Спектроскопия ионная

Теория поля лигандов ведет свое начало с работы Ван-Флека, выполненной в 30-х годах и посвященной спектроскопии ионов [c.249]

Спектроскопия ультрафиолетовых фотоэлектронов дифракция медленных электронов спектроскопия Оже-электро-нов спектроскопия ионной нейтрализации спектроскопия начального потенциала ионного источника [c.151]

При взаимодействии атомов металлоидов, например Н, О, 8 и Ы, с поверхностью характер связывания различается. Для атомов Н, 5 и N связывание, несомненно, имеет существенно ковалентный характер. Кислород же в определенных условиях, как установлено, заряжается отрицательно. Почти всегда задача осложняется недостаточным знанием объемной конфигурации системы адсорбат—адсорбент. Тем не менее хорошо известно, что изменение работы выхода металла при такой адсорбции никогда не превышает 2 эВ. Поэтому, если только адатом не расположен очень близко к плоскости поверхностных атомов металла, так что эффективная длина связи поверхностного диполя в направлении, перпендикулярном поверхности, очень мала, изменение работы выхода не согласуется с предположением об образовании адсорбированных ионов. Однако, по крайней мере в одном случае, а именно при адсорбции кислорода на грани (100) никеля, близкое к ионному состояние весьма вероятно. Перегруппировка поверхностных атомов никеля способствует тому, что адатом располагается почти в одной плоскости с поверхностными атомами металла, и данные метода спектроскопии ионной нейтрализации, или СИП (относительно орбитальной энергии кислорода), показывают наличие у кисло-рода значительного отрицательного заряда [21]. [c.24]

Рентгеновская спектроскопия Ионы и образуют в жидкости регулярную или [c.198]

Спектроскопия ион-циклотронного резонанса [c.216]

Под влиянием пересекающихся магнитного и электрического полей ионы описывают циклоидальную траекторию с частотой (1)с=еУ/т и имеют скорость направленного движения и = У1Н, где V — напряжение электрического поля, Н — напряженность магнитного поля, т — масса иона, е — заряд иона (рис. 5.18). Положительные и отрицательные ионы подчиняются одним и тем же законам и различаются только направлением вращения, В спектроскопии ион-циклотронного резонанса ионы образуются в открытом ионном источнике (не имеющем выходных щелей) и затем под действием пересекающихся электрического и магнитного полей перемещаются через анали- [c.216]

В виде полного ионного тока. Так как движение ионов совершается по достаточно протяженной циклоидальной траектории, время их прохождения через анализатор составляет 5—10 мс при длине анализатора всего несколько сантиметров. Время такого пролета ионов в масс-спектрометрах других типов измеряется микросекундами. Большое время пролета в спектроскопии ион-циклотронного резонанса обусловливает повышение вероятности ион-молекулярных столкновений, которые могут происходить до попадания ионов на коллектор. Благодаря этому становится возможным исследование ион-молекулярных реакций. [c.217]

Метод спектроскопии ион-циклотронного резонанса позволяет измерять спектры отрицательных ионов так же легко, как и положительных. Интересным приложением этого метода является измерение электронного возбуждения молекулы при взаимодействии с электронами низких энергий. На схеме (5.15) показан захват электронов с энергией е молекулами ЗРе содержание ионов 5Рб определяется методом спектроскопии ион-циклотронного резонанса. В присутствии других молекул (М) [c.220]

Значения сродства к протону могут быть получены при использовании метода спектроскопии ионного циклотронного резонанса, хотя их достаточно трудно получить, поскольку в случае кислородсодержащих оснований они были недавно [31] модифицированы приблизительно на 42 кДж-моль по сравнению с первоначальными значениями [32]. Эти значения приведены в табл. 4.3.6. [c.302]

Основы ИЦР-метода разделения изотопов. При ретроспективном взгляде на развитие этого метода приходится удивляться тому, что его разработка началась так поздно. Необходимые сведения об ИЦР в плазме были получены уже к началу шестидесятых годов [И]. К тому же именно в шестидесятые годы начала развиваться спектроскопия ионного циклотронного резонанса [12], дополнявшая электромагнитную масс-спектрометрию. [c.309]

В связи с установлением большого значения растворителя при ионизации фенолов методом импульсной спектроскопии ионного циклотронного резонанса было изучено влияние заместителей на константу равновесия следующего процесса в газовой фазе [44, 1973, т. 95, с. 8462] [c.106]

Посвящена теории и практике новых эффективных методов изучения структуры и свойств макромолекул и полимерных веществ, позволяющих решать вопросы, недоступные для решения традиционными методами исследования. Рассматриваются методы шумовых эффектов, напряженной масс-спектрометрии, неупругой электронной туннельной спектроскопии, ион-рекомбинационной люминесценции и др. [c.262]

Спектроскопия ионного рассеяния (СИР) [c.271]

Следует подчеркнуть, что условность определения адгезионного и когезионного разрушения объясняется (наряду с другими причинами) разрешающей способностью методов исследования и характером наблюдаемых образований. Так, разрушение соединений титана и алюминия на эпоксидном клее известными методами было охарактеризовано как адгезионное, но использование спектроскопии ионного рассеяния и масс-спектрометрии вторичных ионов показало [174], что на образующейся в результате разрыва поверхности адгезива присутствует вещество субстрата, а на поверхности субстрата — вещество адгезива. [c.80]

Назовите области применения спектроскопии ион-циклотронного резонанса. [c.56]

Спектроскопия ионной нейтрализации (СИН) [c.168]

Для изучения процесса гидролиза нами были использованы различные физические и физико-химические методы спектроскопия, ионный обмен, электропроводность, рН-метрия и т. д. [c.221]

На рис. 2.9 показан спектр электронов с поверхности вольфрама, причем максимум при -0,35 эВ соответствует высокой плотности поверхностных состояний, которая изменяется после адсорбции. Для разных граней Rh, Pd, Ir и Pt были также получены максимумы электронной плотности при 0,31 эВ. Так, для граней (100) и (ПО) Pt эти данные хорошо соответствуют расчетам для орбиталей, образующих <2р-зону при 0,35 эВ ниже уровня Ферми. Максимум плотности поверхностных состояний наблюдается почти во всех случаях ниже уровня Ферми. Спектроскопия ионного проектора отражает состояние вакантных электронных уровней и зон на поверхности. Так, для вольфрама методом спектроскопии электронного проектора наблюдались незаполненные локализованные состояния на поверхности вольфрама до 4 эВ выше уровня Ферми. [c.129]

Спектроскопия Оже-электронов спектроскопия рентгеновских фотоэлектронов спектроскопия. характеристических потерь спектроскопия ионного рассеяния спектроскопия масс вторичных ионов термиче-скр1- и электронно-стимулированная десорбция Дифракция медленных электронов сканирующая э/юктронная микроскопия Дифракция медленных электронов спектроскопия характер.чстических потерь [c.151]

Изучение структуры реакций ионов в газовой фазе методом спектроскопии ион-циклотронного резонанса (ИЦР) вызьшает большой интерес. После того как Болдшвилер и соавторы [П в популярной форме описали технику этого метода, в литературе появилось более 150 публикаций по этому вопросу и в том числе ряд обзорных статей [2—4]. Поэтому мы не ставили своей задачей дать исчерпывающий обзор этой области, а старались лишь очертить возможности метода и указать на химические проблемы, для решения которых [c.349]

Исследование ион-молекулярных реакций методом спектроскопии ион-циклотронного резонанса представляет исключительный интерес для органической масс-спектрометрии, так как может дать значительную информацию о структуре ионов. Использование метода в указанных целях можно проиллюстрировать простым примером. Предполагается, что ион, образующийся при распаде гексанона-2 с перегруппировкой через шестичленное переходное состояние, представляет собой енольную форму ацетона [(1) на схеме (5.13)]. Считается также, что ион, образующийся в результате простого разрыва при фрагментации метилциклобутанола (2), имеет ту же структуру (1). Названные фрагментные ионы подвергались [c.218]

Если бы можно было записать масс-спектр без иона А+ (или Х+), то удалось бы оцепить относительный вклад этих реакций в образование иона С+. В спектроскопии ион-циклотронного резонанса такую оценку можно сделать путем удаления ионов А+ (или Х+) из анализатора с помощью осциллирующего электрического поля, ири- [c.223]

Для обнаружения карбонийнонов используют в основном спектральные методы, в частности э,лектронную снектроскопию. Электронная спектроскопия является наиболее точным методом для количественного определения карбониевых ионов. Однако имеющиеся в настоящее время данные по электронной спектроскопии ионов карбония относятся к стабильным иоиам и не касаются реакционноспособных. К последним относятся алкильные ионы, которые обладают малым временем жизни и поглощают в очень коротковолновой и труднодоступной области (<210 нм). Алкильные катионы претерневают мгновенные превращения в более стабильные соединения. Учитывая карбонийнон-ный характер этих соединений, мы сделали попытку изучить закономерности взаимодействия с нуклеофильными кислотами именно на примере вторичных, более стабильных карбкатионов, которые имеют характерные полосы поглощения. [c.27]

Предложен сравнительно простой метод определения алкил-бензолсульфонатов в воде методом ИК-спектроскопии. Ионный ассоциат, образованный метиленовым синим и активным к нему анионом, извлекают 1,2-дихлорэтаном. Измеряют оптическую плотность экстракта при 655 нм и находят концентрацию анионов. Аликвотную часть экстракта подготавливают для ИК-спектроскопии и измеряют пропускание при 890 Затем при 1010 см измеряют пропускание ионного ассоциата метиленового синего с алкилбензолсульфонатом. Отношение высоты пика при 1010 см к высоте пика при 890 пропорционально отношению концент- [c.235]

Метолом импульсно спектроскопии ионного циклотронного резонанса было нзуче и влияние заместителей на константу рав-новесия следующего процесса в газовой фазе [44, 1973, т. 95, с. 84621 [c.110]

Метод спектроскопии ионной нейтрализации, разработанный Хагструмом [12], является ветвью оже-спектроскопии. В СИН исследуемое вещество бомбардируют вместо электронов или фотонов моно-энергетическими ионами благородных газов. Ионы нейтрализуются, захватывая электроны с поверхностного слоя, а высвобождаемая при этом энергия оказывается достаточной для выброса оже-электрона. Спектроскопию ионной нейтрализации, по-видимому, можно считать истинно поверхностным методом исследования [7, 15]. Она использовалась для очистки металлических поверхностей с целью изучения зонной структуры [13] и поведения молекулярных орбиталей в процессе хемосорбции [14, 15]. [c.168]

Спектроскопия ион-циклотронного резонанса (ИЦР). В спектроскопии ИЦР ионы под влиянием пересекающихся магнитного и электрического полей описывают циклоидальную траекторию с частотой со = eVjm со скоростью направленного движения и = У /Я/где V — напряженность электрического, а Я-т-магнитного полей, /п—масса иона и в—его заряд. При совпадении частоты прикладываемого радиочастотного электромагнитного поля с циклотронной частотой иона, пропорциональной mje, происходит поглощение энергии этого иона. Циклоидальный характер траектории резко увеличивает время пребывания ионов в камере (до 5—10 миллисекунд вместо [c.257]

Важность прямого экспериментального исследования кислотно-основных взаимодействий в неосложенных условиях - газовой фазе, было осознано многими химиками еще более полвека назад Однако лишь в последнее время, благодаря внедрению новых экспериментальных методик (спектроскопия ионного щ-клотронного резонанса , масс-спектрометрия высокого давления и т.д.)достигнут значительный успех в этой области. [c.985]

Из термодинамических величин в уравнениях (3) и (4) в настоящее время с достаточной точностью и при помощи независимых экспериментальных методов определяются РА(В) и РА(А ) (спектроскопия ион-циклотронного резонанса, масс-спектромет-рия высокого давления и др.), 1Р(В) и ЕА(А ) (фотоэлектронная спектроскопия, фотоионизацин и др.), а сродство к водороду НА(В ) и энергия гомолитической диссоциации связи в и-Н) являются по существу родственными параметрами и, как правило, определяются из уравнений (3) и (4), соответственно. При определенных условиях уравнения (3) и (4) могут описывать линейную зависимость меаду РА(В)(или РА(А ) и 1Р(В) (или ЕА(А )). Естественно, что такая ситуация должна иметь место [c.461]

В последнее время, благодаря быстром - развитию таких эксперимент 1льных методик как спектроскопия ионного циклотронного резонанса й масс-сяектрометрия в.ысокогс давления, накоплено большое количество экспериментальных данных и по [c.368]