Отклонение пучка

Масс-спектры состоят из линий, соответствующих осколкам молекул с определенным отношением их массы к заряду. Эти осколки образуются в ионизационной камере масс-спектрометра в результате действия электронного удара. Затем ионизированные осколки и ионы ускоряются в магнитном поле, причем величина отклонения пучка ионов зависит от отношения массы осколка или [c.122]

Рис. 2.12. Отклонение пучка ионов одной (а) и разной (б) массы а поле

В опыте У. Штерна и В. Герлаха пучок атомов проходил в неоднородном магнитном поле. В однородном поле имеет место ориентация магнитных моментов атомов, в неоднородном должно происходить движение атомов в направлении градиента поля. Это направление перпендикулярно направлению движения атомов, поэтому магнитное поле должно вызывать отклонение пучка. [c.423]

Метод основан на том, что поток ионов, содержащий частицы с различной массой, в результате комбинированного действия электрического и магнитного полей разлагается на отдельные пучки, состоящие каждый из ионов с одинаковой массой. Измеряя отклонения пучков, можно установить относительные значения 2е/Аг для разных ионов, а следовательно, обратные значения относительных масс атомов. Исходными данными при определении атомных масс рассматриваемым методом могут быть также разницы во времени полета ионов и некоторые другие. Примеры масс-спектров приведены на рис, 2, [c.23]

Электронно-лучевые установки применяются не только для переплава металлов и сварки в вакууме, но и для нагрева под термообработку тугоплавких металлов. Примером могут служить установки непрерывного действия для нагрева металлической ленты. Лента продвигается в вакуумированной камере под аксиальной пушкой, пучок которой движется непрерывно с большой скоростью перпендикулярно движению ленты. Отклонение пучка осуш,ествляется электромагнитной системой, управляемой по программе с тем, чтобы обеспечить равномерное температурное поле по ширине ленты. [c.253]

Измеряя отклонения пучков, можно установить относительные значения ze/M для разных ионов. Поскольку величина е постоянна, относительные значения ге/М для различных ионов представляют собой также обратные величины относительных значений Mlz следовательно, этот метод позволяет опытным путем непосредственно определять относительные массы атомов, а значит, и их атомные массы. [c.87]

Способ пропорциональных отклонений. Пучок света непосредственно от источника или пропущенный через кювету, заполненную только растворителем (фоном, на котором получают окрашенное соединение), направляют на фотоэлемент и измеряют силу возникающего фототока (г ). Затем на пути светового потока устанавливают ту же кювету, заполненную измеряемым окрашенным раствором, и измеряют силу возникающего фототока ( 2). Если, как это указывалось выше, между интенсивностью светового потока и силой фототока существует прямая пропорциональность (в фотоэлектрической колориметрии используют именно такие фототоки), то [c.89]

Зная скорость катодных лучей, он смог определить отношение заряда частиц к их массе по отклонению пучка лучей, обусловленному действием одного электростатического П0.ЯЯ или одного магнитного поля. В результате этих опытов он получил значение е/та=3-IQi эл.ст.ед. на 1 г. В пределах ошибок опыта (возможная ошибка выражалась множителем порядка 2) были получены одни и те же значения вне зависимости от того, чем была заполнена трубка воздухом, водородом, двуокисью углерода или иодистым метилом точно так же были получены одни и те же значения в тех случаях, когда применяли катод из платины, алюминия, меди, железа, свинца, серебра, олова и цинка. [c.54]

Измерением отклонения пучков (по отклонению их следов на фотографической пленке) можно установить относительные значения пе/М для различных ионов. Учитывая, что е величина постоянная, относительные значения пе/М для различных ионов представляют собой также обратные [c.133]

Рис. 67. Фокусирующий масс-спектрограф с одновременным отклонением пучка ионов электрическим и магнитным полями.

А — антикатод К — кристалл П — фотографическая пластинка , Б — место на пластинке, соответствующее попаданию первичного не отклоненного пучка. [c.234]

В настоящей работе был использован промышленный масс-спектрометр с 60°-ным отклонением пучка и радиусом кривизны траектории ионов 20 см [11, 12]. В приборе применялся ионный источник Нира и однокаскадный усилитель [13] с чувствительностью 10" а,что соответствует давлению газа в ионном источнике примерно 0 мм рт. ст. Ширина выходной щели в ионном источнике составляла 0,3 мм, ширина щели у приемника ионов — 0,6 мм. Это обеспечивало разрешение масс-спектрометра АМ М [c.523]

Электромагнитный метод. Электромагнитное разделение основано на различии траекторий полета ионов разделяемых изотопов Б электромагнитном поле. Величина отклонения пучка ионов в электромагнитном поле зависит от их скорости, заряда и при прочих равных условиях от массы ионов. Процесс в малых масштабах осуществляется в масс-спектрометрах, а для производственных целей служит так называемый калютрон (магнитный сепаратор), в котором ионы движутся в однородном электромагнитном поле, при этом величина расхождения пучка пропорциональна разности квадратных корней из массы изотопов [c.454]

Голографическая решетка используется и в монохроматорах с постоянным углом отклонения пучков и неподвижными щелями. [c.121]

Величина углового отклонения пучков света от первоначального направления зависит от постоянной решетки й, т. е. от расстояния между штрихами, и от длины волны проходящего излу- [c.56]

Отклонение электронного пучка, направленного поперек разряда. X (х) может быть найдено путем измерений отклонения пучка (с помощью флуоресцирующего экрана) при изменении относительного положения пучка и разряда. При этом необходимо вносить поправки, так как при прохождении пучка через темное пространство он отклоняется в область уменьшающегося электрического поля [190]. В результате получается линейная зависимость поля X от х (рис. 113), за исключением случаев очень малых р к ]. [c.242]

Здесь о — напряжения Эриксена, представляемые [как можно видеть из (3.100)] функциями, квадратичными по отклонениям Пу. Таким образом, в приближении малой амплитуды их можно полностью опустить. Величина определяется уравнением (5.36) или (5.38). Последнее слагаемое в равенстве (5.42) представляет собой антисимметричную часть а и определяется из уравнений (5.8) и (5.17). В этом слагаемом с точностью до членов первого порядка по п , Пу можно заменить Ир/in, на и т. д. Окончательно для объемно силы получаем [c.196]

В отсутствие кислорода крутильный подвес принимает положение равновесия, определяемое соотношением между упругостью закрученной нити и диамагнитным эффектом газа и стекла крутильного подвеса. Когда поступает кислород, он втягивается в магнитное поле и стремится сместить крутильный подвес, который, вращаясь, скручивает нить до тех пор, пст-ка не будет достигнуто новое положение равновесия. Отклонение пучка света является мерой парциального давления кислорода. Прибор пригоден для одного из двух диапазонов парциального давления от О до 40 и от О до 800 мм рт. ст. Точность намерения составляет 1 % от длины шкалы. [c.371]

На отклоняющие катушки с панцирным сердечником из мягкого железа намотано по 250 витков провода ПЭВ-2 диаметром 0,86 мм. Угол отклонения пучка от оси ускорителя 25°. Отклоняющие катушки размещены в вакуум- [c.35]

Дж. Дж. Томсон вьгаислил отношение заряда к массе электрона, наблюдая отклонение пучка электронов электрическим и магнитным полями. Современным развитием прибора Томсона является а) сцинтил-ляционный счетчик, б) масс-спектрометр, в) счетчик Гейгера, г) инфракрасный спектрометр. [c.583]

Масс-спектры состоят из линий, соответствующих осколкам молекул с определенным отношением их массы к заряду. Эти осколки образуются в ионизационной камере масс-спектрометра в результате действия электронного удара. Затем ионизированные осколки и ионы ускоряются в. магнитном поле, причем угол отклонения пучка ионов зависит от отношения массы осколка или иона М к его заряду е. Ионные токи, обусловленные каждым пучком ионов, пос- ле усиления регистрируются самописцем. Положение линий на шкале масс и их относительная интенсивность являются важными характеристиками масс-спектра данного соединения. Масс-спектры изомеров различаются по относительной интенсивности линий. Относительный спектр масс хорошо воспроизводится. Все это обуслов- ливает успешное применение масс-спектров для однозначной идентификации соединений, в том числе и изомеров. [c.196]

Изображение в отраженных электронах мол<но получить и в микроскопах просвечивающего типа (напрпмер, УЭМВ-100), если, в их конструкции предусмотрена возможность наклона осветителя или отклонения пучка электронов. [c.155]

Зависимость степени предориентации от скорости обдувочного воздуха нелинейна и при малых скоростях воздуха Дге даже может уменьшаться. Это показано на рис. 5.24. Наблюдаемое снижение Ди при увеличении скорости обдувочного воздуха от О до 0,25 м/с может быть связано с сокращением области высоких градиентов скорости в зоне затвердевания. Фактором, способствующим увеличению Ди при повышенных скоростях воздуха, является отклонение пучка волокон от вертикального положения. Сила, действующая вдоль оси волокна, будет равнодействующей двух сил — силы перпендикулярного воздушного потока и трения нити о воздух при проходе вниз по шахте [76]. [c.122]

Наиболее известным зеркальным интерферометром является интерферометр Майкельсона (1882 г.) [29, 30] (фиг. 31), который псиользуется главным образом для измерения длин и исследования поверхностей. Он не очень удобен для измерений в прозрачных объектах, за исключением измерений коэффициентов рефракции газов и жидкостей. Измерительный пучок дважды пересекает исследуемый объект по различным траекториям, обусловленным отклонением пучка вследствие градиента коэффициента рефракции в исследуемом объекте. Это усложняет обработку таких интерфе-рограмм. Кроме того, интерферометр Майкельсона применяется в исследованиях тонкой структуры атомных спектров и классическом опыте Майкельсона [31]. Модифицированные зеркальные интерферометры используются главным образом для оценки оптических элементов (линз, зеркал), как, например, интерферометр Тваймана—Грина [32], аналогичный интерферометру Майкельсона, и интерферометр для определения искажений волнового фронта (Бэйтс [33]), аналогичный интерферометру Маха—Цендера. [c.76]

Установка модели. Установка углового положения модели облегчается при помощи автоколлиматора. Метод установки аналогичен показанному на фиг. 36(1). В данном случае стенка модели, которая должна быть достаточно хорошим отражателем (в противном случае к ней можно прикрепить зеркало), служит вспомогательным зеркалом М, как на фиг. 36(1). Перед стенкой устанавливается пентапризма, отклоняющая нзмерительный пучок на 90° независимо от ее положения относительно стенки модели. Отклоненный пучок света падает на стенку модели и отражается под углом 2ео относительно своего первоначального направления. Пентапризмои лучи возвращаются на траекторию измерительного пучка и образуют изображение источника света в фокальной плоскости объектива Li. Ориентация стенки регулируется до тех пор, пока изображение источника света в фокальной плоскости Li не совпадет с самим источником. [c.147]

Рис. 3.8. Иллюстрация отклонения пучка света к нормалн в результате преломления при вхождении в более плотную среду (закон Снеллиуса).

Кюветы, применяемые обычно в приборах, бывают прямоугольные, цилиндрические и полуоктагональные. Для снижения помех вследствие отражения от стенок кюветы они должны быть изготовлены из хорошо шлифованного оптического стекла. В ряде случаев, однако, такие кюветы трудно доступны. Поэтому иногда применяют конические кюветы из обыкновенного, по возможности оптически чистого и тонкого стекла. В этом случае отклонение пучка света из-за кривизны поверхности кюветы устраняется помещением кюветы в жидкость, показатель преломления которой близок показателю преломления исследуемого раствора. Отраженный стенками конической кюветы свет не попадает в поле зрения приемника. Ввиду того, что стенки конической кюветы оптически неоднородны, рекомендуется каждую кювету калибровать в термостате. Калибровка заключается в проверке симметричности рассеяния симметрично рассеивающего раствора, например щелочного раствора флоуресцеина. [c.111]

Первоначально найденрюе авторами решение [13] оказалось неверным из-за ошибки в знаке, сделанной при преобразовании уравнения коррекции в форму, более пригодную для численных расчетов в случае масс-спектрографов с одинаковым направлением отклонения пучка в обоих полях. Авторы ужо исправили эту ошибку. [c.41]

Рис. 5. Зависимости тока иопов и II+, полученных из Н2, от напряжения О (Метод отклонения пучка ионов.)

Тауберт. Да, я согласен с этим и должен признаться, что абсолютные значения кинетических энергий неточны, так как неизбежен приборный фактор, который может оказывать влияние на распределение ионов по энергиям в опытах но отклонению пучка нонов. По этой ирнчине я рассматривал только относительные значения кинетических энергий, приведенных на рпс. 10. Я согласен с тем, что абсолютные величины кинетических энергий могут быть велики, по не думаю, что расхождение при этом может доходить до десятикратного. [c.494]

Синхротронное излучение, возникающее при отклонении пучка электронов высокой энергии в магнитном поле, является самым мощным перестраиваемым источником света в верхней ультрафиолетовой и рентгеновской областях спектра. Конечно, оно постоянно возникает в синхротроне, представляющем собой установку, в которой при проведении исследований по физике элементарных частиц электроны ускоряются до очень больших энергий. Чтобы достичь таких высоких энергий электроны приходится многократно прогонять через зону ускоряющего напряжения. Такая операция называется рециркуляцией, и для ее осуществления необходимо изменять траекторию электронов, что осуществляется с помощью четрыех последовательно установленных отклоняющих магнитов, в каждом из которых пучок электронов поворачивается на 90°. Ускорение, которое необходимо для изменения направления, вызывает интенсивное излучение во всем спектральном диапазоне — от ближней ИК-области до рентгеновской. Совсем еще недавно это излучение сильно раздражало ученых, считавших его бесполезной потерей энергии. [c.214]

В монохроматорах с постоянным углом отклонения пучков как при расположении входной щели на конечном расстоянии [26], так и при освещении решетки параллельным пучком [27], линейное изменение шага решетки позволяет компенсировать дефокусировку при сканировании спектра не только при 0 70°, как в схеме Сейя — Намиока, но и при меньших углах откло нения. [c.115]

Однако даже в местах максимального почернения интенсивность отклоненных пучков по сравнению с прямым настолько мала, что для получения отчетливого отпечатка пришлось экспонировать пленку в течение нескольких суток при наибольшей допустимой мощности рентгеновой трубки (антикатод находился в раскаленном состоянии). [c.28]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология