Почернение измерение

Количественный фотографический спектральный анализ основан на измерении относительных почернений спектральных линий гомологической пары и нахождении неизвестной концентрации по градуировочному графику, построенному в координатах lg/a// p — lg по образцам сравнения (минимум три). В образцах сравнения концентрация определяемого элемента изменяется, а концентрация элемента сравнения остается постоянной. Спектральные линии должны быть гомологичными. Переход от почернений к интенсивностям осуществляется при помощи характеристической кривой фотопластинки (см. рис. 1.10). Для прямолинейного участка характеристической кривой [c.32]

С. б. п.-шкалу, удовлетворяющую специфическим требованиям, можно получить, если сфотографировать на одной фотопластинке при одинаковых экспериментальных условиях один под другим два спектра железа. Один из этих спектров фотографируют с узкой щелью и используют для метода равных почернений. Другой спектр регистрируют с широкой щелью, что позволяет фотометрировать почернения линий. В спектре, сфотографированном с широкой щелью, отыскивают такие спектральные линии, для которых преобразованные почернения , измеренные на фотометре, точно соответствуют указанным выше значениям Р. Для изготовления с. б. п.-шкалы с помощью спектропроектора проектируют спектр железа, полученный с узкой щелью. Затем выбранные спектральные ли- [c.54]

Метод, основан на получении эмиссионных спектров анализируемого вещества на фотографической пластинке, помещенной в фокальной плоскости камерного объектива спектрального прибора (спектрографы различных типов). Спектральные линии элементов (качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента (обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров л<елеза, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [c.25]

Следовательно, разность двух величин почернений, измеренных на одном и том же диапазоне чувствительности, и частное величин пропускания, соответствуюш,их этим двум почернениям, совершенно не зависят от используемой чувствительности фотометра. [c.107]

Величину Yu желательно рассчитывать как среднее из минимальных почернений, измеренных с обеих сторон линии. Если, однако, значение у велико (например, 2—3), то на одной ступеньке фильтра невозможно измерить почернения фона и линии. В этом случае почернение фона можно измерять на той ступеньке фильтра, которую используют для измерения почернений очень слабых линий, т. е. на ступеньке с высоким пропусканием. В то же время линию измеряют на ступеньке с более низким пропусканием. Из Yt+u вычитают величину Yu, скорректированную с учетом различного пропускания использованных ступенек фильтра (АУт). [c.121]

Микрофотометры, например типа МФ-2, служат для измерения плотности почернений 5. Они снабжены линейной (миллиметровой) и логарифмической шкалами. Линейная шкала имеет диапазон делений от нуля до 1000. Так как [c.28]

Ошибки измерения почернений. Измерение интенсивностей в спектре связано с измерением почернений. Ошибки в измерениях обусловлены, с одной стороны, измерительным прибором (микрофотометром), с другой — свойствами фотопластинки. Мы остановимся только на последних. [c.104]

Точное перемещение вдоль спектра производится микрометрическим винтом 8, ири помощи которого можно измерять расстояние между максимумами почернения спектральных линий (точность измерения [c.55]

Для анализа используют спектрограф ИСП-30 (рис. 1.7). Полихроматическое излучение плазмы, проходя через шель 1, попадает на зеркальный коллиматорный объектив 2, который поворачивает лучи и обеспечивает равномерное освещение призмы 3. Разложенный по длинам волн свет собирается камерным объективом 4 в его фокальной плоскости, отражается зеркалом 5 и попадает на фотографическую пластинку 6. Одинаковое почернение спектральной линии по высоте является необходимым условием количественных измерений и получается только при равномерном освещении щели спектрографа источником излучения. Наиболее совершенна в этом случае трехлинзовая осветительная система (рис. 1.8). Линза 2 дает несколько увеличенное изображение источника света 1 на проме/куточной диафрагме 3, которая позволяет вырезать различные зоны свечения источника эмиссии, а также экранировать раскаленные концы электродов и менять интенсивность светового потока. Конденсор 4, расположенный за диафрагмой 3, проецирует изображение линзы 2 на щель спектрографа в виде равномерно освещенного круга. Линза 5 дает увеличенное изображение выреза диафрагмы 3 на объективе 7 коллиматора. Таким образом, конденсоры 2, 4 и 5 играют роль вторичных полихроматических источников света. [c.26]

Как показали эксперименты, измерение почернений линий бария отно- [c.688]

Основное достоинство метода фотометрического интерполирования заключается в том, что получаемый с его помощью градуировочный график должен быть прямолинеен, а его параметры не должны зависеть от свойств применяемой фотоэмульсии. Это обстоятельство позволяет при работе пользоваться постоянным градуировочным графиком, что существенно ускоряет анализ, особенно, если учесть, что все оценки относительной интенсивности линий выполняются визуально, при просмотре спектрограмм на экране спектропроектора. Возможно также применение метода в варианте, предусматривающем измерение почернений на микрофотометре. Производительность метода при этом, естественно, снижается, однако точность результатов возрастает. [c.120]

Построение характеристической кривой фотопластинки и измерение почернений спектральных линий представляют собой основу техники количественного фотографического спектрального анализа. По характеристической кривой определяют область нормальных почернений фотоэмульсии и производят исключение фона из результатов измерений почернения линий. Характеристическая кривая необходима также для перехода от почернений спектральных линий к их интенсивностям. Другими словами, характеристическая кривая представляет собой градуировочную характеристику фотоэмульсии, с помощью которой может осуществляться переход от измеренных почернений фотослоя к значению воздействовавшей на него энергии за время экспозиции. [c.122]

Предварительно проводят измерения почернений линий в спектре железа, снятом через диафрагму Гартмана. Для этого выводят на измерительную щель участок линии, примерно соответствующий положению первой ступеньки в спектре, снятом через ослабитель. Открывают фотоэлемент (фотоумножитель) и сканируют линию влево и вправо, останавливая сканирование в момент регистрации максимального почернения линии. Из 3—4-х произведенных отсчетов находят среднее и записывают [c.124]

Измерения почернений ступенек в спектре, снятом через ослабитель, выполняют аналогичным образом. Для фотометрирования выбирают в нужной области не менее 3-х близко расположенных линий разной интенсивности. Результаты фотометрирования сводят в таблицу (см. табл. 3.6). [c.125]

В заключение отметим ряд возможных источников ошибок при нанесении марок почернений и измерении оптической плотности почернения линий. [c.125]

В третьих, заметную роль могут играть погрешности, обусловленные свойствами фотоэмульсии. К ним относятся краевой эффект (большая скорость проявления на краях пластинки) и зернистость фотографического изображения. Последний фактор приводит к тому, что апертура пучка, прошедшего через фотопластинку при измерении почернения, оказывается больше апертуры падающего пучка и часть пучка теряется, т. е. не участвует в образовании изображения линии на измерительной щели микрофотометра (рис. 3.28). В результате вместо (1) имеет место соотношение [c.126]

Необходимо также помнить, что измерения почернений наиболее точны (погрешность примерно 0,001) в диапазоне О—1,3 единиц оптической плотности. При измерении почернений на уровне 1, единиц оптической плотности погрешность возрастает до 0,01, а при почернениях свыше 2,00 погрешность недопустима велика. - - [c.127]

Характеристические кривые можно построить для обеих сравниваемых линий (рис. 3.29,6). Тогда отношение интенсивностей /1//2 может быть определено во всем интервале изменения почернений линий, т. е. как средний результат из нескольких измерений. Параллельный ход характеристических кривых в этом случае является дополнительным доказательством корректности метода монохромной фотометрии. [c.127]

Плотность почернения. Для измерения относительной интенсивности линий аналитической пары спектр исследуемой пробы фотографируют на пластинку. На пластинке получается ряд линий, степень почернения которых зависит от интенсивности снятых спектральных линий. Коли- [c.227]

Графическая обработка измерений почернения спектральной линии в молекулярных спектрах [c.448]

Измерение почернения на фотопластинке производится с помощью микрофотометров, позволяющих измерить световой поток. Микрофотометры бывают нерегистрирующие (МФ-2) и регистрирующие (МФ-4). [c.45]

Для образца со степенью ориентации 300—500 % получают рентгенограмму по методике, описанной в работе VI. 2. Полученную рентгенограмму фотометрируют на микрофотометре с помощью приставки, позволяющей вращать рентгенограмму вокруг центра в горизонтальной плоскости. На экваторе рентгенограммы выбирают интенсивную дугу, расположенную возможно ближе к пятну от первичного пучка. Вращая рентгенограмму, измеряют по визуальной шкале изменение интенсивности прошедшего через рефлекс пучка света, причем измерения проводят через каждые 5°. Поскольку почернение дифракционного пятна определяется не только рассеянием рентгеновских лучей упорядоченно расположенными областями, но и некогерентным рассеянием, то фон, им обусловленный, необходимо исключить. Распределение фона на пленке от центра к периферии определяют фотометрированием по радиусу рентгенограммы в направлении, в котором отсутствуют рефлексы, обусловленные когерентным рассеянием. Фотометрирование по кругу и меридиану обязательно проводят при одинаковой настройке прибора. Почернение собственно дифракционного пятна в каждой точке дуги Еп рассчитывают по формуле [c.194]

Как это следует из рис. 157, величина почернения, измеренная в н правленном пучке, несколько меньше, нежели при измерении в диффу ном свете. Благодаря этому эффекту измерение почернения с помощь микрофотометров различной конструкции может давать нескольк различные результаты, в зависимости от устройства их осветительнс системы. Рассеивающее действие фотослоя проявляется далее ещё в том, что на фотоэлемент попадает не только свет, прошедший чер( [c.148]

Следующая группа работ посвящена описанию задач, наиболее часто встречающихся в технике фотографического спектрального анализа. Они включают получение навыков в построении харктеристической кривой фотоэмульсии, технику измерения почернений линий с помощью микрофотометров, освоение приемов монохромной и гетерохромной фотометрии, измерение основного параметра источника возбуждения спектров [c.93]

Важным условием получения характеристической кривой с правильным ходом является равномерное освещение щели спектрографа по всей ее рабочей высоте, по крайней мере, в пределах высоты ступенчатого ослабителя (диаметр 8 мм). Равномерность освещения щели проверяют фотографированием спектра без ослабителя, ограничивая ее по высоте в пределах 10 мм с помощью диафрагмы Гартмана. Почернение линий в пределах этой высоты спектра должно оставаться постоянным, не обнаруживая расхождения результатов измерений плотности ночернеиия на разных высотах более 0,01. [c.124]

Оценка относительной интенсивности дифракционных максимумов при фотографической регистрации проводится по степени почернения пленки, определяемой визуально или с помощью микрофотометров, принцип работы которых основан на измерении интенсивности проходящего через пленку пучка света с помощью фотоэлемента и связанного с ним гальванометра. Относительная интенсивность пиков при дифрактомелрической регистрации оценивается по высоте данного пика от точки его максимума до линии фона. Существует несколько шкал относительной интенсивности. При использовании качественной шкалы самый сильный пик оценивается как о. с. (очень сильный) или о. о. с. (очень очень сильный), а остальные пики как ср. (средний), сл. (слабый), о. сл. (очень слабый) и т. д. При использовании количественной шкалы наиболее интенсивному пику присваивается максимальный балл 10 (десятибалльная шкала) или 100 (стобалльная шкала), а интенсивности остальных ников выражаются меньшими числами в зависимости от отношения их высоты к высоте максимального пика. [c.85]

При работе фотометодом информация об интенсивности дифракционного спектра содержится в почернении фотопленки, на которой зарегистрирована соответотвуюп1 ая дифракционная картина. Для проведения измерений почернения рентгенограмм используются специальные приборы — микрофотометры — и разработаны различные методики таких измерений [3]. При ионизационном способе регистрации дифракционного спектра его интенсивность может быть измерена непосредственно но числу квантов, рассеянных в данном направлении в единицу времени. Регистрация в этом случае осуществляется с помощью счетчиков квантов и позволяет избежать фотографической обработки пленки и измерений ее почернения. Все это сокращает время проведения рентгеновских измерений. Развитие и совершенствование электронной техники, в частности, создание новых счетчиков квантов, значительно повышает чувствительность ионизационных способов регистрации дифракционной картины. [c.119]

Электронограмма паров исследуемого вещества представляет собой фотопластинку с системой диффузных концентрических колец различной плотности почернения. Заключительной стадией эксперимента является фотометрирование — измерение светопропуска-ния электронограммы по радиусу дифракционной картины. Результаты фотометрических измерений позволяют рассчитать интенсивность рассеяния электронов / в зависимости ог координаты 8=(4ту>.)зт(0/2), где X — длина волны электронов 0 — угол рассеяния. [c.279]

Пример 4. В спектроаналитических целях проведено сравнение стабильности возбуждения искры в двух генераторах различных типов. Для каждого из них по 16 измеренным величинам с 15 степенями свободы для найденных разностей плотностей почернения получили следующие средние квадратичные ошибки [c.31]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология