Сравнение фотографического и фотоэлектрического методов

Фотографическая регистрация. Определение кривой поглощения фотографическим методом является более трудоемким способом определения Г(Х) по сравнению с фотоэлектрическими методами регистрации спектра. Принципиально метод фотографической регистрации сводится к определению отношения интенсивности света в [c.87]

СРАВНЕНИЕ ФОТОГРАФИЧЕСКОГО И ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО МЕТОДОВ 331 [c.331]

Сравнение фотографического и фотоэлектрического методов [c.331]

По сравнению с фотографическими и визуальными методами, фотоэлектрический метод имеет много преимуществ. Ошибка анализа не превышает 1—2%, а время, необходимое на определение четырех-пяти элементов, может быть сведено до 3—5 минут Важно отметить, что заметное уменьшение ошибки анализа про- [c.231]

Фотоэлектрический метод ана лиза превосходит фотографический как по чувствительности определения малых количеств вещества, так и по быстроте и точности измерений. В табл. 30 дается сравнение этих двух методов анализа для смесей, которые близки по составу и по интенсивности линий, используемых для анализа. Интенсивности /о выражены в шкале линии 802 см циклогексана. [c.343]

Фотоэлектрические методы спектрального анализа основаны на тех же зависимостях, что и фотографические. Особенностью фотоэлектрического эмиссионного метода является наличие одной линии сравнения, поэтому практически невозможно выполнить условия гомологичности аналитических линий. Необходимая точность анализа здесь связана с точностью выдерживания выбранной фазы поджига. Используемые в спектральном анализе генераторы типа ДГ-2 и ИГ-3 не могут обеспечить высокую точность фазы поджига, поэтому для фотоэлектрических приборов разработаны специальные генераторы. [c.223]

Таким образом, фактором, ограничивающим чувствительность фотоэлектрического метода, наряду с темновым током фотоумножителя о является наличие светового фона, создающего фототок фон, причем с повышением светосилы установки роль фон по сравнению с возрастает. В соответствии с этим, снижение фона настолько же актуально в фотоэлектрическом методе, как и в фотографическом. Особенностью фотоэлектрического метода является то, что хотя с ростом полного фототека I абсолютная величина флуктуаций возрастает, по относительный уровень их снижается согласно формуле [c.51]

НО внутризаводским эталонам, то для контроля привлекаются общесоюзные эталоны. Кроме того, производится сравнение с результатами анализа более точным методом. Определения стилоскопом или стилометром уместно проверить фотографическим или фотоэлектрическим методом или сравнить с данными тщательного химического анализа. [c.257]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Однако очень часто, особенно при определении ультрамалых абсолютных содержаний элементов, условия для фотоэлектрической регистрации весьма далеки от оптимальных. Поэтому применяют, как правило, фотографическую регистрацию, обеспечивающую при интегральном приеме близкую к теоретической возможность обнаружения слабых флуктуирующих линий на флуктуирующем сплошном фоне. По-видимому, с помощью периодического сканирования спектра можно было бы создать оптимальные условия для фотоэлектрической регистрации и в этих случаях анализа. Но неизвестно, окупится ли при этом значительное техническое усложнение метода тем выигрышем в пределе обнаружения по сравнению с фотографической регистрацией, который предсказывается теорией [748, 429], тем более, что теоретические расчеты пока не подтверждены непосредственными сравнительными экспериментами. [c.67]

Регистрацию спектров фосфоресценции проводили на фотоэлектрической установке с искровым фосфороскопом. Принципиальное преимущество применяемой установки — фотоэлектрическая экспрессная регистрация спектра (по сравнению с трудоемким и длительным процессом обычного фотографического метода регистрации спектра) и применение высокоэффективного способа возбуждения с помощью искрового фосфороскопа, создающего возможность интенсивного коротковолнового возбуждения. [c.193]

Отличительной особенностью работы [7] является сравнение зависимостей атомного поглощения от концентрации элемента в растворе, полученных двумя методами регистрации— фотографическим и фотоэлектрическим. [c.170]

Спектры второго раздела заимствованы из литературы, и большинство из них изучено методом фотоэлектрической регистрации. Интенсивности линий в этих таблицах удалось выразить в единицах той шкалы, которая принята в первом разделе. Значения частот, полученных при фотоэлектрической регистрации, судя по тем спектрам, которые допускают сравнение, могут отличаться от результатов фотографических измерений до 10 в ту или другую сторону. [c.187]

Особое внимание привлекают работы, направленные на повышение чувствительности фотоэлектрических методов спектрального анализа. Чувствительность анализа, достигаемая при помощи квантометров и фотоэлектрических стилометров, обычно несколько ниже, чем при фотографической регистрации спектра, если разрешающие способности оптики спектрографа и оптики фотоэлектрической установки равны. Это обусловлено способом выделения неподвижных в процессе регистрации спектральных линий системой выходных щелей спектрального аппарата, а также рядом других причин. Тепловой дрейф спектра заставляет использовать выходные щели, в несколько раз превышающие по ширине изображения спектральных линий. Флуктуирующий сигнал, обусловленный фоном спектра, возрастает пропорционально ширине выходной щели. Флуктуирующий сигнал аналитической линии в рассматриваемом случае от ширины выходной щели практически не зависит. Поэтому для квантометрических установок характерно худшее по сравнению со спектрографом отношение мощностей сигналов линии и фона. [c.21]

В последние годы большое внимание уделялось проблеме измерения интенсивцостей в вакуумной области в этом направлении уже делаются большие успехи. Величины коэффициентов поглощения нужны для вычисления значений сил осцилляторов для полос и сравнения их с теоретическими предсказаниями, а это необходимо в случае атмосферных газов для понимания явлений, происходящих в верхних слоях атмосферы, и, наконец, для использования в целях спектрального анализа. Фотографический метод, применявшийся в ранних работах, постепенно вытесняется фотоэлектрическими методами. Интенсив- [c.90]

Фотоэлектрические измерения интенсивностей. Существует ряд приемов фотоэлектрических измерений интенсивностей. Практически все они основаны на том, что сигнал па выходе фотоумножителя пропорционален величине светового потока, освещающего фотокатод. Так как усилительные схемы в широких пределах также обладают линейностью, то величина напряжения, даваемого усилителем, оказывается прямо пропорциональной измеряемым интенсивностям в спектре. Это свойство линейносп является одним из серьезных достоинств фотоэлектрического метода но сравнению, с фотографическим. Рассмотрим основные приемы фотоэлектрических измерений. [c.128]

Сравнение данных этой таблицы с данными фотографического метода анализа медных сплавов (табл. 18) показывает, что выигрыш в точности, даваемый фотоэлектрическими методами, в дашюм случае иезначителеи. Однако следует иметь в виду, что получеп 1е столь точных данных фотографическим методом требует исключительной тщательности работы и очень хороших фотоматериалов, в то время как фотоэлектрические даппые, приведеппые в таблице, относятся к рядовым измерениям. Кроме того, следует отметить, что ошибки фотографического метода определялись для среднего из трех параллельных анализов. По-видимому, в обоих приведенных примерах измерения выполнены с такой точностью, что основная [c.191]

Несомненно, что возможность получения при помощи фотоэлектрических спектрофотометров непосредственных показаний пропускания и оптической плотности дает очень большую экономию во времени по сравнению с самыми быстрыми фотографическими методами даже в том случае, когда требуется измерять спектр по точкам. Если полосы поглощения достаточно широки и изменение коэффициента поглощения по ширине щели мало, то точность фотоэлектрического метода будет не меньше точности фотографического, когда ошибка обычно составляет примерно не более 5% значения коэффициента погашения. Практически же надежноЪть и точность фотоэлектрических определений пропускания превосходит, повидимому, точность фотографических. При оценке точности коэффициента погашения, рассчитываемого на основании наблюденных величин пропускания, должны приводиться данные о ширине щели и сведения о четкости спектрального изображения это характеризует и надежность определений нропускаемости. Очевидно, что фотографические спектрофотометры с лучшими кварцевыми спектрографами должны использоваться при более узкой щели, чем большинство современных фотоэлектрических приборов большая точность в абсолютном значении коэффициента погашения органических соединений может быть получена фотографически только в тех сравнительно редких случаях, когда должны измеряться очень узкие полосы. И более того, лабораторный фотоэлектрический спектрофотометр [c.101]

Измеряемой величиной, принимаемой за основу при построении градуировочных графиков, чаще всего является при фотографических методах регистрации почернение фотопластинки, определяемое освещенностью в фокальной плоскости прибора. При фотоэлектрической регистрации измеряется электрический заряд или фототок, пропорциональны световому потоку, проходящему через прибор. От этих величин иногда переходят к величинам, пропорциональным интенсивностям спектральных линий, но никогда в практике спектрального анализа не вычисляют абсолютных значений этих величин. Для того чтобы в дальнейшем избежать недоразумений и не делать длинных оговорок, условимся, что в тех случаях, когда речь будет идти о величинах, пропорциональных интенсивности данной спектральной линии, мы будем говорить просто об интенсивности (имея всегда в виду, что она определяется в произвольных единицах, т. е. с точностью до неизвестного нам коэффициента пропорциональности а). Тогда же, когда мы будем говорить об относительной интенсивности, то под этим будет подразумеваться отношение интенсивностей аналитическо линии и линии сравнения. [c.148]

Сравнение спектров перилена, растворенного в н-гексане при комнатной и азотной температурах, полученных на описанной выше установке, со спектрами перилена, полученными Э. В. Шпольским и Р. И. Персоновым 12] фотографическим методом, показывает их идентичность. Однако фотоэлектрическая регистрация квазилинейных спектров является более быстрой и наглядной. [c.210]