Наклон J-спектров

Собственно количественному анализу посвяш,ена всего одна работа. Однако алгоритм выполнения процедуры количественного анализа не отличается большим разнообразием как при фотоэлектрической, так и при фотографической регистрации спектров. При необходимости практикум легко может быть дополнен другими задачами количественного анализа в соответствии с наклонностями и возможностями учебной лаборатории. [c.94]

Производной (или производной кривой), т. е. в виде зависимости первой производной (тангенса угла наклона) кривой поглощения от напряженности магнитного поля. Если линии поглощения широки, то первая производная дает лучшее представление о характере спектра. Один тип спектра легко перевести в другой. Соотношение между двумя видами спектров показано на рис. 9.4, где представлены одиночная линия, не [c.15]

В приборе изменяют угол наклона призмы относительно зеркала до тех пор, пока граница раздела освещенной и темной половины не будет установлена точно на перекрестие в поле зрения окуляра. На шкале рефрактометра непосредственно нанесены значения показателей преломления с точностью до 10- . На рефрактометре Аббе показатель преломления измеряется в белом свете. При появлении спектра на границе раздела необходимо изменить положение призм компенсаторов, которые вращаются маховичком, расположенным справа от зрительной трубы. [c.90]

Критерии оптимальности представляют собой не слишком гибкую математическую формулировку требований спектрального анализа Например, физика или инженера могут интересовать некоторые характерные черты спектра, такие, как ширина пика или наклон спектра в некотором диапазоне частот, в то время как эти критерии не предназначены для таких характеристик Поэтому, как будет показано в разд 7 2 2, необходима более подходящая и гибкая формулировка требований спектрального анализа, которую мы и изложим в этом разделе. [c.26]

Линейное расстояние А/ в плоскости спектра для лучей этих же длин воли зависит от камерного фокусного расстояния /2 и угла 8 наклона спектра к оптической оси камеры. Нетрудно видеть (рис. 32), что [c.30]

Для прибора с плоской решеткой, учитывая, что наклон спектра в таких приборах обычно отсутствует (е = 90°), имеем [c.75]

Рефрактометр Анри, схема которого дана на рис. 32, применяется в сочетании с кварцевым спектрографом по методу скрещенных призм. Разложенный кюветой рефрактометра в спектр, свет железной дуги фокусируется на щели спектрографа и образует на фотопластинке спектральную полосу, наклон которой будет зависеть от угла поворота полуцилиндра кюветы ф. Снимают несколько наклонных спектров при разных углах поворота полуцилиндра, а затем горизонтальный спектр, вставив в полую часть кюветы кварцевый клин и обратив ее в плоскопараллельную пластинку. [c.131]

Точки пересечения наклонных спектров с горизонтальным отвечают такому соотношению между показателями преломления и углами обеих половин кюветы, при котором она не отклоняет лучей соответствующей длины волны. Это соотношение, имеющее вид [c.131]

Ширина линии, измеренная между точками максимального наклона спектра в дифференциальной форме. [c.119]

ЧТО В этом случае не было получено данных при температурах, близких к температуре стеклования (—26°С). На рис. 8 для сравнения приведен также спектр времен релаксации для натурального каучука и проведена пунктирная прямая, соответствующая наклону спектра в переходной области согласно теории Рауза-Муни [2]. [c.199]

Три раза богаче р.з.э., чем хондриты. Обогащение могло произойти в результате процессов многостадийного фракционирования, в которых за первичной дифференциацией и консолидацией расплавленной Луны последовали повторяющиеся эпизоды частичного плавления и кристаллизационного фракционирования вещества коры. Это приводит к обогащению магмы теми элементами, которые не входят в главные породообразующие минералы. Вариации в наклонах спектров распределения (пункт г ) могут быть обусловлены теми же причинами, но незначительность этих вариаций и пологая форма нормализованного спектра распределения р.з.э. позволяют предположить, что во время образования морских лав фракционная кристаллизация ие была интенсивной. Например, интенсивная кристаллизация клинопироксена будет порождать остаточную магму с распределением р.з.э., характеризующимся обогащением легкими р.з.э. относительно тяжелых р.з.э. (см. разд. 5.4). [c.64]

Если комплексообразование проходит полностью, зависимость 6, от имеет вид пря.мой, тангенс угла наклона которой равен 5 — . Отсекаемый этой прямой отрезок 5 представляет собой химический сдвиг, который наблюдается в спектре ЯМР свободного соединения, если используется спиновая развязка или если спектр второго порядка анализируется с помощью вычислительной машины. [c.192]

Представлялось целесообразным провести дальнейшие исследования, исключив влияние одного из факторов. Удобным оказалось исключение изменений условий деформирования полимерной матрицы путем выбора наполнителя, близкого по механическим свойствам к связующему. В качестве такого наполнителя был использован порошок той же отвержденной эпоксидной смолы ЭД-20, которая применялась как связующее. На рис. III. 34 приведены спектры времен релаксации образцов с разным. содержанием ЭД-20. (в объемных долях). Для сравнения там же приведена спектральная кривая образца, из которого был изготовлен наполнитель (эпоксидная смола, отвержденная в отсутствие наполнителя). При анализе результатов этого эксперимента обращает на себя внимание существенный сдвиг спектральных-кривых в сторону больших времен релаксации по сравнению со спектром смолы, отвержденной без наполнителя. Введение наполнителя приводит также и к изменению наклона спектра. Характерно, что сдвиг и расширение спектров в этом случае заметны больше чем для образцов с кварцевым наполнителем. Связано это с исключением фактора недефор-мируемости наполнителя, в результате чего влияние поверхности наполнителя на изменение свойств граничных слоев связующего, отверждаемого на этой поверхности, проявляется более четко. [c.142]

ДJJ J определения константы скорости само-туше[гия 1-хлорантрацена измерить спектры флуоресценции растворов 1—4. Построить зависимость в координатах //о—[В] по уравнению 1+/Св[0] из тангенса угла наклона прямой [c.88]

Если при построении градуировочного графика установлен его малый наклон или загиб в области малых концентраций, необходимо проверить и устранить перечисленные выше возможные источники посторонних сигналов. Влияние фона сплошного спектра и мешающих линий может быть несколько уменьшено применением более узких выходных щелей. [c.138]

Светофильтры выбирают исходя из спектра поглощения определяемого вещества с таким расчетом, чтобы спектральная область максимального поглощения лучей раствором и область максимального пропускания лучей (///о) светофильтром были одними и теми же. Максимум поглощения раствора должен соответствовать максимуму пропускания светофильтра. На рис. 14.4 показаны спектральные характеристики исследуемого раствора (кривая /) и правильно подобранного к нему светофильтра (кривая 2). С применением спектрофотометра снимают полный спектр поглощения раствора исследуемого вещества определенной постоянной концентрации при разных длинах волн. Спектр поглощения всегда характеристичен и индивидуален для каждого вещества. На спектре выбирают аналитическую длину волны (см. рис. 14.3). Она должна обеспечивать возможно большую величину, м. п. п., а следовательно, и наклона градуировочного графика. Чем выше значение е, тем больше будет изменяться А при изменении концентрации и тем меньше влияние [c.246]

При измерения спектров данным методом пучок ИК-излучения направляется под уг юм на поверхность пластины полупроводника, прозрачней в ИК-области, проходит внутрь пластины и отра.жается от металла, проходя при этом через исследуемый слои и поглощаясь в нем на частотах, соответствующих веществу слоя. Фактор поглощения излучения AR в слое определяется оптическими постоянными мета. 1ла (пз, з), слоя ( 2, з), показателем преломления полупроводника Пи углом падения излучения на границу раздела полупроводник — металл и направлением его поляризации. Максимальное значение факторов поглощения так же, как и для поглощения света в слое на поверхности металла, достигается при наклонных углах падения и в /з-поляризованном излучении. [c.153]

Персию для любого участка спектра по тангенсу угла наклона касательной к графику, как это показано на рисунке. Если на оси абсцисс отложены условные показания шкалы прибора, то их необходимо пересчитать на миллиметры. [c.102]

При включении генератора между этим электродом и образцом загорается дуга или искра. Изменяя несколько наклон стилоскопа относительно образца, можно изменять расстояние между электродом и образцом и добиться равномерной и хорошей освещенности спектра в поле зрения окуляра. [c.122]

Объектив камеры сделан из двух кварцевых линз. Фокальная поверхность объектива плоская для всего рабочего диапазона. Это позволяет совместить сразу весь спектр со светочувствительной поверхностью фотографической пластинки. Объектив камеры не исправлен на хроматическую аберрацию, поэтому фокальная поверхность спектрографа наклонена к оптической оси камеры под углом около 42°. [c.133]

Здесь X — координата в фокальной плоскости камерного объектива, в — угол наклона спектра к оптической оси камеры, 5о — нормальная ширина щели спектрографа, /2 и /1 — фокусные расстояния камерного и кол-лиматорного объективов соответственно. Таким образом, зная параметры спектрографа, легко построить согласно (2) дифракционный контур при бесконечно узкой щели спектрографа. Если щель спектрографа конечна и равна 5, ширина геометрического изображения щели определится выражением [c.203]

В опытах исследовались турбулентные режимы, в которых удалось наблюдать формирование обратного каскада энергии со спектром -5/3 и показать справедливость оценки (5.20). На рис.5.5 приведен экспериментальный спектр пульсаций скорости, полученный в этой работе, и отмечен ожидаемый наклон спектра. Очевидно, что диапазон масштабов, в котором можно ожидать формирования инерционного интервала, достаточно мал и результат носит скорее качественный характер, но именно эта работа убедительно доказала возможность существования (и наблюдения) обратного каскада энергии в квазидвумерных турбулентных потоках. [c.53]

Последний рис.6.13 показывает результаты непосредственного вычисления фрактального спектра /(а) по алгоритму, описанному в параграфе 4.5.3. График подтверждает выводы, сфор] лированные при обсуждении мультифрактальных моделей, а именно тот факт, что, являясь по сути моделью с бесконечным числом параметров, такая модель описывает любой спектр. Вид функции /(а) всегда одинаков. Интерес в ней представляют лишь несколько точек, например вершина, абсцисса которой соответствует среднему наклону спектра. [c.86]

Когда из одного и того же спектра, но в различ1гых ко( ных системах получены различные результаты (наприм личные местоположения максимальных точек, наклоны, спектров и т. п.), то, естественно, возникает вопрос о том, из имеющихся вариантов спектра дает правильные с Понятно, что каждый из вариантов дает результаты, пра только для своего собственного представления. Тем и для координат максимальных точек стандартным (эта вариантом следует считать первичную кривую, т. е. крив [c.216]

Осуществляемый при этом я-=г л-аллильный переход имеет большое значение для понимания действия гомогенных металлокомплексных катализаторов. Изучение спектров ЯМР и рентгеноструктурный анализ я-аллильных комплексов показали, что в них плоскость углеродных атомов не перпендикулярна плоскости мо-стиковой системы Pd— l, а наклонена к ней, так что атом С смещен в сторону металла, а метиленовые группы трудно различимы [c.104]

В случае, когда максимальный наклон кривой тепловыделения меньше наклона прямой теплоотвода, всегда существует только один стационарный режим. При этом температура поверхности плавно изменяется при повышении температуры ядра потока и переход из кинетического режима во впешнедиффузионный происходит постепенно, проходя весь спектр промежуточных состояний. [c.118]

Из выражения (1.15) видно, что зависимость [Ыо / от 1ЛСбНю](у представляет собой прямую линию. Из ее наклона и отрезка, отсекаемого на оси ординат, можно найти значения /Ср и е. Ниже приведены значения [СбНю]о, [ЬЬ при 30° С, вычисленные по спектрам, аналогичным приведенным на рис. 13, и оптическая плотность комплекса 0 = 0 —Оо, где Оп — показание прибора Во — сумма оптических плотностей раствора иода и циклогексана в гексане. [c.27]

Они могут быть осциллирующими (немонотонными), если являются результатом интерференции двух эхосигналов, близких по амплитуде. Такую интерференцию наблюдают при наклонном падении на плоскостной дефект (положения ПЭП 2, 3 на рис. 3.6). При нормальном падении на дефект (положение 1) интерферирующие сигналы синфазны и спектр монотонный. Эти же выводы о зависимости амплитуды от частоты следуют из формулы (2.25) для эхосигналов при нормальном и наклонном падении на дискообразный дефект. В (2.25) осцилляции определяет функция Ф. Сигналы от объемных (округлых) дефектов практически монотонны (положения 4, 5, 6), потому что сигнал волны обегания и соскальзывания имеет значительно меньшую амплитуду, чем непосредственно отраженный сигнал, с которым от интерферирует (см. рис. 1.22). [c.199]

Подробный анализ факторов, влияющих на величину AR, позволяет сделать вывод, что наибольшее поглощение и слое наблюдается для р-компоненты при больших, близких к наклонным, углах падения излучения. Однако в большинстве случаев при однократном отражении величина поглощения все-таки недостаточна для того, чтобы быть зарегистрированной на серийном спектрофотометре, и поэгому применяют многократное отражение излучения между параллельно расположенными образцами. Рассматривая условия регистрации спектров, выбирают оптимальное число отражений М, которое находят по формуле [c.150]

При постоянной выдержке 1иежду плотностью почернения S н интенсивностью светового потока Ф существует зависимость, приведенная на рис. 5.5, а. Угол наклона среднего прямолинейного участка кривой характеризует контрастность (7 — коэффициент контрастности). Для спектрографического анализа используют фотопластинки с большим коэффициентом контрастности (контрастные). Несмотря на то что они обладают малой светочувствительностью, снимки спектров на них получаются мелкозернистыми, с малой вуалью, а плотность почернения весьма сильно зависит от концентрации. Чувствительность фотопластинок в длинноволновой области спектра регулируют добавкой подходящих сенсибилизаторов. [c.191]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология