Серебро спектральные линии

Интенсивность спектральных линий можно измерять по почернению их изображений на фотографической пластинке, потому что количество свободного серебра увеличивается с увеличением интенсивности светового потока. Конечно, совершенно недостаточно только указать, что почернение одной линии больше или меньше, чем другой. Нужно измерить величину почернения количественно. [c.158]

По таблицам спектральных линий находим последнюю линию серебра — 3280,68 А и линию меди Хси = 3273,96 Л. [c.111]

Чувствительность спектральных линий серебра [117] [c.135]

При выпаривании трихлорсилана образующийся гель кремневой кислоты выполняет роль дополнительного внутреннего коллектора и способствует более полному концентрированию примесей на хлористом серебре. Хлористое серебро, как было показано ранее, выполняет роль носителя и значительно увеличивает интенсивность спектральных линий тантала и марганца. Образовавшуюся в результате частичного гидролиза трихлорсилана кремневую кислоту обрабатывают фтористоводородной кислотой и удаляют кремний в виде тетрафторида при нагревании. [c.125]

НОВЫХ, более удобных диспергирующих элементов продолжались. В 1894 г. Фабри и Перо предложили новое, исключительно простое устройство колоссальной разрешающей силы. Оно состояло из двух прозрачных пластин, установленных параллельно (рис. 3). Их обращенные друг к другу рабочие поверхности были покрыты полупрозрачным слоем серебра. Этот прибор получил название эталона Фабри и Перо. Он широко распространился по всему свету и до сих пор является основным средством при изучении сверхтонкой структуры спектральных линий. Неудобство его (так же, как и эшелона Майкельсона) заключается в том, что для работы с ним необходимо предварительное выделение достаточно узкого спектрального участка более грубым спектральным прибором вторым недостатком является ограничение его рабочего диапазона, определяемое поглощением света в пластинах и зеркальных покрытиях. [c.7]

Чувствительность определения циркония в двуокиси кремния при использовании в качестве спектрального буфера нитрата серебра составляет 5-10 % [499]. Под чувствительностью авторы понимают ту минимальную концентрацию при которой в спектре образца исчезают спектральные линии определяемого элемента. [c.172]

Раньше приборы большой дисперсии и разрешающей силы использовали для спектрального анализа веществ, обладающих сложными спектрами, с целью устранения взаимных наложений спектральных линий. При этом удавалось достичь значительного снижения пределов обнаружения в результате использования наиболее сильных аналитических линий. Однако, в соответствии с предыдущим изложением, применение приборов высокой разрешающей силы полезно и при анализе веществ с простыми спектрами. Так, например, в работах по анализу элементарного селена [845, 846] при фотографировании спектров на приборах ДФС-8 и СТЭ-1 достигнуты низкие относительные пределы обнаружения большого числа примесей (3 10" — Ы0 %). Низкие пределы обнаружения примесей в чистой сурьме получены в работе [1103] путем фотографирования спектров на дифракционном приборе PGS-2. Подсчитанные по трехсигмовому критерию Кайзера значения пределов обнаружения составили для меди и серебра—3-10- %, магния, алюминия и кремния — 3 10- %, олова— 1 10- %, свинца, висмута и железа — 1 10 % и т. д. Многочисленные примеры снижения пределов обнаружения с использованием приборов большой дисперсии при анализе минерального сырья приведены е монографии [319]. Эффективность применения [c.79]

Несколько образцов нержавеющей стали марки 301 анализировали на содержание очень малых концентраций серебра и полученные результаты сравнивали с данными активационного анализа. В этом случае образцы весом 1 г растворяли таким же образом, как и стандартные образцы NBS. Полученный раствор выпаривали. Остаток растворяли в 10%-ной НС1 и разбавляли этот раствор до 25 мл. Эталонные растворы приготовляли добавлением 4% железа и 10% НС1 для получения состава, близкого к исследуемому раствору. Чтобы избежать засорения щели горелки твердыми частицами, применяли горелку с широкой щелью. Для учета эффекта рассеяния света измеряли абсорбцию образцов на соседней непоглощающей спектральной линии. Поскольку в спектре серебряной лампы отсутствует подходящая линия, использовали лампу с катодом из железа и поправку вносили по линии 3323 А (серебро определяли по линии 3281 А). Для всех образцов наблюдалось 3%-ное поглощение. [c.176]

Приведенные в таблице 22 данные о спектрах поглощения ионов серебра в различных состояниях показывают, что значения разностей Av между компонентами триплета ионов серебра в свободном состоянии очень хорошо совпадают с разностями Av между максимумами полос в спектрах гидратированных ионов серебра и щелочно-галоидных кристаллов, активированных серебром. Отсюда следует, что во всех рассмотренных случаях полосы обусловлены одинаковыми электронными переходами. Однако взаимодействие ионов серебра с окружающими их ионами растворителя приводит к расширению спектральных линий свободной примеси в спектральные полосы и к их смещению в длинноволновую область спектра. Заметим, что в случае фосфоров на основе гало-генидов калия совпадение Av лучше, чем в галогенидах натрия. Это обстоятельство может быть обусловлено тем, что радиус иона [c.165]

Размеры зерен металлического серебра, образующих видимое изображение, обусловливаются светочувствительностью эмульсии, составом проявителя и временем проявления. Величина зерен серебра имеет очень важное значение, так как она определяет в большой мере разрешающую способность фотопластинки, т. е. возможность фотографировать спектральные линии, находящиеся на близком расстоянии друг от друга таким образом, чтобы их можно было раздельно видеть под микроскопом, например, при 15—20-кратном увеличении. Обычно максимальное количество линий, раздельно видимых на фотопластинках, составляет 80—100 на 1 мм. [c.45]

Почернение (8) фотопластинки (спектральной линии) зависит от интенсивности света, падающего на фотопластинку и обусловлено количеством металлического серебра, образующегося в светочувствительном слое. Чем больше количество выделившегося металлического серебра, тем больше плотность почернения. [c.46]

Экспериментальные данные, позволившие открыть спин электрона, были получены главным образом при изучении тонкой структуры спектральных линий краткое описание такой структуры дано в гл. 5. Один из наиболее значительных экспериментов, опыт Штерна — Герлаха, был предложен в 1921 г. немецким физиком Отто Штерном (1888—1969) и в том же году выполнен вместе с В. Герлахом. Схема установки, использованной в эксперименте, показана на рис. 3.28. В процессе опыта серебро испарялось в условиях высокого вакуума из печи, расположенной на дне устройства. Узкий пучок атомов серебра, выходивший через калиброванное отверстие, попадал сильно неоднородное магнитное поле, создаваемое полюсами магнита специальной формы. Затем пучки, отклоненные полем, попадали на фотопластинку и их следы удавалось обнаружить после проявления пластинки. Было установлено, что исходный пучок атомов серебра расщеплялся на два пучка. Наблюдаемое явление легко объяснялось при допущении, что атом серебра обладает магнитным моментом (позже было установлено, что именно этот момент как раз и связан со спином электрона) магнитный момент может быть ориентирован в одном из двух возможных направлений относительно силовых линий магнитного поля, а градиент магнитного поля, через которое проходил пучок атомов, создавал силу, отклоняющую эти атомы вправо или влево. [c.76]

Практическая разрешающая способность. Размеры светочувствительных зерен галогенида серебра определяют разрешающую способность фотографической эмульсии, а она, в свою очередь, влияет на практическую разрешающую способность спектрографа. Изображение спектральных линий на пластинке несколько размывается (рис. 90), так как зерна выходят за пределы изображения щели. Если свет от двух соседних линий падает одновременно на одно и [c.143]

Но последний случай оказывается особенно желательным в случае качественного анализа со снимками, полученными высокочастотным методом, так как он помогает быстро ориентироваться относительно связи спектральных линий с препаратом или противоположным электродом. На рис. 16 приведен снимок внутренности яблочной косточки, полученный высокочастотным методом с золотой проволокой в качестве противоположного электрода. Снимок этот получен с большим спектрографом Ц е й с с а при фокусном расстоянии от чечевицы коллиматора в 40 см, расстоянии искры от щели 5 см и без отображающей чечевицы. С первого же взгляда бросается в глаза группа спектральных линий в нижней части спектра и другая группа их в верхней части. Только самые сильные линии переходят — правда, с все убывающей интенсивностью — в другую половину спектра. Эта интенсивность, проходящая через весь спектр сверху до низу, обусловлена равномерным освещением щели разницы в интенсивности возникают из-за названного выше неясного изображения самого источника света на щели, потому что расстояние между чечевицей и источником света лишь на 12% больше, чем фокусное расстояние чечевицы. Таким образом сейчас же можно определить, какие спектральные линии исходят от золотого электрода и какие От препарата (Мд, Ре, Мп, 51, Р, В). Это может иметь и очень большое принципиальное значение. Нам придется еще и в других местах упоминать, что никогда нет гарантии в полной чистоте противоположного (второго) электрода. Так чистейший золотой электрод всегда еще содержит следы меди, серебра, а также свинца и других элементов. Уже и сама по себе слабая интенсивность основных линий второго электрода предполагает тем более слабую интенсивность спектральных линий его примесей. [c.23]

Определить, результатом какого перехода электрона в атоме серебра является спектральная линия с длиной волны % = = 0,5604 10 м (0,5604 А) в К-серии излучения. [c.26]

При анализе соединений лития для устранения влияния состава соединений на интенсивность спектральных линий может быть применено фторирование с применением фторопласта [545, 546]. В методике [177] для увеличения чувствительности определения кремния и алюминия добавляют хлорид серебра. [c.158]

Области недодержек и передержек 1—2 и 3—4, рис. 88) формально также могут быть представлены уравнением (81), если только положить, что у в этих областях меняется с изменением почернения, оставаясь всегда меньше, чем в области нормальных почернений. При большом увеличении экспозиции наступает насыщение, соответствующее разложению всех зерен галоидного серебра эмульсии. Однако при еще больших экспозициях может произойти так называемая соляризация, заключающаяся в том, что почернение фотопластинки надает с ростом экспозиции (область 4—5 кривых рис. 88). При фотографировании спектров соляризация часто искажает вид наиболее интенсивных спектральных линий в их центре, где [c.102]

Размерные эффекты для кластеров серебра в матрице аргона показаны на рис. 11.7. Наблюдается отчетливо выраженный голубой сдвиг резонансной частоты и уширение спектральных линий с уменьшением размера кластера вплоть до появления отдельных линий мономеров, димеров и тримеров. Анализ экспериментальных данных позволяет получить следующие эмпирические зависимости для резонансной энергии и полуширины линии [c.360]

Для количественного изучения эффекта влияния водорода из канала электрода испарялись одни и те же пробы, но с различным содержанием влаги. В табл. 1 показаны результаты измерения интенсивности спектральных линий цинка, свинца, серебра и меди в спектре пробы, влажность которой изменялась в широких пределах. [c.18]

Химико-спектральный метод определения палладия в ртути [812] основан на растворении навески в азотной кислоте, введении нитрата серебра и выделении палладия соосаждением с цианидом серебра. Палладий в осадке цианида серебра определяют спектральным методом (по линии Pd 3404,58 А), мешает железо. При содержании палладия —10 % стандартное отклонение составляет —18%. Чувствительность метода 5-10- % при навеске 10 г. [c.185]

Искровой разряд используют как в качественном, так и в количественном анализе, В работе [538] предложен метод одновременного химико-спектрального определения Вг, С1, J, С, Р, S и Se в боре, геологических образцах, промышленных и биологических объектах, пробы которых прессуют в таблетки с металлическим серебром. В остальных цитированных работах предлагаются методы количественного определения брома по линиям нм) 470,49 [141, 457], 478,55 [31, 32], 481,67 [580] и нескольким линиям в УФ-области [26]. Низковольтная искра обеспечивает значительно большую чувствительность определения брома, чем высоковольтная. При этом наилучшие результаты были достигнуты в работах [31, 33, где применялся метод электролитического концентрирования. [c.146]

Фотометрия пламени — вид эмиссионного спектрального анализа, в котором источниками возбул<дения спектров являются пламена различных видов ацетилен — воздух, ацетилен — кислород, пропан — воздух, пропан — кислород, водород — воздух и др. Вследствие невысокой температуры в пламенах излучают легко и среднеионизующиеся элементы щелочные и щелочноземельные металлы, галлий, индий, магний, марганец, кобальт, медь, серебро и ряд других, причем их число растет с увеличением температуры пламени. В наиболее холодных пламенах, таких как, например, пропан — воздух, светильный газ — воздух излучают только атомы щелочных и щелочноземельных металлов. Вследствие невысокой температуры спектры, излучае-МЕле пламенами, состоят из небольшого числа спектральных линий, главным образом резонансных, что позволяет выделять характеристическое излучение элементов при помощи светофильтров и использовать простые и имеющие невысокую стоимость спектральные приборы — пламенные фотометры. Кроме атомных спектральных линий в спектрах пламен присутствуют полосы ряда в основном двухатомных молекул и радикалов С2, СиС1, СаОН и др. Некоторые из них используют в аналитических целях. Так, в случае элементов, образующих термически устойчивые оксиды, которые практически не диссоциируют в пламенах с образованием свободных атомов, молекулярные спектры являются единственным источником аналитического сигнала. Практически не атомизируются в низкотемпературных пламенах оксиды скандия, титана, лантана и других элементов, ирлеющих относительно невысокие потенциалы ионизации. Наиболее часто фотометрию пламени применяют для определения щелочных и щелочноземельных металлов. [c.35]

Например в ходе количественного эмиссионного спектрального определения с конечной фотографической регистрацией спектра осуществляются следующие основные процессы и операции а) испарение и перенос пробы из канала угольного электрода в плазму разряда б) возбуждение атомов элементов в плазме и излучение характеристических спектральных линий элементов в) отбор определенной доли светового потока из общего потока, излучаемого плазмой, с помощью дозирующей щели спектрографа г) пространственное разложение полихроматического излучения на соответствующие характеристические частоты (развертка спектра) с помощью призмы илн дифракционной решетки д) фотохимическое взаимодействие светочувствительного материала с квантами электромагнитного излучения (образование скрытого изображения спектра на фотопластинке или фотопленке) е) химические реакции восстановления ионов серебра до металла и растворения галогенидов серебра в комплексующих агентах (проявление и фиксирование) ж) поглощение света спектральными линиями на фотографической пластинке при измерении плотности почернения спектральных линий определяемого элемента и фона с помощью микрофотометра а) сравнение полученных значений интенсивностей спектральных линий с илтен-сивностью соответствующих линий эталонов или стандартов и интерполяция искомого содержания элемента в пробе по градиуровочному графику. [c.42]

В 1925 г. Уленбек и Гаудсмит предположили, что электрон ведет себя как вращающаяся частица и имеет внутренний угловой (спиновый) и связанный с ним магнитный моменты. Эта гипотеза позволила объяснить некоторые небольшие расщепления, наблюдавшиеся в атомных спектральных линиях. Уленбек и Гаудсмит нашли, что необходимо постулировать по-луцелое квантовое число спинового углового момента (спина) 5 = 2 в противоположность целым значениям / = О, 1, 2,. .., которые может принимать квантовое число орбитального углового момента электрона. В предыдущей главе было показано, что орбитали с данным значением / вырождены 2/-+- 1-кратно, каждое из 2/-+- 1-состояний соответствует различным значениям т. По аналогии следует ожидать, что так как для электрона 5 = /2, то существует 25 + 1 2 разных компонент спина, т. е. Шз принимает значения /2 или — /2. Такова была гипотеза Уленбека и Гаудсмита. Позднее выяснилось, что еще за три года до их гипотезы Штерном и Герлахом были выполнены эксперименты, подтверждающие этот вывод. Эти ученые пропускали пучок атомов серебра через неоднородное магнитное поле и установили, что он расщепляется на два пучка, так как если бы атомы серебра имели именно два допустимых направления магнитных моментов относительно направления магнитного поля. Так как в атомах серебра имеется лишь один электрон на 5-орбитали сверх замкнутой (и поэтому сферической) оболочки, поведение атомов серебра в магнитном поле определяется свойствами этого электрона. Поэтому расщепление, наблюдавшееся Штерном и Герлахом, очевидно, обусловлено существованием двух возможных значений Шз для электрона. [c.52]

Быстро развивается и показывает хорошие результаты рентгенофлуоресцентный метод, основанный на том, что падающее первичное излучение создает при взаимодействии с материалом покрытия характеристические электромагнитные волны [25], имеющие кванты определенных длин волн и интенсивности. Спектральный состав излучения зависит от того, какие элементы имеются в материалах контролируемого объекта, а интенсивность — от массы данного элемента. Подбирая фильтры, выделяющие необходимую спектральную линию, характерную для материала покрытия, анализируя интенсивность и энергию квантов вторичного излучения с помощью различных электронных дискриминаторов, можно определить толщину одного или нескольких не очень толстых покрытий. Используемые при рентгенофлуоресцентном методе эффекты более сложны в приборной реализации, поэтому аппаратура на базе этого метода пока не выпускается крупными сериями. Вместе с тем имеются примеры успешного внедрения таких приборов в практику неразрушающего контроля толщин покрытий при разных сочетаниях материалов хром, олово, цинк, алюминий, титан или серебро на стали, медь на алюминии, хром на цинке, кадмий на титане и др. Решающим фактором применимости рентгенофлуоресцентного метода является наличие достаточной интенсивности вторичного излучения в диапазоне, где его регистрация эффективна. Также его ценным качеством является возможность из гpeний толщины многослойных покрытий, причем, когда их толщины соизмеримы, можно проводить в ряде случаев раздельный контроль. Успешно производится измерение толщины серебра на фотобумаге и ферролаковом покрытии. [c.352]

Действие света ведет к распаду галогенида серебра. С образованием субгалоидных соединений серебра, по-видимому, связаны также фотохимические реакции между бромидом серебра и серой, входящей в состав желатины. Ион галоида связывается желатиной, а серебро образует зародышевые кристаллы. Количество кристаллов растет с увеличением освещенности пластинки, образуя при этом скрытое изображение фотографируемой спектральной линии. При проявлении фотопластинки органические восстановители (метол, гидрохинон, глицин, л-аминофенол и др.) реагируют прежде всего с бромидом серебра вокруг зародышевых кристаллов. В результате скрытое изображение становится видимым. Когда при проявлении достигнута достаточная интенсивность видимого изображения спектра, пластинку промывают большим количеством воды для удаления проявителя. Затем ее фиксируют, т. е. извлекают при помощи тиосульфата натрия из эмульсии неразло- [c.179]

Бомбардировка мишеней производилась ионами Аг" с энергией 2,5 кэВ. Чтобы избежать накопления заряда на поверхности мишени, на металлическую подложку наносили очень тонкую пленку исследуемого вещества. Наилучшие результаты были получены при использовании подложек, изготовленных из серебра, меди и никеля. Пленку приготавливали путем высаж-дения вещества из водного раствора (концентрация раствора 10 мкг/мкл). При использовании достаточно интенсивного бомбардирующего пучка наблюдалось заметное изменение масс-спектра, что связано, по-видимому, с частичным разрушением молекул в месте удара бомбардирующей частицы и взаимодействием образующихся осколков, образованием новых химических соединений. Таким образом, в процессе бомбардировки доля испорченной поверхности увеличивается. В результате интенсивность масс-спектральных линий, характерных для исследуемого вещества, уменьшается, а интенсивность линий, характерных для облученных участков, возрастает. Авторы установили, что в случае аминокислот каждая бомбардирующая частица (Аг+ с энергией 2,5 кэВ) необратимым образом разрушает участок поверхности мишени размером 10- см . Нетрудно показать, что в процессе облучения доля неразрушенной поверхности мишени (S) будет изменяться по закону [c.194]

Влияние посторонних элементов изучено в работе [148]. Оказалось, чи тысячекратный избыток других элементов, за исключением алюминия, не ска зывается на интенсивности флуоресценции серебра. Спектральные помех при возбуждении источником сплошного спектра могут вызываться линие меди ul 327,4 нм и линиями никеля. [c.94]

Кроме того, если адсорбция производится из раствора АдЫОз в ВгО, это не дает никаких изменений параметров спектра адсорбированных атомов серебра, тогда как в случае атомов серебра, стабилизированных в у-облученных замороженных растворах АдНОз, заменг легкой воды на тяжелую приводит к сужению спектральных линий примерно в 2 раза. Следовательно, молекулы растворителя не входят в ближайшее окружение атома как видно из табл. 1, различия в относительных изменениях б(А )/Атсвоб определяются носителем и свидетельствуют о стабилизации атомов серебра непосредственно на поверхности носителя. [c.154]

На рис. 61 представлены графически результаты опытов Ионссона по определению зависимости интенсивности 1-линии серебра от напряжения. Квадратичная зависимость интенсивности спектральных линий от напряжения была констатирована Ионс-соном вплоть до напряжений, в три раза превосходящих потенциал возбуждения Уо. При выборе аналитической пары линий следует стремиться к тому,чтобы линии имели, по возможности, более близкие потенциалы возбуждения. В случае полного совпадения величин потенциалов отношение интенсивности линий не будет зависеть от величины приложенного к рентгеновской трубке напряжения. [c.104]

При выполнении полного спектрального анализа следует рекомендовать вести расшифровку спектрограммы по аналитическим спектральным линиям при определенном порядке расшифровки элементов (см. табл. 4). Целесообразнее вначале обратить внимание на наиболее распространенные в природе элементы кремний, алюминий, железо, кальций, магний, натрий, калий. Тогда вероятнее всего будут вначале определяться основные элементы проб, а потом примеси. Далее, в табл. 4, в некоторой степени учтено совместное присутствие элементов в природных образованиях. Так, например, гафний всегда надо расшифровывать после п,ирко-ния, кадмий — после цинка. Элементы медь, свинец, цинк, кадмий, серебро, сурьма, висмут, мышьяк, теллур— [c.10]

Определение в сплавах. Спектральный анализ стали проводят в большинстве случаев без химического обогащения. Однако некоторые линии железа (3933,61 A) накладываются на аналитические линии кальция (3933,67 A) и затрудняют анализ. Вместе с тем по указанным линиям кальций определяют довольно часто. Сталь растворяют и определяют кальций при введении в разряд раствора с помощью фульгуратора или нанесением капель раствора на угольный электрод (второй электрод — медный). Сравнивают линию Са II 3933,67 и линию Ге I 3957,08 А [411]. С использовапп-ем специальных приемов спектрографирования анализировать можно твердые образцы стали, используя их в качестве одного из электродов. В качестве постороннего электрода применяют серебро [1117[ или алюминий [274]. В этих случаях анализируют в искре Фейсенера [274). Мешают определению кальция>0,1 /о Сг. Сравнивают пары линий Са 3933,67 — Ге 3930,30 А. [c.132]

Аналитическая химия серебра (1975) -- [ c.0 ]

Физико-химичемкие методы анализа (1964) -- [ c.403 ]

Физико-химические методы анализа Издание 2 (1971) -- [ c.402 ]

Физико-химические методы анализа (1964) -- [ c.403 ]

Физико-химические методы анализа (1971) -- [ c.402 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология