Спектр сигнала от дефекта

Возможности и особенности метода. МСК используют преимущественно для контроля изделий из неметаллических материалов (в том числе обладающих большим затуханием упругих колебаний и низкими модулями Юнга), обнаружения дефектов соединений в слоистых и сотовых конструкциях из пластиков и металлов. Контроль ведут при одностороннем доступе без смачивания изделий. Предельная глубина залегания выявляемых дефектов в пластиках 30 мм. Минимальная площадь обнаруживаемого дефекта зависит от глубины залегания к и составляет 1. .. 15 см с увеличением к чувствительность падает. На рис. 85 показаны изменения спектра сигнала дефектом соединения мягкого резиноподобного покрытия толщиной 3 мм с жестким алюминиевым каркасом, на рис. 86 - дефектом соединения (диаметр 36 мм) алюминиевой обшивки толщиной 2 мм с сотовым заполнителем. [c.272]

На рис. 53 представлены графики, построенные по зависимостям (32) и (33) для различных Ь при т = 0,36, относительной глубине дефекта Л = 0,05 и относительной дайне дефекта /. = И2И . На рис. 53, б нормирование и< выполнено по С/от - максимальному значению спектра сигнала абсолютного ВТП. [c.401]

СПЕКТР СИГНАЛА ОТ ДЕФЕКТА [c.138]

Одной из важных областей применения ЯКР является обнаружение дефектов в кристаллической решетке твердого тела. Например, если в решетке имеются незаполненные узлы (вакансии), то изменяется степень неоднородности электрического поля у ядер атомов (или ионов), соседних с вакансией, и на спектре ЯКР регистрируется изменение сигнала. По интенсивности и характеру этого измененного сигнала можно судить о концентрации дефектов в кристалле и их типе. [c.63]

Суть сплит-спектрального способа рассмотрена в [422, с. 589]. Принятую при контроле реализацию эхосигнала, образованную комбинацией помех, отраженных от структурных неоднородностей, и сигнала, отраженного от дефекта, подвергают прямому преобразованию Фурье. Полученный амплитудно-частотный спектр разбивают на ряд частотных полос. Каждую из них подвергают обратному преобразованию Фурье, а набор полосовых сигналов амплитудно взвешивают, после чего полосовые сигналы суммируют. В результате получают скорректированную реализацию эхосигнала, причем весовые коэффициенты подбирают таким образом, чтобы максимизировать отношение амплитуды сигнала от дефекта к амплитуде сигнала структурных помех. [c.232]

С увеличением расстояния Ь между преобразователями (рис. 4.9, в слева) вместо зеркально отраженной продольной волны на приемный преобразователь попадает волна, возбужденная распространяющимися по листу волнами Лэмба. В этом случае максимумы спектра принятого импульса соответствуют частотам этих мод (рис. 4.9, в справа). Любое изменение условий распространения волн Лэмба, в том числе возможные дефекты, меняет спектры принятых импульсов. На практике обычно используют способ, приведенный рис. 4.9, б, когда частотам волн Лэмба соответствуют провалы в спектре информативного сигнала. [c.493]

Контроль изделий из керамики возможен реверберационно-сквозным методом [425, с. 89/112]. Объект контроля -керамические плитки для пола с размерами 200 X 200 X 8 мм. Использовали прямые преобразователи диаметром 25 мм с центральной частотой 0,5 МГц. Преобразователи контактировали с сухой поверхностью ОК через прокладки из силиконовой резины толщиной 10 мм. Сферическая форма прокладок в зоне контакта с ОК исключала образование воздушной прослойки. Информативным параметром служил энергетический спектр принятого сигнала. В бездефектных зонах основная его энергия находилась в пределах 0,4. .. 0,5 МГц. Поверхностные и подповерхностные дефекты вызывали появление интенсивных спектральных составляющих в области 0,2. .. 0,25 МГц, [c.527]

Дефекты регистрируют по изменению спектра принятого импульсного сигнала. В отличие от интефального метода контроль выполняется путем сканирования изделий. Обычный диапазон рабочих частот от 0,3 до 20 кГц. [c.212]

При спектральном способе (способ 8) необходимо применение дефектоскопа-спектроанализатора. Эхо-сигнал от дефекта с дефектоскопа подается на спектроанализатор. В этом случае на экране наблюдают изменение амплитуды эхо-сигнала в зависимости от частоты. Зондирующий импульс и пьезопреобразователь должны быть широкополосными (> 2). Немонотонный спектр, характерный для плоскостного дефекта, возникает в результате интерференции эхо-сигналов от кончиков дефекта. [c.248]

Форму и спектр огибающей сигнала накладного ВТП при обнаружении точечного дефекта находят приближенным аналитическим методом. Для определения формы огибающей можно пользоваться приближенным выражением [c.402]

При использовании машинной записи для анализа ВМ-УВ основным источником ошибки является ухудшение разрешения масс-спектрометра с ростом М. Это приводит к ухудшению воспроизводимости спектров — интенсивности ионов в последовательно взятых записях могут различаться в несколько раз машина начинает вносить систематическую ошибку за счет неверно взятой нулевой линии (сигнала начала отсчета интенсивностей ионов) и т. д. Для предотвращения появления этой ошибки необходимо периодически проверять машину и при обнаружении искажений, впредь до устранения дефекта, переходить на фотозапись. [c.210]

Электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) наблюдается в веществах, содержащих неспаренный электрон. Данный метод имеет много общего с ЯМР и отличается тем, что сигнал ЯМР наблюдается в области радиочастот, а сигнал ЭПР — в диапазоне сверхвысоких частот. Другая особенность определяется делокализацией электронного облака. Тонкая структура, появляющаяся в результате взаимодействия электрона с магнитными моментами, помогает определить долю времени, проведенного электроном на разных атомах. Спектры ЭПР могут дать важную информацию о природе дефектов твердого тела, в частности о характере их электронной функции, зная которую [c.83]

Спектры ЭПР кварца, облученного при высокой [10—13] и низкой [14, 15] температурах, подобны соответствующим спектрам ЭПР силикагеля [16—20] и представляют собой наложение двух сигналов синглета шириной 1 - 2 гс ( = 2,0006 ч- 2,0010) л более широкого синглета шириной —20 гс g = 2,008 -ь 2,010), который в некоторых случаях превращается в секстет. Первый сигнал приписан электрону, захваченному кислородной вакансией или атомами кремния [21], второй связывается с дыркой, захваченной атомом кпслорода вблизи структурного дефекта или примесного атома алюминия [22, 23]. [c.409]

Основными признаками наличия дефекта в трехслойной конструкции являются заметное падение амплитуды сигнала — на 40—50% (расслоение — зона И), изменение частотного спектра в сторону более низких частот (рыхлость пенопласта — зона П1) и снижение скорости распространения упругих волн (уменьшение прочности и объемной плотности — зона IV). Зоне / соответствует качественный участок конструкции (рис. 8). На качественном участке изделия будет наблюдаться максимальная амплитуда сигнала первого вступления и минимальный период УЗК. [c.166]

Прямыми исследованиями (методом ЭПР) измельчаемого кварца было установлено [82], что концентрация активных центров на его поверхности равна 2 10 ° спин/кг (удельная поверхность 0,7 м /кг). Ширина линии спектра ЭПР кварца, измельченного при 77 К, равна 640 А/м. Тонкой структуры спектра не наблюдается, дг-фактор примерно соответствует ef-фактору свободного электрона. Концентрация парамагнитных центров, ширина и форма сигнала ЭПР не меняются при длительном хранении при комнатной температуре. Спектр ЭПР диспергированного кварца возникает, вероятно, вследствие разрыва связей Si—О и существования поверхностных атомов со свободными валентностями. По своему характеру он сильно отличается от спектров облученного кварца и измельченного сульфата бария. Маловероятно, что это связано с электронами, захваченными дефектами структуры, так как в этом случае при комнатной температуре должны бы наблюдаться более широкие линии. Кроме того, при диспергировании кварца и силикагеля возможна, как и в случае металлов и некоторых оксидов, электронная эмиссия [41], которая способна инициировать полимеризацию мономеров, контактирующих с твердой поверхностью в момент ее образования. [c.83]

Ширина линий сигналов также представляет существенный интерес. В результате движения электронов, столкновений с примесями и других дефектов время спин-решеточной релаксации и результирующие ширины линий спектра критически зависят от определенных явлений электронного рассеяния. Например, большие атомы таких примесей, как кремний, присутствующий в количестве 100 млн , могут расширять линии спектра ЭПР [24]. Эти эффекты иллюстрируют данные рис. IX. 18. Отметим, что линии сигнала сужаются примерно в 5 раз, когда образец очищен с применением хлора. Эффект обратим при обратной диффузии примесей в материал. Наряду с этим, процесс очистки не влияет на удельное электрическое и магнитное сопротивления. Более того, не замечено изменений ё -фактора или эффективной концентрации спинов, что указывает на релаксационную природу явления. [c.202]

С увеличением давления фтора в зоне реакции в смеси фторидов повышается содержание (С2Г) [6-155]. При 550 С повышение дисперсности частичек приводит к увеличению в смеси количества (СГ) . Наличие в спектрах электронного парамагнитного резонанса (С2Г)п сигнала с 5г=2,004 свидетельствует о присутствии в нем непрореагировавшего углерода [6-154]. С повышением температуры термообработки этот углерод реагирует с фтором, находящимся вблизи дефектов образующейся фтору глеродной решетки. [c.380]

Волну, отраженную от дефекта, можно представить в виде интеграла Фурье по волновому вектору к. Такое представление означает, что, зная спектральный состав волн, отраженных по всем направлениям от дефекта, можно построить точное изображение дефекта. Для достаточно полного представления образа дефекта необходимо изучить спектр частот отраженного сигнала в диапазоне /тах//тш=3. .. 5 при изменении углов отражения от дефектов в пределах 90... 120°. Практическая реализация этого направления изучения формы дефекта идет пока по двум путям изучение зависимости амплитуды сигнала от направления рассеяния (инди-катриссы рассеяния) и изучение спектрального состава сигнала. Первое направление прорабатывается более широко, так как не требует создания специальной широкополосной аппаратуры. [c.197]

Они могут быть осциллирующими (немонотонными), если являются результатом интерференции двух эхосигналов, близких по амплитуде. Такую интерференцию наблюдают при наклонном падении на плоскостной дефект (положения ПЭП 2, 3 на рис. 3.6). При нормальном падении на дефект (положение 1) интерферирующие сигналы синфазны и спектр монотонный. Эти же выводы о зависимости амплитуды от частоты следуют из формулы (2.25) для эхосигналов при нормальном и наклонном падении на дискообразный дефект. В (2.25) осцилляции определяет функция Ф. Сигналы от объемных (округлых) дефектов практически монотонны (положения 4, 5, 6), потому что сигнал волны обегания и соскальзывания имеет значительно меньшую амплитуду, чем непосредственно отраженный сигнал, с которым от интерферирует (см. рис. 1.22). [c.199]

При исследовании природных и высокомолекулярных химических соединений проблема записи ЯМР спектров в условиях, критических по динамическому диапазону, возникает из-за низкой концентрации этих соединений в исследуемом растворе. Большой динамический диапазон в спектрах ЯМР таких растворов создает инструментальные проблемы, связанные с длительным накоплением данных, что особенно характерно для протонных спектров. Самый распространенный способ решения этих проблем - методики подавления интенсивных пиков растворителя, основной недостаток которых заключается в том, что они чувствительны ко всем небольшим инструментальным дефектам. Поэтому необходима кропотливая оптимизация с помоцц.ю варьирования экспериментальных параметров, таких как точная настройка длительности импульсов, сдвига фазы, РЧ амплитуды и частоты передатчика, для нейтрализации этих дефектов и достижения приемлемого уровня подавления. Такие последовательности могут требовать полной релаксации сигнала растворителя. В этом случае длительность подготовительного периода должна составлять порядка 10 с между выборками данных. [c.10]

Получение цветных радиограмм возможно с помощью цветной или черно-белой фотопленки. Слои цветной фотопленки должны иметь различную чувствительность к интенсивности излучения и за время экспозиции степень засветки слоев будет различной. Если интенсивность излучения, пришедшего после контролируемого объекта, будет изменяться, то на фотопленке после соответствующей фотообработки получится цветное изображение, несущее информацию о толщине и дефектах контролируемого объекта. При этом дефекты обнаруживаются в изменении цвета. Однако работать с цветной пленкой гораздо сложнее, что затрудняет получение качественных цветных изображений. Поэтому часто производят экспозицию на черно-белую пленку, но 3 раза с разными параметрами источника (интенсивность, спектр) и после специальной фотообработки получают три монохроматических изображения, накладывая которые, переходят к цветному изображению. Оператор воспринимает больше оттенков цвета, чем градаций яркости, что облегчает контроль качества и повышает его достоверность за счет учета одновременно большего объема информации, что подобно многопараметровому контролю. Вместе с тем при работе на пределе чувствительности и наличии помех цветное изображение по эффективности приближается к черно-белому и применение цветных изображений из-за сложности фототехнологии не всегда целесообразно. Аналогичным образом обстоит дело и с цветным контрастированием (см. 5.9), которое эффективно, когда надо четко выделить необходимую информацию при большом отношении сигнал/шум. [c.341]

Информативные частоты спектров ВА-сигналов. Рассмотрим случай электрического двигателя. При дисбалансе ротора характерная частота колебаний равна частоте вращения. Износ подшипников - появление зазоров, натиров, выбоин, рисок на телах качения и рабочих поверхностях колец приводят к возникновению собственных колебаний отдельных элементов в интервале частот от 5 до 40 кГц. Если частота вращения равна / р, число шариков в подпшпнике п, диаметр кольца D, диаметр шариков d, - угол контакта поверхностей обоймы и шариков, то при наличии дефекта подшипника ВА -сигнал характеризуется плавной периодической огибающей, частота которой составляет [c.198]

Метод свободных колебаний основан на ударном возбуждении импульсов свободно затухающих упругих колебаний в контролируемом изделии и анализе спектра принятого сигнала. Признаком наличия дефекта является изменение спектра упругих колебаний изделия в зоне контроля. Этот метод применяется для выявления непроклеев в комбинированных мягкослойных конструкциях, выполненных с применением неметаллических материалов с высоким коэффициентом затухания упругих колебаний (например, резиноподобных). [c.84]

В Na-цеолите характер заполнения существенно отличается от изложенного. Центрами адсорбции молекул воды являются катионы натрия. При малых заполнениях (до 2,72 ммолъ1г) спектр ЯМР имеет вид, характерный для кристаллогидратов с изолированными жестко закрепленными молекулами воды. С увеличением величины адсорбции характер спектра меняется, и он приближается к спектру льда для данной температуры. С повышением температуры происходит изменение формы спектра, связанное с появлением узкого компонента сигнала. Природа адсорбента и количество адсорбированной воды сильно изменяют температуру, при которой исчезает широкий компонент сигнала это явление связано с плавлением вещества в порах адсорбента. Высказано предположение, что при неполном заполнении одна часть адсорбированных молекул воды связана сильнее, а другая часть — слабее. Эти последние молекулы воды характеризуются подвижностью нри низких температурах. В случае предельного заполнения адсорбционного пространства при повышении температуры происходит миграция дефектов. Этими причинами объясняется появление узкого компонента. [c.215]

Спектр полезнмх) сигнала рассмотрен в п. 26. Если задан закон набегания изображения дефекта на площадку ПИ Ф(т) = Ф у(г (ф [c.163]

Очевидно, что незначительная неоднородность магнитного поля вдоль диаметра образца может быть причиной того, что ядра, находящиеся в одном и том же молекулярном окрун ении, будут поглощать энергию при несколько разных напряженностях поля. Это может привести в лучшем случае к некоторому ушире-нию линии, а в пределе — к полному исчезновению тонкой структуры. Однако, если образец привести в движение так, чтобы ядра непрерывно перемещались вдоль поля, произойдет усреднение действующего поля и сигналы соответственно станут более узкими. Такой эффект лучше всего достигается путем вращения образца. Иногда при вращении сочетание эффекта негомогенности магнитного поля и дефекта ампулы может привести к появлению боковых полос у главных резонансных сигналов. Расстояние между этими боковыми полосами и резонансным сигналом зависит от скорости вращения при увеличении скорости вращения боковые полосы удаляются от исходного сигнала и ослабляются. Таким путем можно отличить подобные полосы от полос поглощения в спектре. Хотя в некоторых случаях вращательные боковые полосы можно элиминировать увеличением скорости вращения, однако очень большие скорости вращения, при которых мениск вращающейся жидкости попадает в рабочее поле образца, могут привести к значительному снижению разрешения. [c.213]

Изучение монокристаллов полимеров. Метод ЯМР использовали для изучения структуры так называемых монокристаллов полиэтилена, получаемых при охлаждении разбавленных растворов полимера в ксилоле или других растворителях. Слихтер показал, что монокристалл полиэтилена, пе подвергнутый термической обработке, дает простую линию ЯМР (спектр снимался при комнатной температуре). Линия ЯМР препарата после его прогрева до 120—140 °( и последующего охлан-едения состоит из двух компонент широкой и узкой, причем интенсивность узкой компоненты тем больше, чем выше температура прогрева. Для появления узкой компоненты в спектре ЯМР достаточно нескольких минут прогрева образца, равновесная интенсивность узкой компоненты устанавливается после 30 мин термообработки. Петерлип и Пиркмайер также наблюдали появление узкой компоненты в линии ЯМР монокристаллического препарата полиэтилена после нагревания его выше 70 С. Был сделан вывод о том, что узкая компонента сигнала ЯМР соответствует областям с дефектной кристаллической структурой. К такому же выводу пришли Одадзима, Зауэр и Вудворд изучившие ЯМР препаратов кристаллов полиэтилена и ряда нормальных парафинов. Так, дефекты решетки, дающие узкую линию [c.158]

Спектры ЗПР показали, что образовавщиеся под действием излучения радикалы сохраняются в процессе полимеризации и даже после того, как полимеризация пройдет полностью. При этом первоначальная форма сигнала не изменяется. Авторы приходят к выводу, что шроцесс полимеризации инициируется радикалами, находящимися в месте дефектов рещетки. Рост цепи происходит на поверхности раздела двух фаз аморфного полимера и кристаллического мономера, за счет радикалов, находящихся, на поверхности полимера. Радикалы сохраняются, так как оказываются внутри образовавщегося полимера. [c.340]

В некоторых случаях в спектре ЭПР наблюдается сверхтонкая структура, обусловленная дополнительным расщеплением уровней при взаимодействии неспаренных электронов с ядерным магнитным моментом. Так как последний зависит от природы ядра, то появляется возможность непосредственно судить о химическом составе центра. Чаще всего, однако, измеряя ЭПР, можно выяснить лишь, имеются ли в данном образце дефекты, обладающие теми или иными магнитными свойствами. Чтобы убедиться в том, что это и есть те дефекты, которые принимают участие в люминесценции, и установить их химическую природу, нужно параллельно исследовать ЭПР и оптические свойства при варьировании препаративных условий. Так, установление количественной связи между ЭПР, оптическим поглощением и инфракрасным излучением кристаллов КС1 позволило сделать заключение, что наблюдаемый сигнал ЭПР обусловлен F-центрами, а параллельное увеличение интенсивности парамагнитного поглощения ( А-сигнала ) и голубой люминесцен- [c.118]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология