Ошибки измерения почернений

При фотографическом анализе сплавов большую долю в ошибку определения искомой концентрации вносит сам процесс фотометрирования (ошибки из-за неоднородности пластинок и вариаций условий проявления, а также ошибки измерения почернения), кроме того, на фотометрирование затрачивается значительное время. Поэтому усовершенствование других звеньев аналитического процесса не сказывается существенно на точности и быстроте определений. [c.240]

Ошибкой, обусловленной флуктуациями распределения зерен, можно пренебречь, если инструментальная ошибка измерения почернений превосходит флуктуационную в несколько раз. Обычные приборы для измерения почернений позволяют измерять почернения с точностью до 0,01 или при 0 = 1 — около 1%. Флуктуационная ошибка незначительна, если измеряе-л ая площадь больше 0,1 мм . Такого рода соображения позволяют выбрать [c.302]

Если сделать предположение, что относительная интенсивность линии и фона в источнике остается постоянной во времени, иначе говоря, допустив, что ошибки измерения почернений фона и фона вместе с линией близки по величине (а,,4ф = =ф = = о ), то для ошибки их разности имеем [c.52]

Это значит, что относительная флуктуация числа зерен убывает достаточно быстро с увеличением /V соответственно убывает и ошибка измерения почернений. Щель микрофотометра вырезает вполне определенный участок площади пластинки, число зерен на котором N пропорционально площади этого участка 5 [c.79]

Ошибки измерения почернений. Измерение интенсивностей в спектре связано с измерением почернений. Ошибки в измерениях обусловлены, с одной стороны, измерительным прибором (микрофотометром), с другой — свойствами фотопластинки. Мы остановимся только на последних. [c.104]

По-видимому, значительный выигрыш в чувствительности определений можно получить, применяя специальные методы обработки спектрограмм. Сейчас намечено два таких приема. Первый заключается в том. что получают ряд спектрограмм анализируемого образца (или ряд отсчетов при фотоэлектрических измерениях). На каждой спектрограмме измеряются почернения в месте нахождения аналитической линии и рядом с ней. Составляются разности этих почернений, и оценивается вероятность того, что полученные разности соответствуют некоторому содержанию элемента в пробе, а не случайной ошибке измерения почернений. [c.219]

Ошибкой, обусловленной флуктуациями распределения зерен, можно пренебречь, если инструментальная ошибка измерения почернений превосходит флуктуационную в несколько раз. Обычные приборы для измерения почернений позволяют измерять почернения с точностью до 0,01 или при Z) = 1 — около 1%. Флуктуационная ошибка незначительна, если измеряемая площадь больше 0,1 мм . Такого рода соображения позволяют выбрать измеряемую площадь так, чтобы зернистость фотоэмульсии не вводила заметных ошибок в измеренное значение почернений. [c.297]

На заводах широко применяют первый метод, сущность которого заключается в сопоставлении плотности почернения изображения дефекта на снимке с плотностью почернения изображений канавок эталона. Однако ошибка измерения по этому методу может быть весьма большой. Точнее всего по снимкам можно измерить величины пор и шлаковых включений сферической формы. При этом для оценки чувствительности метода следует пользоваться проволочным эталоном. В целом методики измерения глубины залегания дефектов и их протяженности в глубину шва при радиационном контроле нуждаются в дальнейшем совершенствовании. Поэтому при расшифровке дефектов по радиографическим снимкам оператор может дать о них лишь ограниченные сведения. [c.131]

При фотометрировании спектральных линий по высоте приходится измерять почернения очень небольших участков спектрограмм. Чувствительность микрофотометра МФ-4, который мы использовали, оказывается в этом случае недостаточной. Приходится увеличивать ширину и высоту измерительной щели, что приводит к большим ошибкам в измерениях почернений. Для повышения чувствительности микрофотометра (на несколько порядков) можно заменить в нем фотоэлемент на фотоумножитель по схеме, приведенной на рис. 3. При такой замене прибор сохраняет высокую стабильность, а его чувствительность легко регулируется грубо — напряжением, подаваемым на фотоумножитель, и плавно — введением ослабителей, имеющихся в приборе. [c.200]

Кайзер [30, 31] впервые предложил четкую формулировку понятия предела обнаружения элемента в спектральном анализе. По его критерию, при фотографическом методе анализа аналитическая линия может быть обнаружена на сплошном фоне спектра, когда разность почернений линии вместе с фоном и фона вблизи нее будет превышать максимальную ошибку измерения величины этой разности [c.202]

Главными источниками ошибок в спектральном анализе являются 1) неоднородность проб ог, 2) неоднородность свойств и условий обработки фотопластинок сгг 3) ошибки фотометрирования (измерения почернений спектральных линий) Оз 4) нестабильность горения источника света 04. [c.160]

Поскольку экспериментально измеряемыми величинами при пользовании этой формулой являются оптические плотности почернения, а остальные величины, входящие в нее, могут быть определены независимым путем, то, очевидно, ошибки измерения зависят в основном от погрешностей фотометрирования спектрограмм. Согласно литературным данным, оптическая плотность почернения может быть определена с погрешностью, составляющей 0,001 единицы почернения. [c.125]

Техника работы с фотопластинкой. Одним из основных требований, предъявляемых к фотопластинкам, используемым при количественных анализах, — это достаточная контрастность их. Одни и те же ошибки в измерении почернений будут давать тем меньшие ошибки в определении интенсивности линий, а следовательно, и в определении концентрации элемента в пробе, чем больше фактор контрастности [c.136]

Систематическая ошибка может быть связана с ошибкой в измерении аналитического сигнала. В этом случае ее можно уменьшить, увеличив наклон градуировочного графика путем подбора соответствующих условий. Например, при фотографической регистрации наклон градуировочного графика, построенного в координатах 5—1 С, определяется коэффициентом контрастности у. Используя более контрастные пластинки, мы уменьшаем ошибку в измерении концентрации при той же ошибке в измерении почернения (см.рис- 119). [c.217]

Впервые такое определение предела обнаружения в спектральном анализе было четко сформулировано Кайзером В своих вычислениях Кайзер исходил из того, что аналитическая линия может быть обнаружена на сплошном фоне спектра всегда, когда разность почернений линии вместе с фоном и фона вблизи нее будет превышать максимальную ошибку измерения величины этой разности. При вычислении относительной чувствительности Кайзер принимал во внимание лишь ошибку, вызываемую флуктуациями почернения фотопластинки, В действительности фотографические измерения интенсивностей отягощены совокупностью ошибок, одной из которых является ошибка, вызванная флуктуациями почернений. Представляется более рациональным при определении предела чувствительности исходить из всей совокупности возможных ошибок. Соответствующее рассуждение приведено ниже. [c.50]

Пусть ошибка измерения разности почернений тогда [c.51]

Ошибка измерения разности почернений может быть определена непосредственно путем измерения на ряде спектрограмм разности почернения аналитической линии фон и фона вблизи этой линии прн некоторой концентрации С, при которой [c.51]

Следует иметь в виду, что ошибка в измерении почернения фона или линии вместе с фоном может вызываться свойствами измерительной аппаратуры, а также свойствами самого источника — флуктуациями интенсивности фона и линии в нем. [c.62]

Влияние зернистости пластинки на результат измерения почернений иллюстрируется рис. 15. Фотометрируемая площадка, вырезаемая щелью микрофотометра, имеет размеры 0,025 мм . Как видно из рисунка, число зерен, приходящееся на эту поверхность, заметно отличается для разных сортов пластинок. Степень зернистости несколько зависит также от способа обработки фотослоя при проявлении. Влняние зернистости пластинок на ошибку фотометрирования изучалось в ряде работ [56.68]. Было подтверждено, что величина этой ошибки [c.81]

Можно показать, что при выбранной экспозиции (Е) ошибка 1В измерении почернения (с18) пропорциональна фактору контрастности фотоэмульсии (у)- Действительно [c.59]

В выражение для светосилы по потоку, как мы уже упоминали, входит угловая высота щели, не входящая в выражение для светосилы по освещенности. Действительно, величина освещенности не зависит от угловой высоты щели, но точность измерения почернения фотопластинки непосредственно связана с высотой спектральной линии (а следовательно, с угловой высотой щели). При очень малой высоте спектральной линии точность измерений надает, так как в погрешности начинают играть определяющую роль статистика зерен фотоэмульсии и недостаток света нри производстве фотометрических измерений. Наоборот, высокие спектральные линии позволяют сделать несколько измерений почернения на разных высотах и тем самым снизить ошибку измерения их интенсивностей. [c.69]

Таким образом, проведя вместо одного п измерений, мы можем в У п раз увеличить относительную чувствительность анализа. Как это практически сделать, зависит от применяемого метода измерений при фотографическом методе можно получить ряд спектрограмм или проводить измерения почернений на разных участках изображения щели, при фотоэлектрическом методе можно проводить усреднение по ряду отсчетов либо удлинять время экспозиции, увеличивая постоянную времени регистрирующего устройства. Выбор того или иного способа усреднения результатов измерений зависит от условий опыта и от того, какие факторы главным образом ответственны за ошибку измерений если главную роль играет зерно фотопластинки, то усреднять нужно по ее площади, наоборот, если ошибка в основном определяется неоднородностью проб, то нужно производить усреднение по ряду анализов, используя дли них разные участки пробы. [c.143]

Опреде- ляемый элемент Аналитическая линия. 1 Место измерения почернения фона Чувствитель-ность определения, 10 % вес. Относительная ошибка , % [c.234]

Интенсивность линий зависит также от режима работы источника возбуждения, скорости испарения пробы, освещения щели спектрального прибора и других причин. При случайных изменениях этих условий меняется интенсивность линий, в связи с чем количественный анализ, основанный на измерении абсолютной интенсивности, недостаточно точен. Для получения количественных определений с меньшей ошибкой пользуются отношением интенсивности линий определяемого элемента и элемента сравнения (внутреннего стандарта), вводимого специально в анализируемую пробу в определенном количестве. Пару линий, используемую в количественном спектральном анализе, — линию определяемого элемента и линию элемента сравнения — называют гомологической или аналитической парой. Для измерения относительной интенсивности линий аналитической пары спектр исследуемой пробы фотографируют на пластинку. При этом получают ряд линий, степень почернения которых на фотопластинке зависит от их интенсивности. Количественно почернение фотопластинки принято измерять величиной плотности почернения (5), которую вычисляют по, формуле [c.324]

Интегрированные интенсивности рамановских линий для данной формы, по-видимому, пропорциональны ее концентрациям, и поэтому измерения интенсивности могут привести к количественной оценке равновесия в растворе [127, 168, 169]. Сразу же после открытия рамановского эффекта Pao [126] попытался вычислить константу диссоциации азотной кислоты с помощью этого метода. Однако в работе Pao и в других аналогичных исследованиях [127] в течение десятилетия (1930—1940 гг.) не был точно определен коэффициент пропорциональности между интенсивностью и концентрацией, Редлих и сотрудники более успешно исследовали азотную [128] и хлорную [129] кислоты, хотя этот метод осложняется использованием фотографических пластинок. Затруднения возникают из-за логарифмических показаний пластинок, и нельзя предположить, что почернение пластинки пропорционально интенсивности. Даже если, например, концентрация нитрат-ионов в азотной кислоте определяется, путем подбора раствора нитрата натрия с одинаковой интенсивностью главной рамановской линии нитрат-иона, то возникают большие ошибки в результате уширения линии. Совершенно ясно, что надежны только фотоэлектрические измерения рамановских интенсивностей [163, 169]. [c.344]

Влияние флуктуаций излучения в источнике света, дрейфа чувствительности фотоприемников и ошибки измерительного устройства может быть практически устранено модуляцией светового потока от линии периодическим сканированием спектра в окрестности линии с последующей регистрацией полученного переменного сигнала на частоте модуляции. Экспериментальная проверка этого способа [3.2] показала возможность зарегистрировать линии, интенсивность которых в 500 раз меньше интенсивности фона. При фотографической регистрации инструментальная ошибка микрофотометра при измерении разности почернений составляет 0,001—0,002 по шкале почернений. Такой точности, как правило, достаточно. Если же ее необходимо повысить, то достичь этого можно периодическим сканированием близких участков спектрограммы и измерением периодического сигнала на частоте модуляции. [c.29]

Клиновые ослабители известны давно [1 ], однако определение точек одинакового почернения пары линий производилось визуально поэтому получаемая точность была невысока (порядка 10%). Применение фотометрического кубика позволило [21.6— 21.8] снизить ошибку при измерении интенсивности пары линий до 4—5%. Применение фотоэлектрического микрофотометра позволит еще более повысить точность измерений. [c.191]

Другим возможным источником ошибки в спектрографических определениях является дискриминация, возникающая вследствие различных траекторий движения ионов разных масс. Ошибка может быть внесена и при калибровке фотопластинки. Воздействие света или рентгеновских лучей на пластинки отличается от воздействия положительных ионов [76]. Поэтому при калибровке обычно используется образец с известным изотопным составом, и линии эталонного и изучаемых образцов возникают на пластинке одновременно. Например, медь (которая обладает изотопами с массами 63 и 65) изучали в присутствии цинка. Относительная распространенность изотопов цинка была определена ранее на масс-спектрометре, и эти данные использовали для калибровки каждой экспозиции в интересующем диапазоне шкалы масс. Точность, достигаемая при подобных измерениях, равна 0,3%. Относительное содержание нескольких изотопов в элементе, используемом в качестве калибровочного, как это у называлось выше, может быть установлено непосредственно при помощи большого числа экспозиций различной продолжительности. Для линии данного изотопа строится кривая почернения, и путем сопоставления времени, необходимого для получения определенной плотности линий различных изотопов, устанавливается их относительная распространенность. Боль- шинство элементов впервые было исследовано этими двумя методами. Ошибки возникают из-за нелинейной зависимости между почернением и экспозицией, а также из-за неравномерной плотности линий на пластинке. Это связано с трудностью оценки интегральной экспозиции, когда почернение не является ее линейной функцией. Чувствительность фотопластинок, используемых в масс-спектрографии, изменяется даже по длине данной пластинки. Для того чтобы, обнаружить и исключить ошибки, вызываемые этим фактором, для каждого спектра обычно несколько раз повторяют экспозиции. [c.73]

По установившейся традиции часто стремятся достичь почернений, лежащих в области прямолинейной части характеристической кривой. Как следует из вышеизложенного, для измерения малых световых потоков это-нецелесообразно. Переходить на прямолинейную часть характеристической, кривой следует только, когда основную роль играют измерительные, а не флуктуационные ошибки. [c.296]

Определение брома с примоненпем полого катода [30]. Для анализа используют разрядную трубку из молибденового стекла, имеющую два ввода из молибденовой проволоки. В пробку трубки, которая благодаря вакуумной смазке шлифа свободно вращается, впаяны шесть стерженьков из молибдена диаметром 1,2—1,5 мм, на которых укреплены полые катоды из нержавеющей стали. Молибденовые стержни контактируют с пружинящей никелевой пластинкой, укрепленной на вводе из молибденовой проволоки. Анодом служит никелевая пластинка. Изображе-нпе полого катода проектируется однолинзовым конденсором на щель спектрографа ИСП-51 с камерой Р= 210 мм. Спектр фотографируют на пластинку микро . Время экспозиции 2 мин. В полость катода вводят 0,2 мл анализируемого раствора, который выпаривают нри 90—95° С, вакуумируют трубку до 10 —10 мм рт. ст. и заполняют гелием до 15 мм рт. ст. В качестве источника тока применяют два выпрямителя типа УИП-1, соединенных последовательно. Напряженпе выпрямленного тока 1200 в, ток разряда 250 ма. Разряд в полом катоде очень стабилен, и это позволяет строить градуировочный график в координатах абсолютное почернение линии 481,671 нл — логарифм концентрации бромида в растворе. Средняя относительпая ошибка измерения 20—25% [c.148]

Анализ шлаков и агломератов. Определяют содержание SIO2, СаО, Ре бщ. в пределах от нескольких процентов до нескольких десятков процентов, а содержание МпО, MgO, AljOg в пределах от нескольких десятых до 10—20%, пользуясь линиями атомных спектров соответствующих металлов и кремния. При построении градуировочных графиков по оси абсцисс откладывают концентрации или логарифмы концентраций их окислов в эталонах. Обычно точный анализ характеризуется относительной квадратичной ошибкой 2—5% в зависимости от определяемого элемента. Анализ продолжается 0,5 ч с применением фотометрического интерполирования или же 2 ч с измерением почернений микрофотометром. Для экспрессного анализа часто прибегают к фотоэлектрической регистрации продолжительность анализа 7—15 мин. [c.257]

Микрофотометрирование. Для получения правильных результатов фотометрирования необходим ряд нредосторожностей при измерении почернений. Показания микрофотометра, вообще говоря, всегда завышаются за счет рассеянного света освещающей лампы, проходящего через измерительную щель прибора. Для уменьшения количества рассеянного света нужно, по возможности, сужать предварительную щель микрофотометра. При этом ширина ее изображения на экране должна быть больше, чем ширина измерительной щели. Последняя должна составлять не более 30—50% от ширины изображения измеряемой линии на экране. Дпя усреднения результатов щель спектрографа при фотографировании линейчатого спектра желательно расширить, наеколько это позволяют условия съемки. Рабочая ширина щели спектрографа ограничена ростом почернения фона и наложением изображений мешающих линий на измеряемую. С другой стороны, выбор чересчур узкой щели спектрографа может привести к ошибкам, обусловленным кривизной линий — прямая измерительная щель может частично выйти за пределы изображения линии. Последнее обстоятельство также заставляет ограничивать высоту измеряемого участка спектральной линии. Обычно для фотометрирования выбирают ширину изображения спектральной линии (на фотографической пластинке) около 0,05 мм, высоту изображения 1 мм. При этом площадь фотометрируемого участка эмульсии составляет около 0,05 мм и зернистость эмульсии практически не сказывается на результатах измерений. Необходимость уменьшить фотометрируемую площадку в 5—20 раз изменяет условия так, что ошибка, обусловленная зернистостью, может стать определяющей. [c.310]

Количественные выражения, связывающие величину погрешности (й / Ул/Л л) > вносимую при измерении интенсивности линии, с фактором зернистости эмульси И (а — площадь проекции зерна фотоэмульсии), величиной почернения (5л) и площадью фотометрируемого участка (Л), рассмотрены в статье 2. Авторами показа]ю, что относительная Квадратичная ошибка измерения яркости линии в отсутствие фона состав [c.58]

Так как в рентгеновской области спектра справедлив закон взаимозаменяемости интенсивности излучения и времени экспозиции, можно для каждой из стандартных смесей вычислить эффективные времена экспозиции, которые соответствуют точному равенству интенсивности спектральных линий на всех эталонных спектрограммах. Эти данные позволяют построить градуировочный график зависимости содержания анализируемого элемента в пробе в атомных процентах от величин, обратных времени экспозиции. Один из таких графиков представлен на рис. 85. С его помощью можно достаточно точно и быстро определять содержание элемента в пробах, в которых его количества изменяются в ограниченных пределах. В тех случаях, когда содержание определяемого в пробе элемента настолько мало, что использование фотометра для измерения почернений характеризующих его линий затруднительно, описываемым методом можно тем не менее осуществить количественное определение элемента с достаточной точностью. Для этого снимают спектрограммы испытуемой пробы и эталона и подбирают такие экспозиции, чтобы на каждом из снимков линии анализируемого элемента оказались бы на пределе видимости. После этого, зная содержание элемента в эталоне и экспозиции, в течение которых в обоих случаях линии оказались на пределе видимости, можно определить содержание элемента в пробе из условия = onst, где с —концентрация элемента в процентах, at — время экспозиции. Ошибка в определениях при малых содержаниях элемента, близких к пределу чувствительности рентгеноспектрального метода анализа, может быть таким путем значительно снижена и, как показывает опыт, доведена до величины порядка 10—15% от определяемой величины. При этом следует особенно следить за чистотой анода рентгеновской трубки и проверять ее при переходе от одного опыта к другому путем съемки контрольных спектрограмм. При работе с различными образцами следует анализировать сначала те из них, которые содержат меньшие количества определяемого элемента. [c.140]

Пример 4. В спектроаналитических целях проведено сравнение стабильности возбуждения искры в двух генераторах различных типов. Для каждого из них по 16 измеренным величинам с 15 степенями свободы для найденных разностей плотностей почернения получили следующие средние квадратичные ошибки [c.31]

Это означает, что принцип релятивизации, или разностного измерения, позволяет исключить в криоскопии как систематическую погрешность градуировки, так и систематическую реактивную (примесную) ошибку. Принцип вычитания аналитического сигнала холостой пробы или фона используется во всех инструментальных методах. Такая коррекция фона исключительно важна при прямом анализе млогокомпонентных смесей (без предварительнога разделения), особенно при работе вблизи предела обнаружения, где сигналы фона и определяемого компонента соизмеримы. Коррекцию фона проводят либо непосредственно в ходе измерения сигнала анализируемого компонента, регистрируя интенсивность фонового сигнала рядом с основным, как это делается, например, в эмиссионном спектральном анализе. Так, при фотографической регистрации измеряют разность почернений [c.40]

Решение. Отметим прежде всего, что плотность почернения 5 = /ф//я (/ф — интенсивность светового потока, проходящего через незасвеченную ( фон ), /л —через зачерненную ( линию ) часть фотопластинки) измеряют на микрофотометре, причем погрешности, допускаемые в оценке значений, весьма значительны. Это связано с тем, что исходный сигнал многократно преобразуется при последовательно протекающих физических и химических процессах, характеризующихся не вполне стабильными (флуктуирующими) параметрами (см. 2 гл. II). В частности, заметными флуктуациями характеризуется распределение светочувствительного слоя вдоль поверхности фотопластинки. Поэтому измерение плотности почернения 5 отягощено значительными ошибками ( 5—10%). [c.124]

В случаях, когда точность измерения энергии определяется флуктуаци-онной ошибкой числа проявленных зерен, можно рекомендовать доводить-плотность почернения фотослоя до 0,3—0,4, т. е. до области максимума эквивалентного квантового выхода. Это обеспечит максимальную точность энергетических измерений. Если время, которое мы можем затратить на экспозицию, допускает получение существенно больших почернений, рационально использовать его на получение нескольких спектров, каждый из которых имеет плотности почернения, приблизительно соответствующую максимальному эквивалентному квантовому выходу. Это обеспечит большую точность измерений, чем получение одного спектра с увеличенной экспозицией. [c.296]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология