Микроскоп регулировка

Оригинальную конструкцию нагревательного столика-микрорефрактометра предложили в 1933 г. Н. Веденеева и Н. Меланхолик (см. Определение показателя преломления под микроскопом, Госгеолиздат, М., 1941, стр. 59—68). Сконструированный специально для иммерсионного метода двойной вариации, он представляет собой нагревательный столик с автоматической регулировкой температуры, внутри которого помещен небольшой призменный рефрактометр типа рефрактометра Аббе. Он состоит из двух призм,, соприкасающихся между собой под острым углом (около 60°). Верхняя призма служит измерительной призмой рефрактометра. Измеряемая жидкость помещается между призмами в результате полного внутреннего отражения на границе жидкость — призма часть ноля зрения будет совершенно темной, часть — освещенной преломленными лучами. Положение этой границы можно наблюдать в микроскоп, превратив его введением линзы Бертрана в зрительную трубу. Отечет положения границы производится при помощи окуляр-микрометра, который должен быть заранее градуирован по стеклянной призме или но жидкостям с определенным светопреломлением. (Прим. ред.)- [c.290]

Микроскоп является оптическим многолинзовым устройством для наблюдения элементов, не видимых невооруженным глазом, имеющим регулировки оптических свойств. Он дает возможность получить качественное увеличенное изображение, причем увеличение может достигать 2000 раз, а линейное разрешение — 0,5 мкм. Для целей неразрушающего контроля качества довольно широко применяют микроскопы серийные [1, 2] (универсальные, измерительные, металлографические и др.) и специализированные для решения конкретных контрольно-измерительных задач [1]. Микроскопы позволяют производить визуально-оптический контроль при различных режимах освещения и увеличения, а также по разным методикам. Линзовые системы являются апланатическими, т. е. для них выполняется условие синусов [c.240]

Оптические компоненты должны быть выравнены вдоль оптической оси. Регулировка микроскопа, снабженного осветителем, несложна и требует только центровки конденсора в его оправе. [c.339]

Для обеспечения оптимального оптического сопряжения перископа с микроскопом предусмотрена возможность небольшой регулировки объектива. Эту регулировку производят до закрытия камеры и в дальнейшем за прибором не требуется никакого наблюдения. [c.90]

Для юстировки микроскопа поступают следующим образом. Перед микроскопом помещают осветитель и регулируют вогнутое зеркало, отражающее свет через отверстие в столике на фронтальную линзу объектива. Диафрагму конденсора открывают как можно шире. При работе с естественным светом поступают так же, предварительно определив, какая сторона зеркала (вогнутая или плоская) дает более сильное освещение. Затем на предметный столик помещают чистое предметное стекло так, чтобы одна из длинных сторон его проходила. по центру отверстия в столике. Медленно смотря сбоку на объектив, опускают тубус примерно до половины рабочего расстояния объектива. Затем начинают медленно поднимать тубус, наблюдая через окуляр появление резкого изображения края стекла. Если рабочее расстояние было неверным или предметное стекло помещено неправильно, изображения видно не будет и фокусировку следует повторить. После этого производят окончательную регулировку освещения поворотом плоской и вогнутой поверхностей зеркала до получения наибольшей освещенности. Если свет слишком ярок, то перед конденсорной линзой осветителя помещают матовое стекло или кусок белой бумаги. При наличии у микроскопа конденсора и диафрагмы наиболее яркое освещение получают, перемещая конденсор вверх и вниз. Интенсивность освещения окончательно регулируют, уменьшая размер диафрагмы. Если резкого изображения края предметного стекла получить не удается, можно сделать заключение, что на линзах микроскопа имеется грязь или что освещение неправильное. Последнее легко устраняется соответствующей регулировкой расстояния от источника света до микроскопа. [c.32]

При измерении толщины пленки интегратором переменная составляющая ионного тока поддерживается постоянной и равной 4-10 ° а путем регулировки накала испарителя. Координатами точек на кривых рис. 3-69 являются значения интегрального заряда Q и соответствующие им толщины пленок, измеренные вне вакуумной системы с помощью интерференционного микроскопа. Точность интегрирования заряда проверяется путем измерения длительности испарения с помощью хронометра. [c.259]

Иметь тонкую регулировку (особенно для движения слева-направо), необходимую для координирования инструмента относительно посуды, располагаемой на предметном столике микроскопа. [c.18]

Баллон, соединенный через капилляр с высоковакуумной системой, наполняли азотом. Путем регулировки давления в баллоне удается поддерживать постоянный поток азота через микроскоп при давлении 5-10 мм рт. ст. Давление, замеряемое по ионному току инверсионного ионизационного манометра, непрерывно записывалось в виде функции времени на ленту самописца. Через одинаковые промежутки времени и всегда при постоянном токе эмиссии 3 ца фотографировалась картина авто-электронной эмиссии, причем записывалось значение приложенного напряжения. Кроме того, были получены также данные для [c.511]

Большинство продажных осветителей для микроскопа не удовлетворяют требованиям микрохимической работы, а те модели, которые имеют достаточную гибкость регулировки, очень дороги. Удовлетворительной заменой служат настольные лампы с гибкой ножкой. Заслуживает внимания возможность приспособления маленьких прожекторов автомобилей и мотоциклов, а также велосипедных фар. Очень удобным и достаточно эф ктивным осветителем для микроскопа может служить электрическая лампа от карманного фонаря. Стекло на верхней части такой маленькой лампы наплавлено и образует своего рода конденсорную линзу. Напряжение 2,2 в можно подать на несколько таких ламп обычным трансформатором на 2,5 в, включая последовательно с лампами реостат сопротивлением 10 ом. [c.30]

Предварительная регулировка освещения. Перед микроскопом ставят осветитель и регулируют вогнутое зеркало оно должно отражать свет через отверстие в столике на фронтальную линзу объектива. Если" под столиком имеется диафрагма, то ее надо открыть возможно шире. В случае отсутствия осветителя для микроскопа, можно использовать любой источник света, предпочтительно солнечный свет, отраженный от белых облаков или белых стен, но при этом придется определить, какая сторона зеркала, вогнутая или плоская, дает более сильное освещение. [c.31]

Окончательная регулировка освещения. Зеркало регулируют, пробуя повертывать и плоскую и вогнутую поверхности до тех пор, пока не получат наиболее сильное и равномерное освещение всего поля. Если освещение слишком сильно, то перед конденсорной линзой осветителя помещают матовое стекло или кусок бумаги, или отодвигают осветитель дальше от микроскопа. [c.32]

Рассматривание изображения. Край предметного стекла должен иметь резкое изображение, остальное поле должно быть пустым. Резкость изображения будет страдать, если на линзах микроскопа имеется грязь край стекла будет казаться несколько расплывчатым или затуманенным, причем улучшить изображение регулировкой фокусировки нельзя. Частицы загрязнений на поверхности линз в поле зрения выглядят более или менее резко выраженными пятнами. Недостатки оптической системы устанавливают следующим путем [c.32]

Осмотр устройства для грубой регулировки. Кремальеру проверяют на люфт тубус микроскопа должен оставаться неподвижным. Для осмотра тубус поднимают кремальерой в самое высокое положение. Когда будет видно, что шестерни не зацеп- [c.33]

Камера представляет собой стакан из светонепроницаемого материала с двойными стенками и дном с пазом для установки кюветы. В стенке камеры имеется отверстие для прохождения луча лазера. Внутри камеры на задней стенке помещен электронагреватель, который вызывает конвекцию жидкости. Стабильность взаимного положения лазера с конденсором, рабочей камеры с кюветой и микроскопа обеспечивается конструкцией столика, на котором крепится лазер с конденсором. Осуществляется жесткое крепление этого столика и микроскопа к стальной плите, а также рабочей камеры к столику микроскопа. Для выполнения юстировочных операций предусмотрена возможность плавного перемещения лазера в трех взаимно перпендикулярных направлениях. Для определения расчетного коэффициента проводят регулировку режима нагревателя и измерение скорости конвекции жидкости. Для установления чувствительности усилителя, отвечающей размеру из- [c.271]

После того как все флотационные сосуды загружены, каждый из них соединяют с манометром и устанавливают в них давление при котором они должны находиться в промежутках между измерениями. Оно должно точно равняться равновесному давлению или быть немного больше него. В последнем случае водолаз будет опускаться. Обычно в промежутках между измерениями в сосуде поддерживают давление, превышающее равновесное, в связи с чем водолаз в это время находится на дне сосуда. Избыток давления над равновесным обычно составляет 3—5 см столба манометрической жидкости. Во время измерений давлению дают снизиться до равновесного, после чего отсчитывают показание манометра. Если водолаз находится на дне, то не следует стремиться отрывать его от дна только одним снижением давления. Для этого лучше, постепенно снижая давление, слегка постучать по шейке флотационного сосуда. Для точной установки водолаза на уровне метки, нанесенной на сосуде, следует воспользоваться способом, позволяющим производить тонкую регулировку давления. Правильное положение водолаза относительно метки обычно контролируют с помощью лупы, а при работе с водолазами очень малых размеров для этой цели используют микроскоп со слабым увеличением. Чтобы убедиться в достижении равновесия, отсчет показания манометра следует произвести еще раз. Для этого после отсчета нужно незначительно изменить давление, после чего снова установить его. Равновесное давление, полученное при втором отсчете, должно совпасть с первым. Отдельные отсчеты совпадают с точностью 0,5—0,1 мм. [c.286]

Юстировка микроскопа. После проверки электронной с.хе-мы включают накал катода тумблером 8 и напряжение на катоде электронной пушки (40 кв) тумблером 9. Напряжение на катоде повышают затем до 60, 80 и 100 кв переключателем 10. После включения конденсорной линзы реостатом 11 производят регулировку накала нити катода. При нормальном накале нити катода на флюоресцирующем экране микроскопа наблюдается яркое крупное пятно. [c.245]

Для многих видов объектов и при пользовании хорошими объективами наилучшие изображения получаются в том случае, когда конус светового пучка составляет 0,7—0,9 полной апертуры объектива. Очень полезно всегда применять следующий прием из микроскопа вынимают окуляр и, глядя прямо в тубус, рассматривают заднюю линзу объектива. Таким способом можно не только определить конус освещающего пучка света, но также заметить и исправить все ошибки, связанные с неправильной установкой источника света и конденсора и с наличием пузырьков в масле в случае иммерсионного конденсора. Эта процедура значительно упрощается, если иметь в микроскопе специальный окуляр без линз, а только с малым отверстием, и отдельную линзу с диоптрией- +6, расположенную непосредственно под отверстием (эта линза особенно полезна для наблюдателей пожилого возраста). Можно сберечь очень много времени, если осветитель закрепить на специальном основании, имеющем стопорные штифты для установки микроскопа. Этот прием особенно полезен для микроскопов без наклонной бинокулярной насадки, так как он позволяет переставлять микроскоп в ящик для хранения и обратно на основание для работы без новой регулировки источника света. Опыт показал, что любой микроскоп, если его оставлять открытым в химической лаборатории, быстро пылится и выходит из строя из-за коррозии ответственных частей. [c.205]

Ошибка в 5% при вычислении В/Ео приводит к ошибке 0,20аз в измеряемой скорости. В табл. III.8 приведены значения поправок регулировки хорошо настроенного микроскопа, если внутренний диаметр стеклянной ячейки равен 2 мм, наименьшая толщина стенок 0,25 мм, ] = 0,25 мм = 1,000, = 1,515 (стекло) и = = 1,342. Поправки, полученные при (3° С и фокусировке на верхней внешней поверхности трубки, сведены в графу 2. [c.163]

Так при установке образца в плоскости фокусировки оптического микроскопа ручками регулировки положения столика образца происходит его установка в фокус рентгеновского спектрометра. Направление малой оси эллипсоида является наиболее критичным. Для приборов с малыми углами выхода рентгеновского излучения это направление почти параллельно оси Z, и установка образца по оси Z является самой критичной юстировкой. При больших углах выхода за счет наклона области фокуса Z-компонента увеличивается в l/ os0 раз, что в свою очередь немного уменьшает чувствительность к изменению положения образца по высоте. Другим подходом к решению проблемы -является поворот плоскости круга фокусировки вокруг направления выхода рентгеновского излучения. Такой принцип лежит в основе конструкции горизонтального спектрометра. В этом спектрометре большая ось эллипсоида почти параллельна направлению оси Z, и положение образца по вертикали наименее критично. Вместо этого более вероятной становится расфокусировка в плоскости X —Y. Следует отметить, что в РЭМ, снабженном кристалл-дифракционным спектрометром, отсутствие оптического микроскопа с малой глубиной фокуса для нахождения фокуса спектрометра может вызвать серьезные проблемы при проведении количественного анализа. В этом случае большая глубина фокуса РЭМ является помехой, поскольку трудно наблюдать изменение рабочего расстояния на несколько микрометров, которые критичны для рентгеновских измерений. [c.195]

Метод получения изображения рентгеновском излучении при сканировании по площади представляет по существу растровый рентгеновский микроскоп. Усиленный сигнал от детекторной системы—спектрометра с дисперсией по энергии или кристалл-дифракционного спектрометра — используется для модуляции яркости электронно-лучевой трубки (ЭЛТ), которая сканируется синхронно с электронным пучком. Таким образом, изображение на экране ЭЛТ получают за счет изменения интенсивности рентгеновского излучения с поверхности образца. Здесь используется такая же система развертки с регулировкой увеличения и такой же усилитель, что и в растровом электронном микроскопе (гл. 4). Электронный пучок может сканировать по линии в направлениях X или У и давать распределение рентгеновского излучения по линии. Пример типичного сканирования по линии для Со и Сг по поверхности окисленного высокотемпературного сплава приведен на рис. 5.14 (гл. 5). Электронный пучок можно, конечно, развертывать и по площади н получать изображение в рентгеновских лучах. Изображение в рент-геповски.х лучах при сканировании по площади может содержать тона от черного до белого в зависимости от условий эксперимента. Места с высокой концентрацией исследуемого элемента в пределах области сканирования будут на изображении почти белыми, серыми, когда концентрация элемента ниже, и черными всюду, где элемент отсутствует. Пример, иллюстрирующий результаты исследования руды, приведен на рис. 6.15. [c.296]

Для повышения точности определений были использованы сосуд с двумя капиллярами [10] и горизонтальный микроскоп МГ для отсчета высоты столба манометрической жидкости для более тонкой регулировки давления и тем самым скорости образования пузырьков в систему был поставлен игольчатый дозирующий вентиль. Схема всей установки представлена на рис. 2. Прибор Квейля, описанный впервые в 1953 г., за последние годы довольно широко применяется при определении поверхностного натяжения различных соединений в частности, он использовался при работе с особо чистыми азотор-ганическими соединениями [12]. [c.70]

Швы у краев. Особенно частые неправильные интерпретации тонкой структуры некоторых объектов вызываются процессом экстрафокального изображения в кристаллических образцах . Их нельзя избежать даже при очень точной регулировке, если размеры образца в направлении, параллельном оптической оси, относительно велики. Такие швы ошибочно описывались, например, в качестве слоев продуктов реакции на поверхности, сконденсированных осадков у углов и краев, кристаллических игл, ориентированных параллельно последним, и вещественных нитей молекулярной толщины. Вследствие очень малой апертуры радиации электронного микроскопа отдельные частицы кажутся окруженными отчетливым швом в том случае, когда они лежат в пределах траектории падающих электронных волн. Этот шов изменяется по ширине и яркости в зависимости от р1асстояния частиц от фокальной плоскости и от апертуры радиации. Эти швы отчасти объясняются дифракцией Френеля [c.281]

Единственным видом регулировки, выполняемой оператором, является установка окуляра на наиболее удобной высоте. Для этого нужно освободить небольшой зажим с ручным маховичком, передвинуть окуляр по потребности вверх или вниз и снова закрепить зажим. Микроскоп и твердомер оборудованы электроприводами для дистанционного управления. Для установки и удаления образцов используют манипулятор, имеюпщйся внутри камеры. [c.90]

Ошибка в 5% при вычислении Л/7 о приводит к ошибке 0,20ид в измеряемой скорости. В табл. III.8 приведены значения поправок регулировки хорошо настроенного микроскопа, если внутренний диаметр стеклянной ячейки равен 2 мм, наименьшая толщина стенок 0,25 мм, ] = 0,25 мм = 1,000, г = 1,515 (стекло) и — [c.163]

Все необходимые перемещения ламцы осуществляются при помощи регулировочных винтов осветителя. Для контроля правильности положения лампы пользуются специальным центрировочным приспособлением (коллиматором), прикладываемым к прибору. Этот коллиматор аналогичен коллиматору, прилагаемому к прибору БП (см. п. 57). Изображение светящегося тела лампы должно находиться в плоскости зрачка входа объектива микроскопа. Коллиматор рассчитан таким образом, что это изображение конденсором совместно с объективом коллиматора переносится в плоскость матового стекла последнего. При правильной регулировке лампы это изображение будет резким, неокрашенным и симметрично расположенным относительно матового стекла. В некоторых случаях необходимо работать [c.251]

Показатель преломления и резкость изображений. На столик микроскопа помещают иредметное стекло и фокусируют миллиметровую шкалу ири общем увеличении в 50—80 раз и освещении светом от зеркала под столиком. Фокусировка и регулировка освещения были описаны в опыте 4, пункты 5 и 6. Выбор между плоским и вогнутым зеркалами определяется главным образом размером поля зрения и требуемой интенсивностью света (рис. 17). При рассматривании через окуляр можно четко видеть структуру матированной поверхности стекла, которая сильно ме- [c.34]

Микроскопы. Для проведения реакций на оредметно-м стекле и общей микроскопической работы для двух или трех студентов пригоден микроскоп со следующими данными простой, но прочный штатив общепринятого размера и формы грубая регулировка, тонкая — не обязательна 2 объектива, дающих соответственно увеличение в 4 и 10 раз микрометрический окуляр с увеличением приблизительно в 8 раз комбинация плоского и вогнутого зеркала, которое можно отвести вправо и влево конденсор и диафрагма необязательны, но требуется кольцо под столиком, к которому присоединяют конденсоры или поляризаторы наклоняющего механизма не требуется. Желательно, чтобы микроскоп имел вращающийся столик. Добавление призм Николя или поляроидных пластинок быстро превращает любой прибор этого типа в достаточно удовлетворительный поляризационный микроскоп. [c.281]

Установка состоит из горизонтальной вакуумной печи с двумя торцовыми смотровыми окнами нагревательного микроскопа системы Лейтца трансформатора, обеспечивающего плавную регулировку температуры до 1500° С вакуумного узла системы очистки и подачи в печь аргона охлаждающих печь устройств. Температура в печи измеряется нлатино-платинородиевой термопарой, горячий спай которой располагается непосредственно под пластинкой с исследуемым образцом. Для опытов из листа жаростойкой стали марки Х18Н10Т толщиной 2 мм вырезались пластинки (подложки) размером 8x15 мм. Поверхность подложек, на которую наносилась исследуемая проба силиката, предварительно обрабатывалась пескоструйным аппаратом для получения гладкой поверхности. Подложку с пробой силиката помещали в центр вакуумной печи на керамическую подставку. В печи вначале создавали вакуум, затем печное пространство заполняли аргоном и далее печь нагревали до заданной температуры. [c.97]

Пользуясь описанными выше принципами, Кирк, Крэйг, Гулл-берг и Бойер [38] сконструировали очень удачные крутильные микровесы, позволившие в 1942—1946 гг. количественно изучить химические свойства трансурановых элементов, имевшихся в количествах порядка миллиграмма. В этих весах сочетаются устройство с крутильной нитью по Нееру, подвеска чашечек по Стилу и Гранту, колодцы для чашек по Петтерсону и отсчетный микроскоп Эмиха и Донау для определения положения коромысла. Благодаря применению жесткого коромысла консольного типа главная часть нагрузки и веса чашек уравновешивалась противовесом. Незначительные дифференциальные изменения веса измерялись поворотом колеса, сообщавшим нити момент кручения, достаточный для возвращения коромысла в исходное нулевое положение, которое определялось ранее при помощи отсчетного микроскопа. Конструкция и принципы работы этого прибора подробно описаны в указанной выше статье [38]. Чувствительность, предельная нагрузка и рабочий интервал этих весов существенно меняются при изменении конструкции отдельных деталей, особенно длины и диаметра кварцевой нити. В од--ном из приборов, приспособленных автором для работы в вакууме, применялась крутильная нить толщиной 18 с чувствительностью 6 10" г на 1 мин. дуги и предельной нагрузкой всего лишь 0,050 г. Столь малая предельная нагрузка является недостатком в исследованиях поверхности, когда образцы с достаточно большой поверхностью весят обычно в 10 раз больше (около 0,3 г). Кроме того, работа с весами в вакууме осложнялась необходимостью приведения в действие арретиров и крутильного механизма через стенку вакуумного кожуха с одновременным осуществлением достаточно точной регулировки. Применение стационарных арретиров устраняет первое из затруднений, но сужает рабочий интервал весов, ограничивая колебания коромысла малой дугой. Предельная нагрузка определялась главным образом величиной площади поперечного сечения крутильной нити, в то время как чувствительность изменялась обратно пропорционально квадрату этой площади. В результате для исследования поверхностных процессов были использованы весы с крутильной нитью толщиной 50 f, предельной нагрузкой около 0,5 г, а чувствительностью приблизительно около 1 у. В крутильных весах Гарнера предельная нагрузка увеличена за счет того, что применяются более тяжелые вертикальны ритц подвеса зна ительно более twrss [c.58]

Чистое предметное стекло кладут на рай столика микроскопа. В центре его помещают следы твердого вещества с по.мощью микрошпатсля, суспензию — стеклянной палочкой (пипетка требует очень осторожного обращения). Поворотом установочного винта подымают объектив и передвигают предметное стекло так, чтобы оно оказалось непосредственно под объективом. Затем опускают объектив, чтобы расстояние от него до предметного стекла равнялось примерно 2. мм (касаться объективом предметного стекла нельзя ). Смотрят через окуляр, устанавливают зеркало, чтобы было хорошее освещение, и медленно двигают объектив до тех пор, пока вещество не окажется в фокусе. Фокусировку заканчивают тонкой регулировкой микравинтом. [c.469]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология