникают структуры, отличающиеся множеством дефектов упаковки слоев линейных, изгибов, нарушений непрерывности. Исследования профилей рефлексов (002) рентгенограмм мезофазы с учетом эффектов гьбсорбции и поляризации рентгеновских лучей, а также фактора рассеяния атомов углерода показывают, что средние значения межслоевого расстояния 002 равны примерно 0,350 нм [2-89]. Отдельные пачки слоев с разными значениями межслоевого расстояния имеют размеры до 2 нм. При нагревании сферы мезофазы могут расщепляться и приобретать относительно плоскую конфигурацию. То же происходит и при графитации мезофазы. Флуктуация межслоевых расстояний у графитирующейся мезофазы наивысшая. [c.46]

Макро- и микроструктура коксов оценивается с помощью световой микроскопии в основном в поляризованном свете, а также сканирующей и просвечивающей электронной микросконии. [c.55]

Исследования методами световой микроскопии, сканирующей, просвечивающей, фазово-констрастной электронной микроскопии и рентгеноструктурного анализа позволили установить, [c.589]

Промежуточное спекание в изостатах при 500-650° С способствует увеличению выхода кокса из среднетемпературного пека. С увеличением давления выход кокса повышается (с 32% при давлении 0,1 МПа до 90% при 100 МПа) [10-18]. Высокое давление предотвращает образование мезофазы в пеке, препятствуя тем самым его графитации. Данное обстоятельство приводит к получению изотропного кокса и повышению прочности КМУУ. Изменение оптической текстуры кокса из нефтяного пека А-240 с увеличением давления, по результатам исследований под световым микроскопом, характеризуется следующими данными [10-19]. [c.639]

Зидентопф и Зигмонди (1903 г.) предложили ультрамикроско-пическнй метод. Они применили сильное боковое освещение раствора, наблюдаемого в микроскоп, таким образом, чтобы световой луч не попадал в объектив, т. е. проводили иабл.юдение на темном фоне. В таких условиях коллоидные частицы выглядят как отдельные светящиеся точки. Этим способом можно установить их присутствие в растворе и наблюдать их движение. [c.35]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология