Кварц как кристалл-анализатор

Максимальный угол 20, измеряемый гониометром, ограничен. Обычно прибор позволяет определять угол отражения 0 до 75°. Поэтому кристалл-анализатор следует подбирать в зависимости от длины волны анализируемого излучения так, чтобы удовлетворялось уравнение Брэгга— Вульфа. Так, обычно измеряемый прибором угол 0 изменяется от 5 до 75° тогда минимальная длина волны, которая может быть зарегистрирована, составляет 0,15с(, а максимальная — 1,90 . Таким образом, для того чтобы анализировать излучение, длина волны которого изменяется от 0,02 до 1 нм, необходимо использовать несколько различных кристаллов. Если Я<0,3 нм, используют кристалл-анализатор, изготовленный из топаза (с =0,1356 нм) или фторида лития ( =0,2015 нм). Для диспергирования более длинных волн подходят такие соединения, как кварц ( =0,3135 нм), однозамещенный фосфат аммония ( = = 0,5314 нм) и гипс ( =0,766 нм). [c.102]

Выбор кристалла для спектрального анализа определяется длинами волн исследуемых веществ. Так как межплоскостное расстояние кристалла-анализатора должно, во всяком случае, превосходить половину длины волны исследуемого излучения, для средних и коротких волн обычно пользуются каменной солью, кварцем и исландским шпатом, а для длинноволнового излучения — аквамарином и слюдой. [c.300]

В других поляриметрах такого же типа нулевой точке соответствуют скрещенные николи тогда при определении угла вращения плоскости поляризации анализатор поворачивают до момента. наибольшего потемнения оптического поля. Так устроены наиболее простые поляриметры. В других системах поляризатор и анализатор делаются неподвижными, и, следовательно, для того, чтобы луч прошел через анализатор, необходимо повернуть плоскость поляризации луча, выходящего из оптически активного раствора. Это осуществляется оптическими клиньями, изготовленными из оптически активного кристалла (например, кварца), угол вращения плоскости поляризации у которого зависит от толщины. Перемещая клин, имеющий переменное сечение, можно повернуть плоскость поляризованного луча на любой угол. В таких системах шкала связана не с анализатором, а с клином. [c.90]

Характеристическое флуоресцентное излучение, даваемое пробой, коллимируется, и параллельный пучок лучей после прохождения через абсорбер (ослабитель) падает на плоский кристалл анализатора. Возможно использование нескольких сменных коллиматоров и ослабителей, а также кристаллов, служащих для спектрального разложения рентгеновского излучения. В ассортимент кристаллов-анализаторов входят LiF, Ge, Si, кварц, графит и ряд других. Диспергирование излучения кристаллической решеткой с заданной постоянной происходит вследствие селективного отражения под углом, зависящим от длины волны. [c.151]

Для разл. диапазонов X используют кристаллы-анализаторы с разными к (напр., 1лР, кварц, фтапат таллия). Увеличение К - радиуса окр)Жности Роуланда, проведенной через три точки в образце, кристалле-анализаторе и детекторе, повышает спектральное разрешение 6Е, но при этом уменьшает интенсивность 1. Величина АБ достигает обычно 10 эВ. В качестве детектора чаще всего используют проточные пропорциональные счетчики. [c.444]

Режим работы напряжение 5 кв, ток 35 ма, кристалл-анализатор из кварца, атмосфера гелия, для регистрации излучения служит проточный пропорциональный счетчик. Для ана.яиаа мeдJ, легированной теллуром, отбирают 10 г пробы в виде стружки и брикетируют ее под давлением 1 т1см . Брикет помещают в держатель образцов, который вращается со скоростью 25 об мин. Благодаря вращению образца уменьшается влияние поверхностных неоднородностей. Чувствительность определения фосфора данным методом составляет 0,005%. [c.154]

Многоканальный рентгеновский спектрометр СРМ-18. Прибор состоит из высоковольтного источника питания, оперативного стола, измерительной системы, системы управления, устройства вывода информации и управляющей ЭВМ. Используются рентгеновские трубки с торцевым выходом излучения типа БХВ-9 и БХВ-13, снабженные тонкими бериллиевыми окнами. Угол падения первичного излучения — 90°, углы отбора флуоресценции — 25° и 35°. Для определения Fe, Мп и Са служат перестраивающиеся каналы по Иоганну с кристаллами-анализаторами из кварца, для определения Ti, К, Si, Al, Mg и Na — перестраивающиеся каналы по Соллеру с кристаллами LiF, NaF, EDDT, RAP и для определения Р — фиксированный канал по Соллеру с монокристаллом Ge. [c.21]

Анализатором рентгеновских лучей в каждом из этих приборов служило устройство, состоявшее из 50 плоских, слегка повернутых друг относительно друга кристалликов кварца, вблизи отражающей поверхности которых располагали не прозрачный для рентгеновских лучей клин. Таким образом, каждый из кристаллов анализатора мультикристалл-спектрометров Дю-Монда и Киркпатрика отражал рентгеновские лучи в условиях, аналогичных тем, которые имеют место в спектрографах, работающих по методу Зеемана. Все 50 плоских кристалликов прибора ориентировали один относительно другого таким образом, чтобы монохроматические лучи после отражения их от поверхности кристалла пересекались в одной точке или в небольшой узкой области пространства. Это будет иметь место, если кристаллы расположены так, что продолжения их поверхностей (в случае, представленном на рис. 1,а) или нормалей к ним (рис. 1,6) пересекаются в одной точке. Если обозначить это расстояние буквой то сфокусированные прибором пучки монохроматических лучей различных длин волн будут располагаться на одной общей окружности, радиус которой равен Совмещая с этой окружностью — так называемой окружностью изображения — фотопленку, можно зарегистрировать на ней достаточно узкие линии рентгеновского спектра, характеризующие радиацию, излучаемую поверхностью антикатода рентгеновской трубки спектрографа. Очевидно, что ширина [c.9]

К. И. Нарбутт и И. Д. Беспалова [891 разработали методику определения U, Th, РЬ, Та, Zr, Hf, Nb, Y, Sr в природных минералах и рудах с помощью универсального фокусирующего рентгеновского спектрометра, описанного в работе [90]. Кристаллом-анализатором служил кварц, изогнутый по радиусу 1 м, с отражающими плоскостями (1010). Дисперсия в первом порядке отражения равна 10 ХЕ мм, во втором порядке — 5 Х /л<л . Сравнительно высокая дисперсия прибора спосо вовала устранению помех при проведении анализа за счет наложения спектральных линий. Поэтому определение гафния по линии Hf Lp, (1371,25 ХЕ) не представлял особых трудностей ввиду хорошего разрешения с линией Zr/ p, (1375,12 ХЕ) второго порядка отражения. [c.439]

Первое систематическое исследование влияния химической связи и, в частности, валентности атома в соединении на асимметрию Ка1,2-линнй рентгеновского спектра элементов семейства железа было выполнено автором совместно с И. Б. Боровским [29]. В этой работе изучались относительные изменения индекса асимметрии Ка1,2 Линий элементов в различных химических соединениях с помощью спектрографа Кошуа с изогнутым кристаллом. Анализатором в спектрографе служила пластинка кварца толщиной 0,15 мм, вырезанная перпендикулярно к оптической оси кристалла и изогнутая по радиусу 880 мм. Спектр снимался во втором порядке отражения от плоскостей (1010) с постоянной решетки d = 4,24574 A на плоскую кассету, [c.64]

И не представляют ценности как кристаллы-анализаторы. Степень несовершенства естественного и синтетического кристалла различна. Идеальный несовершенный кристалл должен содержать небольшие мозаичные блоки размером порядка 10" см, отклонения от правильной ориентировки этих блоков не более нескольких дуговых минут относительно друг друга. Интенсивность дифракционных максимумов таких кристаллов значительно больше. Примерами таких несовершенных кристаллов являются кристаллы галоидов щелочных металлов, таких, как LiF или Na L Кристалл кварца более совершенен, но количество мозаики можно увеличить легкой шлифовкой его поверхности. Как отмечено в табл. 8, интенсивность дифракционных максимумов для жесткого излучения можно удвоить полировкой поверхности кристалла. Бирке [15] утверждает, что умышленное введение упругих или пластических напряжений в данный кристалл обычно увеличивает интенсивность дифракционных максимумов без заметного уширения линии . YafiT [23], например, показал, что интенсивность максимумов кристалла кварца с упругими напряжениями увеличивается в 12 раз. Бирке и Сил [22] увеличили интенсивность линий кристалла LiF в 4—10 раз. [c.226]

Невакуумный спектрометр имеет один кристалл-анализатор (кварц [c.308]

Такие мультимолекулярные пленки используются в качестве граничной смазки. Полученные на стекле или кварце, они служат анализаторами мягкой части рентгеновского спектра , поскольку могут давать дифракционные решетки с любыми заданными постоянными (посредством подбора углеводородных цепей кислот различной длины), превышающими значения постоянных решеток обычных кристаллов. [c.117]

Пьезоэлектрический метод использован также в анализаторе для определения отношения водород — углерод в углеводородах [157]. Смеси углеводородов (например, и-бутана, и-пентана, пен-тена-1) разделяют методом газовой хроматографии на колонке со скваленом и окисляют полученные компоненты кислородом в токе гелия при температуре пламени около 650 °С. После сжигания углеводородов поток окисленных продуктов разделяют на две части одну пропускают над кристаллом кварца, колеблюш,имся с частотой 9,000 МГц, который поглощает воду последовательно из бутана, пентана и пентена. Другую часть потока осушают хлористым кальцием и пропускают над вторым кристаллом кварца, колеблющимся с той же частотой и поглощающим диоксид углерода. Частота колебаний каждого кристалла кварца уменьшается пропорционально количеству поглощенных воды или диоксида углерода каждая из этих двух частот накладывается порознь на фиксированную частоту эталонного генератора — 9,001 МГц, в результате чего образуются три различных дифференциальных частоты. Полученные данные непрерывно регистрируются, и расчет соотношений водород — углерод производится автоматически. В качестве материалов для покрытия кристалла, сорбирующего воду, Сэнфорд и сотр. [157] использовали силикагель, оксид алюминия, природные и синтетические смолы для сорбции диоксида углерода эти авторы применяли полярные вещества, например полиэтиленгликоль. [c.587]

Теперь вырежем из кристалла кварца пластинку перпендикулярно оптической оси и установим ее между скрещенными поляризатором и анализатором (рис. У.9, с). Если через систему до установки кварцевой пластинки пропускался монохроматический свет и при скрещенных поляризаторах наблюдалось погасание, то после установки кварцевой пластинки возникает посветление. Поворачивая анализатор на определенный угол, можно получить снова погасание. Это явление можно объяснить лищь тем, что кварцевая пластинка вращает плоскость поляризации на угол, на который надо теперь повернуть анализатор, чтобы добиться погасания. Вращение плоскости поляризации пропорционально толщине пластинки и зависит от длины волны света. Для пластинки кварца толщиной в 1 мм наблюдаются следующие углы вращения красный луч 15°, желтый 21°, зеленый 27°, синий 33°, фиолетовый 51°. [c.381]

Эмиссионные Да-спектры фосфора снимались на вакуумном спектрографе с фокусировкой по Иоганну. Спектральным анализатором служил кристалл кварца, зогнутый по радиусу 500 мм с отражающей плоскостью (1010). В спектрографе ДРС была переделана кинематика, изготовлен новый кри-сталлодержатель. Изгиб кристалла осуществлялся двумя пластинами, вырезанными и прошлифованными точно по радиусу, что упрощало фокусировку прибора и исключало его дефокусировку во время работы. Значение обратной дисперсии в области исследуемых длин волн составило 6,0 Хе/мм, или 2,03 эв. При измерении абсолютных значений длин волн рентгеновских линий фосфора в элементарном фосфоре и соединениях в качестве реперных линий использовался Да лет железа. [c.103]

Химический состав кристалла также имеет значение флуоресценция кристалла не должна мешать анализу. Большую часть анализов выполняют в атмосфере воздуха, и флуоресценция большинства кристаллов, применяемых в настоящее время, поглощается воздухом. При определении элемептов с атомным номером мепее 20 флуоресценция кристалла приводит к образованию фона, и в зависимости от определяемых элементов эту флуоресценцию можно лишь частично отсечь анализатором импульсов. Так, следует ожидать АГ-излучение фосфора кристалла однозамещенного фосфорнокислого аммония, if-излучение хлора кристалла Na l и ii-излучение кремния кристалла кварца. [c.222]

В обычном поляриметре свет на своем пути проходит через, г следующие вещества стекло, кальцит, канадский бальзам и воздух. Все эти вещества, прозрачные в видимой части спектра, становятся непрозрачными в ультрафиолетовом свете. Поглощение света канадским бальзамом, часто используемым для склеивания поляризующих призм, начинается с 3400 или 2800 А, в зависимости от его марки. Поэтому ниже 3500 А рекомендуется использовать воздух в качестве прослойки между призмами (призма Глана, рис. 64, стр. 209) или, если измерения не производятся ниже 2400 А, можно применять глицерин. В далекой ультрафиолетовой области кальцит также начинает сильно поглощать свет и поляризующая призма из кальцита стандартной длины становится практически непрозрачной несколько ниже 2400 А. Тогда -можно использовать кварцевые или флюоритовые призмы. Предел прозрачности высококачественных кварцевых призм составляет примерно 1850 А, а для флюоритовых призм он равен 1000—1200 А, в зависимости от чистоты кристалла. Вследствие незначительной величины двойного преломления как кварца, так и флюорита трудно получить удовлетворительные поляризующие призмы типа призм Глана. Поэтому используются призмы двойного лучепреломления [137]. Если же, наконец, измерения должны быть осуществлены ниже 1000 А, то единственно возможным методом становится поляризация путем отражения (см. стр. 215). Стеклянные линзы (флинт или крон), стоящие перед поляризатором или позади анализатора, и дисперсионн41е стеклянные призмы должны быть удалены при измерениях ниже 3500—3800 А (в зависимости от их толщины). Однако могут использоваться специальные пропускающие ультрафиолет стекла (до 2700— 3000 А). Специальные сорта фосфатного стекла обладит значительным пропусканием даже при еще более коротких волнах. Г , [c.272]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология