Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Категории кристаллографические

    КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ КАТЕГОРИИ, СИНГОНИИ И СИСТЕМЫ ОСЕЙ КООРДИНАТ [c.42]

    Поэтому предпочтительно не обсуждать этот вопрос, а оговорить способ проведения кристаллографических координатных осей для решеток каждой сингонии по отдельности. Соответствующие требования сформулированы в табл. 2 в колонке Выбор осей . Так, например, в пространственных группах, относящихся к ромбической сингонии, всегда содержащих взаимно перпендикулярные поворотные, винтовые или инверсионные оси второго порядка, координатные оси направляются параллельно этим элементам симметрии. Следовательно, в группах ромбической сингонии кристаллографическая координатная система всегда ортогональна. То же относится, естественно, и к группам с более высокой симметрией — средней и высшей категории. Наоборот, в группах моноклинной сингонии ось симметрии 2, 2ь или 2 (т. е. т) фиксирует направление только одной из кристаллографических осей. Две другие располагаются в узловой сетке решетки, перпендикулярной оси симметрии (параллельной плоскости симметрии). Выбор узловых рядов этой сетки, принимаемых за координатные оси, вообще говоря, неоднозначен. Требуется лишь, чтобы наименьшие трансляции вдоль этих рядов образовали пустой параллелограмм (параллелограмм, в площади которого нет дополнительных узлов). [c.29]


    Поэтому предпочтительно не обсуждать этот вопрос, а оговорить способ проведения кристаллографических координатных осей для решеток каждой сингонии по отдельности. Соответствующие требования сформулированы в табл. 2 в колонке Выбор осей . Так, например, в пространственных группах, относящихся к ромбической сингонии, всегда содержащих взаимно перпендикулярные поворотные, винтовые или инверсионные оси второго порядка, координатные оси направляются парал-тельно этим элементам симметрии. Следовательно, в группах ромбической сингонии кристаллографическая координатная система всегда ортогональна. То же относится, естественно, и к группам с более высокой симметрии— средней и высшей категории. Наоборот, в группах моноклинной сингонии ось симметрии 2, 2] или [c.30]

Табл.2. Элементы симметрии конечных фигур и их обозначения Табл. 3. Кристаллографические категории и сингонии Табл. 4. Правила записи международного символа точечной груилы Табл. 5. 32 класса симметрии Табл. 7. Разделение 32 классов симметрии по признакам центросим-метрии, энантиоморфизма и ла-уэсимметрии Табл. 9. Простые формы, их характерные признаки, число граней Табл.2. <a href="/info/17081">Элементы симметрии</a> конечных фигур и их обозначения Табл. 3. Кристаллографические категории и сингонии Табл. 4. Правила записи международного символа точечной груилы Табл. 5. 32 <a href="/info/92903">класса симметрии</a> Табл. 7. Разделение 32 <a href="/info/92903">классов симметрии</a> по признакам центросим-метрии, энантиоморфизма и ла-уэсимметрии Табл. 9. <a href="/info/189541">Простые формы</a>, их <a href="/info/1513170">характерные признаки</a>, число граней
    Кристаллографические категории и сингонии [c.46]

    Применение для обозначения кристаллических форм парафина указанных выше описательных наименований вместо строгой кристаллографической терминологии вызвано тем, что до настоящего времени кристаллографическая категория кристаллических форм парафина остается еще окончательно не установленной. [c.61]

    В основу классификации кристаллов положена их симметрия известно 32 вида симметрии кристаллов. Для удобства они сгруппированы в 7 кристаллографических форм, или сингоний (кубическая, тригональная, тетрагональная, гексагональная, ромбическая, моноклинная, триклинная), и 3 категории — высокую (к которой относится первая форма), среднюю (три следующих формы) и низкую (три последующих формы). [c.353]

    Рост кристаллов может происходить различными способами. Кристаллы могут расти слоями, причем каждый слой заполняется со скоростью по крайней мере не меньшей скорости образования новых слоев. Поверхность раздела кристалла можно представить либо в виде кристаллографических плоскостей, либо (если при выращивании существует градиент температур) в виде поверхностей, параллельных поверхностям изотермы. Если скорость заполнения слоев меньше скорости их образования, происходит радиальный рост древовидных образований —дендритов. Поверхности раздела в кристалле часто имеют ячеистую (в виде пчелиных сот) структуру. Попытки кинетического и термодинамического объяснения различного характера роста кристаллов имели больший или меньший успех, но к настоящему времени пока нет общей теории, объясняющей все особенности этого процесса. Недавно было обнаружено, что морфология кристаллов в значительной степени определяется величиной энтропии плавления. Вещества с большой энтропией плавления — к этой категории относится большинство органических соединений — имеют кристаллы с большими плоскими гранями, а если энтропия плавления мала — металлы и некоторые органические соединения со сферической симметрией,— кристаллизация сопровождается образованием поверхностей раздела, параллельных поверхностям изотермы, даже если поверхности раздела не совпадают с кристаллографическими. В этих веществах возможен также дендритный или ячеистый рост кристаллов в зависимости от чистоты соединения и температурного режима кристаллизации. На рис. 93 представлены некоторые из поверхностей раздела, наблюдаемых в визуально прозрачных кристаллах. Величина энтропии плавления определяет степень диффузности поверх- [c.202]


    Отсюда следует, что симметрия оптических свойств кристалла всецело определяется его кристаллографической категорией. [c.224]

    Несмотря на то что, строго говоря, число гидратации однозначно определить трудно, оно представляет интерес как параметр классификации в сравнительных структурных исследованиях растворов электролитов [19в]. На основе надежных экспериментальных данных и упрош,енных геометрических представлений при условии незначительных изменений диэлектрических свойств вследствие гидратации оказалось возможным интерпретировать и классифицировать числа гидратации ионов разных размеров. В соответствии с более ранними представлениями в водных растворах ионов, кристаллографический радиус которых меньше радиуса молекулы воды, наблюдается положительная гидратация. Положительная гидратация характерна также для ионов, проявляющих в связях с водой координационное число больше 6. Как следует из некоторых физико-химических свойств, характер гидратированного иона влияет также и на молекулы воды, расположенные за пределами гидратной оболочки иона. Это влияние обусловливает вторичную гидратацию. Число молекул воды, находящихся в областях со структурой, разрушенной под влиянием ионов, также зависит от размера, заряда и электронной структуры иона. Это число может быть в 1,2—2,4 раза больше числа гидратации. Полученные в результате классификации результаты позволили определить максимальное число гидратации (Лтах), которое представляет собой число всех молекул воды, претерпевших структурные изменения вследствие присутствия иона, по сравнению с первоначальным состоянием в объеме воды. Максимальные числа гидратации в зависимости от атомного номера приведены на рис. 5.11. Можно заметить, что, с одной стороны, ионы можно разделить на категории в соответствии с их зарядностью. С другой стороны, внутри категории /imax уменьшается с ростом атомного номера и, таким образом, с ростом числа электронов, постепенно снижаясь к кон- [c.539]

    Известные в настоящее время многочисленные экспериментальные данные свидетельствуют, что фотографическая чувствительность, т. е. эффект действия света и проявления, относятся к категории структурно-чувствительных свойств, которые определяются локальными нарушениями решетки эмульсионных микрокристаллов. Иными словами, последние представляют собой реальные кристаллы, содержащие два типа нарушений собственные (кристаллографические) дефекты и инородные включения — примесные центры (центры светочувствительности [3, 6]). [c.319]

    Эти минералы имеют минимум три единичных направления, которые принимаются за координатные оси, поэтому отношение осей ййфЬйФСй. Подавляющая часть минералов данной категории обладает сложным составом (силикаты) и сложной структурой (слоистая, каркасная и ленточная). Поэтому изометрический облик представляет собой исключение, для минералов характерен несколько искаженный облик, по сравнению с обликом кристаллов средней категории. По кристаллографическим константам минералы низшей категории определяются большей частью однозначно. [c.177]

    В зависимости от внешней формы и строения кристаллы делятся иа кристаллографические системы, или сингонии (син — сходный, гония — угол) Всего существует семь кристаллографических систем которые сгруппированы по набору элементов симметрии в три категории выс-шую, среднюю и низшзто К высшей категории относится только кубическая система Кристаллы, входящие в нее, в наборе элементов симметрии имеют несколько осей симметрии высшего порядка (п>2) К средней категории относятся уже три системы — тригональная (ромбоэдрическая), тетрагональная и гексагональная Кристаллы этих систем имеют лишь по одной оси симметрии высшего порядка К низшей категории относятся оставшиеся три системы— триклинная. моноклинная и ромбическая Кристаллы этих систем не имеют ни одной оси симметрии высшего порядка [c.236]

    Свойства ферритов, как и любых других твердофазных материалов, можно разделить на две группы объемные, или структурнонечувствительные, и структурно-чувствительные. Объемные свойства определяются химическим составом и типом кристаллической структуры феррита, а структурно-чувствительные — несовершенством (дефектами) электронной и кристаллической структуры. К первой категории относят константу кристаллографической анизотропии, магнитострикцию, точку Кюри, удельную теплоемкость, диэлектрическую проницаемость, намагниченность насыщения и т. д. В качестве примера структурно-чувствительных свойств рассматривают электропроводность, теплопроводность, форму петли гистерезиса, прочность и др. Однако указанное деление весьма условно, поскольку трудно указать такое свойство, которое бы абсолютно не зависело от степени или несовершенства электронной и кристаллической структур з1 ферритов. Действительно, константа кристаллографической анизотропии К постоянна для моноферритов фиксированного состава [1]. Для твердых растворов ферритов величина К1 сильно зависит от несовершенств, какими являются флуктуации химического состава в объеме материала. Эта зависимость должна особенно отчетливо проявиться у кобальтсодержащих ферритов. Теплоемкость при температурах, близких к температуре фазового превращения (точка Кюри — у феррошпинелей, точка компенсации — у ферритов со структурой граната), становится настолько чувствительной к химическим неоднородностям материала, что может служить характеристикой последней [2]. [c.7]


    В высшей и средней категориях и в ромбической сингонии ориентировка характеристической поверхности полностью задается кристаллографической системой координат. Значительно сложнее обстоит дело с моноклинной и триклинной сингопиями, где главные оси характеристической поверхности могут и не совпадать с кристаллографической системой координат. [c.213]

    Фридом [431 в Аргоннской лаборатории, Пеннеменом и Эспри в Лос-Аламосе и другими исследователями получены важнейшие категории неорганических соединений. Большая часть последних работ еще не опубликована, но они были кратко описаны Пеннеменом и Эспри [5]. При идентификации соединений америция, так же как и для других актинидных элементов, наиболее важную роль сыграли рентгеновские кристаллографические методы. Захариазен со значительным успехом применил в химии америция эти методы, разработанные для исследования трансурановых элементов. [c.389]

    Наконец, определение Па для соединений тройных и четверных неточно, так как находящиеся в нем атомы Цинтля занимают кристаллографические положения, непохожие на положения в нормальной рещетке. Действительно, структуры тройяых и четверных соединений часто те же, что у бинарных соединений, или являются простыми их производными. В таком случае нужно добиться соответствия между первой категорией положений — положениями катионов бинарных соединений — и второй категорией — положениями анионов (атомы Цинтля). Опыт показывает, что правило Музера и Пирсона для тетраэдрической связи и аналогичные правила для других типов связи могут быть применены лищь тогда, когда атомы, занимающие положения первой категории (табл. 10 в скобках), отсутствуют в столбце Па-86 [c.86]

    Было выполнено несколько кристаллографических исследований коротких олигонуклеотидов. Имеющиеся данные можно разбить на три категории. Несколько соединений было изучено при кислых pH они вряд ли могут служить хорошими моделями для нейтральных полинуклеотидов из-за различий в ионизации оснований. Другая категория соединений содержала самокомплементарные последовательности, такие, как СрС они образуют в кристалле двухиепочечные структуры со спаренными основаниями и являются прекрасной моделью двойной спирали. Сейчас для нас более интересна третья категория соединений нейтральные несамокомплементарные олигонуклеотиды. Самой интересной их особенностью является сближенное стопкообразное расположение оснований. [c.250]


Смотреть страницы где упоминается термин Категории кристаллографические: [c.55]    [c.50]    [c.113]    [c.374]    [c.655]    [c.38]    [c.113]    [c.322]    [c.38]   
Кристаллография (1976) -- [ c.43 , c.46 , c.213 , c.225 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Кристаллографические категории, сингонии и системы осей координат



© 2025 chem21.info Реклама на сайте