сиектроскопия

Ядерный магнитный резонанс веществ, находящихся в растворе, позволил исследовать параметры спектра и получил название ЯМР-сиектроскопии высокого разрешения. К середине 50-х годов-были разработаны теоретические принципы применения метода для самых разнообразных задач химии. В настоящее время быстро развивающаяся техника и методы эксперимента в ЯМР-спектроско-пни выявили необходимость использования импульсных методов, наряду со стационарными. Разработка серийных устройств, регистрирующих спектры высокого разрешения методом Фурье преобразования, дало возможность сократить время эксперимента и в ряде случаев получать более обширную информацию по сравнению с неимпульсными методиками. Метод ЯМР (как в импульсном, так и в стационарном варианте) позволяет определить константы равновесия, константы скоростей и термодинамические хара ктеристики процессов комнлексообразования, конформационных переходов и протонного обмена. [c.253]

Установить наличие водородной связи можно различными способами, в том числе измерением дипольных моментов, по особенностям растворимости, понижению температуры замерзания, теплотам смешения, но наиболее важный способ основан на том влиянии, которое оказывает водородная связь на вид инфракрасных [9] и других спектров. Частоты колебаний в ИК-спектре таких групп, как О—Н и С = О, значительно сдвигаются, если эти группы участвуют в образовании водородной связи. При этом всегда наблюдается сдвиг полос поглощения в область более низких частот для обеих групп А—Н и В, причем для первых этот сдвиг более значителен. Например, свободная группа ОН в спиртах и фенолах поглощает в области от 3590 до 3650 см если же эта группа участвует в образовании водородной связи, полоса поглощения смещается на 50—100 см и расположена в области от 3500 до 3600 см [10]. Во многих случаях в разбавленных растворах только часть ОН-групп участвует в образовании водородных связей, а часть находится в свободном состоянии, тогда в спектрах наблюдается два пика. С помощью инфракрасной спектроскопии можно различить меж- и внутримолекулярные водородные связи, поскольку первые дают более интенсивный пик при повышении концентрации. Для определения водородных связей используются и другие виды спектроскопии КР-, электронная, ЯМР-сиектроскопия [11, 12]. Поскольку при образовании водородной связи протон быстро переходит от одного атома к другому, ЯМР-спектрометр записывает усредненный сигнал. Водородную связь определяют обычно по смещению химического сдвига в более слабое поле. Водородная связь меняется в зависимости от температуры и концентрации, поэтому сравнение спектров, записанных в разных условиях, служит для определения наличия водородной связи и измерения ее прочности. Как и в ИК-спектрах, в спектрах ЯМР можно различить меж- и внутримолекулярные водородные связи, так как последняя не зависит от концентрации. [c.115]

Практическое значение ФЭ-сиектроскопии состоит в том, что-она экспериментально определяет энергии молекулярных орбита-лей. При расшифровке ФЭ-спектров точно определяются энергии СМО, РМО и НМО валентных электронов, что имеет первостепенное значение при правильном заселении соответствующих молекулярных орбиталей электронами. Для твердых веществ ФЭ-спектры-дают ценную информацию о структуре и заселенности зоны валентных электронов. А от особенностей структуры и заселенности зоны [c.184]

Хорошо известно, что наши сведения об атомно-пространственном строении вещества мы получаем главным образом в результате дифракционных и прежде всего рентгеноструктурных исследований кристаллов. Систематизация этих данных, установление общих и частных закономерностей в строении кристаллов, анализ зависимости строения кристаллов от их химического состава и далее физико-химических свойств кристаллов от их строения — это область кристаллохимии. Книгу А. Уэллса, однако, нельзя рассматривать просто как фундаментальный труд по кристаллохимии неорганических соединений. Термин структурная химия значительно лучше передает его специфику. Дело не только и, пожалуй, не столько в том, что помимо результатов рентгеноструктурных исследований автор привлекает данные электронографии газов, микроволновой и ИК-сиектроскопии, а эпизодически также и других физико-химических методов, позволяющих делать предположительные заключения о строении структурных единиц в группах соединений по аналогии . Важнее то обстоятельство, что монография А. Уэллса написана в расчете на химика широкого профиля, не имеющего специальной кристаллохимической подготовки. [c.5]

Методом ИК-сиектроскопии Гриффитс, Маршалл и Рочестер [c.905]

С помощью различных экспериментальных методов, таких как измерение давления пара [254—256] и теплоты смешивания [256— 261], ИК-сиектроскопия [262—264] и определение кажущегося мольного объема [261, 265, 266], был установлен факт взаимодействия нейтральных фосфорорганических эфиров с различными органическими разбавителями. Предположение о таком взаимодействии было сделано ранее на основе данных но распределению. Неидеальное поведение бинарных систем есть скорее правило, чем исключение. Направление и степень отклонения (от идеальности) зависят от природы обоих компонентов, причем наиболее заметно отклонение в системах, где используется полярный разбавитель [257, 260, 261, 264]. Обнарул<еп образующийся в упомянутых условиях комплекс 1 1с хлороформом и другими растворителями [258, 259]. [c.44]

Характеристические полосы поглощения позволяют идентифицировать в полисахаридах ГМЦ различные функциональные группы карбоксильные, карбонильные, ацетильные, амидные и др. ИК-сиектроскопия является оперативным методом контроля полноты метилирования полисахаридов, когда по отсутствию полосы поглощения гидроксильной группы (3400—3600 см ) судят о завершении метилирования. [c.72]

Изучение химической структуры угля насчитывает более чем вековую историю и тем не менее многие представления еще являются дискуссионными. Оно осуществлялось двумя основными путями 1) расчленением ОМУ на фрагменты малой молекулярной массы, доступные для идентификации их строения химическими методами и 2) изучением структуры самой ОМУ химическими и главным образом физическими методами ИК-сиектроскопией, дифракцией и рассеянием рентгеновских лучей, а в последнее время и ЯМР-спектроскопией. [c.85]

Идентификация соединений и качественный анализ стабильных продуктов химических реакций. При исследовании механизма хими-ческо11 реакции очень важно знать, какие вещества и в каких соотношениях образовались в результате реакции это дает ценную информацию о возможных нутях протекания процесса, а также о промежуточных веществах. В этом отношении ИК-сиектроскопия дополняет другие методы исследования. Особенно большую ценность представляет метод ИК-спектроскопии для обнаружения и идентификации различных веществ. Так, многие вещества (предельные углеводороды, олефины с несопряженной двойной связью) не поглощают в видимой и УФ-областях спектра, но дают характерные ИК-сиектры. [c.211]

Рентгеновская дифракция ядерный магнитный резонанс (широких линий) ИК-сиектроскопия по плотности по теплотам плавления и т. д. [c.163]

Основные научные работы посвящены изучению механизма гетерогенного катализа. Ввел в практику исследований гетерогенных катализаторов ряд новых спектральных методов (электронный парамагнитный резонанс, отражательную УФ-сиектроскопию, ядерный магнитный резонанс высокого разрешения). Впервые экспериментально изучил свойства поверхно- [c.216]

Приведенные данные указывают на значительную роль полярографических методов, одиако едва ли доля полярографии в системе методов определения микроэлементов будет возрастать. Хотелось бы отметить успехи искровой масс-сиектроскопии и прямой потенциометрии, т. е. использования ионоселективных электродов (ионо-метрия). У этих методов большое будущее. Так, искровая масс-спектрометрия хотя и связана пока с использованием малодоступного и дорогого оборудования, имеет тем не менее немалые возможности. Необязательность химической подготовки в этом методе устраняет опасность загрязнений определяемыми элементами. Метод обладает исключительно низким пределом обнаружения, здесь невелико влияние основы. [c.96]

Ароматические соединения, образующиеся в результате реакции дегидрирования, обычно содержат мало или не содержат совсем асимметрических атомов углерода. Поэтому строение их углеродного скелета и часто даже положение заместителей можно установить с помощью УФ-сиектроскопии. Образующиеся ароматические соединения можно затем получить встречным синтезом или сравнить с уже известными соединениями. Идентификация этих ароматических соединений дает важные сведения о структуре более сложных веществ. [c.154]

Рассмотрим ряд примеров, заимствованных из текущей литературы, которые иллюстрируют различные направления применения сиектроскопии ЯМР при установлении структуры природных соединений. [c.264]

Сеточная модель удовлетворительно описывает ориентирование нри не очень высоких степенях растяжения аморфных пластиков (напр., полиметилметакрилата, атактич. полистирола), эластомеров и значительно хуже — ориентационную вытяжку кристаллизующихся полимеров. Слабой стороной этой модели раньше было отсутствие прямых данных об узлах сетки и о длине и состоянии отрезков молекул между узлами. Теперь, в связи с развитием многих прямых физич. методов изучения полимеров (инфракрасная сиектроскопия, ядерный магнитный резонанс, ультразвук и др.), есть возможность восполнить эти пробелы. [c.259]

Для определения химического состава углеводородов применяют физические методы фракционную перегонку га< за при низких температурах масс-сиектроскопию и газо вую хроматографию. Для фракционной перегонки газ служит прпбор, O HOBHOf [c.52]

На основе данных ПМР-сиектроскопии и рентгеноструктурного анализа была предложена модель гипотетической иадмолекуляр-ной структуры асфальтенов, в которой базисные плоскости связаны между собой метиленовыми цеиочками (рис. 1). Такие структуры асфальтенов характерны для нефтяных систем, подвергнутых термоокислительной и термической конденсации (соответственно производство битумов и пеков). При осуществлении физических процессов (наиример, деасфальтизация нефтяных остатков) могут также образоваться надмолекулярные структуры, аиалог 1чные изображенным на рис. 1, но в таких структурах базисные плоскости связаны между собой силами Ван-дер-Ваальса (образуются ассоциаты). [c.30]

ЭПР-спектроскопия. Возможность применения методов ЭПР-сиектроскопии обусловлена наличием свободных устойчивых радикалов, концентрирующихся в смолисто-асфальтеновых веществах [142]. Как правило, радикалы делокализованы ио коиденснрованным ареновым структурам. Оценки по измерен- ым значениям концентрации парамагнитных центров показывают, что при молекулярной массе асфальтенов около 2000 один радикал приходится на несколько десятков молекул. [c.99]

Современные физические методы нсс 1едования (ИК- и ЯМР-спектроокопия) позволяют определять наличие и концентрацию различных звеньев, образ ющих макромолекулы ПИ. Содержание 1,2-, 3,4- и 1,4-звеньев обычно устанавливают методом ИК-спектроскопии. При расчете количества цис-1,4, и транс-1,4-структур отдают предпочтенпе методу ПМР, имеющему меньшую погрешность при регистрации 1,4-звеньев различной геометрической конфигурации но сравнению с методом ИК-сиектроскопии. Однако эти сведения не позволяют судить [c.91]

Для определения методом ИК-сиектроскопи состава функциональных групп твердого вещества, концентрация которых гораздо меньше концентрации атомов остова, обычно берут большую навеску вещества. Однако это может привести к полному поглощению излучения в области наиболее интенсивных [c.158]

Рефракции водородных связей в этом ряду изменяются, в общем, симбатно с изменением их силы, как это можно представить себе на основании общих соображений и данных рентгеноструктуриого и ИК-сиектроскопи-ческого анализа, хотя имеются и отклонения, вызванные как возможными ошибками в измерении мольных рефракций, так и дефектами в количественной характеристике Н-связей традиционными методами, о которых уже [c.186]

Определение координационных чисел в силикатах является, действительно, важной задачей, и рефрактометрический метод имеет здесь ряд преимуществ перед рентгенографическими и спектроскопическими методами как в отношении простоты самого эксперимента (сравнительно с рентгеноструктурным анализом), так и в отношении трактовки результатов опыта (сравнительно с ИК- и УФ-сиектроскопией). Эта работа была выполпена автором в 1957 г, [258] и недавно продолжена совместно с Порошиной [259, 260], [c.216]

При переходе от АК-1 к АК-3 относительное содержание ареновых структур уменьшается за счет увеличения нафтеновых фрагментов количество атомов углерода в алкильном окру кении увеличивается (табл. 23). Масс-спектральные данные соответствуют данным ПМР-сиектроскопии. Среднее число атомов углерода в ядре и средняя длина алкильных заместителей установлены но распределению пиков молекулярных и псев-домолекулярпых [М—К]+ ионов. [c.31]

В 20 X гг. 20 в. Ф. Преглем создается количеств, микро лнали.ч, требующий для его осуществления 1—2 мг в-ва. Совери еиствуются и создаклся новые ( >из, методы анализа хроматография, ЭПР, рентгеноструктурный апализ, масс-сиектроскопия, ЯМР-, ИК- и УФ-спектрометрия н др. Они дали возмол<ность быстрого и точного определения структуры орг. в-в практически без применения хим. методов. [c.413]

Повышенное содержание воды при низкой пористости, как показывают данные, полученные по адсорбции азота, наводит на мысль, что сферические частицы размером 200 нм в свою очередь составляются из плотно упакованных меньших по размеру частиц диаметром 10—20 нм, поверхность которых покрыта слоем групп SiOH. Еш е меньшие промежутки между такими малыми частицами должны составлять только 10—20 А в диаметре, так что вода внутри промежутков должна удерживаться ирочно. Подобная структура, предложенная Джоунсом и Сегнитом [354], была подтверждена электронно-микроскопическими снимками, кривыми дегидратации образцов и исследованиями методом ИК-сиектроскопии. Грир [355] пришел к заключению, что сферические частицы присоединяются к структуре опала посредством механизма винтовой дислокации в процессе роста кристалла. [c.548]

Гобель [379] высказал предположение, что частично дегидроксилированная поверхность кремнезема действует подобно ангидриду кислоты. Физически адсорбированные молекулы сиирта вступают в реакцию даже при 25°С с образованием поверхностных груии эфира. Для того чтобы это произошло, необходимо активировать поверхность, поддерживая оптимальную температуру дегидратации ири 550°С. При такой температуре на иоверхности остается иримерно 2 груииы SiOH на I нм , а получаемый ио реакции конечный продукт содержит 2 н-ВпО-груипы/нм , однако механизм реакции неизвестен. Мертенс [380] методом ПК-сиектроскопии получил данные, подтверждающие, что в ироцессе такой реакции идет вскрытие силоксановых мостиков. [c.958]

Важно отметить, что данные по кинетике изомеризации полностью согласуются с результатакп- УФ-сиектроскопии (таблица 4), где обнаружена возможность различия 6- и 8-С-замешенных производных, а также с данными поляриметрического анализа (таблица 6). где по величине и знаку оптического вращения исходных соединений и, особенно, их ацетильных производных возможно различать ротационных конфомеры и а-, (З- зпимеры. [c.116]

Сиектроскоп для целей химического анализа был впервые применен приблизительно в 1860. г. Кирхгоффом и Бунзеном. Открытие с его помощью цезия (1860), рубидия (1861), таллия (1861) и индия (1863) скоро показало, какие широкие (возможности представляет спектроскоп при химических исследованиях. [c.97]

Для выяснения природы структурной воды, обусловливающей наблюдаемый экстремум на кривых ТПД, можно привлечь данные ИК-сиектроскопии. Установлено, что при прокаливании в рассматриваемой нами области температур в ИК-спектрах силикагелей происходит постепенное исчезновенпе широкой полосы погло щения с максимумом около 3550 см . Большинство исследователей [1—7] относят эту полосу поглощения к проявлению валентных колебаний гидроксильных групп поверхности кремнезема, связанных между собой водородными связями. При этом мало изменяется интенсивность узкой полосы поглощения с максимумом при 3750 см , которая, по единодушному мнению, относится к валентным колебаниям изолированных поверхностных силанольных групп. Учитывая это, можно предположить, что наблюдаемая нами термодесорбционпая форма обусловлена в основном удалением удерживаемых водородными связями поверхностных гидроксильных групп. [c.23]

Стрейм и сотр. [273] применяли газовую хроматографию и сиектроскопию в ближней ИК-области для определения воды в алкилгидразинах (см. табл. 5-16) и аминах, используемых [c.325]

Тяжелые нефтяные остатки анализировали по схеме, приведенной на рис. 2.2. Из остаточной фракции, выкипающей при температуре >490°С, к-гептаном выделяли асфальтены [1]. Деасфальтенизат подвергали фракционированию на силикагеле АСК с отбором фракции насыщенных углеводородов и четырех фракций ароматических углеводородов. Каждую выделенную фракцию дополнительно хроматографировали на оксиде алюминия. Критерием для объединения хроматографических фракций, кроме показателя преломления, служили электронные спектры поглощения и величины Rf на закрепленном тонком слое силикагеля (пластины Силуфол , ЧССР). Фракции ароматических углеводородов изучали с применением метода ПМР-сиектроскопии. [c.36]

Если в показатель экспоненты (25) подставить истинную энергию диссоциации О (определенную, например, сиектроскопи- [c.219]

Для измерений Ь , нами была разработана специальная схема радио-сиектроскопа. Блок-схема установки приведена на рисунке. [c.36]

В процессе синтеза и изучения свойств различных производных ряда фентиазина, представляющих интерес как потенциальные биологически активные соединения, мы иснользовали инфракрасную сиектроскопию для получения дополнительной информации об особенностях строения и свойств исследуемых бенз- и дибензфентиазинов и их сульфоокисей и сульфонов. [c.63]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология