Микрозонд электронный

Если объект представляет собой монолит, то проводят его локальный или послойный анализ без предварительного разрушения. Наиболее детальный анализ поверхности можно провести с помощью ионного зонда. С помощью специальных технических приемов можно получить на телевизионном экране или фотопленке увеличенное изображение поверхности объекта, образованное ионами выбранного элемента. Повернув ручку настройки масс-анализатора, получают изображение того же участка поверхности, образованное ионами другого элемента. Набор таких фотоснимков представляет собой полную топографию интересующих элементов в выбранной области поверхности образца. Прибор, работающий по- такому принципу, называется ионным микрозондом и является аналогом электронного микрозонда, или электронно-зондового рентгеновского микроанализатора (см. гл. 5). Его преимуществами являются более высокая чувствительность, особенно к легким элементам, а также возможность изучать не только элементный, но и изотопный состав образца. [c.216]

В рентгеновском микроанализаторе (РМА), который часто называют электронным микрозондом, нас прежде всего интересует характеристическое рентгеновское излучение, возникающее под действием электронной бомбардировки. Анализ характеристического рентгеновского излучения может дать как качественную, так и количественную информацию об областях образца диаметром в несколько микрометров. [c.9]

Поверхность образца исследуют под микроскопом при освещении видимым светом Изображение поверхности получают с помощью отраженного электронного луча. Испускаемые при этом характеристические рентгеновские лучи делают возможным определение химического состава наблюдаемых участков методом так называемого микроанализа (микрозонда). Метод требует вакуума [c.150]

Микрозонд Поверхность облучают пучком электронов высокой энергии. Возбуждаемое рентгеновское излучение используют для химического анализа поверхности [c.151]

Диаметр микрозонда составляет 0,01-1 мкм, энергия электронов (2-80)-10 Дж. Локальность определений зависит от параметров микрозонда (его диаметра, энергии первичных электронов) и физ. св-в анализируемого образца и составляет обычно 1-10 мкм (иногда до 0,1 мкм). [c.355]

Исторически растровый электронный микроскоп и электронный микрозонд разрабатывались как два разных прибора. При внимательном рассмотрении, однако, очевидно, что эти два прибора совершенно одинаковы и различаются главным образом по способу их использования. [c.10]

Молекулярное и структурное зондирование поверхности Молекулярное и структурное зондирование поверхности Определение длин связей, межатомных расстояний, координационных чисел, степеней окисления, ориентаций молекул на поверхности Электронная структура поверхностей, адсорбированных частиц, элементный анализ поверхности, определение степеней Окисления, химических связей Анализ микроколичеств элементов на поверхности, молекулярный микрозонд [c.315]

В последние годы появились методы определения концентрации пенетрантов в микрообъемах полимеров — рентгеновский эмиссионный спектральный анализ и электронный микрозонд . Молено полагать, что использование этих методов приведет к широкому применению методик определения диффузионных характеристик на [c.209]

На сегодняшний день известен достаточно широкий спектр локальных методов анализа, позволяющих получать информацию о концентрационном распределении компонентов по зонам полимерно-10 материала. Это электронно-зондовый рентгеноспектральный анализ [13], Р1К-спектроскопия с микрозондом, рамановская спектроскопия с микрозондом, авторадиографический метод [14] и т.д. [c.467]

В последнее время появились работы по определению концентрации продиффундировавших в микрообъемы полимеров веществ с использованием рентгеновского эмиссионного спектрального анализа [20] и электронного микрозонда [21]. [c.195]

Рентгеновский эмиссионный анализ можно осуществить в электронном микроскопе, присоединив рентгеновский спектрометр это позволяет исследовать обратно рассеянные рентгеновские лучи в сущности, микроскоп в данном случае функционирует как микрозонд. Его пространственное разрешение определяется диаметром падающего пучка электронов, который в обычном электронном микроскопе превышает 0,5 мкм. Это значительно больше, чем диаметр пучка электронного микрозонда или сканирующего электронного микроскопа, где применяется другая электронно-оптическая система и диаметр пучка может достигать 2 нм. Однако разрешение, соответствующее такому малому диаметру пучка, получить не удается, так как рентгеновские лучи испускаются областью, размер которой определяется длиной пути возбуждающего электрона без потери энергии до значения, равного или меньшего критическому значению испускания рентгеновских лучей. На практике для электронного микрозонда или сканирующего электронного микроскопа энергия возбуждающих электронов составляет 5—30 кэВ и рентгеновские лучи испускаются подповерхностной областью объемом [c.399]

Иногда наблюдаемые пятна состоят не из агломератов пигментов, а из крупных частиц наполнителя или из гелеобразных частиц полимера. Если по характерной форме зерна или по цвету различить их невозможно, то необходимо их исследовать с помощью электронно-лучевого микрозонда. [c.103]

Для всех методов, в которых применяют пучки электронов высокой энергии, характерен некоторый нагрев образца. Для большинства металлических образцов, в частности таких, которые исследуют электронным микрозондом или сканирующим электронным микроскопом, нагревание образца обычно невелико однако неметаллические образцы, теплопроводность которых меньше, нагреваются уже заметно, и это может приводить к возрастанию температуры в объеме, поглощающем электроны, на несколько сотен градусов. Уменьшить нагрев можно, только снизив энергию электронного пучка и плотность тока. [c.400]

В электронно-лучевом микрозонде (рис. 2.16) поток электронов сечением около 1 мм ощупывает пробу. Возникающее в пробе рентгеновское излучение разлагается спектроскопом по длинам волн, и интенсивность характеристического излучения регистрируется как функция проходимого пути. Использование электронно-лучевого микрозонда для испытания искусственной кожи иллюстрируется следующим примером. [c.103]

Испытание качества покрытий также включает в себя и определение их антикоррозионных свойств. Основные методы коррозионных испытаний были рассмотрены в гл. П1. Другие методы (механические испытания, снятие электрических и оптических характеристик, электрохимические измерения, испытания с применением радиоактивных изотопов, определение состава коррозионных слоев при помощи электронной дифракции или электронного микрозонда) применяются в особых случаях. Оценка качества покрытий в значительной мере зависит от правильности метода исследования, а также от продолжительности испытаний. [c.233]

Сканирующая электронная микроскопия Электронный микрозонд Инфракрасная спектроскопия Элементный анализ Кислотность поверхности Потери при сгорании Термогравиметрический анализ Плотность [c.12]

Метод ЭПР с самого своего зарождения открывал широкие перспективы проникновения в детали внутреннего строения вещества. Информация об этих деталях в методе ЭПР получается из картины поведения в соответствующих условиях идеальнейших микрозондов — неспаренных электронов, существующих естественно или созданных искусственно в отдельных частях молекулы или на отдельных стадиях химической реакции. Эти перспективы стимулировали интенсивные теоретические исследования физической сущности метода и его возможностей. В настоящее время в распоряжении экспериментаторов имеется ряд отличных монографий, систематически и всесторонне трактующих процессы в веществе, ведущие к формированию сигналов ЭПР, а также пути количественной интерпретации параметров сигнала. [c.5]

Принципы определения элементного состава вещества по характеристическим рентгеновским спектрам были изложены в п. 1 гл. 5. Приборы, предназначенные для рентгеноспектрального анализа в микроскопически малых объемах, получили название рентгеновских микроанализаторов (МАР). (Используют также названия электронно-зондовый анализатор или микрозонд ). Определить состав вещества в микрообъемах по характеристическому спектру можно в некоторых электронных микроскопах. [c.567]

Описанный выше опыт с микрозондом показывает, что лишенные хрома зоны вблизи стыков имели ширину меньше 1 х. Это подтверждается также стереоскопическим исследованием под электронным микроскопом полированной и корродированной пластинки. Ширина трещин, образующихся на стыках в образце, который отжигался в течение 24 час. при 750° С, не превышает [c.290]

Такие частицы легко обнаружить с помощью электронного микрозонда. [c.121]

Рис. XI. 1. Фотографии питтинга в монокристалле сплава Ре -Ь 16% Сг (электронный микрозонд, ХЗОО) [191]

Более привлекательны прямые недеструктивные методы анализа наполненных полимеров с использованием электронного микрозонда [77], позволяющего проводить измерение содержания элементов с порядковым номером более 10, входящих в состав наполнителей, как на поверхности, так и в поперечном сечении образца. [c.65]

Рентгеновские микроанализаторы (электронный микрозонд). [c.128]

Какие особенности имеет рентгеновский микроанализатор (электронный микрозонд) [c.133]

Электронная Оже-спектроскопия, в том числе сканирующий Оже-микрозонд [c.103]

В разд. 7.1 и 7.2 первичные и вторичные свободные радикалы рассматривались в качестве микрозондов, которые характеризуют местонахождение и молекулярное окружение разрывов цепей. Как показано в гл. 6, первичные механорадикалы всегда расположены на концах цепи и большей частью нестабильны. Эти радикалы будут передавать свободные электроны со скоростью, зависящей от температуры, и таким образом превращаться во вторичные радикалы. Данная реакция, а также последующие реакции преобразования и спада числа радикалов, включая их рекомбинацию, представляют интерес для объяснения процесса разрушения в двух отношениях. Во-первых, эти реакции усложняют определение концентрации и молекулярного окружения исходных мест разрыва цепи. Во-вторых, они изменяют физические свойства других переплетающихся цепей путем внедрения в последние неспаренных электронов и образования сшивок. Для рассмотрения спектроскопических особенностей, стабильности и конформации свободных радикалов рекомендуем обратиться к исчерпывающей монографии Рэнби и Рабека [37] и к обзорным статьям Кэмпбелла [38], а также Сома и др. [39]. [c.220]

КАТОДНАЯ ЗАЩИТА, см. Электрохимическая заи/ита. КАТОДОЛЮМИНЕСЦЁНТНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ, не-разрушающий метод локального анализа полупроводников и диэлектриков, основанный на катодолюминесценции-разновидности люминесценции, к-рая возбуждается первичным пучком электронов (микрозондом) и возникает вследствие излучат, рекомбинации элеКтронно-дырочных пар или внутр. переходов в люминофорах. Свечение люминофоров м. б. обусловлено как св-вами основы, так и примесями. Спектры излучения разл. люминофоров могут находиться в интервале от коротковолновой УФ до ближней ИК области. Ширина спектральных полос (АХ) варьирует от сотен до долей нм и для мн. материалов уменьшается при охлаждении. [c.355]

Неалмазную фазу в поликристаллических алмазных пленках часто называют графитом, но это утверждение не совсем точно. Неалмазная фаза — это прежде всего разупорядоченный углерод межкристаллитных границ. Его удается непосредственно наблюдать на поверхности алмаза с помощью электронного микроскопа с высоким разрешением [41] или рамановского микрозонда [42] толщина межкристаллитных границ в алма,зных пленках достигает нескольких нанометров. Помимо этого, в алмазных пленках присутствуют различные дефекты кристаллической решетки. В ряде случаев поверхность алмазной пленки покрыта тонким (порядка нескольких нанометров) слоем неалмазного углерода, кото- [c.18]

ЛОКАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ, определение хим. состава, гл. обр. элементного, микрообъемов или тонких слоев тв. тела. Характеризуется размерами области (площади, объема), в к-рой возможно определение элемента с заданной погрешностью. Размер этой области по глубине наз. продольной локальностью (Z-n). вдоль пов-сги — поперечной (Li). К методам Л. а. с низкими значениями как и, так и Li относятся рештеноспектральный микроанализ (см. Электроннозон-до<аые методы), катодолюминесцентный микроанализ (Lj. Lu =0,1—10 мкм), ионный микроанализ [Li = 1— 100 мкм, ill = (1—5)-10 мкм], лазерный микроанализ (Ln Li = 10—100 мкм), Оже-микрозонд (Li = = 5-10 мкм Ln = 1-10 мкм), спектроскопия характеристич. потерь энергии электронов (Li = 10 мкм, [c.305]

Аппаратура для Л. а. включает устройства для локального отбора пробы или облученич микрообъема образца (ионная или электронная пушка, лазерный микрозонд и т. п.). Пределы обнаружения элементов связаны с локальностью и достигают 10 — 10 г. Метод использ. при исследовании распределения элементов по глубине и пов-сти образца, идентификации микрофаз, контроля загрязнений пов-сти тз. тел. [c.305]

Кинетич. энергию Оже-электронов Якия измеряют с по лощыо электронных спектрометров. В приборе поддерживается вакуум 10 —10 Па. Для локального анализа примен. растровый Оже-микрозонд с разрешением по пов-сги 50—200 нм. Регистрируют ф-цию ртспределения Оже-элекгронов по энергиям NiExm) или ее производную [c.397]

Теория обеднения границ зерен по хрому экспериментально подтверждается химическими и электрохимическими методами. Результаты анализа продуктов коррозии после испытания на МКК показывают, что отношение железа к хрому в продуктах коррозии значительно превыша ет среднее их отношение в сплаве. Наблюдаемое увеличение скорости растворения сталей в состоянии склонности к МКК связано с понижением содержания хрома на границах зерен. Обеднение границ зерен хромом для сплавов, находящихся в состоянии склонности к МКК, было подтверждено с помощью электронного микрозонда диаметром 10 нм для сталей состава 18Сг10КЧ и 17Сг12К12Мо [100]. [c.102]

Исследования полимерных сорбентов, проведенные нами с помощью локального рентгеносдектрального анализа с использованием электронного микрозонда, позволили сформировать представления о распределении обменных мест в материала сорбента [I]. Для изучения химической природы обменных центров перспективно применение ядерного гамма-резонанса [2,3]. [c.85]

С помощью электронного микрозонда возможно определение следовых количеств хлора [115]. Применяют также рефрактометрический и интерферометрический методы [440], хронопотенцио-метрическое титрование [851]. Элементный хлор в броме можно определить криоскопически [1062]. [c.131]

Для более точного суждения о местах возникновения и механизме развития коррозионного питтинга необходимы дальнейшие исследования на образцах с более тщательно подготовленной поверхностью и с использованием электронного микрозонда для анализа продуктов в 1ШТТИНГ6. Подобные продукты видны на многих фотографиях (рис. 2, а-е). [c.44]

Добавки в расплавы ванадатов натрия, серы и ионов хлора уменьшали коррозионную стойкость сплавов. По данным [134"1 наличие натрия в жидкой пятиокиси ванадия приводило к общему росту скорости коррозии, сера способствовала окислению никеля, а ионы хлора ускоряли процессы растворения железа, никеля и хрома. Анализ окисного слоя с помощью электронного микрозонда показал, что в расплаве Na2S04-6V2O5 с 1 %. Na l вблизи по- [c.149]

Подобный вывод следует также из анализа термодинамических данных изменения свободной энергии образования оксидов металлов, входящих в исследуемые сплавы. Так, изменение свободной энергии (в расчете на 1 г-экв металла) образования Т102 (анатаз), АЬОз и 2гО соответственно равно —95,59 —144,92 —140,36 кДж. Для образования оксидов Сг, 5п, Мп уменьшение свободной энергии значительно меньше, чем для титана [108]. Исходя из этих данных, можно утверждать, что в сплаве на основе титана с рассматриваемыми металлами только А1 и 2т могут окисляться избирательно и предпочтительно перед основой титана, образуя собственные оксиды, или давать смешанные оксиды титана, обогащенные этими компонентами. Концентрация остальных элементов, например, таких, как Сг, 5п и Мп, в оксидной пленке должны быть ниже, чем в исходном сплаве. Уместно вспомнить, что при изучении окисления сплавов в СОг при 1000 °С с помощью электронного микрозонда [109] было установлено, что в окалине сплава Т1 — 5% Сг было лишь 0,15—0,53% Сг, а в окалине сплава Т1—5% А1 содержание алюминия достигало 8—20%. Очевидно и в анодной оксидной пленке сплавов Т1 — А1 и Т1 — 2г можно ожидать большего обогащения оксидов А1 и 2г с пониженной химической стойкостью, о чем свидетельствует уменьшение времени самоактивации этих сплавов после анодной пассивации. Таким образом, основное влияние исследованных легирующих добавок на анодный ток растворения титано- [c.45]

Кирстен и сотр. (1970) изучали распределение редких газов при помощи системы, сочетающей микрозонд с гелиевым масс-спектрометром. Зеерингер (1966) применил бомбардировку образцов пучком электронов энергией 35 кэВ, интенсивностью [c.396]

Распределение основных и примесных компонент тонкой пленки на поверхности ХУ может быть установлено при помощи электронного микрозонда, который позволяет работать с микрообъемами 1 мкм или меньше (Бирке, Зиболд, 1961). Однако, несмотря на то что электронно-зондовый микроанализ имеет [c.402]

Современная аналитическая химия (1977) -- [ c.22 ]

Массопектрометрический метод определения следов (1975) -- [ c.402 , c.410 ]

Применение поглощения и испускания рентгеновских лучей (1964) -- [ c.275 , c.279 ]

Методы концентрирования микроэлементов в неорганическом анализе (1986) -- [ c.20 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология