Экран растровый

Этот метод дает возможность быстро получить качественную картину распределения отдельных элементов по поверхности шлифа. Принцип растрового микроанализатора [14—16] заключается в следующем. Электронный зонд сканирует по небольшому участку на поверхности образца синхронно с лучом, двигающимся по экрану катодно-лучевой трубки регистрирующего блока. Яркость луча на экране модулируется сигналом, приходящим с рентгеновского спектрометра, регистрирующего линию выбранного элемента. На экране трубки получается видимое изображение распределения отдельных элементов по поверхности образца в зависимости от настройки спектрометра на регистрацию того или иного элемента. Кроме того, такие приборы дают картины поверхности шлифа в отраженных или проходящих электронах, работая как растровые электронные микроскопы. [c.63]

Растровые графические дисплеи аналогичны векторным в том, что обновление изображения на экране проводится также с помощью процессора. Экран растрового дисплея разделен на ряд элементов. С каждым из таких элементов связана небольшая часть памяти компьютера, в которой хранится подобная информация (о цвете, уровне яркости и так далее), необходимая для отображения на этом участке экрана. Микрокомпьютер, встроенный в терминал, использует хранящиеся в памяти данные и управляет дисплейным оборудованием так,, что формируется соответствующее графическое изображение. Растровые дисплеи становятся все популярнее по мере снижения стоимости компьютерной памяти. [c.83]

Растровая сканирующая электронная микроскопия. Растровый электронный микроскоп (РЭМ) — прибор, в основу работы которого положен телевизионный принцип развертки тонкого пучка электронов (или ионов) на поверхности непрозрачного исследуемого образца. Пучок электронов, падающий на поверхность образца, взаимодействует с веществом, следствием чего является возникновение целого ряда физических явлений (рис. 59). Регистрируя соответствующими датчиками то или иное излучение (например, вторичные электроны) и подавая сигналы на кинескоп, получают рельефную картину изображения поверхности образца на экране. [c.149]

Рис. 14. Схема соединения полос экранного растрового материала

С W i к S с а п - 5 О А (США). Растровый электронный микроскоп. При ускоряющем напряжении 15 кВ имеет разрешение 5 нм, а при 1 кВ — 25 нм. Микроскоп имеет максимальное увеличение в 220 000 раз. У микроскопа имеется приставка для нагревания изображение можио наблюдать на телевизионном экране. [c.154]

Для образования знака на экране ЭЛТ обычно используют различные методы (метод вычерчивания знака, растровый метод, метод формирования луча). [c.134]

Звуковое изображение ОК получается при последовательном сканировании объекта акустической системой, поэтому такой микроскоп называют сканирующим (иногда растровым) акустическим микроскопом. Развертка изображения на экране монитора происходит синхронно с перемещением акустической системы. На полутоновом черно-белом или цветном экране отображается амплитуда отраженной в ОК акустической волны. В результате получается двумерное изображение в виде С- и 5-развертки. [c.262]

Экраны проекторов просветного типа должны иметь высокую разрешающую способность (до 50 мм ) и обладать хорошими светорассеивающими свойствами для получения возможно более равномерного пространственного распределения яркости. В качестве материалов для экранов применяют матовые стекла, тонкие матированные лавсановые пленки или специальные экраны с многослойными прозрачными покрытиями из мелкодисперсных красителей, а также линзы Френеля с тонкой растровой структурой. Хорошими свойствами обладают экраны из тонкого слоя воска на стекле, однако они сложны в изготовлении. [c.491]

Разработан ряд высокоразрешающих проекционных стереосистем. Выпускается стереопроектор, в котором для сепарации изображений стереопар использован растровый экран на основе линзы Френеля. Прибор предназначен для контроля в часовой и электронной промышленности. Создан стереопроектор, в котором сепарация стереопар осуществляется с помощью вращающегося растрового экрана. [c.504]

Из каждой точки объекта в результате последовательного перемещения зонда эмиттируют отраженные и вторичные электроны, которые попадают в детектор, способный регистрировать квантовые сигналы. Каждый элемент растра катодно-лучевой трубки модулируется по яркости электронным сигналом от соответствующей точки объекта. В итоге на экране трубки появляется изображение объекта в отраженных или во вторичных электронах либо в иных видах сигналов. Увеличение микроскопа определяется соотношением сторон растров трубки и объекта. Максимальная частота при сканировании соответствует телевизионной, которая позволяет наблюдать динамические процессы, протекающие в объекте, с записью изображения на видеомагнитофон. Поскольку в растровом микроскопе изображение формируется электронной системой, есть возможность варьировать величины переменной и постоянной составляющей тока и, таким образом, усиливать контраст слабоконтрастных объектов. [c.228]

Если яркость диффузных экранов одинакова по всем направлениям, независимо от того, под каким углом световой поток падает на поверхность и под какими углами происходит наблюдение, то в металлизированных экранах указанная закономерность не соблюдается. Яркость гладкого металлизированного экрана неодинакова по разным направлениям и для устранения или для уменьшения этой особенности металлизированной поверхности ее подвергают специальной обработке, в результате которой образуется растровый рисунок специального профиля. Этот растр рассчитывается таким образом, чтобы обеспечить достаточно равномерную яркость экрана в определенных пределах углов наблюдения. [c.90]

Рис. и. Строение растрового металлизированного экранного материала [c.102]

Трудной и сложной задачей изготовления как диффузных, так, в особенности, и металлизированных растровых киноэкранов явилось соединение отдельных полос экранного материала в экранном полотнище необходимых размеров для того или иного кинотеатра. Обычные методы сшивки полос экранного материала хорошо просматриваются зрителями и создают неприятное впечатление при демонстрировании фильмов. Поэтому основные усилия как за рубежом, так и в СССР были направлены при решении задачи соединения полос экранного полотна в сторону изыскания таких методов, которые не давали бы зрителям возможности обнаружения швов. [c.104]

Технология изготовления светосильных растровых экранов достаточно сложна и воспроизводится от экрана к экрану с преодолением существенных затруднений. Изготовление растровых экранов механическим путем из каких-либо подходящих синтетических полимеров, например из метилметакрилата (плексигласа), невероятно трудоемко и практически невозможно. То же самое можно сказать и в отнощении получения растра методом штамповки или отливки, ибо для этого необходимо изготовление штампа или матрицы такого же весьма сложного профиля. [c.113]

Растровая электронная микроскопия позволяет изучать поверхность пленки, не прибегая к изготовлению реплик, при этом проводится сканирование поверхности изучаемого объекта сфокусированным пучком электронов. На экране электронно-лучевой трубки синхронно с движением электронного пучка в микроскопе также образуется растр. Сигналы, генерируемые при сканировании образца, используются для модуляции яркости электроннолучевой трубки. Малый диаметр электронного пу.чка [c.35]

ДЛЯ техники полнотой работу экранов. Условность определения требует, однако, строго стандартной обстановки для получения сравнимых результатов. Стандартизация важна как в отношении экрана (способы нанесения), так и в условиях возбуждения. При определении светоотдачи возбуждение принято вести фокусированным лучом с растровой развёрткой. Применение неподвижного луча исключено из-за утомления экранов, которое наступает при токах пучка, далеко не достигающих используемых в технике. Недостатком неподвижного луча служит также трудность получить равномерное распределение плотности возбуждения по измеряемой площади. Развёрнутый луч, допуская большую мощность возбуждения, максимально приближает обстановку измерений к реальным условиям работы экрана. Последнее особенно важно для получения полноценных в техническом отношении результатов. При растровом возбуждении учитывается не только яркость в момент возбуждения, нон та доля свечения при затухании, которая соответствует времени кадра. Это существенно, напри.адер, для применяемых в телевизионном приёме фосфоров. [c.233]

Отражательные электронные микроскопы работают по принципу сканирования ( ощупывания ) исследуемой поверхности электронным лучом, имеющим развертку по двум взаимно перпендикулярным направлениям (растровые электронные микроскопы — РЭМ). Изображение в РЭМе получается на экране электронно-лучевой трубки и может быть сфотографировано. Диаметр электронного пучка не превышает 10" м (100 А), что позволяет исследовать малые участки поверхности. [c.112]

Экранный повинол выпускается в виде рулонов в непер-форированном виде. Определение размеров и расположений перфораций в экранном растровом материале потребовало проведения специальных опытов и расчетов, с тем чтобы избежать образования муара и обеспечить должную проходимость звуковой волны от громкоговорителей, расположенных за киноэкраном. [c.104]

Растровая (сканирующая) микроскопия. В растровых электронных микроскопах (РЭМ рис. 2) электронный луч, сжатый магн. линзами в тонкий (1-10 нм) зонд, сканирует пов-сть образца, формируя на ней растр из неск. тыс. параллельных линий. Возникающее при электронной бомбардировке пов-сги вторичные излучения (вторичная эмиссия электронов, оже-электронная эмиссия и др.) регистрируются разл. детекторами и преобразуются в видеосигаалы, модулирующие электронный луч в ЭЛТ. Развертки лучей в колонне РЭМ и в ЭЛТ синхронны, поэтому на экране ЭЛТ появляется изображение, представляющее собой картину распределения интенсивности одного из вторичных излучений по сканируемой [c.440]

Если строчная развертка проходит через область образца, то сигнал, поступающий с детектора, может быть зарегистрирован на осциллографе, причем по горизоитальной оси откладывается положение растра, а в вертикальном У-направлении вычерчивается сигнал (рис. 4.34). Мы можем идентифицировать сигналы в любых интересующих нас двух точках, например 5д и 5в, и рассчитать контраст по уравнению (4.13). Если такая же строчная развертка повторяется, то мы обнаружим, что осциллограммы на экране точно не налагаются друг на друга. Если сигнал, поступающий 3 одного и того же положения пучка, повторно регистрируется за время регистрации элемента изображения t, то номинально идентичные отсчеты сигнала меняются. Процесс регистрации изображения в растровом электронном микроскопе в основе своей состоит в счете дискретных событий, например вторичных электронов, поступающих со случайным по времени распределением за время зондирования. Измерение сигнала 5 включает в себя счет числа событий п на детекторе. Вследствие того что события распределены случайным образом во времени, последовательные отсчеты в одной и той же точке будут отличаться от среднего значения п на величину Качество сигнала можно выразить через отнощение сигнала к щуму [c.153]

Метод получения изображения рентгеновском излучении при сканировании по площади представляет по существу растровый рентгеновский микроскоп. Усиленный сигнал от детекторной системы—спектрометра с дисперсией по энергии или кристалл-дифракционного спектрометра — используется для модуляции яркости электронно-лучевой трубки (ЭЛТ), которая сканируется синхронно с электронным пучком. Таким образом, изображение на экране ЭЛТ получают за счет изменения интенсивности рентгеновского излучения с поверхности образца. Здесь используется такая же система развертки с регулировкой увеличения и такой же усилитель, что и в растровом электронном микроскопе (гл. 4). Электронный пучок может сканировать по линии в направлениях X или У и давать распределение рентгеновского излучения по линии. Пример типичного сканирования по линии для Со и Сг по поверхности окисленного высокотемпературного сплава приведен на рис. 5.14 (гл. 5). Электронный пучок можно, конечно, развертывать и по площади н получать изображение в рентгеновских лучах. Изображение в рент-геповски.х лучах при сканировании по площади может содержать тона от черного до белого в зависимости от условий эксперимента. Места с высокой концентрацией исследуемого элемента в пределах области сканирования будут на изображении почти белыми, серыми, когда концентрация элемента ниже, и черными всюду, где элемент отсутствует. Пример, иллюстрирующий результаты исследования руды, приведен на рис. 6.15. [c.296]

S ADA-система ТРЕЙС МОУД 5 обладает широкими графическими возможностями. Разработка графического интерфейса операторских станций проекта осуществляется в объектно-ориентированном редакторе представления данных. Графические изображения создаются в векторном формате DBG, однако можно использовать и растровые изображения в формате BMP. Размер графического поля и число экранов не ограничены. Редактор содержит библиотеки объемных изображений мнемосхем технологических объектов, включающих баки, емкости, трубы, задвижки, а также их различные сечения и сопряжения. Формы данных содержат все необходимые элементы, в том числе гистограммы, графические, цветовые и звуковые сигнализаторы, тренды, бегущие дорожки, мультипликацию и т. д. Обширный набор библиотек технологических объектов включает емкости, теплообменники и др., а также панели управления, ввода заданий, регуляторов, приборов и т. д. Любая часть изображения может быть включена в объекты и анимирована произвольным образом. Графические мнемосхемы можно редактировать в реальном времени. [c.371]

Измерительный растровый для измерения глубины штрихов, толщины тонких пленок ТУ 3-3-409—76 ОРИМ-1 При наблюдении с винтовым окулярным микрометром 50—300 При наблюдении на экране 40—250 При фотографировании 20—110 Диапазон измеряемых высот 40—0,4 мм 400Х 180X600 мм 20 кг [c.312]

Микроанализатор (рис. 23.1) состоит из электрон-но-оптической системы для получения узкого пучка электронов (электронная пущка и две электромагнитных линзы) одного или более рентгеновских спектрометров для анализа излучения по длинам волн и интенсивностям светового микроскопа Для выбора участка образца, предназначенного для исследования устройства для получения растрового изображения объекта с использованием для модуляции интенсивности на экране катодно-лучевой трубки сигнала от спектрометра (интенсивности того или иного рентгеновского характеристического излучениия). [c.567]

Наиболее высокий коэффициент отражения у сульфата бария, поэтому его чаще всего используют для покрытия отражающей поверхности диффузно-рассеивающих экранов [7]. Используют также направленно-рассеивающие экраны, которые отражают световой поток в определенном направлении, что увеличивает яркость отражающей поверхности, например, так называемые жемчужные (покрытые слоем мелких стеклянных шариков), растровые (состоящие из большого числа мелких линз) и металлизированные экраны. Поверхность на-правленно-рассеивающих экранов может дать яркость в 3—4 раза, в растровых в 15 раз большую, чем яркость диффузно-рассеивающего экрана. [c.18]

Б растровом экране, описанном выше, цвета фотографии образуются путем смешения трех первичных цветов. В действительности окраска объекта возникает в результате поглощения (суб-трактирования) некоторой составляющей белого света. Например, после поглощения синей составляющей остается дополнительный (минус) желтый цвет, удаление зеленой составляющей приводит к пурпурному, в то время как вычитание красной компоненты из белого света дает дополнительный голубой цвет. [c.321]

Разрешения во времени можно достичь несколькими способами. Так, время-пролетный массч пектрометр можно дополнительно оборудовать устройством фирмы СУС Produ ts, In . (Ro hester, NY), дающим растровые изображения масс-спектров на экране осциллографа. В устройстве используется счетчик числа спектров, с помощью которого после регистрации на экране изображения п спектров это изображение можно сместить по вертикальной и горизонтальной [c.67]

Технология получения металлизированного растрового экранного материала с применением синтетических полимеров, используемого для направленно-рассеивающих киноэкранов, существенно отличается от технологии изготовления диффузного экранного материала. Тип такого экранного материала и технология его изготовления были разработаны в СССР усилиями светотехнической лаборатории НИКФИ в содружестве с Центральным научно-исследовательским институтом пленочных изделий и кожзаменителей и калининским комбинатом Искож [8]. [c.102]

Строение растрового металлизи рованного экранного материала приведено на рис. 11 [8]. Как видно из рисунка, материал состоит из трех слоев нижний слой — тонкая плотная текстильная ткань /, средний слой — из поливинилхлоридной смолы с белым пигментом II и верхний — также поливинилхлоридный слой с равномерно распределенным в нем тонкодисперсным алюминиевым порошком III. Ячейки растра, полученные тиснением верхнего слоя материала, представляют собой геометрически правильную форму углублений, ограниченных прямоугольным контуром и вог- [c.102]

Другой способ, относящийся к соединению полос экранного повинола, т. е. экранного материала с растровой металлизированной поверхностью, основан на соединении [c.106]

Решающее значение в изобретении советского метода стереоскопической кинематографии сыграло использование некоторых природных высокомолекулярных соединений для изготовления светосильного растрового стереоэкрана. Этот экран состоит, как известно, из оптических линз особой формы, расположенных на поверхности соответствующей подложки радиально, т. е. концы всех линз растра при их продолжении пересекаются в одной точке — точке схода элементов растра. Следует при этом заметить, что каждая линза, а их количество доходит до 2500, для экрана, предназначенного для небольшого стереокинотеатра, отличается от всех остальных как по своим размерам, так и по форме, вытянутой па всю высоту экрана [21]. [c.112]

При изучении катодолюминесценции удобна телевизионная или растровая развёртка. В ней за время кадра электронный луч покрывает экран системой следующих друг за другом параллельных строк, которые в сумме дают равномерно освещённый прямоугольник — растр. Время обратного хода луча при переходе с одной строки на другую очень мало по сравнению с самой строкой. Кроме того, па время обратного хода электронный луч обыкновенно запирается специальным бланкирующим импульсом, создаваемым в агрегате развёртки. Растровое возбуждение, дающее на экране равномерно освещённый прямоугольник, очень выгодно для светотехьшческих и цветовых измерений. Предпочтительно пользуются при этом магнитной системой фокусировки и отклонения луча, так как она позволяет более точно измерять ток пучка. [c.34]

Для изучения распределения поглощенных ионов в поверхностном слое мембран применяли рентгеновский микроанализатор ]И8-46 с растровой разверткой. Напряжение зонда составляло 15 кв, ток на образце -- ЗО 10" а. В процессе получения снимка происходило более или менее (в зависимости от типа мембран) ааметпое разрушение образца. Однако неизменность за время экспозиции изображения в прошедших электронах, наблюдаемого на экране контрольного осциллографа, и вид снимков в характеристическом рентгеновском излучении позволяет утверждать, что это разрушение заметно на полученных результатах не сказывалось. [c.250]

Для изучения размерных характеристик и морфологии наноматериалов успешно используют растровые электронные микроскопы (РЭМ). В РЭМ при помощи электронных лучей на поверхности исследуемого образца фокусируется узкий электронный зонд диаметром 1,5-5,0 нм, совершающий возвратно-поступательное движение по прямой линии или развертывающийся в растр по заданной площади на объекте. Развертка пучка электронов на электронно-лучевой трубке производится синхронно С разверткой электронного зонда в РЭМ. На экране наблюдается увеличенное изображение объекта (увеличение равно отношению высоты кадра на экране трубки к ширине сканируемой поверхности объекта). Фотофафируют изображение непосредственно с экрана электронно-лучевой фубки. [c.302]

Для используемого в просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) ускоряющего напряжения 200 кВ последняя формула дает длину волны 0,0025 нм, для широко применяемого в микроскопах высокого разрешения ускоряющего напряжения 400 кВ — 0,0016 нм, а для минимального ускоряющего напряжения, используемого в ряде моделей современных растровых электронных микроскопов (0,1 кВ), — 0,123 нм. Как видно, даже для низкоэнергетических электронов длина волны допускает получение атомного разрешения. Однако разрешающая способность электронных микроскопов определяется другими факторами (сферической аберрацией, связанной с разным положением фокальной плоскости для центра и краев линзы, и хроматической аберрацией, определяемой небольшими колебаниями ускоряющего напряжения) и достигает значений порядка 0,1 нм в высоковольтных микроскопах высокого разрешения. Строение просвечивающего электронного микроскопа функционально сходно с оптическим микроскопом, работающим в проходящем свете (рис. 7,1 а) осветительная система, состоящая из электронной пушки и конденсора, определяющего форму падающего на образец пучка исследуемый образец объективная линза, формирующая изображение система из промежуточных и проекционной линз, обеспечивающих требуемое увеличение и проецирующих изображение на флуоресцентный экран для наблюдения или на фотопленку (или матрицу цифровой фотокамеры) для регистрации. Кроме перечисленных элементов современный электронный микроскоп содержит магнитные системы отклонения пучка и изменения его формы. Изменение формы пучка до достижения им круговой симметрии в сечении необходимо для получения неискаженного изображения. Соответствующие устройства называют стигматорами, их устанавливают в просвечивающих электронных микроскопах как после конденсора (перед попаданием пучка на образец), так и после объективной линзы. Промежуточные линзы кроме дополнительного увеличения применяют также для перевода микроскопа в [c.245]

Наиболее распространены просвечивающие и сканирующие (растровые) электронные микроскопы. В просвечивающих объект пронизывает пучок электронов, создающий на экране изображение (рис. 25). В сканирующих микроскопах изображение создают вторичные электроны, испускаемые поверхностью объекта при облучении ее пучком первичных электронов. Выше рассмотрена схема наиболее распространенного микроскопа просвечивающего типа, который требует применения сложной заливки объектов в специальные смолы и ультратоиких срезов, но обладает высокой разрешающей способностью. [c.51]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология