Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Микрофотометрирование

    При использовании этой шкалы ошибка может составлять 50—100%. Для точных определений интенсивности использовать микрофотометрирование. При точных измерениях период решетки или межплоскостных расстояний для дальних линий имеет значение поправка Д к измеренным радиусам дифракционных колец  [c.107]

    Микрофотометрирование. Для определения железа в пробе кварцевого песка берут линию спектра железа Я = 2510 А. В качестве линии внутреннего стандарта берут линию в спектре кремния Я = 2503 А. При помощи планшета № 10 атласа спектральных линий находят линию кремния (элемент сравнения) I = 2503 А и линию железа X = 2510 А. На микрофотометре МФ-2 определяют величину плотности почернения 5ре линии железа и величину плотности почернения 5з1 линии кремния, затем находят их разность А5 А5 = 5ре — 5з1. [c.241]


    Для расчета кривых распределения определяются относительные значения плотностей рентгеновского почернения по кругу (рис. 4.27) путем микрофотометрирования рентгенограмм (в пределах углов от О до 180°). По измеренным значениям АВ микро-фотометрической кривой (рис. 4.28) и известной величине сдвига (в мм), соответствующей Г, вычисляется угол полушироты Н  [c.87]

    Проведя повторное исследование строения молекулы окиси бора с применением вращающихся секторов и микрофотометрирования электронограмм, Акишин и Спиридонов [10, 676] пришли к выводу, что единственной структурой молекулы В Од, которая может объяс- [c.710]

Рис. 2. Кривые микрофотометрирования рентгенограмм Рис. 2. Кривые микрофотометрирования рентгенограмм
    Спектры поглощения измеряют на фотоэлектрическом спектрофотометре (например, на отечественном приборе СФ-4) или на спектрографе с последующим микрофотометрированием. В зависимости от примененных длин волн различают оптические, ультрафиолетовые или инфракрасные спектры поглощения (стр. 56). [c.55]

    После автоматизированного микрофотометрирования, качественного анализа и ввода данных в ЭВМ проводится обычный количественный анализ на ЭВМ, который рассмотрим на примере разработанной нами программы для машин ряда ЕС. Приведенные этапы вычислений соответствуют блокам программ, каждый из которых можно пропустить или заменить другим  [c.100]

    К сожалению, с помощью применявшейся до сих пор аппаратуры нельзя измерить скорость дезактивации состояния (4 1), так как интенсивность перехода (5351- 43 1) в области 2040 А относительно невелика. Спектр поглощения на рис. 4.19 наглядно иллюстрирует образование и дезактивацию возбужденных атомов. Микрофотометрирование спектра поглощения позволило установить увеличение скорости дезактивации 5е(4 Ро) при добавлении некоторых газов. Полулогарифмические кинетические зависимости, полученные в смесях с различным содержанием азота, приведены на рис. 4.20. В табл. 4.11 собраны данные по сечениям [c.284]

    СЯ микрофотометрированием атомарных линий поглощения в ближней ультрафиолетовой области спектра. Константы скоростей некоторых процессов представлены в табл. 4.13 ). Инертные газы неэффективны в процессе релаксации иода, так как расщепление слишком велико и скорость Е—Т-релаксации пренебрежимо мала. [c.292]


    При микрофотометрировании измеряется интенсивность светового потока, который прошел через фотопластинку (фотопленку), т. е. измеряется функция пропускания, которая преобразуется в функцию плотности почернения [c.149]

    Определение относительных интенсивностей проводилось по кривой почернения, полученной микрофотометрированием марок почернения, нанесенных на пластинку с помощью вспомогательного источника света методом варьирования щели спектрографа 19, 10]. Микрофотометрирование спектрограмм производилось с помощью микрофотометра Молля. [c.251]

    Микрофотометрирование электронограмм осуществлялось на микрофотометре МФ-4 с записью на ЭПП-09. Было проверено, что при плотности почернения D<1 последняя может быть приравнена к интенсивности рассеяния электронов, т. е. D=I. [c.382]

    Эмиссионный спектральный анализ на спектрографе ИСП-28 с фотографической регистрацией включает следующие основные операции фотографирование спектра проявление фотопластинки расшифровку спектра микрофотометрирование спектральных линий для количественных определений. [c.230]

    На- рис. 4 приведены микрофотометрические кривые лля каучука и эталона-графита. Микрофотометрирование рентгенограмм проводилось на микрофотометре МФ-2, который удобен для сравнения абсолютных интенсивностей. На рис. 5 изображена дифференциальная кривая и кривая атомного рассеяния. Отношение-площади, ограниченной кривой атомного фактора и дифференциальной кривой (заштрихованная часть на рис. 5), к общей площади принято нами за величину, характеризующую степень молекулярной упорядоченности, равной [c.47]

    Получение данных путем микрофотометрирования линий масс-спектров заключается в следующем. Линии масс-спектра сканируются с заранее выбранным шагом и равной ему шириной щели микрофотометра, после чего значение оптической плотности с сгибающей-пика /) / поступает в ЭВМ. Здесь = = 1, 2,. .., п — число точек, характеризующих каждый пик, а /=1, 2,. .., к — число пиков. Набор данных Оц обрабатывают ЭВМ. При этом точки, соответствующие пику, обозначаются индексом Оц + (с + ф — сигнал совместно с фоном). Для определения фона, соответствующего каждому пику, регистрируются г точек до начала пика и г после его окончания. Значения оптической плотности, соответствующие фону, усредняются, и в дальнейшем используется средняя величина определенная по 22 точкам. Значение г выбирают с таким расчетом, чтобы выполнялось условие гЛ 75 мкм (где Л — шаг сканирования, мкм). [c.132]

    Микрофотометрирование линий рассеяния. Работа производится следующим образом. Делаются отсчеты по шкале гальванометра  [c.337]

    При осуществлении процесса каталитического крекинга важно не только общее содержание кокса на катализаторе. Для эффек-тивной работы узла регенерации большое значение имеет характер распределения кокса по сечению гранулы. Этому вопросу посвящены работы [85, 102]. Однако исследований о влиянии металлов на распределение кокса по сечению шарика катализатора, нам обнаружить не удалось. В связи с этим нами были осуществлены специальные работы. Микрофотометрированием тонких шлифов, приготовленных из шариков катализатора, которые содержали различные металлы, определяли распределение кокса по диаметру частиц катализатора. Каждый образец содержал 2 вес. % кокса. Было установлено, что кокс по сечению шарика исходного катализатора распределяется неравномерно. Максимальное содержание кокса наблюдается у внешней поверхности шарика (рис. 71, кривая 1). Исследования показали, что металлы по-разному влия- [c.163]

    Микрофотометрирование. Плотность почернения можно измерить на микрофотометре. Принцип работы микрофотометра заключается в следующем. Поток световых лучей пропускают через незачерненную часть фотографической пластинки и затем направляют на фотоэлемент, связанный с гальванометром. Определяют отклонение стрелки гальванометра ао при помощи миллиметровой шкалы. Затем поток световых лучей пропускают через зачерненную часть пластинки (фотография спектральной линии) и опять определяют отклонение стрелки гальванометра а. Предполагая пропорциональность между количеством света, упавшего на фотоэлемент, и отклонением стрелки гальванометра, получаем величину почернения  [c.228]

    В отличие от Сиссона и Кларка, проводивших микрофотометрирование рентгенограмм по кругу визуальным методом с интервалами 5 — 10°, мы разработали приспособление к фоторегистрирующему микрофотометру Цейса, синхронно вращающееся по мере поступательного движения оптического столика и автоматически регистрирующей кассеты. Таким путем нам удалось снимать сразу всю кривую распределения интенсивности для полукольца. [c.20]

    Из рис. II 1,6 следует, что после контрастирования в продуктах дробления удается наблюдать параллельные, плотно расположенные фибриллярные образования. Поперечный размер микрофибрилл можно определять как непосредственно по снимкам, так и из кривых микрофотометрирования негативов (рис. П. , в). Независимо от методик, которые применяют различные авторы, наименьший наблюдавшийся волокноподобный элемент был назван микрофибриллой. Наиболее отчетливо микрофибриллярная организация проявляется при изучении устройства стенки клеток низших водорослей Уа1ота (рис. 11.2). [c.87]


    Съемка производилась лучами меди при 24 кУ и 7—8 шА. На рис. 2 приведены кривые микрофотометрирования рентгенограмм, показывающие, что изученные препараты катализаторов различались в значительной степени по дисперсности, что видно из различий в ширине одних и тех же линий. Расчет размеров элементарных кристалликов N1 и МдО производился по методу Брилля из данных промера микрофотометрических кривых, снятых с трехкратным увеличением на регистрирующем фотометре Зигбана. [c.129]

    Опыт применения счетчика Гайгера Иелинеком, Соломоном и Фан-кухеном следует признать весьма успешным. Фотографический метод в техническом отношении вряд ли более прост, поскольку связан с применением монохроматора, специальной эвакуированной камеры и кропотливой операции микрофотометрирования. В то же время лучшие данные фотографического метода не в состоянии конкурировать с данными ионизационного метода в подобных прецизионных измерениях интенсивности. Далее, графический метод анализа экспериментальных данных, разработанный авторами, весьма важен ввиду сравнительной простоты его осуществления и неплохой точности даваемых результатов. [c.53]

    Микрофотометрирование. Для получения правильных результатов фотометрирования необходим ряд нредосторожностей при измерении почернений. Показания микрофотометра, вообще говоря, всегда завышаются за счет рассеянного света освещающей лампы, проходящего через измерительную щель прибора. Для уменьшения количества рассеянного света нужно, по возможности, сужать предварительную щель микрофотометра. При этом ширина ее изображения на экране должна быть больше, чем ширина измерительной щели. Последняя должна составлять не более 30—50% от ширины изображения измеряемой линии на экране. Дпя усреднения результатов щель спектрографа при фотографировании линейчатого спектра желательно расширить, наеколько это позволяют условия съемки. Рабочая ширина щели спектрографа ограничена ростом почернения фона и наложением изображений мешающих линий на измеряемую. С другой стороны, выбор чересчур узкой щели спектрографа может привести к ошибкам, обусловленным кривизной линий — прямая измерительная щель может частично выйти за пределы изображения линии. Последнее обстоятельство также заставляет ограничивать высоту измеряемого участка спектральной линии. Обычно для фотометрирования выбирают ширину изображения спектральной линии (на фотографической пластинке) около 0,05 мм, высоту изображения 1 мм. При этом площадь фотометрируемого участка эмульсии составляет около 0,05 мм и зернистость эмульсии практически не сказывается на результатах измерений. Необходимость уменьшить фотометрируемую площадку в 5—20 раз изменяет условия так, что ошибка, обусловленная зернистостью, может стать определяющей. [c.310]

    Микрофотометрирование препарата с помощью МФ-4 можно проводить с иммерсионным объективом, внеся соответствующие изменения в оптическую часть прибора. В этом случае измерение производят по типу цитофотометрии. Разрешающая способность такого цитофотометра повышается при использовании светофильтров или монохроматора. При этом описанные выше принципы и приемы микрофотометрирования сохраняются. [c.139]

    Источниками данных для количественного анализа являются визуальное сравнение и микрофотометрирование — измерение количества света, пропускаемого небольшими участками пластины. Размер исследуемого поля задается установкой щели. Б случае масс-спектроскопических пластин это поле должно составлять лишь небольшую часть ширины линии. Микрофотометр выдает результаты в виде значений относительного пропускания или (реже) оптической плотности. Пропускание — отношение интенсивности света, прошедшего через пластину, к интенсивности света, прошедшего через ее неэкспонируемый участок. Оптическая плотность выражается через отрицательный логарифм этого соотношения (чтобы результат был положительным). В этой главе для характеристики данных микрофотометрирова-вия вместо пропускания и оптической плотности, когда разница между ними несущественна, будет использоваться термин почернение. Экспозицией мы будем называть общий заряд, попавший иа пластину при единичной выдержке интенсивность определяется суммарным числом ионов, образовавших данную линию на пластине. Полная интенсивность всех линий ионов основы почти равна экспозиции разница представляет собой полную интенсивность линий всех других ионов, которая обычно невелика. [c.200]

    На рис. 5 приведена кривая интенсивности, полученная путем микрофотометрирования линий К[3,. магния [сплошная пиния —Кр-линия магния, пунктирная кривая —I—[Е— о) ]-Вид КРх-линии магния тиничен для эмиссионных полос истинных металлов и очень напоминает аналогичные, тщательно изученные в настоящее время, кривые для натрия и лития, поддающиеся удовлетворительной расшифровке на основе теории полусвободных электронов. Вследствие хорошей электропроводности магния необходимо предположить перекрытие двух первых энер1 етических зон этого металла, соответствующих Зх- и 3/)-энергетическим уровням в его атомах, и распределение валентных электронов в металле таким образом, что их передвижение в зоне проводимости осуществляется с достаточ- [c.40]

    Микрофотометрирование полученных спектрограмм проводилось на одной из моделей регистрирующего микрофотометра и на визуальном фотометре тина МФ-2. Необходимость использовать два прибора была связана с тем, что при достижении большой чувствительности регистрирующего микрофотометра (обесиечивавшей, однако, получение четких и лишенных флю-ктуационных помех микрофотограмм) приходилось отказаться от возможности получать на микрофотограмме линии света и темноты. В этом случае было бы невозможно проводить количественные пересчеты почернений линий на истинные интен- [c.51]

    На основании всего этого была принята следующая методика для промеров рентгеновских спектральных линий испускания. Спектрограмма получалась при весьма мягком режиме работы рентгеновской трубки, проявлялась в стандартных строго контролируемых условиях, микрофотометрировалась при увеличениях 10, 20 или 50 раз и после дополнительного увеличения промерялась под фотоувеличителем. Измеренная нри этом величина индекса асимметрии должна была совпадать с истинным его значением, а полуширина исправлялась с помощью описанных выше кривых в соответствии с измеренной на фотометре МФ-2 величиной почернения соответствующей линии. Выборочное сравнение полученных этим методом значений истинной ширины линий с шириной целиком пересчитанных кривых неизменно приводило к хорошему совпадению результатов. Во избежание систематических ошибок измерения съемка, микрофотометрирование и промеры рентгенограмм проводились в параллельных опытах в разное время и при несколько отличающихся друг от друга чувствительностях микрофотометра. Возможная ошибка в значениях нолуширины линий, промеренных подобным методом, не превышала 4—5%. При измерении индекса асимметрии она возрастала иногда до 7%. [c.61]

    Возбужденные атомы селена легко получаются при импульсном фотолизе смеси СЗег с большим избытком инертного газа, предотвращающим заметный рост температуры. Метод кинетической спектроскопии позволяет идентифицировать релаксационные процессы и измерить константы скоростей путем микрофотометрирования серии спектров поглощения. Атомы се-возникают непосредственно в акте фото- [c.282]

    Последующее совершенствование экспериментальной техники и развитие теории как прямой, так и обратной задачи метода газовой электронографии существенно повысило точность определения геометрических параметров молекул и расширило возможности метода при исследовании относительно сложных молекул. Принципиальным изменением в газовой электронографии был переход в 50-х годах на сектор-микрофотометрическую методику. Использование вращающегося перед фотопластинкой сектора уменьшило резкое затухание полной интенсивности рассеяния, что позволило микрофотометрировать электронограммьг. Без использования сектора происходит столь резкое затухание интенсивности рассеяния (на несколько порядков от центра рассеяния до периферии фотопластинки), что невозможно правильно оценить интенсивность, измеряя плотность почернения электронограмм микрофотометрированием. [c.122]


Смотреть страницы где упоминается термин Микрофотометрирование: [c.266]    [c.142]    [c.152]    [c.88]    [c.59]    [c.59]    [c.342]    [c.70]    [c.317]    [c.70]    [c.50]    [c.284]    [c.149]    [c.78]    [c.37]    [c.334]   
Смотреть главы в:

Техника и практика спектроскопии -> Микрофотометрирование

Физические методы исследования в химии 1987 -> Микрофотометрирование


Техника и практика спектроскопии (1976) -- [ c.310 ]

Техника и практика спектроскопии (1972) -- [ c.305 ]

Основы аналитической химии Кн 3 Издание 2 (1977) -- [ c.221 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте