Юстировка спектрографа

Сформулируем основные требования, предъявляемые к юстировке спектрографа ИСП-22. (Оптическая схема прибора с указанием углов представлена на рис. 46.) [c.83]

Вследствие наложений на линию бора лучше использовать спектрограф большой дисперсии. Применение прибора средней дисперсии требует уменьшения щели до 0,007—0,01 мм и весьма тщательной юстировки спектрографа. [c.24]

При весьма тщательной юстировке спектрографа и уменьшении ширины щели до 0,005—0,007 мм можно использовать ана- [c.80]

Юстировка спектрографов типа ИСП-28 и ИСП-51 [c.86]

Одним из важнейших элементов юстировки спектрографа при его пуске является такая установка анода рентгеновской трубки прибора, при которой лучи, исходящие из фокусного пятна антикатода, при их падении на кристалл оказались бы расположенными в горизонтальной плоскости. Не меиее важной является возможность следить за нарушениями положения анода, которые могут быть следствием вынужденной разборки спектрографа в процессе работы с ним. Выполнение этих операций может быть сильно облегчено, если пользоваться специальным приспособлением, изображенным на рис. 90. При правильном положении анода рентгеновской трубки изображение креста нитей, которое направляется при помощи осветителя на блестящую поверхность медного анода, после отражения от него должно попасть в определенную точку экрана. [c.152]

Вкладыш должен быть достаточно жестким, чтобы под действием прижимных пружин кассеты его прогиб не превышал 0,05—0,08 мм. Материалом для изготовления вкладыша может служить листовой материал толщиной в 1,5—2 мм — железо, латунь или дюраль. При таком устройстве вкладыш ложится в кассету на выступающие края своей рамки, т. е. той плоскостью, с которой фактически совпадает плоскость эмульсии. Таким образом, плоскость эмульсии должна занимать в кассете одинаковое положение со вкладышем и без него. Но поскольку не исключено, что вкладыш изготовлен недостаточно тщательно, следует на всякий случай производить юстировку спектрографа со вкладышем [c.121]

Спектрограф КС-55. Прибор КС-55 снабжен сменными кварцевыми и стеклянными призмами и объективами. Это позволяет фотографировать спектры излучения и поглощения, начиная от 200 до 1000 нм. Замена оптических деталей производится быстро и не требует последующей юстировки прибора. Дисперсия прибора приведена в табл. 3. [c.38]

Установив в штативе железные электроды, проверяют электрическую схему, зажигая на короткое время дугу. Одновременно проверяют равномерность освещения щели спектрографа по световому пятну, которое должно совпадать с центром перекрестия на крышке щели спектрографа. При необходимости производят юстировку источника света и осветительной системы. [c.109]

Под щелью спектрографа находится нуль-пункт — приспособление для перемещения механизма щели вдоль оптической оси, что бывает необходимо при юстировке прибора. Перед щелью устанавливают ступенчатый ослабитель или диафрагму, перемещением которой относительно щели можно ограничить ее высоту и освещать различные ее участки. За щелью расположен затвор, который перекрывает оптическую часть спектрографа во время предварительного обжига или после экспозиции. Перемещение рамки вместе с кассетой осуществляется вращением маховичка. На маховичке имеются деления, позволяющие вести учет фотографируемых спектров. Делениям на маховичке соответствуют деления на кассетной части. [c.187]

ЮСТИРОВКА И ФОКУСИРОВКА СПЕКТРОГРАФА ИСП-22 ИЛИ ИСП-28 [c.83]

Цель работы дать возможность познакомиться с принципом юстировки и провести окончательную фокусировку призменного спектрального прибора. Работа производится на спектрографе ИСП-28 (ИСП-22). Предварительно следует внимательно ознакомиться с описанием прибора. [c.83]

Юстировка спектрального прибора делится на две части сборка и предварительная юстировка окончательная юстировка (фотографическая фокусировка). Обе части выполняются на одном из образцов спектрографа ИСП-28 (или ИСП-22). [c.83]

Рис. 49. Оптическая схема для юстировки положения щели спектрографа

Юстировка источника света заключается в приведении в соответствие оси коллиматора спектрографа и оптической оси осветительной системы, включая в нее и центр источника света. Необходимо, чтобы одна ось явилась продолжением другой. Для этого штатив для электродов придвигают непосредственно к щели прибора и устанавливают электроды на уровне перекрестия на крышке щели. Устанавливается нужное расстояние между электродами. Можно установить верхний электрод в нужное положение по указателю, имеющемуся на штативе. [c.88]

Юстировка источника света и осветительной системы заключается в правильном расположении источника света и осветительных линз на рельсе прибора. Для этого необходимо, во-первых, так расположить осветительную систему, чтобы ось коллиматора спектрографа являлась продолжением оси осветительной системы. Во-вторых, нужно правильно расположить осветительные линзы на рельсе прибора. [c.310]

Другая задача юстировки— уравнивание толщины головок. Интерферометр с головками одинаковой толщины дает в белом свете горизонтальные интерференционные полосы. Если полосы образуют с вертикальной щелью спектрографа угол, отличный от прямого, то это указывает на неравенство толщин головок. [c.367]

Спектрограф — точный оптический прибор и требует хорошего ухода. Нужно беречь кварцевую оптику от загрязнений и пов(реж-дений. Не нарушать юстировку прибора. При установке ширины щели вращать барабан микрометрического винта осторожно, не проходя отметку 0,000. [c.73]

Ход лучей, приведенный на рис. 34, а, показывает так называемую внеосевую схему юстировки зеркал, когда конус лучей от зеркала А заполняет коллиматор. На рис. 34, б изображена соосная схема, при которой система зеркал располагается симметрично относительно оси кюветы и коллиматор спектрографа заполняют оба зеркала Л и В. Схема соосной юстировки не требует широкой кюветы, необходимой при внеосевой юстировке, и дает [c.207]

При фотографической регистрации время экспонирования определяет количество освещения фотопластинки. Как правило, время выбирают в пределах 10—50 сек. Это диктуется условием, требующим чтобы почернения анализируемых линий были в нормальной области экспозиций, независимо от изменения концентраций определяемых элементов (в заданных пределах). Однако такое условие не всегда выполнимо, особенно при одновременном определении ряда элементов. Экспонирование (накопление количества освещения) зависит не только от длительности, но и от типа и мощности источника света, а также от выбранного промежутка времени с учетом времени предварительного обжига, качества и чистоты оптических деталей и их юстировки, размеров окна промежуточной диафрагмы и т.д. Спектры в разных ступеньках в случае применения ослабителя можно считать сфотографированными с разной длительностью экспонирования. Это упрощает работу для определения одних элементов или одних пределов концентраций можно использовать спектры в какой-то одной ступени, а для других— в другой. Чтобы на спектрографах тина ИСП-28 при применении трехступенчатого ослабителя и переводе кассеты на 2 мм избежать возможных наложений спектров, достаточно наиболее сильно поглощающую свет ступень аккуратно прикрыть полоской из черной бума- [c.175]

Трубка укреплена на специальном штативе, дающем возможность перемещать ее в поперечном и продольном направлениях, что обеспечивает легкость юстировки по оптической оси спектрографа. [c.13]

Монохроматор. Применен кварцевый спектрограф средней дисперсии фотоумножитель и выходная щель смонтированы в виде отдельного блока, устанавливаемого в фокальной плоскости спектрографа отмечается, что отсутствие в спектре полого катода фона вблизи линии Mg 2852 А, а также других спектральных линий (исключая очень слабую линию 2856 А) дает возможность работать при широких щелях ( 0,5 мм) и. следовательно, удалять и вновь устанавливать блок с ФЭУ, не прибегая к тщательной юстировке. Ток, снимаемый с фотоумножителя, измеряется гальванометром (450 ом), имеющим шунт для изменения чувствительности гальванометр включен в схем), состоящую из батареи (1,5 в) и набора сопротивлений, что дает возможность компенсировать как тем-новой ток фотоумножителя, так и ток, соответствующий собственному излучению пламени. [c.125]

Двухметровая кювета для работы с газами ири давлении до 10 атм при комнатной температуре (рис. 2, А). 2. Кювета для исследования газов и паров при давлении ниже атмосферного длиной в 1 м (рис. 2, Б). 3. Размеры кювет определяются исходя из параметров коллиматора спектрографа, причем длина Ь выбрана возможно большей. Для вычисления размеров кюветы используется выражение закона Лагранжа— Гельмгольца, записанного применительно к этому случаю [6]. Обе кюветы используют систему зеркал и. соосную систему юстировки [1]. [c.403]

Неоднократно делались попытки сконструировать спектрограф, специально приспособленный для геологической разведки. Этот прибор должен обладать большой разрешаюш ей способностью в сочетании с малым весом и размерами, а также устойчивостью юстировки, которая не должна нарушаться при транспортировке, изменении температуры и т. п. [c.238]

Следовательно, опасаться помех со стороны первого порядка пе следует. Для устранения излучения с длинами волн 3000 и 4000 А можно применить желтый фильтр, например ШС-16 (гл. IX). Современные профилированные решетки позволяют использовать спектры очень высоких порядков, и поэтому выделение их с помощью фильтра делается практически невозможным. В приборах такого рода приходится применять предварительную грубую монохроматизацию. Для этого можно использовать обычный небольшой монохроматор, в котором устанавливаются щели такой ширины, чтобы выделяемый интервал длин волн АХ был равен спектральному интервалу, свободному от наложений. Выходная щель монохроматора предварительной дисперсии служит источником света для освещения щели спектрографа. Применение и юстировка такого монохроматора всегда связаны с рядом неудобств. Поэтому некоторые фирмы выпустили специальные монохроматоры предварительной дисперсии, удобно сочленяющиеся со спектрографом. Они получили название делителя порядков. На рис. 4.44 показана схема такого [c.120]

Такими же устройствами иногда снабжаются и спектрографы. Так, к спектрографу ИСП-51 выпущена приставка ФЭП-1 (рис. 4.48). Она содержит объектив 1, заменяющий камерный, и дополнительную линзу 2, компенсирующую хроматизм системы. Эта линза перемещается во время сканирования спектра так, что изображение входной щели всегда лежит в плоскости выходной щели 3. Приставка содержит также специальное выдвижное зеркало 4 и окуляр 5, с помощью которых проводят визуальные наблюдения спектра и юстировку прибора. Приставка связана с призменной системой карданным валом, вращаемым электромотором. Внутри корпуса приставки смонтирован фотоумножитель 6 с усилительным устройством. Запись проводится самописцем, скорость ее может меняться в широких пределах. [c.123]

Другая задача юстировки—уравнивание толщины головок. Интерферометр с головками одинаковой толщины дает в белом свете горизонтальные интерференционные полосы. Если полосы образуют с вертикальной щелью спектрографа угол, отличный от прямого, то это указывает на неравенство толщин головок. Впрочем, небольшой наклон полос (10— 15°) не скажется на качестве интерференционной картины. В этом случае нет нужды заботиться о точном уравнивании расстояний между зеркалами в головках. [c.358]

Теория работы спектрографа, детали его устройства и правила юстировки описаны в ряде руководств и инструкций [11,2.5,7, 8, 11, 12]. Ниже приводятся некоторые замечания относительно наилучшего использования спектрографа ИСП-51 при съемках спектров рассеяния углеводородных смесей для анализа. [c.104]

Перед юстировкой спектрографа необходимо проверить нулевое положение барабанчика, регулирующего ширину щели. Проверку удобнее производить по зеленой линии ртути, которую наблюдают в лупу со стороны камеры. Постепенно уменьшая ширину щели, находят такое положение, когда линия полностью исчезает. После этого начинают открывать щель, и по барабанчику замечают отсчет, соответствующий появлению ЛИ1ШИ. Эта операция проделывается несколько раз. Нулевое положение определяется с точностью до 0,003— [c.105]

Установка щели в фокальной плоскости коллиматориого зеркала. Для проведения этого этапа юстировки на боковую поверхность призмы Корню 1 (рис. 48) помещается специальная вспомогательная призма 2 с алюминированной поверхностью и углом 52°57. Она должна быть посажена строго перпендикулярно основанию призмы Корню. Далее на входную щель спектрографа надевается автоколлимационная насадка (рис. 49) с призмой полного внутреннего отражения 3 и лампочкой подсветки 2. [c.85]

Перед щелью спектрографа ставится измерительный микроскоп 4 (рис. 49), в который можно увидеть щель и ее автоколлима-ционное изображение. Щель должна находиться в фокусе колли-маторного зеркала 1. При этом щель и ее изображение будут видны в микроскоп одинаково резко. Если этого нет, то, отпустив винты, крепящие тубус щели, следует перемещать щель вдоль оптической оси до тех пор, пока она и ее изображение не окажутся резкими одновременно. Естественно, микроскоп при каждом перемещении щели должен быть сфокусирован на ее плоскость, а изображение щели, отраженное коллиматорным зеркалом, не должно полностью закрывать ее, чтобы можно было отчетливо видеть край изображения щели, как показано на рис. 49. Таким образом, вторая операция предварительной юстировки даст возможность приближенно выставить угол 2° 17 и точно поставить щель в фокусе объектива коллиматора. [c.85]

Юстировочные повороты узлов спектрографа. Призмы, дифракционные решетки и зеркала требуют обычно юстировки вокруг всех трех пространственных осей. Поворот вокруг оптической оси необходим для того, чтобы установить преломляющее ребро призмы (или штрихи дифракционной решетки) параллельно входной щели от точного выполнения этого условия зависит качество изображе- [c.141]

В угольной дуге постоянного тока проба обычно испаряется из анода, так как в дуге, горящей на воздухе, температура анода выше. Прикатодный слой может обогащаться на порядок величины элементами с относительно низким потенциалом ионизации (разд. 2.2.3 и 2.2.4 в [5а]). Это обеспечивает возможность испарения малых количеств материала (нескольких миллиграмм) из тонкого и глубокого канала угольного катода (см. электроды для метода фракционной дистилляции с микрократером на рис. 3.4). Щелочные металлы или большие количества других элементов уменьшают температуру плазмы и снижают прикатодный эффект усиления. Благоприятное пространственное распределение излучения плазмы в прикатодном слое (разд. 4.7.2) можно использовать, спроектировав увеличенное изображение прикатодного слоя на щель спектрографа (можно с помощью цилиндрического зеркала). Недостатки возбуждения в прикатодном слое обусловлены трудностями юстировки и слабым свечением прикатодного слоя. Кроме того, температура, близкая к температуре чистой угольной дуги, усиливает эмиссию ионных спектральных линий и циановых полос. Из-за указанных недостатков этот метод в практическом спектральном анализе применяется редко [I], хотя недавно неожиданно снова появился в литературе. При определении следов элементов в образцах горной породы методом прикатодного слоя был получен предел обнаружения от 10 до 10- % [8—10]. Для улучшения воспроизводимости результатов был проверен способ вращающегося катода [11]. [c.118]

Достигнутый успех способствовал созданию основанных на этом принципе масс-спектрографов с достаточными для практической работы размерами (Эвальд и др., 1959). Использовался тороидальный конденсатор и более широкий выбор радиуса кривизны траектории ионов для компенсации дефектов изображения. Прибор такого типа, сконструированный и опробованный Зауэрманом и Эвальдом (1959), оправдал теоретические предсказания. Несмотря на средние размеры прибора, было получено разрешение 25 000. Правда, юстировка масс-спектрометра была сложной, и заметно сказывалось влияние некоторых дефектов изображения, вызванных фокусировкой в z-направлении. Стигматическая фокусировка привела к повышению чувствительности по крайней мере на один порядок величины. [c.84]

Предел регистрации следов элементов при помощи масс-спектрометра зависит от вторичных эффектов, которые будут описаны в следующем разделе. Небольшая часть ионов, соответствующих основе, распределяется по всему масс-спектру. Этот фон и ограничивает способность обнаружения следов. Фон можно снизить до величины, меньшей 1 млн" для массовых чисел, достаточно удаленных от интенсивных пиков. Для этого необходимы тщательное изготовление прибора и высокий вакуум в системе. Несмотря на эти меры, фон вблизи линий основы мо-м- ет достигать одной тысячной части их интенсивности. Наиболее-эффективный метод подавления фона — использование двух последовательно расположенных масс-спектрометров. Это было-установлено Герцогом (1959), Пиром (1963), а также Уайтом и Форманом (1967), которые достигли чувствительности анализа 1 млрд Ч Юстировка подобных тандемных приборов более трудна. Дополнительная сложность вызвана необходимостью одновременного сканирования обеих секций таким образом, чтобы они были с высокой точностью настроены на одни и те же массовые числа. Упрощенная модификация подобного прибора, имеющего одинарную фокусировку и поэтому лишь среднее разрешение, выпускается фирмой Аегоуас и обеспечивает чувствительность 10 млрд для газовых примесей на уровне следов. К сожалению, тандемные масс-анализаторы нельзя использовать в масс-спектрографах. [c.85]

Для изучения фокусировки по скоростям можно использовать тот же способ размещения небольшого отверстия в плоскости р-щели и наблюдения за смещением пика при изменении положения этого отверстия. Для этой операции необходим пучок ионов с большим разбросом по энергиям. Чтобы его получить, можно наложить на ускоряющий потенциал переменное пилообразное напряжение. Точной юстировки также можно добиться, перемещая р-щель в радиальном направлении. Другой метод настройки масс-спектрографов рассмотрен в работе Эвелинга и Венде (1957). [c.98]

Так как тантал, титан и железо дают спектры, богатые спектральными линиями, то для нашей задачи был выбран прибор с большой дисперсией — кварцево-стеклянный автоматический спектрограф КС-55. Для увеличения св тоси ы П ибара мы изменили заводскую схему освещ"Нчя щели спектрографа КС-55 следующим образом жестко прикрепленный к станине прибора рельс 1 (рис. 1) поворотом на 90° против часовой стрелки был укреплен в положении 2, а отражательное зеркало 6 убрано. После юстировки источника света и конденсорной системы 3, 4 в новом положении [c.64]

Вертикальное направление дисперсии эталона Фабри — Перо при горизонтальном направлении дисперсии спектрографа целесообразно при работе со спектрами, бедными линиями, где дисперсия призменного спектрографа позволяет использовать широкую выходную щель (выходная щель вертикальна). Юстировка всей оптической системы при скрещенных направлениях дисперсии значительно проще. Если исследуемый спектр много-линейчат, более целесообразно пользоваться горизонтальным направлением дисперсии эталона и вертикальными щелями призменного прибора. В этом случае объектив движется горизонтально и на щель небольшой высоты последовательно попадают вертикальные участки интерференционных колец. Достоинством схемы параллельных направлений дисперсии эталона и призменного прибора является возможность наблюдения с.т.с. линии при небольшой вспомогательной дисперсии. Схема применима, когда спектральная ширина изображения щели спектрографа больше, чем ишрина структуры линии. [c.176]

Для определения кислорода и азота О. Б. Фальковой сконструированы камеры, допускающие одновременную установку нескольких образцов (4—7). Для смены образца плато, на котором они установлены, поворачивается без нарушения герметичности камеры. Такое устройство существенно ускоряет производство анализов, сокращая время, необходимое на откачку камеры. Камера установлена на рельсе спектрографа и допускает юстировку электродов с помощью теневой проекции. Внешний вид и вертикальный разрез камеры даны на рис. 175— 177. [c.404]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология