Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Остаточных газов анализаторы

Рис. 10в. Разрешение анализатора остаточных газов Рис. 10в. <a href="/info/862865">Разрешение анализатора остаточных</a> газов

    Кроме того, разрешающая способность зависит от режима работы прибора (величина остаточного давления в камере анализатора, определяющая рассеяние ионов на молекулах остаточного газа, стабильности напряжения, ускоряющего ионы, стабильности магнитного поля, величины и распределения поверхностных зарядов в камере анализатора, точности юстировки магнита), а также от напряженности и конфигурации рассеянных магнитных полей на пути движения ионов. [c.28]

    Рабочие параметры анализаторов остаточных газов. Все анализаторы остаточных газов состоят из трех функциональных блоков ионизатора, анализатора и системы детектирования. Принципиальные отличия разных типов приборов относятся в основном к анализаторным блокам, в которых для разделения ионов используются различные методы. Блоки ионизации и детектирования различаются мало. Наиболее важными параметрами, характеризующими пригодность анализатора для данного частного применения, являются чувствительность, разрешение, диапазон регистрируемых масс и скорость сканирования. [c.332]

    В масс-спектре твердого вещества имеется ряд мепее значительных, но интересных особенностей, которые возникают в результате процессов перезарядки, происходящих между молекулами остаточного газа и положительными ионами при их прохождении через анализатор. В общем случае мы можем представить этот процесс уравнением [c.145]

    Принцип масс-спектрометрии является универсальным для измерения парциальных давлений, поскольку для основных составляющих остаточных газов Нг, N2, О2, СО, СО2 и др. имеются отдельные массовые пики, каждый из которых является мерой парциального давления соответствующего компонента. В то же время использование масс-спектральных анализаторов в качестве манометров парциальных давлений предъявляет к ним специфические требования, а именно 1) малые габариты, в частности возможность помещения внутрь исследуемой вакуумной системы, б) возможность прогрева под вакуумом вместе с исследуемой вакуумной системой, в) повыщенная чувствительность, г) умеренная разрешающая способность, д) умеренная стоимость. [c.29]

    На рис. 4.2.1 приведена блок-схема масс-спектрометрического прибора 3-5]. Назначение первых двух элементов этой схемы и натекателей — создание направленного пучка ионов с минимальными углом расхождения и разницей энергии для ионов с данным отношением т/е. В анализаторе сформированный ионный луч тем или иным способом разлагается на составляющие по т/е, интенсивность которых затем и регистрируется. Рабочее давление во всех этих блоках прибора различается на много порядков величины, и для обеспечения нужных давлений служит вакуумная система. При этом рабочее давление в системе напуска колеблется в диапазоне 1,5 ч-350 Па, давление в ионном источнике не превышает 1,5 мПа, а в анализаторе и приёмнике ионов — 0,15 мПа. Кроме того, при подготовке прибора для проведения анализа ионный источник, анализатор и приёмник ионов откачиваются до остаточного давления 1,5-ь 15 мкПа (часто — с прогревом ) для минимизации последующего рассеяния пучка ионов и фона прибора от остаточных газов. Натекатели 6 обеспечивают контролируемую скорость подачи газа в ионный источник и анализатор. При этом по типу натекателя, установленного между системой напуска и ионным источником приборы подразделяются на химические (отечественная маркировка — МХ) и изотопные (МИ). В приборах типа МХ реализуется молекулярный режим натекания газа, когда скорость натекания компонентов газовой смеси не зависит от её состава, в приборах типа МИ — вязкий режим, при котором скорость натекания компонентов смеси зависит от её вязкости и, следовательно, состава. [c.90]


    Рабочие параметры анализаторов остаточных газов. . . 332 [c.177]

    Наиболее распространенные типы анализаторов остаточных газов......................334 [c.177]

    Интерпретация спектров остаточных газов. Поскольку анализатор остаточных газов разделяет ионы согласно отношению массы иона к его заряду, то результирующий спектр масс должен быть отождествлен с исходными газами. Неоднозначность появляется в случаях, когда разные молекулы имеют одинаковую массу. Эта трудность может быть преодолена, если принять во внимание специфические для каждого типа газа процессы диссоциации или двойной ионизации молекул. Фракция частиц, которая в условиях масс-спектроскопического анализа диссоциирует или дважды ионизируется, довольно стабильна. Поэтому интенсивность пиков, обусловленная этой фракцией, строго пропорциональна интенсивности основных пиков для данной массы. Получающаяся в результате серия пиков для данного газа называется масс-спектрометрическим эталоном. [c.337]

    На некоторых участках фотопластинки образуются размытые линии и примыкающие к ним полосы. Происхождение их связано с перезарядкой многозарядных ионов при их столкновениях с атомами и молекулами остаточного газа в анализаторе. Количество перезарядившихся ионов зависит от вакуума в системе столкновение может произойти в любой точке траектории ионного пучка в электрическом и магнитном анализаторах, а также в зазоре между ними. [c.51]

    Ионный луч на пути следования от источника к фотопластинке управляется электрическим и. магнитным полями. В современных. масс-спектрометрах обеспечивается высокая степень откачки анализаторов тем ие менее в анализаторе происходят столкновения заряженных частиц с атомами и молекулами остаточного газа, которые изменяют траектории ионов или вызывают их перезарядку. В результате на определенных участках фотопластинки возникают полосы фона и размытые линии. При попадании ионов на фотопластинку образуются вторичные и третичные ионы, электроны и другие виды излучения, которые приводят к созданию интенсивного фона, особенно в районе основных масс и линий, прилежащих к ним. Все эти факторы определяют структуру искровых масс-спектров и должны быть тщательно проанализированы, прежде чем будут выделены составляющие, имеющие непосредственное от-нощение к исследуемому образцу. [c.68]

    Анализаторы остаточного газа с разрешением до 100 моншо легко приобрести почти во всех фирмах, выпускающих вакуумное оборудование. Хотя определение остаточных газов — по существу определение следов [c.338]

    В работе давление остаточных газов в стеклянном анализаторе масс-спектрометра было снижено до мм рт. ст. В случае приме- [c.71]

    Давление в анализаторе должно быть по возможности низким (не более 10 мм рт. ст.), чтобы уменьшить рассеяние ионов вследствие столкновений с молекулами остаточного газа. [c.74]

    Принцип работы всех масс-спектрометрических преобразователей, устанавливаемых непосредственно на испытуемом высоковакуумном объекте, основан на детектировании ионов остаточного газа, число которых пропорционально его концентрации. В масс-спектрометрических преобразователях молекулы анализируемого газа ионизируются в ионном источнике. Образовавшиеся положительные ионы вытягиваются из камер ионизации, фокусируются в параллельный пучок и направляются в масс-спектрометрический анализатор, где под действием электрического или магнитного полей разделяются в пространстве (или во времени) по характерному для них отношению массового числа М к его заряду е. После разделения ионы с определенным М, на которое настроен масс-спектрометр, попадают на коллектор и создают в его цепи силу тока, пропорциональную парциальному давлению соответствующего газа. [c.77]

    Во всех описанных выше адсорбционных газоанализаторах объем пробы невелик, и они не могут использоваться для определения небольших примесей в газах. Для анализа очень малых примесей в водороде или гелии необходимо через адсорбер пропустить большие количества адсорбируемого газа [53]. Определенный объем анализируемого водорода или гелия, регистрируемый газовым счетчиком, пропускают через адсорбер, охлажденный в сосуде с жидким азотом. При этом в адсорбере задерживаются все примеси азота и кислорода и лишь небольшое количество водорода или гелия. После откачки адсорбера до остаточного давления порядка 10" мм рт. ст. водород, а тем более гелий практически полностью удаляются из угля, и сорбент нагревается до комнатной температуры. Азот и кислород десорбируются, и по результирующему давлению определяется концентрация примесей в анализируемом газе. Анализатор позволяет определять содержание в водороде или гелии примеси азота и кислорода до 10-9%. [c.282]

    В динамич. анализаторах разделение ионов происходит под воздействием импульсных или радиочастотных электрич. полей с периодом изменения меньшим или равным времени пролета ионов через масс-анализатор. Ионы с разл. значениями m/z, как правило, разделяются по времени пролета определеЕгаого расстояния. Давление в анализаторах должно быть достаточно низким ( 10 Па), чтобы избежать рассеяния ионов на молекулах остаточных газов. [c.660]


    Контроль легких газов (водород, азот, окись углерода, углекислота, кислород, метан и т. д.) с мяссями дп 50— 60, где не требуется высокая разрешающая способность, а чаще нужна высокая чувствительность. Здесь весьма перспективно применение для автоконтроля динамических масс-анализаторов как более компактных, транспортабельных и удобных для обслуживания. Контроль остаточных газов в вакуумных системах при откачке, использование их в качестве течеискателей — вот практические примеры их использования. [c.40]

    В квадрупольных масс-анализаторах ионы движутся по спиральной траектории через область, ограниченную четырьмя цилиндрическими электродами, на которые подается переменный электрический потенциал I/= i7oSIn( T), где со — частота, т — время. В зависимости от i/o и ю через анализатор проходят ионы только с определенным массовым числом Именно такими анализаторами, имеющими, по сравнению с магнитными, меньшие размеры и отличающимися менее жесткими требованиями к давлению остаточного газа, оснащена большая часть современных серийных хромато-масс-спектрометров, которые являются приборами среднего разрешения (1000—3000). Главным же недостатком этих анализаторов в настоящее время считают значительный эффект дискриминации ионов по массам, проявляющийся в относительном [c.83]

    Измерение парциальных давлений в высоковакуумных системах осуществляется с помощью масс-спектрометров, принцип работы которых основан на разделении ионизированных молекул в зависимости от отношения массы иона к его заряду и последующем измерении соответствующих ионных токов. Масс-спектрометры, предиазначенные специально для высоковакуумных исследований, принято называть анализаторами остаточных газов (АОГ). Их отличительными особенностями являются высокая чувствительность и возможность прогрева с тем, чтобы газовыделение самого [c.331]

    Рис. по. Методы разделения ионов по мессам, нсцользуемые в анализаторах остаточных газов (е — ионизирующий электроийый луч 5 — источник ионов Е — постоянная составляющая электрического поля Ео соз (о1 — переменная составляющая алектриче-ского поля, В — магнитное воле С — коллектор ионов). [c.336]

    В настоящей работе мы рассмотрели лишь основные факторы, влияющие на точность определения- термодинамических параметров пара. В работе мы не касались маос-опектрометр ических методик, так как это отдельный большой вопрос. Однако анализатор масс испаряющихся молекул и молекул остаточных газов можно ре-ко мендовать как необходимый комплектующий прибор к устройствам для изучения процессов, испарения и конденсации [47]. В заключение следует отметить, что значительное количество экспериментальных работ, выполненных ранее, в которых недостаточно определены условия проведения измерений, нуждаются в проверке. Для решения вопросов, связанных с испарением ттвердых тел и жидкостей, на текущем этапе одинаково важны работы по теории испарения и работы по созданию новых комплексных методик исследования и прецизионной аппаратуры с большими экспериментальными возможностями. О бработку результатов комплексных измерений и моделирование процессов целесообразно прово- дить на ЭВМ. [c.395]

    Цена приборов зависит больше от рабочих характеристик, чем от принципа разделения масс. Разрешающая способность обычно определяет размер и цену приборов. Прибор с разрешающей способностью до 250 стоит примерно 30 000 долл., увеличение разретЦающей способности в два раза во столько ке раз повышает цену. Цена приборов с высокой разрешающей способностью с двойной фокусировкой составляет 100 ООО долл. Анализаторы остаточного газа с низкой разрешающей способностью можно приобрести за 4000—8000 долл. [c.337]

    Разрешающая способность в 50—100 вполне достаточна для большинства вакуумных анализаторов остаточных газов. В стандартных масс-спектрометрах с одинарной фокусировкой достригается разрешающая способность в 300—700 при помощи анализаторов с радиусом 15—30 см. Такая разрешающая способность достаточна для решепця большого круга аналитических задач, включающих определение неорганических следов, ирименение в большинстве случаев методов газовой хроматографии и метод изотопного разбавления. Разрешающая способность время-пролетных приборов порядка 200-600. [c.337]

    НИК эвакуируют и нагревают (различные части прибора можно разделять высоковакуумными вентилями). Основная проблема — загрязнения поверхности пробы примесями и остаточные газы. Для удаления поверхностных примесей часто применяют предварительное обыскривание. Для уменьшения фона применяют катодное травление (т-теющий разряд) вместо химической очистки [ИЗ]. Остаточные газы, способные конденсироваться (вода, двуокись углерода и метан), частично удаляют откачкой с вымораживанием жидким азотом при помош,и штифта, расположенного рядом с источником и охлаждаемого жидким азотом. В выборе рабочих условий источника оказывает большую помощь анализатор остаточных газов, подсоединенный в удобном месте. [c.355]

    Лля обеспечения достаточной длины свободного пробега ионов (соударения с нейтральными молекулами остаточных газов или стенками приборов приводят к гибели заряженных частиц) источник ионов и особенно масс-анализатор должны быть ваку-умированы до давлений 10 Па и менее. [c.308]

    Масс-спектрометрические анализаторы остаточных газов (МСАОГ) применяются для получения точных сведений о газовых процессах, протекающих в высоковакуумных системах [3,4]. Анализа- [c.76]

    При исследовании адсорбированного слоя на палладии предварительно очищенный образец экспонировали в камере подготовки при давлении кислорода 10" -10 Topp. По истечении заданного времени экспозицию прерывали, кислород быстро откачивали, и образец переводили в камеру анализатора для съемки. Контрольные экспозиции в эвакуированной камере подготовки в течение того же времени, что и в кислороде, не приводили к изменениям в спектре, что доказывает отсутствие адсорбции остаточных газов. [c.93]

    Как правило, масс-спектрометр работает при непрерывной откачке и постоянном натекании газа в прибор. В качестве примера рассмотрим вакуумную систему масс-спектрометра МХ-1303 (рис. 11). Высокий вакуум создается диффузионными парортутными насосами типа ДРН-10 производительностью 7—10 л1сек. Остаточное давление, достигаемое этими насосами при использовании ловушек с жидким азотом, составляет около 2-10 мм рт. ст. Один диффузионный насос используется для откачки источника ионов и прилегающей к нему части камеры анализатора. Остальная часть камеры анализатора и приемник ионов откачиваются другим диффузионным насосом. Дифференциальная система откачки позволяет значительно повысить давление анализируемого газа в источнике ионов, не повышая давления в камере анализатора, что увеличивает чувствительность масс-спектрометра без ухудигения его разрешающей способности. [c.35]

    Изучение характеристик пузырьков воздуха при дросселировании жидкости сопровождалось контролем баланса воздуха. Начальное содержание растворенного в воде воздуха (до дросселирования) во всех опытах было равно 63 мг/л. Определение его концентрации производилось электрохимически. анализатором кислорода. Полученные в опытах результаты показаны на рис. 4.6. Как видно нз графика, в воде после дросселирования образуется пересыщенный раствор газов. Степень пересыщения зависит от перепада давления при дросселировании. С возрастанием скорости потока в диафрагме увеличивается удельная поворх[юсть газовой фазы, что способствует более полному выделению растворенных газов. По достижении неко-торы.х значений перепада давления (более 500 кПа) пузырьки становятся очень. малыми и начинают себя прояв.чять силы поверхностного натяжения, т. е. появляется добавочное (ланла-совское) давление. При этом замедляется газовыделение и несколько возрастает остаточное пересыщение [43]. [c.88]

    В большинстве случаев требуемое отпаривание гидрогенизата достигается при подаче орошения в колонну в количестве 20—25% от массы поступающего в колонну нестабильного гидрогенизата, и при температуре низа колонны в пределах 240—270 °С (в зависимости ют фракционного состава сырья). При налаженной работе отпарной колонны остаточное содержание влаги в гидрогенизате не должно быть более 0,001%, а концентрация влаги в циркуляционном газе блока риформинга более 0,005%- Содержание влаги в циркуляционном газе гконтролируется в потоке при помощи анализатора-влагомера. [c.48]


Смотреть страницы где упоминается термин Остаточных газов анализаторы: [c.198]    [c.212]    [c.91]    [c.329]    [c.333]    [c.130]    [c.198]    [c.72]    [c.81]    [c.128]    [c.236]   
Технология тонких пленок Часть 1 (1977) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Анализаторы

Время пролетное, анализаторы остаточных газов

Демпстера анализатор остаточных газо

Ионизации ток анализаторах остаточных газов

Квадрупольные анализаторы остаточных газов

Монополь тип анализатора остаточных газов

Остаточных газов

Остаточных газов анализаторы диапазоны масс

Остаточных газов анализаторы калибровка

Остаточных газов анализаторы принципы действия

Остаточных газов анализаторы разрешение

Остаточных газов анализаторы скорбеть сканирования

Остаточных газов анализаторы чувствительность

Секторные анализаторы остаточных газо

Ток остаточный



© 2025 chem21.info Реклама на сайте