Аналитическая кривая первичная

Таким образом, расчетный метод анализа по существу состоит в вычислении искомых концентраций с хь путем подстановки в уравнения (5.4.4.2) и (5.4.4.1) измеренной величины ДУ , а также величин с ь, АУ ь, с г, с т и ДУт, полученных с помощью корректирующего образца и первичной аналитической кривой. [c.81]

Из приведенного выше ясно, что в настоящее время едва ли имеется надежный экспериментальный материал для аналитической интерпретации угЛекислотных кривых фотосинтеза и вряд ли можно надеяться легко получить такой материал в будущем. Мы уже говорили, что, по крайней мере, два внутренних кинетических фактора могли бы сделать скорость фотосинтеза функцией давления внешней двуокиси углерода вероятная обратимость первичной ступени реакции фиксации двуокиси углерода (карбоксилирования) и конечная скорость карбоксилирования. Трудность заключается в том, чтобы отличить действие этих внутренних , или химических, факторов от действия более случайных физических явлений, связанных с движением газа внутри и вне клетки. [c.334]

Поскольку анализируемые образцы могут быть различными (пленки, осадки после испарения, растворы, порошки, массивные твердые тела), вопрос об определении единиц измерения химического состава образца требует по крайней мере краткого обсуждения. В предельном случае, когда толщина образца близка к нулю, интенсивность аналитической линии пропорциональна числу излучающих атомов в единице объема (см. выше). Повидимому, это является аргументом в пользу единиц объема. Однако такой выбор оказывается неверным в случае анализа образцов сложного состава. В этом случае независимой переменной является суммарное число излучающих атомов на пути первичного пучка рентгеновских лучей, и это число пропорционально весовой концентрации опре(деляемого элемента. Для другой предельной области — области бесконечной толщины — будет показано, что введение весовой концентрации как меры химического состава логически обосновано. Наконец, следует еще добавить, что градуировочные кривые, представляющие собой зависимость интенсивности аналитической линии от концентрации, часто нелинейны. В таких обстоятельствах, по-видимому, желательно так выбрать единицу измерения состава, чтобы калибровочная кривая была возможно ближе к прямой линии. Во всяком случае, когда используется градуировочная кривая, основанная на стандартах, выбор единицы измерения сам по себе не особенно важен, если одни и те же единицы используются как для стандарта, так и для исследуемого образца. Далее повсюду используется в качестве единицы измерения весовая концентрация как логичная простая и в общем удобная единица. [c.176]

Экстраполяцией кривой зависимости содержания первичных гидроксильных групп от молекулярного веса найден критический молекулярный вес (примерно 300), при котором содержа ние первичных гидроксилов уменьшается до 0%- Хорошее соответствие между аналитическими и расчетными величинами сохраняется лишь при значениях молекулярного веса ниже критического. Однако экспериментальные данные свидетельствуют [c.202]

На рис. 1 представлена зависимость оптимальной толщины алюминиевого фильтра от атомного номера 2. Как видно из рисунка, для получения минимального предела обнаружения необходимо увеличивать толщину алюминиевого фильтра с возрастанием атомного номера / от 23У до 47 А . Такой ход зависимости обусловлен тем, что при увеличении толщины фильтра интенсивность высокоэнергетической части первичного спектра рентгеновской трубки уменьшается слабее, нежели низкоэнергетической, что следует из кубической зависимости массового коэффициента поглощения от длины волны. Коротковолновая часть спектра ответственна за возбуждение аналитического сигнала а уменьшение интенсивности длинноволновой части спектра уменьшает вклад когерентно-рассеянной составляющей непрерывного спектра.на длине волны аналитической линии, что приводит к увеличению контрастности линии определяемого элемента. На рис. 2 представлена зависимость предела обнаружения от атомного номера элемента при оптимальной толщине алюминиевого фильтра (кривая 1) и без него (кривая 2). Из рисунка следует, что предел обнаружения при использовании алюминиевого фильтра снизился в среднем на порядок. [c.41]

Из рассмотренных выражений видно, что для построения первичной кривой ползучести по данным релаксационных испытаний достаточно найти аналитическое выражение G(t) через известную R(t), что сводится к определению резольвенты 1 ядра релаксации К. [c.78]

В методике анализа первым этапом является тщательное построение основной аналитической кривой (первичной аналитической кривой). Для этого путем многократных параллельных измерений на стандартных образцах, соответствующих по своему типу данной аналитической задаче, определяют величины ДУ для каждого значения концентрации с. При этом строго постоянными поддерживают все экспериментальные условия (возбуждение, оптические условия и т. д.). Под параллельным измерением здесь понимается полное параллельное измерение. Например, в случае металлических сплавов параллельное измерение всегда выполняется на свежеподготовленном месте поверхности анализируемого образца. Из параллельных результатов отбрасывают два наиболее расходящихся между собой и из оставшихся вычисляют ДУ. Наконец, с использованием пар величин Ig , ДУ строят первичный градуировочный график. Поскольку в визуальном методе спектрального ана- [c.301]

Из этого следует, что все значения концентраций, полученные с по-мош ью первичной аналитической кривой, имеют одинаковую по знаку и величине в относительных процентах) погреигность. Чтобы получить точное значение концентрации, ошибочное значение нужно умножить в соответствии с соотношением (5.4.4.1) на коэффициент /, поскольку с ь — f i. Истинные значения относительных концентраций отличаются от ошибочных на 100(f — 1)%. В особых случаях это различие может достигать даже 30—40% [c.79]

Погрешности, обсусловленные параллельным сдвигом аналитической кривой, можно устранить методом корректирующих образцов [1]. По существу он сводится к фотографированию на одной и той же пластинке, в дополнение к спектрам аналитических серий, еще нескольких параллельных спектров так называемого корректирующего образца. На практике два-четыре таких спектра располагают более или менее равномерно среди других спектров аналитических серий. По результатам измерения ДУ(, этих спектрограмм рядом с аналитической кривой наносят точку В с координатами ЛУ, Ig f , где ДУь —среднее значение величин ДУ ,, а с ь — концентрация в корректирующем образце. Теперь, проводя через точку В прямую линию, параллельную первичной аналитической прямой линии (а), получают пригодную для данных аналитических серий аналитическую прямую линию (б). [c.79]

Небольшие изменения отношения интенсивностей / //, могут происходить из-за изменения характеристик фотоумножителя и электроники, подсоединенной к нему. Последнее обстоятельство сопровождается приблизительно параллельным смещением аналитической кривой и изменением ее наклона. Собственное усиление и чувствительность фотоумножителей также слегка меняются во времени. Параллельное смещение аналитических кривых и изменение их наклона заставляет использовать метод корректирующих образцов. Этот метод отличается от подобного в спектрографическом анализе тем, что здесь необходимо иметь только два корректирующих образца. Один из них должен содержать элемент х в концентрации, соответствующей нижнему, а другой — верхнему участку концентрационной области аналитической кривой. Обозначим эти две концентрации (знание которых не необходимо) через с и сг. При построении первичной аналитической кривой вместе со стандартными образцами измеряют величины и [1x11 г) 2 для корректирую- [c.223]

Попл рассматривал наблюдаемую радиальную функцию распределения в интервале jR = 0-1-6 А как сумму вкладов от ближайших, вторичных и третичных соседних молекул и получил выражения для этих вкладов, а затем нашел соответствие суммы вкладов с экспериментальными кривыми распределения [243]. При этом предполагалось, что четыре ближайшие соседние молекулы распределяются в гауссовой полосе при R = Ro и выражение для их вклада содержит два параметра, определяющих положение и ширину распределения. Попл применил классическую статистическую механику и в некоторой степени аналитическую геометрию, чтобы получить выражения для вкладов от вторичных и третичных соседних молекул. Эти вклады зависят от отношения константы силы изгиба водородной связи к температуре и от числа вторичных и третичных соседних молекул в дополнение к положениям ближайших соседних молекул. Варьируя число соседних молекул, константы силы изгиба водородной связи и параметры гауссова распределения первичных соседей, Поил достиг хорошего соответствия с экспериментальными функциями распределения [243]. Наилучшее соответствие было получено со следующими значениями параметров константа силы изгиба водородной связи 3,78 10 эрг/рад , 11 вторичных и 22 третичные соседтте молекулы, а среднее расстояние между ближайшими соседями равно 2,80 А при 1,5° С и 2,95 А при 83° С. [c.171]

Анализ текстуры и расширения линий. Малоугловое рассеяние 5.1. Определение текстуры поликристаллических материалов (определения, плотность полюсов и полюсная фигура, экспериментальное определение текстуры рентгеновскими методами, в том числе фотографические методы с неподвижным и движущимся образцом, дифрактометрические методы, техника эксперимента морфологические и другие методы, в том числе оптические методы и косвенные методы интерпретация полюсных фигур и текстурных 1 арт стереографическая проекция, в том числе физический смысл параллелей, меридианов круги отражения, круги отражения для метода Шульца поправки при исследовании текстуры в проходящих и отраженных лучах). 5.2. Размеры частиц и их статистика из пиний Дебая — Шеррера (ширина линии и размер частиц, в том числе определение ширины линии, определение размера частиц, форма кристаллов, методы введения поправок к ширине линии, использование эталонов, поправка на дублет профили линий и статистика размеров частиц, в том числе аналитическое выражение и фурье-преобразование для профиля линии статистика размеров частиц, втом числе средние диаметры, отклонения и дисперсия, доля частиц с заданным интервалом диаметров, объемная статистика, функция распределения по диаметрам, выбор масштаба методы исправления профиля линии, в том числе прямые методы, методы Фурье, детальный анализ факторов расширения линии эффект конечного суммирования). 5.3. Малоугловое рассеяние (порядок величины углов для малоуглового диффузного рассеяния, единичная однородная частица, в том числе общая формула для рассеивающей способности, различные формы частиц сферически симметричная неоднородная частица, группа малой плотности из идентичных беспорядочно ориентированных частиц, в том числе общая формула, частицы различной формы, приближенная формула, закон Гинье, приближение для хвоста кривой, закон Порода эффекты интерференции между частицами для плотных групп идентичных частиц, в том числе формулы Дебая и Фурье группы малой плотности из частиц, имеющих различную форму, в том числе 1фивые Роиса и Шалла, вкспоненциальное приближение, приближение для хвоста кривой общий случай, предельная рассеянная интенсивность при нулевом угле полная энергия, рассеянная при малых углах, поправки на высоту щели у первичного луча, в том числе случай гауссовского распределения интенсивности, поправка для однородного луча с бесконечно высокой щелью, формулы преобразований). [c.324]