Силы линий

Определяем среднюю движущую силу. Линию равновесия можно считать прямой поэтому находим среднюю движущую силу по уравнению (Х.7). [c.332]

Достигнутая в принципе взаимодействия формальная аналогия с гидростатическим законом Архимеда объясняется тем, что в случае дисперсионных сил посредником взаимодействия тел оказываются лишь близко лежащие к ним молекулы среды. В случае электрических сил данная аналогия исчезает. Так, в случае дипольных сил линию, -2 диаграммном [c.178]

Коэффициент поглощения является основной характеристикой, описывающей свойства линий поглощения, подобно понятию интенсивности в эмиссионной спектроскопии. Законы распределения коэффициента поглощения по контуру линий поглощения аналогичны законам распределения интенсивности по контуру линий испускания. Сила линий, разделение их на более сильные и более слабые, применяемое в эмиссионной спектроскопии с точки зрения их интегральной интенсивности, в равной степени относится и к интегральному коэффициенту поглощения для линий поглощения. [c.15]

Силы осцилляторов переходов и силы линий. Введем понятие силы осциллятора f yJ y J ) перехода yJ— y J, определив эту безразмерную величину соотношением [c.368]

Вследствие своей симметрии относительно начального и конечного состояний силы линии являются очень удобной характеристикой перехода. Вероятность перехода и сила осциллятора перехода связаны с силой линии соотношениями [c.369]

Понятие силы линии и силы осциллятора можно определить и в общем случае перехода между любыми уровнями у, у вырожденными с кратностью g, g [c.369]

Таким образом, суммарная вероятность перехода ySL—>-y SL определяется формулой (31.29), в которую в качестве силы линии [c.369]

Здесь а, а обозначает совокупность квантовых чисел, характеризующих термы конфигурации уу. Свойства аддитивности (31.30), (31.31) также являются важной особенностью сил линии. Соответствующие соотношения между вероятностями переходов (или силами осцилляторов переходов) более сложны. Так, из (31.29), (31.30) следует [c.370]

Ниже в этом параграфе в качестве основной теоретической характеристики переходов всюду используются силы линий. Вероятность переходов, а также силы осцилляторов можно выразить через силы линий с помощью формул (31.26), (31.27) и (31.29). [c.370]

Характеризовать переходы силами линий удобно также по той причине, что интенсивности линий пропорциональны силам линий. Действительно, интенсивность линий в спектре пропорциональна вероятности перехода и числу атомов, принимающих участие в излучении. Концентрация атомов на уровне у в свою очередь пропорциональна статистическому весу этого уровня g. Поэтому [c.370]

Зависимость силы линии от У может быть найдена в явном виде. Поскольку оператор дипольного момента D коммутирует с S, [c.370]

Это выражение удобно преобразовать таким образом, чтобы сила линии (31.33) выражалась через суммарную силу линии мультиплета [c.371]

Коэффициенты W в (31.40) нетрудно вычислить с помощ.ью формул, приводимых в 13. Для удобства вычислений в таблице 75 дается сводка формул непосредственно для факторов Q. Как будет видно из дальнейшего, функции Q(xyz xy z ) входят еш,е в ряд формул для сил линий. Этими же функциями определяются относительные интенсивности различных мультиплетов. [c.371]

Таким образом, суммарная вероятность всех переходов (а также сумма сил осцилляторов) в пределах данного мультиплета, берущих начало с уровня уУ, не зависит от У, а сумма сил линий пропорциональна (2У+1). Поэтому в тех случаях, когда относительная концентрация атомов на уровнях У , определяется отношением статистических весов этих уровней, [c.372]

Если пренебречь различием в частотах разных компонент мультиплета и положить 0)77 то эта вероятность оказывается такой же, как и в отсутствие тонкого расщепления, и определяется силой линии 6 (у51 у 81 ). [c.373]

В соответствии с (31.42) суммарная сила линии и суммарная сила осциллятора мультиплета равны [c.374]

Приближение генеалогической схемы. В приближении генеалогической схемы сила линии в соответствии с (31.38), (31.39) выражается через приведенный матричный элемент [c.374]

Как будет видно из дальнейшего, силу линии перехода 5 всегда можно представить в виде произведения на множитель 5, не [c.375]

Просуммировав (31.48) по всем переходам J—в пределах данного мультиплета, получаем силу линии этого мультиплета [c.375]

Суммирование по также выполняемое с помош.ью (31.42), дает силу линии супермультиплета ) [c.375]

Наконец, суммируя (31.50) по всем термам конфигураций I, И, получаем силу линии 5(1 И) совокупности переходов — 11, порождаемых одноэлектронным переходом п1— [c.375]

Просуммировав (31.55) по У, У, легко получить силу линии мультиплета [c.376]

Силы линий (31.63) нетрудно просуммировать по Используя [c.379]

Этим выражением определяются силы линий супермультиплетов. Просуммируем, далее, (31.64) по 5. Поскольку [c.379]

В некоторых случаях могут понадобиться суммы сил линий (31.65) только по термам конфигурации или только по термам конфи- [c.380]

Формула (31.63) для силы линии мультиплета значительно упрощается в специальном случае переходов представляющих большой практический интерес. Для таких переходов [c.380]

Таким образом, все отличие рассматриваемого перехода от перехода 1 81—>состоит в том, что в выражении для силы линии 5(уУ y J ) множитель [c.381]

Найдем также суммарную силу линии всех переходов между рассматриваемыми конфигурациями I, П. Аналогично тому, как это было сделано при вычислении (31.53), [c.383]

Таким образом, так же как и в случае LS-связи, сила линии 5(1,11) определяется той же формулой, что и для одного электрона вне заполненных оболочек. При вычислении сил линий переходов у —и т. д. можно использовать те же методы, что и в предыдущем разделе. Мы не будем проводить эти вычисления, так как они не содержат каких-либо новых моментов. [c.383]

Введем понятие силы линии электрического мультипольного перехода порядка X, определив эту величину соотношением, аналогичным (31.25) [c.392]

Точно так же суммируя по всем -переходам, получаем пол- ую силу линии супермультиплета [c.393]

Просуммировав, наконец, (32.51) по всем термам конфигурации 1, Ц аналогично тому, как это было сделано при выводе (31.52), найдем силу линии 5 (I, И) совокупности переходов п1—у п 1 [c.394]

В случае уу-связи силы линий квадрупольных переходов определяются формулами (32.55), (32.56), в которых надо положить х = 2. Коэффициенты входящие в (32.55), (32.56) при х —2 отличны от нуля при условии [c.394]

Определим опять силу линии перехода yJ—>y J формулой, аналогичной (31.25). Тогда [c.396]

Точно таким же образом проводится вычисление силы линии для многоэлектронного атома в приближении 5-связи. Оператор магнитного момента в этом случае можно записать в виде [c.396]

Полная волновая ф-ция М. в определенном квантовом состоянии при использовании адиабатич. приближения представляет собой произведение электронной волновой ф-ции на колебат. волновую ф-щ1ю. Если учесть и то, что М. в целом вращается, в произведение войдет еще один сомножитель-вращат. волновая ф-цяя. Знание электронной, колебат. и вращат. волновых ф-ций позволяет вычислить для каждого квантового состояния М. физически наблюдаемые средние величины средние положения ядер, а также средние межъядерные расстояния и средние углы между направлениями от данного ядра к др. ядрам, в т.ч. к ближайшим (валентные углы) средние электрич. и магн. дипольные и квадрупольные моменты, средние смещения электронного заряда при переходе от системы разделенньк атомов к М. и др. Волновые ф-ции и энергии разл. состояний М. используют и для нахождения величин, связанных с переходами из одного квантового состояния в другое частот переходов, вероятностей переходов, силы осцилляторов, силы линий и т. п. (см. Квантовые переходы). [c.108]

Механизмы размножения Д. (увели чения их суммарной длины в единице объема) основаны на прогибании под действием внешней силы линий Д., закрепленных на своих концах ка-кими-либо препятствиями. Таким удлинением является, напр., переход отрезка дислокации EFG, закрепленного в точках и G, в положение EF G. Притягивающиеся Д. с противоположными векторами Бюргерса, лежащие в одной плоскости скольжения, при сближении аннигилируют (рис., е). Разноименные Д. в различных плоскостях скольжения аннигилируют переползанием. Вследствие этого при высокотемпературном отжиге кристалла, способ ствующем диффузии и переползанию, плотность Д. уменьшается. Распределение Д. в деформированных кристаллах обычно неравномерно. При малой степени деформации (до 10%) они часто располагаются вдоль отдельных плоскостей скольжения, к-рые на поверхности кристалла выявляются методом избирательного травления в виде линий и полос скольжения. С увеличением степени деформации часто возникает ячеис-тая структура, выявляемая электронным микроскопом и по рассеянию рентгеновских лучей. Границы ячеек состоят из густо расположенных Д., размер ячеек обычно около 1 мкм. При размножении Д. средние расстояния между нимисокращаются, их поля напряжений перекрываются и скольжение затрудняется. Чтобы оно могло продолжаться, приложенное внешнее напряжение увеличивают (см. Деформационное упрочнение). Упрочнение кристаллов достигается также введением различных препятствий для движения Д. примесных атомов (в виде легирующих добавок), частиц второй фазы (возникающих в процессе термической обработки диффузионным путем или при бездиффузионных фазовых превращениях), двойников, радиа- [c.368]

Аллан использовал источник непрерывного спектра и спектрограф с фоторегистрацией для определения наиболее подходящих линий для железа и марганца [4] и для кобальта и никеля [5]. Пламя, содержащее исследуемый металл в большой концентрации, помещали перед спектрографом, и интенсивность полученных абсорбционных линий показывала силу линий. Дэвид этим методом изучал спектр молибдена [6]. Моссотти и Фассел использовали для редкоземельных элементов такую же систему, но вместо фоторегистрации они применяли сканирующий фотоэлектрический спектрометр [7]. [c.14]

Спектроскопический метод опирается на измерение силы линий гелия в спектрах различных объектов, и затем из теории образования спектральных линий выводится его распространённость. Для звёзд этот метод связан с некоторыми трудностями. Наблюдать линии гелия нелегко, а теоретический путь определения распространённости гелия длинный, сложный и даёт неопределённые результаты. Если эта распространённость всё же вычислена, не ясно, относится ли она только к поверхностным слоям, где образуются линии, или представляет состав всей массы звезды. Линии гелия трудно наблюдать, потому что самые сильные из них лежат в ультрафиолетовой области и поэтому не могут наблюдаться с поверхности Земли. Даже внеатмосферным наблюдениям в ультрафиолете сильно мешает поглощение, вызванное межзвёздным водородом. Чтобы существовали сильные линии в видимой области, гелий должен быть высоко возбуждён, т. е. должен находиться в поверхностных слоях очень горячей звезды. Согласно современным представлениям о звёздной эволюции, это означает, что звезда должна быть либо очень молодой, либо сильно проэволюционировавшей. Ни в одном из этих случаев нет гарантии, что измеряется именно первоначальное содержание гелия в Галактике, не искажённое последующими ядерными процессами в звёздах. [c.50]

Ранние экспериментальные исследования интенсивности полос ОН. Абсолютные интенсивности спектральных линий ОН, принадлежащих электронному переходу 2— >41, были измерены в работе [7], где определялись интенсивности отдельных линий в поглощении равновесным источником ОН служил нагретый водяной пар. Спектр наблюдался во втором порядке дифракционного спектрографа с фокусным расстоянием 6,4 м. Значение константы равновесия для диссоциации водяного пара, имеющее существенное влияние на предполагаемое число молекул ОН на нути светового луча и, следовательно, на измеряемый интегральный показатель поглощения, взято из [38, 39]. Позднее константа равновесия была найдена в работе [7], где для определения температурного коэффициента диссоциации воды использовалась сила линий поглощения ОН. Новое значение энергии диссоциации для процесса НдО—>11Н-0Н было найдено равным 118,2 4 0,7 ккал1моль, что примерно на 3 ккал1молъ выше, чем в более ранних измерениях. Это изменение константы равновесия соответствует уменьшению в 4,2 раза величины концентрации ОН, использованной нри количественных определениях интенсивности. Ранние оценки значений / для линий ОН должны быть соответственно увеличены в 4,2 раза [7]. [c.107]

Силы осцилляторов переходов удобны тем, что они безразмерны и, кроме того, удовлетворяют важным правилам сумм (см. 33). Сумму квадратов матричных элементов, входящую в (31.16) и (31Л9), принято называть силой линии перехода и обозначать [c.369]

Приближение LS-связи. Относительные интенсивности компонент мультиплета. В приближении б -связи состояние атома характеризуется квантовыми числами ySLJM, поэтому сила линии определяется выражением [c.370]

Сила линии перехода aJJJ—согласно (31.28) определяется следующим выражением [c.382]

Суммируя (31.72) по Л, можно определить силу линии муль-типлета [c.383]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология