Отклонения от параллельности и перпендикулярности

Мягкие паронитовые уплотнительные прокладки должны иметь внутренний диаметр больше внутреннего диаметра канавки фланца на 2—3 мм у труб диаметром до 125 мм и на 3—4 мм у труб диаметром свыше 125 мм. Наружный диаметр прокладки должен быть меньше диаметра канавки на 2—3 мм у труб диаметром до 25 мм и на 5—4 мм у труб диаметром 125 мм и более. Перед сборкой фланцевых соединений тщательно и осторожно очищают до металлического блеска уплотнительные плоскости фланцев, проверяют параллельность фланцев, измеряя щупом зазоры при начальной сборке фланцев без прокладок (величина зазора между фланцами не должна превышать удвоенный допуск на отклонение от перпендикулярности плоскостей фланцев к осям труб). [c.108]

При установке фланцев на трубу необходимо, чтобы плоскость фланцев была перпендикулярна оси трубы и чтобы во время приварки фланца к трубе не была нарушена их установка, плоскости соединяемых фланцев должны быть строго параллельны. Допуск на отклонение параллельности фланцев и смещение болтовых отверстий те же, что во фланцевых соединениях тепловых электростанций. [c.354]

Отклонение от параллельности Отклонение от перпендикулярности Отклонение от соосности Торцевое биение [c.30]

При сборке фланцевых соединений допускаются отклонения от параллельности фланцев на каждые 100 мм условного диаметра для трубопроводов 3-й категории — 0,1 мм, 4-й категории — 0,2 мм. Выправление перекоса фланцев при их соединении путем натяга болтов или шпилек, а также устранение зазора йутем установки клиновых прокладок не допускается. Необходимо следить за тем, чтобы при приварке фланцев к трубам их не перекосило (рис. 5-13). Допускаемое отклонение от перпендикулярности плоскости фланца оси трубы, изме- [c.151]

Сборку фланцевых соединений начинают только после проверки отсутствия перекоса фланцев. Для этого сначала предварительно собирают соединения без установки прокладок. Фланцы должны сближаться строго параллельно уплотнительным поверхностям. Не-параллельность двух фланцев не должна превышать удвоенного допускаемого отклонения от перпендикулярности одного фланца к оси трубы. Зазор проверяется щупом в диаметрально противоположных точках. Нужно стремиться к тому, чтобы зазор по всей окруж- [c.122]

Обозначения Д — предел допускаемого отклонения рабочих углов от номинального значения Д] — предел допускаемого отклонения от перпендикулярности измерительных поверхностей к нижнему основанию меры Д — предел допускаемого отклонения от параллельности основания и верхней поверхности Д2 — предел допускаемого отклонения от плоскостности измерительных поверхностей. [c.466]

ОТ его номинального расположения. Возможны следующие отклонения от перпендикулярности и параллельности плоскостей (осей), наклона плоскости (оси) относительно другой плоскости (оси), от соосности относительно оси базовой поверхности или общей оси, от симметричности относительно базы или общей плоскости симметрии, от пересечения осей. Допуски, мкм, для этих отклонений нормированы в зависимости от размеров поверхностей и квалитета. [c.97]

В процессе сборки и монтажа, а также при установке машин и оборудования на фундамент проверяют отклонения от прямолинейности, параллельности и перпендикулярности осей и плоскостей соосности детален, узлов и машин вертикальности и горизонтальности. Кроме этого, оборудование выверяют в плане (привязка к осям здания или строительных конструкций) и по высоте. Указанные отклонения не должны превышать допускаемых значений, указанных в чертежах или технических условиях на монтаж оборудования. [c.323]

Все расточные работы желательно производить с одной установки на станке. Необходимо, чтобы отклонение в перпендикулярности торцевых опорных или присоединительных поверхностей к осям расточек не превышало 0,03 мм, а отклонение в параллельности осей расточек плоскостей разъемов корпуса не превышало 0,05 мм/м длины, непараллельность между собой осей расточек под вкладыши подшипников была не более 0,1 мм, а эллиптичность и конусность расточек — не более 0,03 мм. [c.153]

Отклонение от параллельности осей крейцкопфных направляющих двухрядного компрессора допускается не более 0,2 мм на 1 м. Отклонение от перпендикулярности осей крейцкопфных направляющих к оси вала компрессора не должно превышать 0,1 мм на I м. [c.170]

Накладные направляющие выполняются в виде нескольких пластин из текстолита марок ПТ и Б и приклеиваются к чугунным направляющим. Пластины изготовляются из листового текстолита толщиной 6 мм. Листы разрезаются и фрезеруются по контуру на горизонтально-фрезерном станке. Отклонение от перпендикулярности и параллельности сторон пластин допускается не более 0,2 мм. Затем обрабатываются два отверстия под головки винтов, а нижняя поверхность пластин зачищается шкуркой до полного удаления осмоленного (блестящего) слоя. После этого пластины передаются в сборочный цех, куда поступают детали станка — стол или сани. Направляющие этих деталей и профиль накладных пластин должны иметь чистоту поверхности не ниже 4—5 класса. Профиль накладных пластин после их установки должен полностью совпадать с профилем станины (отклонения возможны в пределах допуска на толщину пластин). [c.17]

Износ посадочных поверхностей под подшипники проверяют замером. Восстановление посадочных поверхностей под подшипники стальных корпусов производят наплавкой постелей с последующей расточкой. В обоснованных случаях (условия прочности, возможности конструкции) разрешается восстанавливать посадочные поверхности (стальные и чугунные) установкой гильзы. Восстановленные посадочные поверхности должны обеспечивать натяги (зазоры), соосность, параллельность отверстий согласно требованиям технической документации заводов-изготовителей. При отсутствии таких указаний допустимые отклонения от параллельности и перпендикулярности посадочных и привалочных поверхностей узлов насосов не должны превышать значений, приведенных ниже [c.150]

Детали и узлы трубопроводов, изготовленные с применением сварки или пайки, в процессе сборки подвергаются пооперационному контролю. Для тройников, переходов и отводов, изготовленных этими методами, отклонения от перпендикулярности и параллельности торцов не должны превышать [c.338]

Крестовина 2. Материал — сталь 40Х. Твердость HR 48...52. Покрытие — Хим. оке. по ГОСТ 9.073—77. Отклонение от параллельности плоскостей А ж Д относительно соответствующих плоскостей Г ж Б ive, более 0,02 мм. Отклонения от перпендикулярности плоскостей А и В относительно соответствующих осей не более 0,05 мм. [c.205]

Одно.мерные ошибки, полностью определяемые одной величиной, называются простыми, или скалярными. К скалярным ошибкам относятся отклонения в линейных и угловых размерах (расстояние между поверхностями, осями, параллельность, перпендикулярность поверхностей, осей и т. п.). [c.7]

Смещение взаимно перпендикулярных осей редуктора относительно осей фундамента допускается только параллельное и не должно превышать 10 мм. При окончательной выверке положения редуктора в первую очередь следует установить его относительно высотной проектной отметки. Проверка производится с помощью нивелира или замера расстояния от насечки на планке, заделанной в тело фундамента, до разъема корпуса редуктора. Допускаемое отклонение плоскости разъема редуктора относительно проектной отметки не должно превышать 3 мм. [c.154]

Выясним, может ли влиять на степень направленности различие в проницаемости параллельно и перпендикулярно напластованию. Очевидно, ири сохранении принятых в начале статьи образцовых условий (за исключением изотропности) никаких отклонений от полной направленности не будет. При наличии еще какого-либо изменения появятся особенности. Так, при меньшей вязкости у рабочей жидкости ее распространение за пределы заданного прослоя будет тем меньше, чем больше отношение проницаемости параллельно напластованию к проницаемости перпендикулярно напластованию. При обратном соотношении вязкости замедляется утоньшение слоя, насыщенного рабочей жидкостью. [c.101]

Отклонения от параллельности и перпендикулярности посадочных и привалочных поверхностей корпусных узлов вследствие их износа, превышающие значения, приведенные в табл. 1.5, при наработке t. [c.11]

Фланцы должны сближаться строго параллельно уплотнительным поверхностям. Непараллельность двух фланцев не должна превышать удвоенного допуска на отклонение от перпендикулярности осей фланцев к осям труб. Величину зазора п-роверя- [c.103]

Кроме миллиметровой шкалы микрофотометр снабжен логарифмической щкалой, изображение которой получают на экране 7 поворотом зеркала 14. Логарифмическая щкала микрофотометра получена путем нанесения против соответствующих делений микрометрической щка-лы вычисленных значений почернений, умноженных на 100, т. е. 100 5. Например, если отклонение по логарифмической шкале составляет 84, то почернение пластинки 5 = 0,84. Фотопластинка расположена на столике микрофотометра так, чтобы изображения спектральных линий на экране 8 были параллельны щели на этом экране. Смещая пластинку в направлении, перпендикулярном спектральным линиям, достигают того, что изображение спектральной линии совпадает с щелью. Ширина щели не должна превышать ширины спектральной линии. [c.234]

Наличие текстуры позволяет объяснить характер доменной структуры, наблюдающейся в наноструктурном Со. Полосчатая доменная структура в этом состоянии отличается от упомянутой доменной структуры в крупнокристаллическом состоянии в основном тем, что стенки доменов не образуют строго прямых линий. Средняя щирина доменов практически одинакова в обоих случаях. Существование преимущественных ориентировок (кристаллографической текстуры) и высокий уровень обменной энергии приводят к тому, что магнитные моменты соседних микрокристаллитов благодаря не столь высокой разориентации их осей легкого намагничивания располагаются параллельно под влиянием сил обменного взаимодействия. В то же время местные отклонения осей легкого намагничивания от направления усредненного магнитного момента приводят к локальным изменениям в ширине доменов и направлении стенок доменов. Следует отметить, что разориентации микрокристаллитов в плоскости, перпендикулярной преимущественному направлению осей легкого намагничивания (т. е. в плоскости образца), не играют существенной роли в формировании доменной структуры. В этой связи в целом характер доменной структуры наноструктурного образца близок к тому, что наблюдался в случае крупнокристаллического образца. Это, с другой стороны, позволяет предполагать, что механизм формирования доменной структуры одинаков в обоих случаях и определяется фундаментальными магнитными законами (постоянными). [c.228]

Процессы, протекающие с очень большими скоростями, можно изучать с помощью электронного ос)1илло-графа, в котором подвижная система — это поток электронов, не имеющий инерции. Принципиальная схема электронного осциллографа приведена на рис. 19. В стеклянной колбе, из которой удален воздух, помещают два электрода катод и анод. Под действием электрического тока поток электронов вырывается из нагретого катода и через отверстие в аноде попадает на экран, оставляя на нем светящийся след. На участке между катодом и анодом электроны проходят между двумя парами параллельных металлических пластин, расположенных взаимно перпендикулярно. На эти пары пластин можно накладывать напряжение и тем самым вызывать отклонение электронного луча в любую сторону. Если к одной паре отклоняющихся пластин приложить напряжение, изменяющееся во времени по определенному закону, то запись, получаемая на экране, позволит установить характер изменения во времени напряжения, приложенного к другой паре пластин. Блок-схема включения электронного осциллографа приведена на рис. 33. Исследуемое напряжение подается на зажимы входа в паре пластин 2. Через сопротивление <3 и ламповый усилитель 4 (с питанием /) оно попадает на вертикально отклоняющиеся пластины 2. Аналогично подается напряжение на отклоняющиеся горизонтально пластины 5. С помощью переключателя в пластины могут быть соединены с генератором развертки, позволяющим наблюдать на экране трубки кривые изменения напряжения. Генератор питается от внешнего напряжения через зажимы 8 и переключатель 9. Если на пластины не подавать напряжения, то электронный луч на экране будет перемещаться только по вертикальной прямой при достаточно быстрых скоростях исследуемого процесса на экране осциллографа можно наблюдать светящуюся черту, длина которой пропорциональна амплитуде изучаемых электрических колебаний. Такую схему включения применяют в случаях, когда осциллограф служит в качестве нуль-инструмента. Для изучения кинетики электродных процессов применяют генератор развертки. Напряжение, подаваемое на плас- [c.61]

ДОМ Монте-Карло (рис. 3.9). Такое поведение связано с большой вероятностью для электронов в каждом отдельном соударении претерпевать рассеяние вперед по направлению движения. Так, для однократного соударения средний угол отклонения от направления движения мал и составляет по порядку величины 5°. При нормальном падении, или при угле наклона 0°, тенденция к рассеянию вперед в направлении движения заставляет электроны проникать глубже в объект (рис. 3.10). При наклоне объекта эта тенденция заставляет электроны перемещаться ближе к поверхности и размер области взаимодействия по глубине уменьшается. Отметим, что из-за более предпочтительного рассеяния в направлении движения размер в направлении, параллельном поверхности и перпендикулярном оси наклона, возрастает по сравнению с поперечными размерами при нормальном падении. Размер в направлении, параллельном оси наклона, остается таким же, как при нормальном падении. [c.41]

Отклонение от перпендикулярности торцовых опорных поверхностей и осей расточек Отклснение от параллельности оси расточки и плоскости разъема корпуса Несоосность осей расточек Овальность и конусность поверхностей расточек [c.131]

При контроле точности расположения поверхностей определяют отклонения от параллельности, перпендикулярности осей отверстий, относительно других осей или плоскостей, отклонения от соосности, межосе-вого расстояния и другие (рис. 111.18). Межцентровое расстояние расчитывают по результатам измерений расстояний между оправками, вставленными в отверстия. [c.255]

Шлицевые поверхности валов по конструкции могут быть прямо-бочными и эвольвентными. Шлицевые соединения с прямобочными шлицами выполняют с центрированием по внутреннему и наружному диаметрам вала, при звольвентных шлицах - по профилю. Наибольшее применение получил способ центрирования по внутреннему диаметру шлицев вала, как наиболев точный. Качество шлицевого вала определяется точностью и соосностью диаметральных размеров поверхностей опорных и центрирующих шеек, перпендикулярностью торцов осям соответствующих шеек, точностью ширины и шага шлицев, параллельностью боковых поверхностей шлицев оси вала, твердостью и шероховатостью основных и вспомогательных баз. На все вышеперечисленные элементы устанавливают необходимые нормы точности и технические условия. Так, например, допустимое отклонение от концентричности поверхности внутреннего диаметра шлицевого соединения с поверхностями опорных шеек вала колеблется от 0,02 до 0,04 мм в зависимости от точности соединения. Шлицы на валах нарезают фрезерованием, строганием, протягиванием и холодным накатыванием. [c.291]

На первом этапе торцы зубчатых колес также обрабатывают точно. Торцы наряду с отв ерстием участвуют в базировании колеса при обработке зубьев и для детал 5й с короткой цилиндрической поверхностью являются установочной технологической базой. Если торцы будут не параллельны между собой и с большими отклонениями от перпендикулярности к оси отверстия, то при С азировании колеса на оправке по торцу и отверстию в процессе нарезания зубьев возникнут значительные погрешности в зубчатом венце. [c.340]

Спектр ЭПР ион-радикала ОТ был зарегистрирован в твердой фазе. Из-за несимметричного окружения я - и я -орбитали невырождены. Значение gx из-за отсутствия орбиталей, которые могли бы принимать участие в орбитальном движении, должно быть близко к gs Если внешнее поле направлено параллельно оси у, в орбитальном движении должна участвовать а-орбиталь. Большая величина АЕ приводит к тому, что и gy gs Если поле направлено параллельно оси г, в орбитальном движении участвуют Лх- и Яу-ор-битали. При этом АЕ имеет меньшую величину и можно ожидать некоторого отклонения значения gz от gs. Действительно, gx=gy = = х = 2,00 (внешнее поле перпендикулярно оси г), gz=g = 2, Ъ, так как gx=gy, зависит только от угла 0 между внешним полем и осью 2, формула (1Х.7) принимает более простой вид [c.228]

Рост компонента М , параллельного Но, определяется продольным временем релаксации Ть Убывание вращающегося компонента 1Аху, перпендикулярного Но, определяется поперечным временем релаксации Т2 и неоднородностью постоянного магнитного поля ДНо в объеме образца. Если расположить ось приемной катушки, содержащей образец, перпендикулярно Но, то вращающийся компонент Мосу наводит в ней э.д.с., спадающую во времени по экспоненциальному закону с характеристическим временем 1/т2 = у АЯоЧ-+ 1М- Огибающая этого процесса наблюдается на экране осциллографа, временная развертка которого запускается одновременно с началом импульса. Начальная амплитуда будет максимальной при отклонении вектора ядерной намагниченности за время действия импульса на 90° от направления поля. Этот способ пригоден для измерения только достаточно коротких времен Тг (т. е. [c.220]

Данные, полученные при изучении инфракрасного дихроизма, так же как и в случае двойного лучепреломления, характеризуют ориентацию молекул. Таким образом, соотношение интенсивностей поглощения в направлениях, параллельном и перпендикулярном оси вытяжки, определяет среднюю величину отклонения оси макромолекул от оси волокна. Существенным преимуществом метода инфракрасного дихроизма перед методом двойного лучепреломления является возможность раздельного определения ориентации в кристаллических и аморфных областях (так как они характеризуются различными полосами поглощения), причем в абсолютных величинах. В качестве поляризаторов инфракрасного излучения с успехом применяют стопу селеновых пленок или Ag l [105, 106]. [c.91]

Цилиндрические фазовые объекты с осесимметричным распределением показателей преломления являются не столь важными, как двумерные, но также достаточно щироко распространены. Особенно часто цилиндрические объекты встречаются в приложениях оптических методов к газодинамическим задачам и при исследованиях пламен. Чтобы упростить расчеты, иредноложим, что параллельные измерительные лучи входят в модель перпендикулярно ее оси симметрии и проходят через фазовый объект без отклонений. Это справедливо для малых объектов или объектов, не имеющих больших местных градиентов показателя преломления. Такие условия свойственны фокусировке на плоскость симметрии, проходящей через ось модели Рт на фиг. 59). [c.148]

При элюировании во втором направлении, после того как растворитель проходит через слой, он поступает (со всей ширины пластинки) в детектор. Детектор состоит из двух параллельных кварцевых пластинок ультрафиолетовой лампы, расположенной над пластинками и даюшей широкий луч, освещающей 10-сантиметровую продольную щель (расположена непосредственно рядом с гранью слоя и перпендикулярна потоку) под нижней кварцевой пластинкой находится чувствительная диодная матрица (на 1024 элементов изображения), характеризуящаяся пространственной разрешающей способностью порядка 1.5 мм и обеспечивающая более 10 точек данных для оценки стандартного отклонения. Фотодиодная матрица собрана из 1024 индивидуальных (расположенных рядом друг с другом и чувствительных к свету) диодов. Каждый диод непосредственно соединен с конденсатором, заряжающимся пропорционально количеству света, достигшему диода. Считывание сигналов с конденсаторов производится последовательно. [c.278]

Отклонение формы частиц от сферической дает ряд новых эффектов [28]. В первую очередь это дихроизм — различие в интенсивности рассеяния света при падении на частицы луча света, параллельного и перпендикулярного длинной оси частицы. Практически дихроизм можно наблюдать, если все частицы коллоидного раствора ориентировать параллельно воздействием электрического (или магнитного) поля. При достаточно больщой концентрации частиц эффекты их ориентации во внещнем поле мог>т многократно перекрываться эффектами коагуляции под действием внещнего поля. Примечательно, что коагуляция может быть обратимой по отнощению к полю, т. е. при его выключении происходит распад флокул коагулята на исходые частицы и возврат к первоначальной величине коэффициента рассеяния света (см. подраздел 3.19). [c.748]

Для механизированного контроля К-образных швов на подводных лодках британское адмиралтейство разработало устройство, основанное на описанном выше методе (рис. 28.34 [681]). Тележка с контролирующим устройством, выполненная в виде рамы, движется по направляющим рельсам, проложенным параллельно шву, причем ее движение является прерывистым. В раме движется взад и вперед перпендикулярно к сварному шву суппорт с искателями, так что над швом образуется меанд-ровый след сканирования. Движение тележки и суппорта обеспечивается пневматикой, так что электрические помехи от электродвигателя и его системы управления отсутствуют. Гибкие направляющие рельсы закреплены при помощи присосов на контролируемом изделии. На суппорте расположены один совмещенный искатель и с обеих сторон два излучающих навстречу друг другу наклонных искателя. Результаты контроля регистрируются при помощи многоканального самописца с передачей сигналов по радио. Для совмещенного искателя в результате записи эхо-импульса от задней стенки (исчезающего над швом) получается кривая сканирования, причем обнаруживаемые дефекты в зоне шва проявляются только как сигнал да — нет над местом сварного шва. Благодаря этому дефекты четко выявляются как отклонение от нормального образца (рисунка записи). Оба следа наклонных искателей показывают путем записи времени прохождения в характерной форме изображения кромок шва дефекты обнаруживают (поскольку они имеют иное время прохождения) по линиям, проходящим параллельна показаниям от кромок шва. В специальном такте проверки оба наклонных искателя работают с параллельным подключением с целью контроля акустического контакта они дают, до тех пор пока оба звуковых луча встречаются на нижней стороне листа, эхо-импульс прозвучивания, который при движениях искателей туда и обратно регулярно исчезает над сварным швом. Нерегулярность в такой серии показаний на соответствующем следе регистрации свидетельствует о плохом акустическом контакте наклонных искателей. [c.553]

Изображение источника света 1 фокусируется онденсорной линзой 2 на кювету 3. Прямоугольный экран 4, верхний рай которого гладкий горизонтальный, фокусируется сферическими линзами 5 и б на второй экран 7, который наклонен под углом к 4. Цилиндрическая линза с вертикальной осью фокусирует 7 на фотографическую пластинку в плоскости, перпендикулярной своей оси. В плоскости, параллельной оси, она пропускает луч без изменения. Изображение кюветы фокусируется в этой плоскости линзой 6 на фотографическую пластинку 9. Диагональный край пластинки 7 закрывает свет, отклоненный вверх, с одной стороны и не закрывает с другой, поэтому граница между освещенной и неосвещенной областями отклоняется в сторону пропорционально отклонению луча вверх. [c.129]

Сведения об интенсивностях отражений. Обычно интенсивности измеряются при помощи фотоэлектрического микрофотометра. Примером может служить выпускаемый нашей промышленностью регистрирующий микрофотометр МФ-4. Схема действия прибора представлена на рис. 59. Узкий параллельный пучок света постоянной интенсивности проходит через негатив, движущийся с постоянной скоростью перпендикулярно к пучку. В зависимости от почернения данного участка негатива на фотоэлемент попадает свет различной интенсивности, в соответствии с этим возникает различной силы ток, который либо непосредственно, либо через ламповый усилитель, передается далее на гальванометр. Отклонения зеркала гальванометра регистрируются движущейся светочувстви-тельной бумагой, что и дает в итоге микрофотограмму. Пример микрофотограммы представлен на рис. 60. [c.119]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология