Спектральные чувствительные линии некоторых элементов

Таблица 20.2. Положение некоторых линий (длина волны X, нм) в атомных снеш рах ряда химических элементов и оценка предела чувствительности (и , %) их открытия по этим спектральным линиям

Из соотношения распределения Больцмана, приведенного выше, можно видеть, что легкость возбуждения находится в соответствии с различием в энергии между основным и возбужденным состоянием атома. Отсюда следует, что в большинстве случаев пламенно-эмиссионная спектрометрия более чувствительна для определения элементов, имеющих резонансные спектральные линии между 400 и 800 нм, в то время как атомно-абсорбционная спектрометрия более чувствительна для определения элементов, линии которых лежат между 200 и 300 нм. Элементы, чьи линии лежат между 300 и 400 нм (и также некоторые другие элементы), можно определять с одинаковым успехом с помощью обоих методов. На рис. 20-15, который будет обсуждаться ниже, показаны элементы, которые лучше определяются тем или другим методом. [c.697]

Качественный спектральный анализ дает возможность определять более 80 элементов периодической системы. Не поддаются определению короткоживущие изотопы элементов. По сложности определения различают две группы элементов трудновозбудимые и легковозбудимые (металлоиды и металлы). Трудновозбудимые элементы — это элементы с высокими потенциалами возбуждения и ионизации инертные газы, галоиды, водород, кислород, азот, сера. Чувствительные линии этих элементов лежат в области далекого ультрафиолета (короче 2000 А) и недоступны для регистрации обычными способами. Переход к анализу по другим линиям снижает чувствительность определения. В табл. 10 приведены потенциалы возбуждения и ионизации некоторых трудновозбудимых и легковозбудимых элементов. [c.96]

Относительная интенсивность рентгеновских спектральных линий для большого числа элементов в настоящее время хорошо известна. Она не зависит от условий получения спектров, химического состава пробы и содержания в ней анализируемого элемента. В принципе это позволяет использовать рентгеновские спектральные линии в качестве марок интенсивности для построения характеристической кривой эмульсии. Для этого, конечно, необходимо, чтобы спектральная чувствительность используемого для получения спектра прибора не зависела от угла отражения, иными словами, чтобы пространственная разобщенность линий рентгеновского спектра элемента на спектрограмме не приводила к искажению истинного соотношения их интенсивностей. Этому условию не удовлетворяют, например, спектрографы типа Иоганна с постоянным по величине протяженным фокусом рентгеновской трубки при равномерном качании кассеты спектрографа. По некоторым причинам здесь наблюдается систематическое искажение величины интенсивности рентгеновских спектральных линий элемента, приводящее к относительному возрастанию интенсивности коротковолновых линий. Это делает нерациональным использование описываемого метода построения характеристической кривой при работе с такими приборами. [c.42]

Спектральные чувствительные линии некоторых элементов 473 [c.473]

Приблизительные пределы чувствительности при качественном спектральном анализе для некоторых элементов по определенным спектральным линиям [9] [c.98]

По сравнению с методом возбуждения сухого остатка после выпаривания раствора на торцовой поверхности электрода предлагаемый вариант получения сухого остатка раствора на электроде имеет преимущества. Во-первых, сухие остатки на верхнем электроде после искрового анализа аэрозолей имеют плотную однородную структуру, прочно удерживаются на поверхности угольного электрода и при обработке искровым разрядом не разрушаются, что позволяет получать хорошо воспроизводимые результаты. Во-вторых, после проведения искрового анализа аэрозолей верхние угольные электроды с сухими остатками могут быть использованы для дополнительного спектрального анализа в искровом или дуговом разряде. В этом случае чувствительность определений по искровым линиям увеличивается, по-видимому, за счет повышения температуры искрового разряда. А чувствительность определений некоторых элементов по дуговому спектру (алюминий, индий, кадмий, кобальт, медь и др.) может быть значительно повышена. [c.147]

Исследования влияния внешнего магнитного поля на увеличение интенсивности спектральных линий некоторых элементов рассматривались во многих работах, обзор которых приведен в [169]. Показано, что наложение на плазму спектрального источника внешнего магнитного поля изменяет ее геометрию, вызывает вращение облака разряда, замедляет перенос частиц от анода к катоду и т. д., что приводит к изменению интенсивности спектральных линий элементов [284—286]. Применение неоднородного магнитного поля, создаваемого соленоидами, позволило увеличить чувствительность определения следов ряда элементов в угольном порошке и в оксиде циркония в 2—3 раза за счет увеличения жизни частиц в облаке разряда [286]. Показано, что в присутствии магнитного поля, полученного в аналогичных условиях, наблюдается увеличение интенсивности линий при испарении сухих остатков разбавленных растворов с торца угольного электрода в 2—3,5 раза [287]. [c.92]

Чтобы обеспечить получение на спектрограмме наиболее чувствительных линий каждого элемента, необходимо рационально выбрать область спектра, в котором ведётся работа, и, соответственно с этим, спектральный аппарат. Как правило, применяются спектрографы для ультрафиолетовой части спектра, так как в этой области лежат наиболее удобные линии для большинства элементов. Однако, для щелочных и большей части щелочно-земельных элементов наиболее чувствительные последние линии лежат в видимой области спектра. На схеме рис. 167 элементы периодической системы разбиты на две группы — элементы, наиболее чувствительные линии которых лежат в ультрафиолетовой области, короче 3600 А — эти элементы обведены тонкой линией, и элементы, наиболее чувствительные линии которых лежат в области длиннее 3600 А, — обведённые жирной линией. За пределами этого разграничения оставлены элементы, определение которых обычными методами мало чувствительно. В соответствии со сказанным на стр. 30 это разделение в некотором смысле является, однако, условным. Элементы РЬ, Сг, Мп, Fe, А1, Ga, Se, Ti, In, Tl могут быть, на- [c.158]

Визуальные методы. Эти методы обеспечивают высокую скорость проведения анализа и позволяют обходиться с весьма простым и не прихотливым в работе оборудованием, которое почти всегда удается расположить в непосредственной близости от объекта анализа. Точность самого регистрирующего устройства даже в самых благоприятных условиях не превышает (4—5)%, поэтому визуальные методы можно применять только в тех случаях, когда не требуется более высокая точность. Применение визуальной регистрации ограничено также необходимостью иметь достаточно чувствительные линии в видимой области спектра для всех определяемых в образце элементов. Ее нельзя применять также при фракционированном поступлении отдельных элементов в разряд, так как нет усреднения интенсивности спектральных линий за некоторое время. [c.263]

Линии 4172,06 и 4032,98 А наиболее чувствительны, однако использовать их не всегда возможно из-за наложения циановых полос, а также линий некоторых других элементов (см. стр. 28) [749, 1074]. В связи с этим при определении галлия часто используют линию 2943,64 А, чувствительность которой достаточна для многих случаев. Определение галлия может быть проведено в пламени, в дуге и в искре. При спектральном анализе пород и минералов на галлий наиболее распространены методы, использующие в качестве источника возбуждения дугу постоянного или переменного тока. [c.157]

В некоторых случаях линии примесных элементов перекрываются массами молекулярных и многозарядных ионов, что, естественно, затрудняет, либо полностью исключает возможность их регистрации. Примером этому может быть примесь магния в графите. Линии изотопов магния m e = 24 25 и 26 перекрываются молекулярными массами углерода 2+, ( С, С)+ и концентрация которых обычно не бывает ниже 10-2 атомн. %. Масс-спектральный метод оказывается малоэффективным при исследовании кремния и германия высокой чистоты, так как концентрации электрически активных примесей в них составляют 10 см или меньше, что уже находится за пределами чувствительности данного метода. [c.110]

В реальных методах спектрального анализа чистых веществ и определения следов элементов доминирующими являются часто флуктуации аналитического сигнала, возникающие вследствие нестабильности поступления и возбуждения пробы, неоднородности и неполной идентичности одинаковых анализируемых проб данного материала, а также из-за случайных загрязнений. Для достижения наименьших пределов обнаружения элементов основные усилия должны быть направлены на повышение чувствительности и снижение случайных флуктуаций именно в этих звеньях метода анализа с тем, чтобы общая случайная ошибка лимитировалась уже только статистическими свойствами приемника излучения. Если такое положение достигнуто, то величина предела обнаружения будет (при некоторых дополнительных условиях — СМ. гл. 2) наименьшей возможной для данного метода анализа. Связь предела обнаружения спектральной линии с параметрами источника света, спектрального прибора и приемника излучения для случая анализа, когда общая случайная ошибка метода определяется только статистическими флуктуациями светочувствительного слоя приемника излучения, исследовалась в работах [245, 606, 748] и в некоторых других. Рассмотрим этот важный случай анализа, следуя схеме, предложенной в работах [245, 74 ]. [c.39]

Расшифровка рентгеновских спектров также в принципе не отличается от соответствующей методики эмиссионной спектроскопии. Существенно облегчается эта работа благодаря наличию подробных таблиц линий рентгеновского спектра. Хотя рентгеновские спектры намного проще эмиссионных, что заметно упрощает задачу идентификации линий, все же определение их принадлежности тому или иному элементу остается далеко не простым. Осложнения вызывают главным образом спектры разных порядков, что приводит к наложению линий. Для надежности определения находят длину волны и оценивают интенсивность не одной, а нескольких спектральных линий. Вполне понятно, что среди них должна находиться наиболее интенсивная линия анализируемого элемента (обычно это Ка- или а-линия). Чувствительность рентгеноспектрального анализа (предел обнаружения) составляет в среднем 0,05...0,1 %, для некоторых элементов (N1, Си и др.) он снижается до 5-10" %, для других (например, редкоземельных элементов) повышается до 0,1...0,2%. [c.129]

При спектральном анализе о присутствии того или иного элемента судят по наличию в спектре характерных для него линий. Количественное определение элемента производят по интенсивности этих линий. Спектральный анализ отличается высокой чувствительностью и быстрым выполнением определений. Он позволяет анализировать очень малые количества веществ и обнаруживать некоторые элементы при содержании их около 10 —10 г. С помощью спектрального анализа установлено наличие ряда элементов в составе солнца и звезд. [c.7]

В части таблиц некоторые мешающие спектральные линии или число, показывающее интенсивность, обведены рамкой. Это — линии наиболее распространенных элементов, имеющие не очень малую (обычно не менее 25 по шкале Гаррисона) интенсивность, чувствительные линии более редких элементов или линии элементов, сходных по свойствам с определяемым элементом. Например, подчеркнуты линии ЫЬ при определении Та или линии 2г при определении НГ и т. п. [c.9]

Выбор спектральных линий. Это очень важный и в некоторых случаях трудоемкий этап работы. Вначале по таблицам или иным литературным данным выбирают наиболее интенсивные и свободные от наложений спектральные линии. При этом необходимо учитывать целый ряд обстоятельств, как-то удобство наблюдения в данной области спектра, близость линий сравнения, однородность линий по возбуждению (искровые, дуговые) и но внешнему виду (резкие, размытые), фон спектра и пр. Если удается обнаружить несколько линий определяемого элемента, то очень важно выбрать те из них, которые более чувствительны к изменению концентрации. Окончательное суждение о пригодности найденных аналитических линий можно получить только при экспериментальных наблюдениях спектров образцов. [c.121]

Стон изучал влияние атмосферы инертных газов на эмиссионные спектры в прерывистой дуге. Было проведено сравнение спектров некоторых элементов в атмосфере гелия, смеси гелия и кислорода, аргона и воздуха. Автором было установлено различие в спектрах они меняются с изменением ионизационного состояния спектральных линий. Так линии, требующие большой энергии для возбуждения, более интенсивны в атмосфере инертных газов, чем в воздухе, а линии, возбуждаемые при меньшей энергии, более интенсивны в воздухе. В большинстве случаев спектральные линии, которые усиливаются в атмосфере инертных газов, менее чувствительны, поэтому атмосфера инертных газов может быть использована для увеличения точности анализа только в случае, когда интересующие нас элементы присутствуют в достаточной концентрации. В некоторых случаях использование атмосферы инертных газов может быть ценным, например, Ве — интенсивность чувствительного дуплета 3130,4 А в атмосфере Ие—Oj в десять раз больше, чем в воздухе. [c.115]

Рассмотренные в разделе методы характеризуются прежде всего высокой чувствительностью, специфичностью и большой широтой возможных применений, хотя и предназначены главным образом для исследования поверхности твердых тел и молекул в газовой фазе. В некоторых аспектах их можно сопоставлять с какими-либо другими физическими методами исследования, а в некоторых отношениях они обладают совершенно уникальными возможностями. Например, эмиссионный спектральный анализ может найти себе конкурента в методе РЭС при определении химических элементов. Фотоэлектронные спектры более специфичны, чем абсорбционные рентгеновские спектры и УФ спектры, характеризуясь более узкими линиям ч достаточно высоким разрешением. Многие данные, получаемые из фотоэлектронных спектров, хорошо коррелируют с данными других методов. [c.165]

Аналитические линии кадмия и некоторых мешающих элементов (и чувствительность его определения при использовании угольной дуги) представлены в табл. 20 [131, 215, 229, 517], более полные данные (около 70 спектральных линий) приведены в Приложении 12 [517]. [c.127]

Например, при измерении эмиссии в определенной спектральной области нужно всегда учитывать и интенсивность света, излученного в этой области самим пламенем последняя обусловлена сгоранием газовой смеси, наличием твердых раскаленных частиц в пламени и полосами излучения, связанного с образованием в нем свободных радикалов или стабильных молекул. Наличие этого светового фона, к которому прибавляется свет, излученный определяемым элементом, естественно, снижает чувствительность определения. Последняя может уменьшиться и при определении очень легко возбудимых элементов, таких, как щелочные металлы, если темпе ратура пламени очень высока, поскольку значительная часть атомов в газовой фазе может быть ионизирована, а это снижает интен сивность линий нейтральных атомов, измеряемую в опыте. Подобное снижение чувствительности может наступить и при посторонних реакциях атомов определяемого элемента с некоторыми из компонентов газовой смеси или продуктами ее сгорания, но при условии образования новых соединений. Пример посторонних реакций, снижающих чувствительность при определении кальция, показан на следующей схеме [c.356]

Для более рационального использования вещества, которое попадает в зону возбуждения спектра, предложено добавлять к пробе соли щелочных металлов, которые, снижая эффективный ионизационный потенциал, повышают интенсивность спектральных линий. Этим методом была повышена чувствительность определения примесей РЬ, Си, В1, Т1 и некоторых других элементов в селене [21]. [c.447]

Чувствительность обнаружения элементов можно повысить, регистрируя некоторые спектральные линии с помощью микрофотометра [9, 10]. Сканируя окрестности аналитической линии с помощью фотоэлектрической установки и регистрируя флюктуации пропускания света в зависимости от длины волны с помощью самописца, можно выделить и надежно идентифицировать в полученной диаграмме слабые спектральные линии, которые не удается надежно наблюдать визуально под спектропроектором и которые нельзя четко отделить от флюктуаций фона или от слабых мешающих линий. [c.29]

Для повышения чувствительности путем воздействия различными приемами на указанные параметры (у, т, Т, х, Ме, Ы) добиваются либо усиления яркости спектра примесных элементов, либо ослабления фона спектра. Но чаще всего применение того или иного приема приводит к одновременному изменению интенсивности линии и яркости фона иногда в одну и ту же сторону, а успех приема зависит от того, приводят ли эти вариации к увеличению соотношения сигнал— фон. Поэтому разделение приемов повышения чувствительности на методы, использующие уменьшение уровня фона и методы, связанные с увеличением интенсивности спектральных линий, как это сделано в работе [51], весьма относительно, а в некоторых случаях такого разделения вообще нельзя провести. В большинстве работ для повышения чувствительности используется несколько приемов и часто трудно объяснить, какой же из них вызывает наблюдаемый эффект. [c.133]

Начнем с некоторых количественных указаний относительно абсолютных количеств элемента, которых оказывается достаточно при различных методах возбуждения и средних условиях светосилы спектрографа и чувствительности пластин для того, чтобы стали заметными самые чувствительные спектральные линии. Относительно этого имеются новые систематические опыты с твердыми металлическими электродами III п е т а. 1 Он получил [c.57]

Чувствительность определения некоторых элементов методом фотометрии пламени незначительна, поскольку аналитические линии этих элементов лежат в ультрафиолетовой области спектра. Поэтому для возбуждения этих спектров требуется энергия, значительно превышающая энергию частиц в пламенах. Действительно, чтобы наблюдать линию испускания в ультрафиолетовой области, необходимо иметь достаточное число частиц, находящихся на начальном высоковозбужденном уровне энергии Е (длина волны линии обратно пропорциональна разнице энергий начального и конечного уровней перехода Х=кх1Е — Е2). Для метода атомной абсорбции важна заселенность нижнего, основного уровня, поэтому на чувствительность определения не влияет спектральная область, где лежат аналитические линии определяемых элементов. [c.37]

Для повышения чувствительности определения элементов в некоторых случаях используют метод прикатодного слоя. В угольной дуге постоянного тока при определенных условиях у катода образуется слой плазмы 1—2 мм, в котором спектральные линии некоторых элементов в 10—50 раз интенсивнее, чем в межэлект-родном пространстве. [c.51]

Использование внешнего магнитного поля. Хотя данных по стабилизирующему действию магнитных полей при анализе диэлектрических материалов имеется больше, чем при анализе металлов, выводы для аналитической практики часто не однозначны и состояние проблемы далеко от завершения [2]. Для стабилизации дуги использование внешнего магнитного поля особенно важно, если вследствие большой поверхности анода или низкой силы тока анодное пятно полностью не покрывает поверхность анода. Магнитное поле превращает анодное пятно в равномерно распределенные по электроду микропятна, обеспечивая таким образом стабильность испарения материала из кратера и улучшая воспроизводимость источника излучения. При этом в магнитном поле соответствующей конфигурации и силы (разд. 4.3.4) увеличивается чувствительность определения некоторых элементов, что обусловлено возрастанием времени пребывания атомов (ионов) в дуге и увеличением интенсивности спектральных линий. [c.130]

Для характеристики возможностей качественного спектрального анализа принято понятие абсолютной чувствительности анализа. Под этой величиной понимается наименьшее количество вещества данного элемента, находящееся в пробе и дающее в спектре слабые, но достаточно четкие для идентификации последние линии ( 6) элемента. Это количество может быть выражено в весовых единицах или в процентах к весу всей пробы в последнем случае эту меру чувствительности иногда называют относительной чувствительностью. В табл. 2 приводятся сведения об абсолютной чувствительности обнаружения некоторых элементов. Следует отметить, что данные табл. 2 являются приблизительными, так как в зависимости от совершенствования методов анализа нредельи обнаружения меняются в сторону повышения чувствительности. Например, высокие требования атомной техники к чистоте атомных материалов вызвали развитие новых приемов подготовки пробы и возбуждения спектров, что обеспечило повышение чувствительности до 10 " —10" " % даже для таких элементов, как бор. Современная полупроводниковая техника требует дальнейшего повышения чувствительности на два-три порядка. [c.65]

Влияние третьих элементов, В практике часто приходится встречаться с изменением концентрации третьих элементов и даже их качественного состава от образца к образцу, Даже разные образцы металла одной марки и то обычно отличаются количественным содержанием третьих элементов, Влияние третьих элементов проявляется на разных стадиях введения и возбуждения вещества. Так третьи элементы с низкими потенциалами ионизации сильно влияют на температуру разряда. Поэтому в зависимости от их концентрации возбуждение определяемого элемента будет происходить при разных температурах, что приводит к изменению нитенсивности аналитических линий. Третьи элементы могут образовывать с определяемым различные химические соединения как в расплаве, так и в самом источнике света. В зависимости от свойств получающихся соединений поступление и возбуждение анализируемого элемента оказывается облегченным или, наоборот, затрудненным. Например, в пробах, содержащих фтор, он образует с некоторыми металламитруднодиссоциированные сседи-нения, что приводит к снижению точности анализа, так как концентрация фтора меняется произвольным образом от образца к образцу. Фтор также уменьшает чувствительность анализа. Третьи элементы могут препятствовать или, наоборот, облегчать химические реакции определяемого элемента с воздухом и материалами электрода. Например, при анализе металлов состав расплава по сравнению с составом образца оказывается обогащенным элементами, которые окисляются наиболее энергично, В присутствии третьих элементов, которые окисляются сильнее, чем анализируемый, его окисление и поступление в разряд будет замедленно, В этом одна из главных причин влияния третьих элементов на относительную интенсивность спектральных линий и точность анализа металлов. [c.239]

Возможность протекания химических реакций в плазме отмечена в работах [13, 101, 118]. Райхбаум и Костюкова [101] расчетным способом показали, что при температуре плазмы 3000—5000° С некоторые металлы образуют устойчивые двухатомные молекулы. Это приводит к уменьшению концентрации свободных атомов и ослаблению интенсивности спектральных линий. Для элементов, образующих прочные соединения с кислородом, таких, как Zr, Ве, Nb, Мо, Та, одним из путей повышения чувствительности определения является введение в пробу кремния, имеющего сродство к кислороду больше, чем эти металлы, Примером уменьшения отрицательного влияния химических реакций в плазме может служить определение Li в форме ЦР в присутствии СаО (рис. 80). В присутствии Са концентрация свободных атомов Li в плазме возрастает за счет связывания Р-иона в устойчивое соединение СаР. Одновременно возрастает интенсивность молекулярной полосы СаР. Химические реакции в плазме электрической дуги и их роль при проведении спектральных определений изучены пока недостаточно. Можно отметить, что многообразие факторов, влияющих на процесс испарения веществ, позволяет управлять этим процессом в нужном для практических целей направлении. Метод фракционной дистилляции элементов часто используется для решения ряда аналитических задач (например, при определении микропримесей). [c.127]

Резонансные линии, как наиболее яркие в спектре, имеют большое значение при спектральном определении незначительных концентраций элементов. Однако не все резонансные линии пригодны для использования некоторые из них лежат в трудно доступных областях спектра, например в вакуумной (л= 1774,94 А у фосфора) или в области слабой чувствительности фотографической пластинки (например, Я = 2138,56А у цинка). Вместо этих линий приходится использовать другие, для которых вероятность излучения меньше и для возбуждения которых необходимо затрачивать большие энергии. В связи с этим чувствительность определения таких элементов сильно снижается. Например, для цинка вместо резонансной линии 2138А (потенциал возбуждения 5,8 эв), часто берут триплет 3282—3302-—3345А (с потенциалом возбуждения 8,8 эв). Увеличение потенциала возбуждения на 3 эв при температуре разряда 5000° приводит, согласно (1.2), к снижению щсла возбужденных атомов более чем в сто раз. В связи с этим в настоящее время наметилось стремление переходить в некоторых случаях спектрального анализа в вакуумную область спектра с использованием фотоэлектрических приемников излучения. В этой области находятся самые чувствительные резонансные линии таких важных для технического анализа элементов, как С, 5, Р, Аз, Зе, и г азы Н, О, N. [c.25]

Анализируемый раствор объемом 0,2—0,3 мл наливают в верхний полый графитовый электрод (высота — 4 см, внутренний диаметр 0,3 см) с пористым дном (толщина дна обычно составляет 1—2 мм). Нижний электрод представляет собой графитовый стержень диаметром i—5мм. Между электрод4ми возбуждают высоковольтный искровой разряд. Возможно использование в качестве источника света также дуги переменного тока. Происходящее во время электрического разряда разогревание электродов способствует просачиванию анализируемого раствора через пористое дно верхнего электрода и поступлению его в разряд. Раствор просачивается в течение всего времени экспозиции. Спектр начинают фотографировать через 5—10 сек, после включения искры, когда установится стабильное поступление раствора в зону разряда. Для обеспечения стандартной вязкости раствора обычно добавляют 10% H2SO4. Э от метод позволяет проводить определения с довольно высокой чувствительностью. Так, в разбавленных растворах по линиям Zr 3496,21 и Zr 3273,05 удается определять 2-10 % Zr. Посторонние химические элементы в количестве около 0,1% в некоторых случаях понижают чувствительность. Разработанный метод успешно использовали для спектрального определения тантала, гафния и циркония в ниобии 427], для определения отношения Hf и Zr в широком, интервале концентраций [447], а также во многих других случаях. [c.182]

Уран можно определять методом атомной абсорбции в пламени закись азота — ацетилен. Однако чувствительность определения, по имеющимся данным, довольно низка. В табл. IV. 17 приведены значения чувствительности, полученные Маннингом [87], а также Амосом и Уиллисом [85] для некоторых аналитических линий. Амос и Уиллис использовали водные растворы нитрата урана, пламя закись азота — ацетилен и спектральную ширину щели 0,8 А. В этом пламени они обнаружили заметную ионизацию урана, однако в обеих работах в исследуемые растворы не добавлялся легко ионизируемый элемент. Поэтому можно ожидать некоторого увеличения чувствительности, если анализируемый раствор будет содержать ЮООжкг/лл калия. [c.141]

Различные спектральные линии одного и того же элемента могут иметь разную концентрационную чувствительность. Обычно слабые линии имеют большую концентрационную чувствительность, так как не испытывают самопоглощения. При количественном анализе стараются использовать эти линии. -Ширина и форма спектральной линии. Простые уровни, которые составляют один сложный уровень, слегка различаются по энергии. Поэтому большинство спектральных линий состоит из нескольких слившихся линий и имеет некоторую ширину. Кроме того, многие элементы являются смесью изотопов с разной массой атомов. Это приводит к увеличению ширины спектральных лищп, которая мо- [c.58]

Для повышения чувствительности спектрального определения хлора иногда вводят в анализируемый объект некоторые добавки. Так, при введении солей тяжелых элементов с наиболее низким потенциалом ионизации (ВЬ, Сз, Ва) интенсивность спектральных линий хлора повышается в 2—3 раза [39]. Чувствительность спектрального определения хлора также повышается при использова-вии приемов концентрирования конденсаций [14] или химического обогащения [187]. [c.123]

При анализе азотнокислого алюминия. Как уже отмечалось выше, при электролизе азотнокислого алюминия на катоде выделяется гидроокись алюминия, что ограничивает степень выделения микропримесей. Для повышения чувствительности анализа необходимо устранить выделение гидроокиси на катоде. Для этой цели опробовали различные приемы. При подкислении раствора соли до pH 1—2 количество выделяющейся гидроокиси на катоде существенно уменьшалось, однако, одновременно ухудшались условия выделения микропримесей. Поэтому такой прием не мог быть применен при проведении анализа. Известно [4], что уменьшению выделения гидроокиси алюминия способствует также введение в соответствующий раствор некоторых органических кислот (лимонная, винная). При проведении электролиза раствора азотнокислого алюминия с добавкой лимонной кислоты (соотношение 1 1) наблюдают существенное уменьшение образования гидроокиси при одновременном улучшении условий выделения большинства примесей (рис. 8). В этом случае для большинства элементов (Ag, Bi, Си и др.) происходит увеличение степени выделения примесей на угольном диске со временем. В то же время для группы элементов (Мп, Сг, а также Са и Mg) увеличение времени выделения приводит к ослаблению спектральных линий. [c.165]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология