Спектроскопия масс вторичных ионов

В катализаторе определяют содержание серебра, щелочноземельных металлов, щелочных металлов и таких вредных примесей, как тяжелые металлы, сера и галогены. Исследование физических свойств включает измерение поверхности методом БЭТ, обычно по криптону из-за малой площади поверхности. Для измерения пористости при контроле качества катализатора можно применять ртутную порометрию, несмотря на известную тенденцию серебра к амальгамированию, так как этот процесс сильно замедляется на окисленной поверхности. Состав поверхности катализаторов определяется современными методами, связанными с использованием высокого вакуума. Из них наиболее важны рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) и электронная оже-спектроскопия (ЭОС). [c.240]

При изучении разнообразных коллоидно-химических объектов широко используют методы сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии. Отметим перспективную методику приготовления реплик быстро замороженных образцов золей, позволяющую фиксировать во вра ени изучаемую картину. В исследованиях строения поверхности эффективно применяют такие современные физические методы, как Оже-спектроскопию, дифракцию медленных электронов, масс-спектрометрию вторичных ионов и др. [c.208]

Спектроскопия рассеяния ионов Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) Магнитная восприимчивость. [c.12]

С другой стороны, тесные контакты коллоидной химии со смежными дисциплинами способствовали обогащению ее экспериментальной базы. Наряду с такими классическими методами эксперимента, родившимися именно в коллоидной химии, как определение поверхностного натяжения и двухмерного давления, ультрамикроскопия, центрифугирование, диализ и ультрафильтрацня, наблюдение разнообразных электрокинетичеоких явлений в дисперсных системах, дисперсионный анализ и порометрия, многочисленные прецизионные адсорбционные методы, изучение рассеяния света (опалесценции) и т. п., в разных разделах коллоидной химии нашли эффективное применение всевозможные спектральные методы ЯМР, ЭПР, УФ- и ИК-спектроскопия, гашение люминесценции, многократно нарушенное полное внутреннее отражение, эллипсометрия (с широким использованием лазерной техники), малоугловое рассеяние рентгеновских лучей и другие рентгеновские методы, радиоактивные изотопы, все виды электронной микроскопии. Большие перспективы открывает привлечение современных физических методов исследования поверхностей с использованием медленных электронов, масс-спектроскопии вторичных ионов и т. п. [c.9]

Можно полагать, что методы электронного зонда в комплексных исследованиях строения слоев толщиной от долей нанометра до нескольких микрометров практически стоят вне конкуренции. Ни один из других высокочувствительных методов анализа поверхности, как, например, фотоэлектронная спектроскопия или вторично-ионная масс-спектрометрия, не обеспечивает получения комплексной информации, не позволяет изучать одновременно нано- и микрослои (как это делается при электронном зондировании путем выбора вида вторичных сигналов), не дает такой высокой локальности по площади. [c.216]

МСВИ — масс-спектрометрия вторичных ионов ИНС — ионно-нейтрализационная спектроскопия АИМ — автоионная спектроскопия. [c.223]

Особенно ценным методом является спектроскопия потерь электронной энергии (EELS). Она позволяет определить колебательные частоты атомов и молекул, связанных с поверхностью. Такие частоты, определенные для молекул в газовой фазе, химики постоянно используют для того, чтобы определить, каков порядок связывания атомов в молекуле, насколько прочны связи, какова геометрия молекулы (см. далее разд. Инфракрасная спектроскопия ). В методе EELS пучок электронов известной энергии отражается от поверхности металла в анализатор энергий. Если электроны попали в то место поверхности, где адсорбированы молекулы, то в молекуле может быть возбуждено одно из характеристических колебаний. Необходимая для этого энергия определяется частотой колебания. Кинетическая энергия электрона уменьшается на соответствующую величину. Измерение таких потерь электронной энергии дает колебательный спектр адсорбированных молекул. Рассеяние ионов поверхностями используется как очень чувствительный метод (10 атомов на 1 см ) определения состава поверхности. В масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS) поверхность бомбардируют ионами инертных газов, разогнанными до энергий 1-20 кэВ. При этом с поверхности удаляются нейтральные и ионизованные атомы, а также молекулярные фрагменты, состав которых и определяют. Спектроскопия рассеяния ионов позволяет установить состав поверхности по изменению энергии ионов [c.238]

Особое место занимают методы локального анализа. Существ. роль среди них играют рентгеноспектральный микроанализ (электронный зонд), масс-спектрометрия вторичных ионов, спектроскопия оже-электронов и др. физ. методы. Они имеют большое значение, в частности, при анализе поверхностных слоев твердых материалов или включений в горных породах. [c.160]

Следует подчеркнуть, что условность определения адгезионного и когезионного разрушения объясняется (наряду с другими причинами) разрешающей способностью методов исследования и характером наблюдаемых образований. Так, разрушение соединений титана и алюминия на эпоксидном клее известными методами было охарактеризовано как адгезионное, но использование спектроскопии ионного рассеяния и масс-спектрометрии вторичных ионов показало [174], что на образующейся в результате разрыва поверхности адгезива присутствует вещество субстрата, а на поверхности субстрата — вещество адгезива. [c.80]

Относит, пределы обнаружения элементов в Л. а. сильно зависят от применяемого метода (от 10 % в масс-спектрометрии вторичных ионов до 10 % в оже-спектроскопии) и от локальности определений. Однако абс. пределы обнаружений мало зависят от локальности и составляют для мн. методов 10 -10 г, а в методах спектроскопии характеристич. потери энергии электронов достигают 10- [c.611]

Л. а. субмикронных и поверхностных слоев проводят методами рентгеноспектрального анализа (см. Электронно-зондовые методы), катодолюминесцентного микроанализа, спектроскопии рассеяния быстрых ионов (резерфордовского рассеяния), масс-спектрометрии вторичных ионов в динамич. режиме, оже-спектроскопии и др. При послойном анализе субмикронных слоев без разрушения образец бомбардируют заряженными частицами (электронами, ионами). В зависимости от их энергии меняется глубина, на к-рой происходят процессы, приводящие к появлению аналит. сигнала - рентгеновского излучения, резонансных ядериых р-ций, резерфордовского рассеяния и др. Послойный анализ можно также проводить, варьируя угол отбора, т.е. угол, под к-рым к исследуемой пов-сти располагается приемник аналит. сигнала. [c.610]

Масс-спектроскопия вторичных ионов [c.580]

Наибольшее распространение получили вторично-ионная масс-спектрометрия (поток ионов вызывает эмиссию иоиов), электронная оже-спектроскопия (поток электронов вызывает эмиссию электронов), полевая ионная микроскопия (ионизадняи испарение атомов поверхности под действием электрического поля) и др. Теория и пркмененяе этих методов, интерпретация получаемвй [c.246]

К локальным методам анализа состава вещества наряду с описанными выше методами рентгеноспектрального анализа и методов электронной спектроскопии относится масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ). Главной особенностью метода МСВИ является очень высокая чувствительность — более 10 %. Минимальный объем образца, необходимый для анализа 10- см , глубина анализируемого слоя 10" мкм. Первичный ионный пучок может быть сфокусирован в зонд малого сечения в свою очередь фокусировка вторичных ионов может дать ионное изображение бомбардируемой поверхности. Масс-спектрометрическая фильтрация этого изображения дает картину распределения ионов определенного типа по поверхности объекта. Форсируя режим бомбардировки, можно удалять поверхностные слои и проводить послойный анализ. [c.580]

Характер связей, образующихся между поверхностью металла (сталью) и различными грунтами, был исследован с применением методов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и статической вторично-ионной масс-спектроскопии. При обработке стали грунтом А-187 на ее поверхности обнаружены свободные радикалы, что свидетельствует о химическом взаимодействии оксида железа с полисилоксаном. Очевидно, образуются связи Ре—О—51, которые и способствуют повышению лрочности клеевых соединений [297]. [c.173]

Работа является первой книгой новой монографической серии Физика, химия и механика поверхности под общей редакцией академика Е. П. Велихова. В ней изложены физические основы таких перспективных методов исследования поверхности твердых тел, как рентгеноэлектронная спектроскопия и масс-спектрометрия вторичных ионов. Эти методы позволяют псследовать состав сверхтонких поверхностных пленок, характер химической связи в поверхностных соединениях, профили распределения элементов по глубине образца. Рассмотрены области применения методов. [c.239]

МАСС-СПЕКТРОСКОПИЯ ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ (ВИМС) [c.384]

К методам электронной спектроскопии относятся методы, в которых эмитируемыми частицами являются электроны, а зондирующими - электроны, фотоны и ионы. К методам ионной спектроскопии относятся методы, в которых вторичными частицами являются ионы. К наиболее распространенным методам электронной спектроскопии относятся Оже-электронная спектроскопия, рентгеновская и УФ-фотоэлектронная спектроскопия, спектроскопия энергетических потерь электронов, к методам ионной спектроскопии - вторичная ионная масс-спектрометрия, спектроскопия ионного рассеяния, спектроскопия резерфордовского обратного рассеяния. [c.78]

Методы вторично-ионной масс-спектрометрии, атомного зонда в полевом ионном микроскопе и полевой ионной масс-спектрохмет-рии разрушают поверхность. Методы же электронной Оже-спектро-скопии, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, дифракции электронов низкой энергии и рассеяния медленных ионов не разрушают поверхность. При исследовании адсорбентов часто желательно применение методов, минимально возмущающих поверхность, а при использовании методов, требующих распыления вещества поверхности, необходимо обращать особое внимание на то, чтобы исследуемая поверхность не оказалась разрушенной, прежде чем будут получены этими методами сведения о ее состоянии и диффузии к ней атомов из глубины твердого тела. [c.110]

В масс-спектрометрии изучают распределение по массам ионов, образованных при ионизации молекул различными методами, т. е. изучается вторичный эффект взаимодействия с полем или излучением, а не изменение последних при взаимодействии с веществом. В фотоэлектронной спектроскопии, по существу, также исследуют вторичный эффект взаимодействия рентгеновского излучения или излучения в УФ области с вещество.м, анализируя распределение выбитых электронов по энергии. [c.11]

Используемые во времяпролетной спектроскопии детекторы делятся на два типа — регистрирующие изменение потока и изменение плотности частиц. К первым относятся, например, детекторы с поверхностной ионизацией, вторичные умножители, используемые для регистрации метастабильных частиц и т. п. К детекторам второго типа относятся ионизационные манометры, источники ионов масс-спектрометров и другие устройства, сигнал которых пропорционален плотности газа внутри рабочего объема. [c.183]

Спектроскопия Оже-электронов спектроскопия рентгеновских фотоэлектронов спектроскопия. характеристических потерь спектроскопия ионного рассеяния спектроскопия масс вторичных ионов термиче-скр1- и электронно-стимулированная десорбция Дифракция медленных электронов сканирующая э/юктронная микроскопия Дифракция медленных электронов спектроскопия характер.чстических потерь [c.151]

Для H.a. примешпот методы рентгенофлуоресцентного, активационного, рентгенорадиометрич. анализа и др. Когда спец. подготовки образца х анализу не требуется, H.a. можно проводить методами локального анализа (ионный микроанализ, электронно-зондовые методы, методы фотоэлектронной и рентгеноэлектронной спектроскопии, масс-спектрометрия вторичных ионов и др.). [c.220]

Стали доступными тонкие методы исследования состава и структуры поверхности твердых тел (Оже-элекгронная спектроскопия, рентгеновская и ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия, спектроскопия дальней тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения, масс-спектрометрия вторичных ионов и др.), в немалой степени обусловившие бурное развитие микроэлектроники в последние десятилетия. [c.4]

Вторичная ионная масс-спектроскопия Программированная термодесорбция (тер-модесорбционная спектроскопия) Исследование кинетики программированной термодесорбцией [c.157]

Реальную пов-сть анализируют методами оже-спект-роскопии, рентгеноэлектронной спектроскопии, спектроскопии рассеяния медленных ионов (см. Ионного рассеяния спектроскопия), масс-спегфометрии вторичных ионов в статич. режиме (см. Ионный микроанализ). Обычно анализ проводят в высоком вакууме (10 -10 Па) с помощью установок, позволяющих одновременно использовать неск. аналит. методов. В тех же установках проводят разрушающий послойный анализ субмикронных и поверхностных слоев, удаляя слои ионным травлением, лазером, искровым разрядом, хим. или электрохим. растворением. Затем определяют элементы в газовой фазе, р-ре или на протравленной пов-сти. [c.610]

Анализ проводится с помощью методов оже-элсктронной спектроскопии, фотоэлектронной рентгеновской и ультрафиолетовой спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа, спектроскопии характеристических потерь энергии, масс-спсктрометрии вторичных ионов, рамановского микроанализа, оптической микроскопии, профилометрии. [c.187]

Методы ионной спектроскопии. Применительно к проблемам катализа главное внимание уделялось только двум методам ионной микроскопии вторичной ионнной масс-спектро-метрии (ВИМС) и спектроскопии рассеянных медленных ионов (РМИ). Оба метода основаны на бомбардировке поверхности ионами. В методе ВИМС [60, 61] испускаемые поверхностью вторичные ионы идентифицируются в масс-спектрометре. Метод РМИ заключается в измерении энергии ионов, которые рассеиваются при упругом столкновении с поверхностью [62— 6.5]. [c.161]

Наиболее важной характеристикой аналитического метода, используемого при изучении поверхности, является эффективная глубина действия, поскольку метод измерения должен соответствовать изучаемому явлению. Например, связывание с поверхностью, смачивание и катализ затрагивают лишь несколько слоев атомов, а при обработке поверхности закалкой вовлекаются от 10 до 1000 таких слоев. Вот типичные эффективные глубины действия для наиболее важных аналитических методов исследования поверхности рассеяние ионов низкой энергии — один-два слоя атомов, масс-спектрометрия вторичных ионов — зА, оже-спектроскопия — 20А, ионное травление в сочетании с SIMS — lOOA. Лазерная масс-спектрометрия, рамановский микроанализатор и сканирующий электронный микроскоп могут использоваться на глубинах от 1000 до 10 ООО А (т.е. вплоть до 1 микрона). Чем меньше эффективная глубина действия метода, тем [c.239]

Методаш контактной разности потенциалов, О -электронной спектроскопии и масс-спектромеории вторичных ионов было исследовано взаимодействие кислорода с напыленными пленками железа ва стгдиях адсорбции, внедрения и медленного роста окисла. Для на-шления использовалось железо чистотой 99,9998 (А) и 99,8 (Б). [c.124]

Для анализа неионогенных ПАВ весьма полезна спектроскопия ядерного магнитного резонанса. При возможности снятия ПМР или ЯМР спектра можно получить информацию о структуре гидрофобной части молекулы. Кроме того, из спектра можно определить соотношение гидрофобной части и ОЭ и/или ОП-части молекулы [57], как и наличие первичных и вторичных гидроксильных групп. Другим методом определения вторичных и первичных гидроксильных групп является спектроскопия ЯМР фтора-19 [57] с предварительным приготовлением трифторуксусных эфиров. Масс-спектральные данные для определенных неионогенных ПАВ могут быть получены при бомбардировке быстрыми атомами (FAB) в режиме положительных ионов. Таким образом, изучены кластеры отдельных гомологов алкиленоксида с протонами, натриевыми или калиевыми ионами. AMiDZ-TOf масс-спектры дают информацию о распределении по гомологам, по серии отдельных пиков с массовым числом 44, отвечающим отдельной молекуле ОЭ. [c.133]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология