Применение электронографии

Метод электронографии не всегда может быть использован для установления структуры молекул. Как уже указывалось, он с трудом определяет положение атомов водорода. Применение электронографии встречает большие затруднения в случае сложных молекул, содержаш.их много различных групп атомов. [c.129]

Что же касается электронографии, то этот метод обладает преимуществами лишь при исследовании вещества в газообразном состоянии. Однако дифракция от газа несет несравненно меньшую информацию о структуре, чем дифракция от кристалла. Структура простых молекул в основном уже известна в более сложных случаях применение электронографии нецелесообразно. Электронография полезна при определении расстояний между тяжелым атомом и атомами органогенами. Поэтому она сохраняет свое значение для исследования металлоорганических соединений. [c.360]

Применение электронографии к изучению катализаторов [c.89]

Основные области применения электронографии связаны с особенностями рассеяния электронов. Приведем некоторые примеры. [c.300]

Сильное и неравномерное размытие немногочисленных интерференционных пятен и линий на рентгенограмме. е-карбида не дало возможности однозначно расшифровать структуру этой фазы. Окончательно вопрос был решен путем применения электронографии (гл. 11). [c.423]

Обсуждены возможности применения электронографии к изучению структуры кристаллических полимеров. Исследованы изотактические поли-а-бутен и полистирол (ромбоэдрические ячейки а=21,9, и 17, 7 A с=6,65 и 6,80A и синдиотактический 1,2-полибутадиен (ромбическая ячейка й=10,98 A, с 5,14 A). [c.495]

Применения электронографии. Пучок электронов может быть применен вместо пучка рентгеновских лучей для изучения строения кристаллических тел. Перед рентгенографиёй этот метод имеет ряд существенных преимуществ для получения интенсивных пучков нужна значительно менее мощная аппаратура, чем для рентгеновского анализа действие электронов на фотографическую эмульсию значительно интенсивнее действия рентгеновских лучей, так что время экспозиции уменьшается во много раз, допуская даже кинематографическую съемку быстрых структурных изменений (фотографии вроде рис. 63 получаются при экспозициях порядка 0,1 сек.) монохроматизация пучка (одинаковые скорости электронов) может быть более совершенной, чем для рентгеновских лучей, и это дает более резкие линии. [c.170]

Проводились электронографические исследования высокополимерных веществ. Применение электронографии в этой области было первоначально связано с тем, что при рентгенографических, исследованиях целлюлозы, каучука и других высокополимерных веществ получаются рентгенограммы, состоящие из сравнительно малого числа широких размытых линий. Использование электронографии с излучением малой длины волны открыло новые возможности исследования в этой важной области химии. [c.34]

Г. Пинскер, Применение электронографии в химии, Усп. хим., 20, [c.36]

ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОНОГРАФИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ ТВЕРДЫХ ТЕЛ [c.37]

Для характеристики современного состояния электронографии ограничимся небольшим числом примеров преимущественно по исследованию поверхности твердых тел. что является одной из наиболее важных областей практического применения электронографии. [c.37]

Конечно, этими примерами не ограничиваются все возможные области применения электронографии можно было бы перечислить здесь и многие другие. Однако общие итоги исследовательских работ показывают, что электронография пока, в сравнении с рентгенографией, еще недостаточно проявила себя на практике. Трудности электронографических исследований еще не преодолены. Поэтому исследователи часто стремятся ограничиваться простыми объектами, мало занимаются актуальными вопросами> которые могла бы разрешать электронография, и часто затрачивают силы и время на технические задачи, вроде конструирования универсальных электронографов, повышения их разрешающей спо- [c.40]

За пятнадцать лет работы Лаборатории структуры поверхностных слоев Института физической химии АН СССР накоплено много материала по применению электронографии к исследованию поверхности твердого тела. Крупный раздел этой работы относится к проблемам строения и механизма образования окисных пленок на металлах. [c.3]

Целеустремленная, не эпизодическая, работа по применению электронографии к различным вопросам была предпринята с 1932 г. П. Д. Данковым и, независимо от него, [c.7]

В громадном большинстве случаев в электронографии приходится иметь дело с уже известными структурами, попадающими в особые условия благодаря тому, что они находятся на поверхности. Поэтому только в редких случаях приходится применять весь аппарат структурного анализа для выяснения природы неизвестной структуры. Чаще всего существенно и важно констатировать на поверхности уже известные структуры. Это не значит, однако, что искания в области детального выяснения особенностей поверхностных структур (как, например, в случае слоистых промежуточных структур, которые могут встречаться только в условиях поверхности) являются неперспективными. Наоборот, поиски в этом отношении дают надежду на весьма существенный прогресс в применении электронографии к теоретическим проблемам. Но важно отметить, что для многих практических проблем структуры поверхности можно пользоваться простым сравнением со структурами, изученными рентгенографически. Это позволяет надеяться, что, несмотря на некоторые трудности методики электронографии, она может и должна найти широкое применение в нашей промышленности. [c.10]

Наконец, скажем несколько слов о применении электронографии в заводской практике. В настоящее время еще рано говорить о непосредственном использовании электронографии для массового контроля качества поверхности (например, металлических изделий). Такого рода применение мало доступно даже для рентгенографии, являющейся более развитой и менее сложной по своей методике отраслью науки. Сведения о применениях электронографического контроля полированных изделий уже появлялись в зарубежной литературе тем не менее использование электронографического метода для исследования больших количеств изделий встречает существенные затруднения. Необходимость введения образцов в эвакуированное пространство и регулировки пучка электронов, применение высокого напряжения, — все это значительно осложняет использование электронографии в заводской практике. Все же характеристика структуры поверхности настолько существенна для некоторых промышленных изделий, что преодоление трудностей внедрения электронографического метода в производственный контроль — неотложная и важная задача. [c.19]

Малость длины дебройлевской волны для электрона означает большой радиус сферы Эвальда (см. стр. 268), ее вырождение в плоскость. Это сильно упрощает истолкование электро-нограмм, так как они оказываются прямыми изображениями плоского сечения обратной решетки кристалла. Атомные факторы для рассеяния электронов также пропорциональны атомному номеру, но по своей абсолютной величине они во много раз больше, чем для рентгеновских лучей. Иными словами, электроны взаимодействуют с веществом значительно сильнее, чем рентгеновские кванты. Поэтому они сильно поглощаются веществом, и для исследования его структуры необходимо пользоваться очень тонкими пленками толщиной порядка 10 —10 см, тогда как размеры кристаллов, изучаемых в рентгенографии, порядка 10 см. Исследование необходимо проводить в высоком вакууме. Это делает невозможным применение электронографии для изучения глобулярных белков в их нативном состоянии — вакуум высушит белок. Тем не менее электронография позволяет получить ценные результаты при исследовании фибриллярных белковых структур, синтетических полимеров и других аморфных тел. Существенное преимущество электронографии состоит в том, что она позволяет локализовать атомы водорода (подробное изложение см. в монографиях [31, 32]). [c.275]

Электронография основана на явлении дифракции электронов на ядрах атомов. Метод применяется для изучения структуры различных веществ в газообразном состоянии. Дифракционная картина взаимодействия быстрых электронов с неществом фиксируется на фотопластинке в виде электронограммы. Она состоит из центрального пятна, образованного неотклонивщимися электронами, и колец различной интенсивности, являющихся результатом действия рассеянных электронов. Характер колец и их интенсивность обусловлены строением исследуемого соединения. Расшифровка электронограмм путем использования определенных математических соотношений дает возможность установить геометрическую форму, расположение атомов, межъядерные расстояния и валентные углы несложных молекул. В случае сложных соединений применение электронографии затруднено. > [c.512]

Существует три основных метода определения положения атомов в кристаллической решетке рентгенография, нейтронография и ядерный магнитный резонанс. (Применение электронографии для исследования кристаллов с Н-связями рассмотрено в работе [2083] см. также [2081а, 2082, 2084].) Большая часть имеющихся в настоящее время данных о структурах кристаллов была получена рентгенографическим методом. Тем не менее два других метода имеют первостепенное значение, поскольку они позволяют определять положение атомов водорода в решетке. В настоящее время практически вся определенная информация о расположении водородных атомов получается методами нейтронографии и протонного магнитного резонанса. [c.219]

Применение электронографии для исследования полимеров основано на тех же принципах, что и применение рентгенографии. Одинаков и характер информации, получаемой этими методами. Вследствие меньших значений 1 для быстрых- электронов ( 0,1 А) искажения, вносимые конечными размерами кристаллитов, начинают сказываться при меньших d ( 100 А), но рефлексы значительно интенсивнее и экспозиции, требуемые для получения четких электронограмм, весьма невелики. Элек-тронограммы можно наблюдать непосредственно на светящихся экранах, а исследование производить в тонких образцах, что исключает необходимость учета многократного рассеяния в толще вещества. В сочетании с электронной микроскопией дифракция электронов позволяет получить электронограмму от заданного участка образца (см. рис. 7). Приспособления для получения электронограмм имеются во всех современных электронных микроскопах. Принципы применения электронографии для исследования полимеров разработаны достаточно пол-hq29,i69 g последнее время проведены работы, в которых для исследования полимеров использован метод электронографии под малыми углами. [c.63]

Применения электронографии. Диффракционные картины, получаемые от электронов, совершенно аналогичны рентгенограммам. Этот метод изучения кристаллов может быть так же применен, как рентгеновский, имея по сравнению с ним ряд крупных преимуществ. Получение э.чектрокных пучков требует [c.204]

Ряд сообщений относился к исследованию аморфных полимеров, определению электронной плотности в кристаллических соединениях, изучению поверхностных окисных и других пленок. Отмечено важное значение рентгеновского метода исследования как метода, позволяющего производить контроль деталей без их разрушения (дефектоскопия). Совещание обсудило также вопросы применения электронографии, электрономикроскопии и др. [c.4]

В ряде областей структурных исследований применение электронографии оказалось особенно успешным. Выбор же той или иной области, где возможно применение электронографии, обусловлен особенностями диффракции электронов по сравнению сдиффракцией рентгеновских лучей. Прежде всего электроны как носители электрического заряда сильно взаимодействуют с веществом, поэтому проникающая способность электронных пучков сравнительно мала. Электроны, ускоренные приложением напряжения 50 ООО—100 ООО в, могут проходить без заметной потери энергии только через очень тонкие слои вещества (тол- [c.23]

Важным направлением электронографических исследований является изучение фазового строения поверхностей твердых тел и различного рода поверхностных соединений, возникающих в результате химических реакций на поверхностях твердых тел. Это направление исследований особенно y nemiio развивается в работах, проводившихся П. Д. Данковым, Н. А. Шишако-вым, В. Д. Игнатовым с сотрудниками . Ими проведены исследования фазового состава и структуры ряда оксидных пленок, ориентирующего влияния кристаллической подложки на формирование растущих кристалликов,, процессов пассивации металлов и др. Ряд исследований в этой области выполнен М. М. Уманским, В, А. Крыловым и др. Эта область применения электронографии представляет большой интерес для химии, в частности при изучении электродных процессов, вопросов, коррозии, строения гетерогенных катализаторов и т. д. Этим вопросам посвящается специальный доклад. [c.32]

Г. Пинскер (Институт кристаллографии АН СССР). Электронография, если ее охарактеризовать по существу, не разделяя на методы отражения или прохоледения, может быть применена для исследования различных материалов и веществ, находящихся в высокодисперсном состоянии (естественном и искусственном), а также для исследования процессов, связанных с образованием высокодисперсных материалов. Важная область применения электронографии—это исследование веществ и соединений, стоящих между чисто кристаллическими и чисто аморфными фазами. [c.42]

Теория дифракции электронов и основные применения электронографии содержатся в монографиях Б. К. Вайнштейна Структурная электронография (АН СССР, 1956) и Р. Д. Хейденрейха Основные принципы электронографии (изд-во Мир . 1968). [c.352]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология