Пятно в лучах

Когда на экране появится синее пятно луча, уменьшить яркость до минимальной поворотом ручки яркость . [c.80]

При тарировке проверялась инерционность системы путем сравнения начала и конца движения частицы в аппарате с началом и концом перемещения светового пятна луча от зеркала вибратора на экране осциллографа. Пробные эксперименты показали практическую безынерционность системы. Проводились также специальные опыты по записи пути меченой частицы в аппарате при ее вынужденном перемещении на конце штанги по различным, заранее намеченным траекториям с разной скоростью. [c.104]

В 1912 г. Дж. Дж. Томсон (который, как мы уже говорили выше, открыл электрон) подверг лучи положительно заряженных ионов неона воздействию магнитного поля. Магнитное поле заставляло ионы отклоняться, и в результате этого они попадали на фотопластинку. Если бы все ионы были одинаковыми по массе, то они все отклонились бы магнитным полем на один и тот же угол, и на фотопленке появилось бы обесцвеченное пятно. Однако в результате этого эксперимента Томсон получил два пятна, одно из которых было примерно в десять раз темнее другого. Сотрудник Томсона Фрэнсис Уильям Астон (1877—1945), усовершенствовавший позднее этот прибор, подтвердил правильность полученных данных. Аналогичные результаты были получены и для других элементов. Этот прибор, позволявший разделять химически подобные ионы на пучки ионов с разной массой, получил название масс-спектрографа. [c.167]

При помощи осветителя 2 устанавливают луч на зеркальце 5, которое укреплено на вольфрамовой нити (чтобы световое пятно изображалось на отсчетной шкале линейки). Фиксируют начальное положение светового пятна. Приводят в движение поворотный столик, вращение продолжают до тех пор, пока возрастание крутящего момента нити не приведет к разрушению межфазного слоя при напряжении, соответствующем предельному сдвигу Рт. Этот момент характеризуется максимальным отклонением светового пятна на шкале, положение которого фиксируется. [c.154]

Этот метод был применен на описанной выше установке Шейниной (см. рис. II.9). Плоская модель толщиной в одно зерно заполнялась алюминиевыми шайбами d = 8 мм, h = 3,3 мм, псевдоожижавшимися восходящим потоком жидкости — смеси глицерина с водой, — кинематическая вязкость которой изменялась от 1 до 70 сСт, а критерий Архимеда в пределах от 5-10 до 1,3-10 , т, е. почти на 4 порядка. Боковую поверхность модели закрывали черной бумагой с вырезанным в ней центральным пятном диаметра 50 мм. Стабилизированный пучок параллельных лучей от линзы конденсатора проходил через это отверстие и за моделью фокусировался на приемный фотоэлемент. В отсутствие непрозрачных шайб интенсивность проходящего пучка /q создавала пропорциональное ей напряжение Uq, которое, усиливаясь, поступало на описанную измерительную схему с блоком запаздывания и фильтром верхних частот. [c.110]

Тонкослойная хроматография [20— 22]. Разделение проводят на стеклянных пластинках, равномерно покрытых слоем активированного твердого адсорбента. На нижнюю (стартовую) линию пластины наносят капли исследуемой смеси, после чего пластину под определенным углом погружают в ванну с десорбентом так, чтобы уровень его был ниже стартовой линии. При движении фронта растворителя происходит разделение компонентов смеси. Для идентифицирования образовавшихся пятен хроматограмму проявляют с помощью тех или иных реагентов или рассматривают пластину в ультрафиолетовых лучах. Затем измеряют площадь образовавшегося пятна и Л/. Обычно величина характерна для индивидуальных соединений или групп однотипных соединений. [c.83]

Рентгенограмму текстур можно рассматривать как срез сферы проекций плоскостью по определенному направлению. Построим нормали к граням кристалликов в образце. Точки пересечения этих нормалей со сферой назовем полюсами. Проекции полюсов на экваториальную плоскость сферы образуют полюсную фигуру. Полюсную фигуру строят лишь для граней с одинаковыми индексами. Кольцо нормалей ЬЬ, образованное пересечением конуса ЬОЬ со сферой ее, представляет собой срез полюсной фигуры, характеризующей ориентировку кристалликов. Направим на кристаллик к пучок рентгеновских лучей о. Отраженный луч образует конус аОй с углом при вершине 40. Пересечение этого конуса с плоскостью фотопластинки Ф образует дифракционное кольцо аа, которое является подобным отображением среза ЬЬ. Максимумы на дифракционном кольце (пятна 1, 2, 3, 4) соответствуют максимумам полюсной фигуры. [c.366]

При приблизительно правильной установке камеры и включении рентгеновского аппарата пучок рентгеновских лучей создает на флюоресцирующем экране в выходном окне камеры зеленое пятно. Теперь требуется вывести пятно на центр экрана и добиться [c.368]

Проведение опыта. Проекционный фонарь переоборудуют, как в предыдущем опыте, для получения узкого интенсивного пучка света. Отверстие в кожухе лампы осветителя перекрывают красным светофильтром и направляют луч света на белый экран, расположенный примерно в 30 см от отверстия диафрагмы. На предметный столик перед светофильтром ставят сначала кювету с дистиллированной водой, а потом кювету с коллоидным раствором канифоли. При этом отмечают, как изменяется интенсивность красного пятна на экране. В той же последовательности проделывают все операции с двумя другими светофильтрами — зеленым и синим. [c.164]

Результат опыта. При красном светофильтре интенсивность окраски пятна на белом экране практически не изменяется при введении в луч света кюветы с золем канифоли. При зеленом светофильтре интенсивность пятна на экране уменьщается заметно больще. И, наконец, при синем светофильтре пятно на экране практически исчезает полностью при введении в луч света кюветы с золем канифоли. Следовательно, больше всего рассеиваются золем канифоли синие лучи, несколько меньше — зеленые и практически не поглощаются красные лучи, что находится в прямом согласии с законом Релея. [c.164]

ИЛИ между образцом и источником рентгеновского излучения (обратная съемка). Рентгенограммы, полученные при прямой съемке, называются лауэграммами, при обратной съемке — эпиграммами. Лауэграмма имеет вид отдельных пятен-рефлексов, расположенных вокруг пятна, оставленного первичным пучком рентгеновских лучей и группирующихся в более или менее. четко выраженные эллипсы, проходящие через центр лауэграммы (рис. 40). Эпиграммы имеют примерно такой же вид, но пятна группируются по гиперболам, которые в частном случае могут вырождаться в прямые линии. [c.79]

Для образца со степенью ориентации 300—500 % получают рентгенограмму по методике, описанной в работе VI. 2. Полученную рентгенограмму фотометрируют на микрофотометре с помощью приставки, позволяющей вращать рентгенограмму вокруг центра в горизонтальной плоскости. На экваторе рентгенограммы выбирают интенсивную дугу, расположенную возможно ближе к пятну от первичного пучка. Вращая рентгенограмму, измеряют по визуальной шкале изменение интенсивности прошедшего через рефлекс пучка света, причем измерения проводят через каждые 5°. Поскольку почернение дифракционного пятна определяется не только рассеянием рентгеновских лучей упорядоченно расположенными областями, но и некогерентным рассеянием, то фон, им обусловленный, необходимо исключить. Распределение фона на пленке от центра к периферии определяют фотометрированием по радиусу рентгенограммы в направлении, в котором отсутствуют рефлексы, обусловленные когерентным рассеянием. Фотометрирование по кругу и меридиану обязательно проводят при одинаковой настройке прибора. Почернение собственно дифракционного пятна в каждой точке дуги Еп рассчитывают по формуле [c.194]

Складывая (1.6) и (1.7), находим выражение для расстояния между пятнами от луча на экране в отсутствие и при действии поля [c.289]

Если внутрь камеры вставить экранирующий металлический цилиндр с прорезью для пропускания лучей одной (заданной) слоевой линии, а кассету с пленкой перемещать вдоль оси х синхронно с вращением кристалла, то пятна этой слоевой линии окажутся развернутыми по всей плоскости пленки. Геометрия дифракционной картины используется для определения периодичности решетки и пространственной группы симметрии, интенсивность дифракционных лучей — для расчета координат атомов. [c.204]

Облучением хроматограммы ультрафиолетовыми лучами. При этом часто выявляются контуры пятен веществ, которые обводят карандашом затем пятна вы- [c.101]

Если внутрь камеры вставить экранирующий металлический цилиндр с прорезью для пропускания лучей одной (заданной) слоевой линии (рис. 26, б), а кассету с пленкой перемещать вдоль оси X синхронно с вращением кристалла, то пятна этой слоевой линии окажутся развернутыми по всей плоскости пленки. Координата х каждого пятна будет характеризовать угол т — отклонение соответствующего дифракционного луча от плоскости, проведенной через первичный пучок и ось вращения (рис. 26, в). Другая координата 2 — величина смещения самой кассеты в процессе поворота кристалла — определит угол [c.57]

На рис. 6.3 изображена проявленная пленка. Пятно в центре картины — результат воздействия нерассеянного рентгеновского излучения, а расположенные кругами точки — результат дифракции рентгеновских лучей под разными углами на плоскостях, образованных атомами или ионами кристалла. [c.128]

При прохождении через кристалл узкого параллельного пучка рентгеновских лучей наблюдается их дифракция и интерференция (Лауэ, 1912). На регистрирующей фотопластинке кроме центрального пятна появляется большое количество пятен, расположение которых характерно для данного кристалла и угла поворота его к направлению рентгеновского луча. Схема опыта представлена на рис. 55, а фотография пятен на фотопластинке — на рис. 56. [c.102]

Благодаря сравнительно малой средней мощности луча, измеряемой ваттами, диаметр светового пятна на изделии ие может превысить 1—2 мм, поэтому лазеры на твердом теле могут применяться лишь в тех технологических процессах, которые не требуют больших затрат энергии. Это — точечная сварка мелких деталей [c.382]

Не меньшее значение придается контролю качества сварных швов. С этой целью применяют рентгеноскопию, просвечивание гамма-лучами (используется радиоактивный изотоп кобальта — способ, требующий соблюдения особых правил предосторожности), а также ультразвуковой метод. Наряду с современными способами используют старый, но достаточно надежный способ проверки плотности сварных швов с помощью керосина внутреннюю поверхность шва намазывают мелом и после высыхания на наружную поверхность кладут тряпки, пропитанные керосином. Через 2—3 ч производят осмотр если на внутренней поверхности обнаружены пятна керосина, шов имеет неплотности шов вырубают и заваривают снова. [c.169]

Положение аминокислот на бумаге можно установить и без проявления, рассматривая хроматограмму в ультрафиолетовых лучах. Пятна отчетливо флуоресцируют в ультрафиолете. [c.28]

Соединить между собой блоки прибора, включить стабилизатор в сеть переменного тока 220 В. 2. Включить тумблер накал на блоке питания. 3. Через 3 мин включить тумблер анод . 4. Когда на. экране появится синее пятно луча, уменьшить яркость до минимальной поворотом ручки яркость . 5. Подготовить к работе датчик (полярографическую ячейку), подключить его к блоку измерения. При работе с двухэлектродной ячейкой анод подключить к клемме эл. всп. , катод — к средней клемме эл. раб. . При работе с трехэлектродной ячейкой электрод сравнения подключается к нижней клемме эл. срав. экранированным проводом, а его оплетка — к средней клемме. 6. После 10 мин прогрева прибор может работать. Произвести предварительную настройку прибора, установив исходные положения переключателей (см. с. 158). Измерение тока производится в такой последовательности 1) изображение смещается в верхнюю часть экрана ручкой смещение У 2) начальный участок [c.157]

Другой широко распространенный метод исследования заключается в использовании рентгеновских лучей. Источник последних, коллимированный для уменьшения рассеивания (экстрафокальиое излучение), устанавливается на одной стороне псевдоожиженного слоя проникающий пучок лучей воспринимается фйсфоресцирующим экраном (рис. 1У-4). Газовый пузырь появляется на негативе в виде темного пятна па световом фоне, т. е. метод совершенно аналогичен медицинской рентгенографии. Огромное преимущество этого метода состоит в том, что слой может иметь любую форму и, в принципе, любые размеры, и структура его совершенно не искажается при наблюдении. Метод позволяет визуально оценивать размеры и форму пузыря в любом его положении и пол чить гораздо больше информации, чем при использовании зондов. [c.128]

Хроматографический анализ органических веществ развивался попутно с хроматографией неорганических веществ. В 1935— 1936 гг. появились первые сообщения об успешном применении метода Цвета в анализе синтетических красителей. Из жидкофазных вариантов хроматографии наиболее широкое применение в органической и биологической химии получила бумажная хроматография. Это тонкий микрометод, позволяющий разделять смеси нескольких десятков компонентов на полоске пористой бумаги, которая выполняет роль хроматографической колонки. Хроматограмма получается в виде пятен, окраска которых соответствует природной окраске разделяемых компонентов смеси. При анализе бесцветных веществ пятна проявляют, опрыскивая бумагу реактивом, образующим с разделяемыми компонентами окрашенные соединения. Например, при определении аминокислотного состава белков после их гидролиза бумагу опрыскивают раствором нин-гидрина, в результате чего на поверхности бумаги появляются пятна розового цвета, соответствующие индивидуальным аминокислотам (см. рис. 1.2). Если разделяемые бесцветные вещества обладают способностью к флуоресценции, бумагу облучают ультрафиолетовыми лучами (кварцевой или ртутной лампой) и тогда хроматограмма становится видимой. Этот случай можно наблюдать при разделении смеси антрахинонов, пятна которых в ультра- [c.9]

Метод развертки слоевых линий. Разновидностью метода вращения илп колебания монокристалла является метод развертки слоевых линий (рентгеногониометрический метод), заключающийся в съемке на движущуюся пленку лишь одной слоевой линии, пятна которой разворачиваются на всю плоскость пленки. Осуществление этого метода требует введения в конструкцию рентгеновской камеры дополнительных приспособлений для перемещения пленки и для выделения из рентгеновских лучей только одного дифракционного конуса (для последней цели используются ширмы [c.79]

В соответствии с этим применяются три различных способа рентгеновского структурного анализа. В одном из них — методе Лауэ пучок рентгеновских лучей всевозможных длин волн проходит через диафрагму и падает на поверхность кристалла под некоторым определенным углом (рис. 13). В потоке лучей всегда найдутся такие, длины которых удовлетворяют условию (а), при этом в результате отражения на фотографической пластинке, наряду с центральным пятном от непреломившегося луча, получаются симметрично расположенные вокруг него пятна, каждое из которых соответствует каким-нибудь кий. Лауэграмма (рис. 14) дает возможность определить симметрию кристалла и его ориентировку. Расшифровка лауэграмм — достаточно сложная задача. [c.57]

В отличие от призмы дифракционная решетка дает сразу несколько спектров. Действительно, свет одной и той же длины волны имеет максимум в любом из направлений, для которого выполняется условие, записанное в формуле (17). В зависимости от значения т образуются спектры разных порядков (рис. 62, а). При т = О свет любой длины волны не имеет разности фаз, и в направлении, перпендикулярном поверхности решетки ( р = 0), получается белое пятно неразложен-ного света — спектр нулевого порядка. При т = 1 разность хода для волн, идущих от соседних щелей, равна одной длине волны. По обе стороны от нулевого порядка получаются спектры первого порядка. Меньше отклоняются лучи более коротких длин волн, потому что для них разность хода, равная длине волны, получается ири меньших углах дифракции. При т = 2 образуются два спектра второго порядка и т. д. [c.90]

Рентгеноструктурный анализ основан на применении рентгенографии. При прохождении рентгеновских лучей через тонкий слой вещества наблюдаегся дифракция и интерференция лучей. На фотопленке, расположенной за объектом перпендикулярно падающему лучу, получается рентгенограмма, на которой можно видеть интерференционные кольца и пятна вокруг центрального иятна от неотклоняющегося луча. Интерференционные кольца и пятна в случае высокомолекулярных веществ могут получаться от правильного чередования одинаковых звеньев молекул, отдельные составные части которых повторяются через определенное расстояние. Это расстояние между одинаковыми элементами соседних звеньев молекул носит название периода идентичности. Ширина интерференционных полос на рентгенограмме зависит от периода идентичности чем меньше период идентичности, тем больше ширина кольца. Таким образом, ио ширине колец может быть вычислен период идентичности. [c.50]

К числу таких веществ относятся нуклеиновые основания, нуклеотиды и олигонуклеотиды, а также фенилтиогидантоиновые производные аминокислот (ФТГ-АК). Удобно наблюдать не само поглощение, а ослабление флюоресценции добавленного в сорбент флюорогена в местах расположения пятен вещества, пр исходящее в результате поглощения ими коротковолнового УФ-света, которым освещают пластинку. При визуальном наблюдении или на фотографии в лучах видимого света вещества обнаруживаются в виде темных пятен на светлом флюоресцирующем фоне. Метод позволяет обнаруживать до 0,5 мкг олигонуклеотидов в пятне и широко исполь- [c.480]

Кристаллы исключительно ценны в плане изучения строения молекул. Кристалл является своеобразным усилителем, умножающим результат рассеяния рентгеновских лучей от одной молекулы на число молекул в образце, которое имеет порядок 10 . Большое число молекул сводит к минимуму возможность разрушения отдельных молекул под действием рентгеновского излучения. При анализе рентгенограмм выделяют дифракционные пятна и пренебрегают фоном. Фон образуется за счет излучения от поврежденньк молекул или же молекул, не находящихся в узлах решетки. Хотя дефекты и нерегулярности могут быть важны, они обычно утрачиваются в ходе современного структурного анализа [24, 32]. [c.438]

Используют в осн полупроводниковые Л На высокой когерентности лазерного излучения основано применение Л для получения объемных изображений (голография) Большие мощности излучения в непрерывном и импульсно-периодич режимах и возможность фокусировки лазерного луча в пятно требуемого размера обусловливают использование Л для резки и сварки материалов, обработки и закалки пов-сти Используют в осн твердотельные Л на лю шнe циpyющиx средах, газовые Л высокого давления (Nj- Oj и Nj- O), газодинамич Л с тетовой накачкой [c.564]

Лазерная десорбция применяется для ионизации и испарения конденсир. в-в и осуществляется с помошью лазеров с модулированной добротностью, работающих в импульсном (длительностью до 30 не) или непрерывном режимах. Характер масс-спектра обычно мало зависит от длины волны (265 нм-10,6 мкм), уд. мощности (10 -10 ° Вт/см ) и длительности импульса лазерного излучения. Исследуемое в-во наносят на металлич. подложку и облучают фотонами с любой стороны в зависимости от конструкции прибора. Использование лазерных лучей разной степени сфокусированности позволяет проводить локальный анализ пробы в пятне диаметром 0,5 мкм-4 мм. [c.660]

Проявитель на фосфорную кислоту. Состоит из четырех компонентов а) раствор молибдено-вокислого аммония (1 г соли н 8 мл воды) б) соляная кислота, концентрированная в) хлорная кислота, 1 2п раствор г) ацетон. Перечисленные компоненты смешивают в отношении 8 3 3 86 (перед употреблением). Указанной смесью опрыскивают хроматограмму, которую затем высуншвают при комнатной температуре и освещают ультрафиолетовыми лучами (кварцепой лампой) в течение 30 мин. Соединения, в состав которых входят фосфатные группы, дают голубые пятна. Голубой оттенок фона можно снять нарами аммиака. [c.64]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология