Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Разрешающая сила прибора

    Как видно из формулы, разрешающая сила прибора зависит от величины основания призмы, в то время как дисперсия зависит от преломляющего угла. [c.553]

    Исследование все более сложных спектров потребовало увеличения разрешающей силы приборов, т. е. повышения способности к различению соседних спектральных линий. Сначала этого повышения добивались увеличением числа призм. Но, как уже отмечено, призмы сильно поглощают свет в той области, где дисперсия высока, и прозрачны там, где дисперсия мала. Поэтому возникла необходимость в новых диспергирующих элементах. Фраунгофер предложил для этой цели дифракционную решетку. [c.68]


    Объектив создает параллельный пучок света и направляет его на блок диспергирующих призм 6, 7, 8, обеспечивающих большую дисперсию и достаточную разрешающую силу прибора. [c.184]

    Такой выход полностью справедлив, если оптическая система прибора не увеличивает и не уменьшает изображение щели в фокальной плоскости, т. е. переносит ее в отношении 1 1. Обычно используют входную щель в 2—3 раза больше нормальной, это приводит к некоторому ухудшению разрешающей силы прибора, поскольку аппаратная функция увеличивается, однако коли- [c.21]

    Поскольку получить абсолютное значение коэффициента поглощения, который характеризует данную полосу вещества, трудно, для количественного анализа используют кажущиеся коэффициенты поглощения е - С увеличением разрешающей силы прибора (она выше у спектрометров с дифракционной решеткой) величина е,( растет, приближаясь к истинному значению. [c.214]

    Меньше зависит от разрешающей силы прибора величина интегральной интенсивности, поэтому она лучше воспроизводится на разных спектрометрах. Однако вычисления интегральных интенсивностей трудоемки. Для получения интегральных интенсивностей используют эмпирические уравнения, которые выведены в предположении, что полосы симметричны относительно максимума поглощения и отсутствует наложение соседних полос. Наиболее часто пользуются уравнением Лоренца, которое описывает зависимость оптической плотности по контуру полосы от частоты (рис. 77)  [c.214]

    Как мы уже отмечали, молекулы воды очень склонны к ассоциации. Поэтому в парах воды разной плотности при изменении температуры молекулы воды образуют различные по размеру комплексы. Чаще всего, говоря о парах воды, имеют в виду пары низкой плотности — 10 г см и ниже. При этих условиях расстояние между молекулами воды в среднем 30 А, что на порядок выше радиуса их специфического взаимодействия. Благодаря большой пространственной разделенности молекулы паров воды могут совершать свободные поступательные и вращательные движения. Последние, взаимодействуя с колебательными уровнями молекулы, приводят их к расщеплению [63]. В результате этого спектр паров воды вместо широких (несколько десятков обратных сантиметров) колебательных полос, характерных для веществ в конденсированном состоянии, оказывается состоящим из очень большой серии линий с полушириной 0,05—0,5 см [251. Поэтому, исследуя пары и газы при достаточной разрешающей силе прибора, мы всегда обнаруживаем четкую вращательную структуру. Примером ее может служить спектр паров воды при давлении 15 мм рт. ст. и температуре 25° С, в диапазоне 3697—3544 см , полученный на приборе с разрешением 0,7 см (рис. 37). [c.117]


    Линии в спектрах комбинационного рассеяния в сотни и тысячи раз менее интенсивны, чем линия рэлеевского рассеяния, и для их регистрации нужны светосильные спектрографы с короткофокусными камерами. Но короткое фокусное расстояние уменьшает дисперсию и разрешающую силу прибора. Удачное сочетание большой светосилы и достаточной разрешающей способности дает стеклянный трехпризменный спектрограф ИСП-51, используемый при работе в области 3700—10 ООО А. Из сменных камер, комплектуемых к прибору, для регистрации спектров комбинационного рассеяния используется обычно камера с фокусным расстоянием /=270 мм и величиной относительного отверстия 1 5,5.  [c.85]

    Исследование все более сложных спектров потребовало повышения разрешающей силы приборов (способности различения соседних спектральных линий). Сначала это повышение достигалось увеличением числа призм. Но призмы сильно поглощают как раз в той области спектра, где дисперсия высока, и прозрачны там, где дисперсия мала, что создавало досадные ограничения. Тогда обратились к дифракционным решеткам. [c.6]

    Естественно, что чем выше дисперсия прибора, тем больше расстояние между спектральными линиями, что дает возможность детальнее изучить спектр. Однако знания одной дисперсии прибора еще недостаточно для того, чтобы определить, будут ли две соседние линии наблюдаться раздельно. В приборе с нечетким, размытым изображением линий они представляются в виде одной линии, тогда как в другом приборе, с хорошим изображением, они будут разрешены (видны раздельно), хотя дисперсия этого прибора может быть значительно меньшей. Необходимо ввести новое понятие — разрешающая сила прибора. Под ней понимают отношение К/АХ, где ДЯ — расстояние (в длинах волн) между двумя соседними линиями, которые еще разрешаются величину АК называют пределом разрешения. Иногда (при работе на спектрографе) пользуются термином линейное разрешение, понимая под этим максимальное число линий на одном миллиметре, видимых раздельно. Линейное разрешение т связано с линейным пределом разрешения А/ и линейной дисперсией прибора очевидным соотношением [c.20]

    Ухудшение качества изображения спектральных линий, приводящее к снижению разрешающей силы прибора, вызывается следующими причинами а) дифракцией б) конечными размерами входной и выходной диафрагм в) аберрациями г) несовершенством изготовления оптических деталей и юстировки отдельных узлов и всего прибора в целом д) инерционностью его узлов. [c.20]

    Назовем идеальным спектральным прибором такой прибор, в котором искажения изображения определяются исключительно волновой природой света. Для такого прибора Рэлей предложил считать, что две спектральные линии одинаковой интенсивности находятся на пределе разрешения в том случае, когда главный максимум дифракционного изображения одной совпадает с первым минимумом другой при этом суммарная освещенность посредине между линиями равна приблизительно 80% освещенности в главных максимумах. Глаз вполне может заметить провал освещенности в 20%. Критерий Рэлея очень удобен для различного рода расчетов, когда разрешающая сила прибора определяется дифракцией. В настоящее время приборы способны зарегистрировать провал освещенности меньше 5% поэтому имеет смысл ввести новое понятие — предел разрешения по Спэрроу [2.1], определяя его как расстояние между линиями, при котором провал суммарной освещенности стремится к нулю при сближении дифракционных изображений двух линий одинаковой интенсивности. Чем больше отношение рэлеевского предела разрешения к пределу разрешения Спэрроу, тем больше возможность повысить реаль- [c.21]

    Реальная разрешающая сила прибора тоже может влиять на относительную чувствительность. Максимальное значение отношения интенсивности линии к интенсивности фона определяется выражением [15] [c.26]

    В тех случаях, когда б/ — 1ф, относительная чувствительность пропорциональна реальной разрешающей силе прибора. При малой величине фона разрешающая сила не играет существенной роли. [c.26]

    Формирование наблюдаемого контура спектральной линии. Знание аппаратной функции имеет в теории спектральных приборов исключительное значение. Оно необходимо для определения разрешающей силы приборов, к которым критерий Рэлея неприменим (например, эталон Фабри—Перо). Оно дает возможность определить оптимальные условия работы прибора (см. гл. П1). Здесь же мы покажем, что знание аппаратной функции позволяет определить истинный контур спектральной линии по наблюдаемому, восстанавливая этим самым информацию, потерянную в приборе. [c.35]

    Оценивая возможности прибора в целом, необходимо прежде всего установить зависимость между реальной разрешающей силой прибора и его фотометрической точностью при работе прибора в квазистационарном режиме. [c.46]

    Величина О связана с разрешающей силой прибора соотношением [c.47]

    Сопоставление выражений (9.25) и (9.32) показывает, что для того чтобы дифракция не ограничивала разрешающую силу прибора, ширина нарезанной части дифракционной решетки должна быть значительно более, чем [c.81]


    Суммарная горизонтальная составляющая астигматической фокали коллиматора и камеры, приводящая к снижению разрешающей силы прибора, при одинаковых фокусных расстояниях коллиматора и камеры [c.178]

    Точность угла поворота решетки определяется разрешающей силой прибора случайные изменения угла р при сканировании спектра должны быть значительно меньше реального углового предела разрешения Ар. [c.207]

    О выборе ширины щелей монохроматора. Все же формулы (27.8) и (27.9), определяющие максимально допустимую скорость сканирования спектра при заданной величине предела разрешения АКр, не учитывают второй основной величины, задаваемой в качестве условия работы прибора и определяющей количество получаемой информации, — отношения сигнала к шуму на выходе прибора. Величина последнего зависит не только от характеристик источника света, монохроматора и фотоприемника, которые в процессе эксплуатации прибора обычно не изменяются, но и от ширины выходной щели монохроматора, что, в свою очередь, влияет на разрешающую силу прибора, а следовательно, и на поток информации (количество информации, получаемой от прибора в единицу времени). [c.223]

    Это соотношение связывает оптимальный телесный угол Ай, под которым выходная диафрагма должна быть видна из главной точки объектива выходного коллиматора, с теоретической разрешающей силой сисама, причем увеличивать Дй выше этого значения не имеет смысла, поскольку переменная составляющая светового потока увеличится очень немного, тогда как разрешающая сила прибора резко уменьшится [44.1 — 44.3]. Аппаратная функция сисама со входной диафрагмой конечных размеров представляет собой свертку аппаратной функции сисама при бесконечно малой входной диафрагме с прямоугольной функцией, ширина которой пропорциональна телесному углу АО. [c.337]

    Для определения разрешающей силы прибора и формы его аппаратной функции производилась регистрация линии Сс 6438 (рис. 45.5). С решетками 600 штрих мм размером 110 X 100 мм, работающими в третьем порядке, теоретическая разрешающая сила прибора составляет 400 ООО. Для определения реального [c.343]

    Здесь обращает на себя внимание независимость разрешающей силы растрового спектрометра от разрешающей силы его диспергирующего элемента, определяемой световым отверстием этого элемента. Однако эта независимость только кажущаяся. При малых размерах диспергирующего элемента дифракция исказит изображение входного растра, и реальная разрешающая сила прибора может оказаться значительно меньшей, чем рассчитанная по формуле (49.18) без учета размеров диспергирующего элемента. Наибольшим искажениям подвергнутся изображения наиболее узких полос растра. Они окажутся на пределе разрешения, когда ширина темной полосы растра будет равна дифракционной полуширине бх изображения точки. Расстояние между серединами двух соседних светлых полос на краю растра равно приближенно сумме ширин двух соседних (светлой и темной) полос. Приравняем это расстояние величине 2Ьх. Тогда [c.367]

    Третий тип упомянутых выше измерений относится к измерениям потенциалов появления, продолжительности жизни иона, эффективности ионизации. Они могут быть использованы для выяснения расположения атомов в ионе и, следовательно, для определения структурной формулы. При установлении структурной формулы трудно точно перечислить в определенной последовательности все этапы измерений, как это имело место при установлении молекулярной формулы. Ключом к установлению структурной формулы могут быть все перечисленные типы измерений, а также измерения относительных интенсивностей пиков осколочных ионов, исследования двузарядных и метастабильных ионов. Затруднения, возникающие при определении структуры, обычно не являются непреодолимыми однако успех во многом зависит от оператора, от тщательности с которой он проводит исследование и контролирует такие параметры, как энергия ионизирующих электронов, количество образца, скорость испытания, чувствительность детектирующей системы, разрешающая сила прибора и т. д. [c.299]

    Пик в масс-спектре чистого соединения не может быть отнесен к молекулярному иону, если он представляет собой дублет [исключение составляет наложение пиков (М— )" от изотопов]. Разрешающая сила приборов часто бывает недостаточна для разделения близких дублетов,и если форма пика указывает на его синглет-ность, то наличие ионов другого типа можно обнаружить измерением распространенностей изотопов, которые могут быть несколько необычными по сравнению с нормальным ионом, в гипотетическом примере, приведенном на стр. 311. Это будет указывать на присутствие ионов другого типа в пике, соответствующем массе изотопных ионов, а также на то, что ионы, обладающие более низкой массой, не могут быть молекулярными. Наиболее тяжелые ионы в спектре чистого соединения не могут быть молекулярными, если точное измерение масс двух наиболее тяжелых ионов в спектре дает формулу, содержащую большую разность в атомном составе, чем это следует из их разности по массам. [c.315]

    Разрешающая сила прибора. Второй весьма важной характеристикой прибора является его разрешающая сила R, определяемая по следующей формуле  [c.92]

    Распространение методов масс-снектрометрического анализа на высококипящие смеси стало возможным после введения нагрева системы напуска для полного испарения пробы и увеличения разрешающей силы прибора. Указанные усовершаиствования позволили перейти к групповому и структурному анализу высококи-пящих нефтяных продуктов. Расшифровка масс-спектров смесей тяжелых углеводородов основана па калибровочных спектрах чистых углеводородов, типичных для данной группы, а та1 же спектрах узких нефтяных фракций. Наличие эталонов и усовершенствование аппаратуры позволили разработать ан ичитические ме- [c.6]

    Рентгеновские пгспектры поглощения самария в гексаборидах получали с помощью длинноволнового рентгеновского спектрографа ДРС-3 в первом порядке отражения от плоскости (1340) кристалла кварца. Регистрация спектров — фотографическая. Радиус кривизны кристалла 500 жлг. Дисперсия 2,9 Х/мм. Разрешающая сила прибора —15 000. Режим работы рентгеновской трубки 30 ма, 15 кв. Анод — вольфрамовый. Экспозиция 5—10 час. Оптимальная толщина поглотителей 5—6 мг/см . [c.46]

    Расчет астигматизма по формуле (14.12) показывает, что у большинства стигматнч-ных спектрографов астигматическая фокаль составляет несколько десятых долей мм, а кома 0,02 — 0,03 мм. Фокаль, направление которой совпадает с направлением изображения спектральных линий, не снижает разрешающей силы прибора, но препятствует применению ступенчатых ослабителей с малой высотой ступени. [c.173]

    Применение ЯМР для количественного анализа связано с более высокими требованиями к разрешающей силе прибора, стабильности развертки, линейности усилителей и других радиосхем. Очеввдо поэтому аналитическое применение пока еще не так широко разработано. [c.332]

    Бейнон и соавторы, используя технику высокого разрешения, получили масс-спектры длинноцепочечных парафинов, меченных [46], триметилгидразина [49], 5 циклических кетонов [481, 27 сложных алифатических эфиров [471, различных хинонов и полициклических кетонов [50[. Разрешающая сила приборов, равная 2500, обеспечила возможность определения структуры различных ионов в этих соединениях. Карлсон и соавторы [81], используя эти методы, исследовали нефтяные фракции и обнаружили несколько ранее неизвестных молекулярных структур. [c.663]


Смотреть страницы где упоминается термин Разрешающая сила прибора: [c.237]    [c.237]    [c.49]    [c.22]    [c.27]    [c.61]    [c.62]    [c.140]    [c.171]    [c.175]    [c.217]    [c.78]    [c.117]    [c.69]    [c.244]    [c.362]    [c.93]   
Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов (1960) -- [ c.104 , c.106 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Сила разрешающая



© 2024 chem21.info Реклама на сайте