Излучение спектральных линий

Интенсивность спектральной линии при постоянных условиях пропорциональна количеству введенных в пламя атомов элемента или концентрации соли металла в анализируемом растворе. Однако в реальных случаях эта зависимость может нарушаться вследствие протекания в пламени процессов самопоглощения, ионизации и образования термически устойчивых соединений. На рис. 1.13 представлена зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации элемента в растворе. При средних содержаниях определяемого элемента в растворе эта зависимость линейна. Для больших содержаний сказывается влияние самопоглощения эмиссии атомов в плазме и в этом случае интенсивность излучения спектральной линии пропорциональна корню квадратному, из концентрации элемента в растворе. При очень низких концентрациях элемента и высокой температуре плазмы проявляется процесс ионизации его атомов и интенсивность излучения спектральной линии пропорциональна квадрату концентрации. В обоих случаях градуировочный график искривляется. Кроме процессов, указанных выше, на ход графика влияет ряд других факторов, поэтому определение элементов в методе фотометрии пламени проводят с использованием серии растворов сравнения. Они должны содержать все вещества, входящие в состав исследуемого раствора, и фотометрироваться в одинаковых с ним условиях. [c.37]

Совокупность длин волн электромагнитного излучения (спектральных линий), относящихся к определенному атому (молекуле), назы- [c.5]

Метод основан на поглощении атомами меди в пламени пропан — бутан — воздух резонансного излучения спектральной линии [c.50]

Метод основан на поглощении атомами свинца в пламени пропан — бутан — воздух резонансного излучения спектральной линии 283,3 нм (6 Ро—7 Р°1), получаемого от лампы с полым катодом. [c.52]

Предиссоциация возникает при пересечении потенциальных кривых двух различных возбужденных электронных состояний и наличия канала безызлучательного внутримолекулярного обмена энергией между ними. На рис. 3.3 показано пересечение потенциальных кривых для молекулы 5г- Так как диффузная область возникает при увеличении ширины линии отдельных вращательных переходов, то прежде всего нужно рассмотреть, чем определяется ширина линии в отсутствие безызлучательного перехода. В отсутствие молекулярных столкновений частицы остаются в возбужденном состоянии некоторый промежуток времени (радиационное время жизни то) порядка 1/Л, где Л — коэффициент Эйнштейна для спонтанного излучения. Спектральная линия имеет минимальную конечную ширину — естественную ширину линии, которая связана с радиационным временем жизни соотношением, основанным на принципе неопределенности Гейзенберга [c.51]

Регистрирующая система объединяет все средства обнаружения и регистрации интенсивности излучения спектральной линии. В нее входят фотоэлементы или фотоэлектроумножители, усилительные и регистрирующие приборы. [c.694]

Максимальная интенсивность излучения спектральных линий ртути достигается при температуре дуги 6660—6860° К. [c.125]

Можно связать интенсивность излучения спектральной линии с концентрацией исследуемого элемента в пробе (при отсутствии самопоглощения). [c.239]

Как правило, регистрация энергии, содержащейся в излучении спектральной линии, осуществляется фотоэлементом или фотоумножителем. Для уверенного измерения сигнала необходимо усреднение интенсивностей, излучаемых спектральными линиями. Фотоэлектрическая измерительная схема должна это обеспечить [c.269]

Выражение для интенсивности монохроматического излучения спектральной линии, т. е. энергии, излучаемой единичным объемом источника в единице телесного угла при переходе атомов определяемого элемента из возбужденного состояния <7 в низшее энергетическое состояние р, имеет вид [c.86]

В эмиссионном спектральном анализе обычно регистрируется спектр интегрального излучения столба дуги, вертикальное изображение которого проектируется либо на щель, либо на колли-маторный объектив спектрографа. В первом случае в прибор попадает излучение спектральной линии от узкой вертикальной полосы столба, вырезанной по его осевому сеч ию, т. е. интегрированное по диаметру. Это излучение с точностью до некоторого постоянного множителя описывается интегралом вида [c.100]

Пламя большой протяженности, в котором распыляется анализируемый раствор, просвечивается направленным вдоль пламени пучком модулированного излучения соответствующего источника света это излучение поглощается невозбужденными атомами определяемого элемента, которые, возвращаясь затем в нормальное состояние, флуоресцируют — высвечивают поглощенную ими энергию (или часть ее) возникающее флуоресцентное излучение спектральной линии определяемого элемента регистрируется в направлении, перпендикулярном пучку света, просвечивающему пламя (ширина пламени не должна превышать диаметра просвечивающего пучка). Благодаря модуляции света и простоте спектра флуоресценции, выделение его может осуществляться простым монохроматором и даже [c.213]

Лампы с полым катодом. Мышьяк является легколетучим элементом, быстро испаряющимся с повер.хности катода. Поэтому для создания полых катодов из мышьяка были испытаны его сплавы. С помощью некоторых из них удавалось создать лампы с интенсивным излучением спектральных линий мышьяка, но долговечность таких ламп только в редких случаях превышала 100 ч (1о-ч). Эта цифра явно недоста- [c.107]

Излучение спектральных линий, прошедшее через выходные щели, фокусируется сферическими зеркалами 4 на десять торцовых фотоумножителей 5 типа ФЭУ-39А с сурьмяно-цезиевыми фотокатодами и кварцевыми окнами, пропускающими излучение до 1650 А. [c.47]

Экспериментально радиальное распределение интенсивности излучения спектральной линии устанавливают путем регистрации спектра горизонтального изображения столба дуги, резко спроектированного на щель спектрографа. Результаты фотометрирования полученных спектрограмм обрабатывают с помощью специальной процедуры (графическое или аналитическое решение интегрального уравнения Абеля), позволяющей выделить из зарегистрированного интегрального излучения интенсивность излучения в каждой кольцевой зоне, расположенной на определенном расстоянии от оси разряда [997, 1159, 1163, 987]. [c.100]

Особенности распределения излучения спектральных линий вдоль разрядного промежутка [c.120]

Спектр, возбуждаемый в плазменной струе, характеризуется интенсивным сплошным фоном, возникающим вследствие высокой концентрации электронов. Отмечено уменьшение фона при добавлении в поток аргона гелия [1119, 1432]. Однако несмотря на интенсивный фон высокая временная и пространственная стабильность всех параметров плазменной струи позволяет надежно регистрировать излучение очень слабых линий, интенсивность которых составляет сотые доли интенсивности сплошного фона. Это — одно из главных достоинств плазматрона как источника света для спектрального определения следов элементов. Оптимальные условия, обеспечивающие наилучшее отношение интенсивности аналитических линий к интенсивности фона, подбирают регулировкой параметров источника они различны для разных плазматронов. Флуктуации абсолютных и относительных интенсивностей излучения спектральных линий характеризуются обычно коэффициентом вариации 2—3%, а в ряде случаев — 1 % и меньше. [c.163]

Согласно этому соотношению, скорректированную величину У/, относящуюся исключительно к излучению спектральной линии, находят следующим образом [c.120]

С помощью этих численных величин и соотношения (5.5.7.1) рассчитывают величину Yi, соответствующую излучению спектральной линии (см. табл. 9.4.9). [c.121]

Теоретически установлено, что интенсивность спектральной линии зависит не только от разности энергии ( 2— 1), но и от числа переходов электрона с дальней орбиты на ближнюю в секунду. В течение каждой секунды в определенном числе возбужденных атомов происходит переход электронов из состояния Е2 в состояние Е. Если обозначить это число атомов через N2-1, то интенсивность излучения спектральной линии I, соответствующая этому переходу, будет равна [c.16]

На рис. 2.41 показаны фотографии непрерывно горящего оптического разряда, па рис. 2.42 — температурное поле разряда. Температуру измеряли по континууму излучения в узком интервале длин волн вблизи Л = 5125 А и интенсивности излучения спектральных линий атомов и ионов азота. Центр плазменного сгустка на рис. 2.41 сдвинут на 1,1 см к источнику излучения. Температура в центре сгустка при Р = = 2 атм была равна 18000 К в Аг, 14000 К в Хе. Нри Р = 6 атм в Н2 температура равна 21000 К, в N2 при 2 атм — 22000 К. Температура всегда падает монотонно от центра к периферии плазменного сгустка. Размеры сгустка всегда находятся в пределах 3 -Ь 15 мм, плазма вытягивается вдоль оптической оси. Очень важные в практическом отношении зависимости показаны на рис. 2.43 — пороговые мощности лазеров при возбуждении оптических разрядов в различных газах в зависимости от давления. Во всех исследованных газах пороговая мощность лазера резко возрастает с давлением. [c.96]

Отмечено, что максимум интенсивности излучения спектральных линий в струе плазмы широкого круга элементов с энергиями возбуждения линий 2—9 эВ находится вне струи плазмы и приходится на ее периферию [174]. Поэтому исследования проводили в зоне струи плазмы, расположенной на расстоянии 1,5 — [c.58]

Метод пламенной фотометрии основан на фото мет ричес- ком измерении излучения элементов в высокотемператур. ном пламени. Анализируе.мый раствор сжатым воздухом разбрызгивается в пламени газовой горелки, в которой сгорает ацетилен, водород, светильный или какой-либо другой газ. Пламя горелки при этом окрашивается в характерный для данного элемента цвет. Пламя горелки служит также источником света для возбуждения спектра. Оптическим устройством прибора выделают спектральную линию определяемого элемента и измеряют ее интенсивность с помощью фотоэлемента. Интенсивность излучения спектральной линии прямо пропорциональна концентрации соли в растворе (в определенных границах). Концентрацию элемента определяют по градуировочному графику или с помощью компенсационного самописца. [c.246]

Для наблюдения термического возбуждения мон<но помещать щелочной металл в графитовую трубку Т (рис. 44), открытую с обоих концов. Эта трубка находится внутри эвакуируемой камеры, снабжённой окошками Л и 5, и нагревается током / в несколько сот ампер, проходящим по стенкам графитовой трубки. Критерием температурного излучения является совпадение интенсивности монохроматического излучения спектральных линий газа с интенсивностью излучения той же длины волны в спектре чёрного тела при той же температуре. [c.127]

Излучение спектральных линий. Не только первый, но и второй основной постулат теории Бора [условие частот (,32)] может быть получен яз квантовой Механики без специальных гипотез. [c.104]

Совокупность длин волн электромагнитного излучения (спектральных линий), относящихся к определенному атому (молекуле), называется спектром данного атома (молекулы). Если энергия начального состояния В1 больше энергии -конечного состояния В2, между которыми происходит переход, полученный спектр является спектром испускания если Е1<.Е2, то получают спектр поглощения. [c.162]

Непрерывный спектральный фон затухает быстрее, чем излучение спектральных линий с низким потенциалом возбуждения. Поэтому если исключить этот период времени наблюдения (длящийся несколько микросекунд), то можно повысить чувствительность метода без ухудшения его точности. Примеры анализа с ис- [c.102]

Стабильное излучение спектральных линий возможно только при стабильной температуре плазмы. Но последняя гораздо сильнее, чем тава плазмы и ионизационных потенциалов ее компонентов. Самая высокая температура (рис. 7) наблюдается в угольной дуге. Если в разрядный промежуток между угольными электродами вводить другие компоненты, температура дуги падает. [c.25]

Металл обычно вводят в пламя в виде солей. Соль испаряется и диссоциирует в пламени, выделяя атомы металла и другие продукты. Нет необходимости в том, чтобы соль полностью испарилась или чтобы установилось равновесие диссоциации. Необходимо только, чтобы активация и дезактивация атомов металла путем столкновения с другими молекулами, происходила достаточно быстро, чтобы поддерживать равновесную концентрацию атомов в электронных квантовых состояниях, соответствующих поглощению и излучению спектральных линий. [c.175]

Для практического анализа важно исследовать свойства пламен при наблюдении вдоль щели. Обычно при таких измерениях пламя считали изотропным вдоль любого луча, параллельного щели (ось ох). В работе [47] для проверки этого предположения было изучено распределение атомного поглощения (концентрации атомов) А и интенсивности излучения / спектральных линий ряда элементов при наблюдении поперек щели (ось оу), примеры которых показаны на рис. 2.5. [c.75]

Если входная щель освещается излучением, спектр которого каким-либо образом зависит от длины волны, например излучением спектральной линии с определеннг11м контуром, то вследствие действия аппаратной функции каждая монохроматическая составляющая будет обладать своим контуром, поэтому изображение всей спектральной линии в фокальной плоскости будет иметь сложный контур, представляющий собой свертку двух контуров истинного и аппаратного. Именно конечная ширина аппаратной функции приводит к тому, что наблюдаемый в фокальной плоскости спектр, образованный реальным спектральным прибором, отличается от истинного. В частности, ширина наблюдаемого спектра всегда больше ширины нстинного- [c.20]

Измерение интенсивности излучения спектральных линий определяемых элементов можно проводить на отечественных пламенных фотометрах, например типа ПФЛ-1, ПФМ, ПАЖ-1 или Р1ар1ю-4 (ГДР) и др., а поглощение резонансных линий — на атомно-абсорбционных спектрофотометрах, например типа Спектр-Ь и Сатурн (СССР), АА5-1 (ГДР) и др. В качестве регистрирующих систем могут использоваться вольтметры и потенциометры, снабженные цифровыми или печатающими устройствами. Точность методов пламенной фотометрии и атомной абсорбции в зависимости от концентра- [c.43]

Как будет показано ниже, излучение источника света должно быть промодулировано для того, чтобы можно было отделить измеряемый сигнал абсорбции от собственного излучения атомизатора. Для этого применяют питание ламп импульсным током, что дополнительно дает возможность повысрггь яркость излучения спектральных линий. [c.828]

Процессы излучения спектральных линий связаны не только с процессами прямого возбуждения атомов, но и с так называемыми вторичными процессами, а именно ступенчатым возбуждением и ударами второго рода. Возбужденный атом может вер уться в нормальное состояние или на один из более низких уровней, не излучая света, если он отдает свою энергию возбуждения электрону или другой частице, присутствующей в разряде. Ступенчатое возбуждение, напротив, переводит возбужденные атомы в более высокое энергетическое состояние. Оно возможно благодаря тому, что атом находится в возбужденном состоянии в течение некоторого промежутка времени, и поэтому возбужденный атом может испытать неупругое столкновение с электроном и перейти в более высокое возбужденное со-стояние. Таким образом, в атоме накапливается энергия. путем последовательного столкновения с электронами. Ступенчатое возбуждение может играть значительную роль, несмотря на малую вероятность столкновения возбужденного атома с электроном. Этому способствует наличие метастабильных атомов и диффузия резонансного излучения. Теория диффузии резонансгюго излучения была создана Комптоном п мочнена Л. М. Би-берманом РП 1 Холстейном р . [c.18]

По сообщению Гидли и Джонса держащих кислот создавало помехи при определении цинка. Эти авторы, а также Аллан показали, что помехи появлялись потому, что они использовали латунную лампу, которая излучала спектр меди наряду со спектром цинка, и латунную горелку. Медь имеет три абсорбционные линии с длинами волн 2165, 2178 и 2183 А, расположенные вблизи резонансной линии цинка 2138 А. Галогенсодержащая кислота разрушала поверхность латунной горелки и загрязняла пламя частичками меди, которые поглощали излучение спектральных линий меди. Поэтому при определении цинка в соединениях, содержащих медь, нужно использовать лампы с полыми катодами без малейшей примеси меди. [c.146]

Излучение спектральных линий. Для симметричных спектральных линий вклад К-ш компоненты спектральной линии с центром при волновом числе (йпп в энергию излучепия можно оценить путем умнолгепия спектральной светимости черного тела для т. е. Вишп, на соответ- [c.387]

Прямая пропорциональная зависимость между интенсивностью излучения спектральной линии / и концентрацией элемента в растворе С нарушается из-за процессов оамопотлощения, ионизации, образования труднолетучих соединений. Заметное влияние на интенсивность спектральных линий в пламени оказывает процесс ионизации атомов. В этом случае основной фактор, определяющий форму градуировочного графика, — соотношение между Опар- [c.221]