Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Искровой спектральный метод

    Принципиальная возможность определения примесей газов в металлах масс-спектральным методом вакуумной искры очевидна для доказательства этого достаточно сопоставить давление пара пробы вблизи канала искрового разряда (10 —10 тор) [27] и давление остаточного газа вакуумной системы (10 тор). Однако количественная расшифровка при определении кислорода затруднена из-за повышенного по сравнению с элементами основы и примесей выхода его ионов, который к тому же еще зависит от природы анализируемых веществ и состояния их поверхностей. Применение стандартов решает проблему количественного анализа, но абсолютная [c.40]


    В эмиссионных спектральных методах определения азота применяются различные типы источников света, основанных на газовом разряде искровой разряд (с температурой в десятки тысяч градусов), дуговой разряд (4000—8000° С), пламенная фотометрия (1900-3100° С). [c.123]

    Искровой спектральный метод, источник возбуждения — высоковольтная конденсированная искра, атоМы возбуждаются в искровом разряде (10—100 кВ), температура искры достигает 10000—20000 К. Применяют главным образом для определения малых количеств (следов) элементов [41]. [c.14]

    По своим свойствам галлий относится к аналитической подгруппе алюминия. В обычном ходе анализа он попадает в осадок от аммиака и учитывается совместно с алюминием, если его не определяют и на его содержание не вводят соответствующую поправку. Предварительное качественное испытание обычно проводят искровым спектральным методом после концентрирования галлия. [c.502]

    Наибольшее применение находят масс-спектральные методы с искровым источником, особенно для анализа чистых веществ и природных объектов [373, 512, 907]. Предел обнаружения хрома в алюминии и других чистых веществах 5-10 % [373]. Разработан метод анализа с искровым источником для силикатных материалов и сплавов [930]. Метод пригоден для определения 60—70 элементов для их определения выбирают наиболее чувствительные и не [c.98]

    Кроме того, некоторые варианты спектральных методов (например, искровые методы возбуждения) позволяют не разрушать пробу. Иными словами, анализировать можно готовые изделия без их существенного повреждения. [c.373]

    Недостатком описываемого метода является невысокая температура отгонки, которая не может превышать 1200° С —температуру размягчения и расстекловывания кварцевого стекла. В аппаратуре, предложенной для испарения в потоке газа при температурах до 1500° С [1375], не достигается локализация конденсата. Низкая температура отгонки делает метод весьма селективным. Испарение примесей в потоке газа-носителя с последующим искровым спектральным анализом конденсата разработано для опреде-Щ [c.248]

    Предложен спектральный метод определения малых количеств гафния (0,01—0,25%) в цирконии. Для предотвращения образования окисной пленки на поверхности брикета в искровой промежуток вводят аргон или азот. Относительная погрешность метода 5-7%. [c.19]

    Большего, казалось бы, не следовало и желать. Арсенал спектральных методов быстро пополнялся эмиссионные (дуговые и искровые) спектры, спектры поглощения, наконец, спектры фосфоресценции — вот что получила химия редкоземельных элементов. Все было на первый взгляд отлично, но... [c.20]


    Спектральный метод определения технеция обладает высокой чувствительностью [82, 86, 238]. Он основан на использовании резонансных линий в спектре технеция при 4297,06 4262,26 4238,19 и 4031,63 А. Определение проводят как с использованием дугового так и искрового источника. Метод позволяет определять до 0,1 мкг Тс. [c.41]

    В начале развития спектрального анализа, однако, неоднократно делались попытки базировать количественный анализ на оценке абсолютных интенсивностей линий, либо величинах, так или иначе связанных с ней. К числу этих методов относится, например, метод счёта линий, в основе которого лежит тот факт, что количество линий данного элемента, появляющихся в спектре, возрастает с увеличением его концентрации, ибо становятся доступными наблюдению более слабые линии метод наблюдения исчезновения линий по мере удаления от оси искрового разряда метод сравнения интенсивностей линий в спектре анализируемой пробы с интенсивностью этих же линий в спектре пробы с известным содержанием (фотометрическое развитие изложенного в 35 метода стандартных проб ), а также ряд других методов. [c.175]

    Решение задачи получения веществ особой чистоты невозможно без решения задачи анализа этих веществ на содержание в них примесей. В соответствии с этим значительная часть материала сборника посвящена изложению современного состояния таких чувствительных методов анализа, как искровая, лазерная, вторично-ионная масс-спектрометрия, спектральные методы, газовая хроматография. Большого внимания заслуживают сообщения по определению чистоты металлов путем измерения относительного остаточного электросопротивления. [c.4]

    III. Остаточное электросопротивление чувствительно лишь к растворенным в матрице примесям [2]. Эта особенность является следствием неаддитивности сечения рассеяния. Спектральные методы анализа (например, искровая масс-спектрометрия) неизбирательны к форме нахождения примесей в матрице. Таким образом, сравнивая концентрацию примесей в образце по данным масс-спектрометрического анализа с определенной из соотношения (3) или (4) концентрацией растворенных примесей, можно оценить долю примесей, связанных в микровключениях. [c.214]

    Группа методов электронной УФ спектроскопии охватывает оптические спектры не только в ультрафиолетовой (УФ), но и в видимой (ВИ) и самой ближней ИК областях, связанные с переходами между различными электронными состояниями атомов и молекул. Электронные переходы атомов и связанные с ними спектры в указанных областях являются основой атомного эмиссионного и абсорбционного спектрального анализа. Высокотемпературный нагрев вещества, например, в вольтовой дуге или искровом разряде, как это делается при эмиссионном спектральном анализе, переводит образец в парообразное, обычно атомарное состояние, причем атомы химических элементов, входящих в состав вещества, возбуждаются. Излучение, возникающее при переходах атомов в основное электронное состояние, и дает линейчатый спектр, используемый для качественного и количественного элементного анализа, который, как и вся группа связанных с ним спектральных методов, здесь рассматриваться не будет. [c.294]

    Среди масс-спектральных методов наибольшими аналитическими возможностями обладает искровая масс-спектрометрия. Попытки применить искровую масс-спектрометрию для проведения элементного анализа твердых веществ были предприняты вскоре после изготовления первых опытных образцов прибора с двойной фокусировкой [16, 17]. [c.114]

    Предложен количественный спектральный метод анализа смеси На, СО и N2 с использованием искрового разряда [379]. Спектральный эмиссионный детектор для обнаружения ряда газов, в том числе N2, N0, N 2, NHз, описан в работе [544]. С его помощью возбуждается спектр газа-носителя (гелия) с примесями обнаруживаемых элементов. Спектр изучен в области 2000—4000 А. Предел обнаружения (в ч. на млн.) КНз 1,9 N0 0,4 МОз 0,3 N3 1. [c.126]

    Из описанных в предыдущей главе методов анализа наибольшее применение нашли спектральные методы — эмиссионный дуговой (искровой) и пламенно-фотометрический. В последнее время находит возрастающее применение атомно-абсорбционная спектроскопия. Сравнительно редко используют фотометрические и флуориметрические методы, для которых необходимо предварительное отделение лития от других элементов, кроме щелочных металлов. Весовые и объемные методы, ранее широко применявшиеся в анализе литиевых руд и продуктов переработки, а также в анализе различных промышленных объектов, в настоящее время используют редко в связи с длительностью анализа, связанной с необходимостью предварительного выделения щелочных металлов. [c.133]


    При определении лития в воде спектральным методом с применением искрового разряда и фульгуратора [54] чувствительность метода оказывается недостаточной (Ы0" %), в то время как содержание лития в морской и речной воде 3-10 —Ы0 %-С использованием активированной Дуги переменного тока достигнута чувствительность 3-10 % [62]. Определение проводят по линии лития 6707,8 А. В качестве внутреннего стандарта используют цезий (линия элемента сравнения цезия 6723,278 А). Калибровочный график прямолинеен при содержании лития ЫО — 5-10 %, относительная погрешность определения 6-8%. [c.134]

    Химико-спектральные методы определения следов могут быть упрощены, если непосредственно вводить в разряд полученный органический экстракт. При этом выявляются и значительные преимущества спектрального анализа растворов по сравнению с анализом твердой фазы. Б настоящее время известно лишь небольшое число работ, в которых органический экстракт непосредственно вводился в разряд — распылением в искровой разряд в атмосфере воздуха [9] и распылением в дуговой плазменный разряд в инертной атмосфере [10]. Были достигнуты весьма низкие относительные и абсолютные пределы обнаружения эле- [c.38]

    Аналитическое определение гал-л и я. Качественно Г. открывают искровым спектральным методом, а также по образованию розового лака с хинализарином или по флуоресценции раствора окси-хинолината Г, в хлороформе (эти реакции используются также для фотометрич. определения Г.). Количественно Г. определяют осаждением аммиаком, купфероном, таннином, пиридином и др., позволяющими также отделять Г. в соответствующих условиях от щелочных, щелочноземельных и большинства других э.лементов. На реакции галогенидов Г. с родамином Б основан важный фотометрич. метод определения Г. в минералах (А1 и Ее не мешают). От многих элементов Г. можно отделить повто5)ной экстракцией ОаС1з эфиром из среды 5—6 н. НС1 от А1 — осаждением газообразным хлористым водородом А1С1з бН. О из р-ра, содержащего конц, НС1 и эфир (1 1), [c.389]

    Ниобий и тантал можно определить обычными дуговым и искровым спектральными методами. Наиболее чувствительные линии для ниобия 4079,729 и 4058,938, а для определения тантала—3311,162 и 2714,674, но спектры содержат очень много линий. Предел чувствительности при анализе на тантал составляет 0,01%, а при анализе на ниобий — 0,001%. С помощью хроматографического и радиохимического методов разделения можно снизить содержание ТазОв в спектрально-чистой NbaOg менее чем до 0,0001 % [26]. [c.182]

    О 1-10 %) методом инверсионной вольтамперометрии с применением графитового настового электрода. Один из спектральных методов определения 8Ь (а также РЬ, Ag и Си) предусматривает использование литых образцов висмута ( = 9 мм) [809]. Спектры возбуждают искровым разрядом от генератора ИГ-2 (1,1 а, 0,55 мгн, 0,01 мкф), спектрограф ИСП-22, экспозиция 50 сек. При содержании 8Ь и-10 — 10 % ошибка определения 5—10%. По другому спектральному методу 8Ь из висмута предварительно выделяют соосаждением с Н28ПО3. При использовании навески массой 5 3 предел обнаруягения достигает 1-10 % 8Ь ( 0,1) [477]. Большинство активационных методов позволяет определять в висмуте 8Ь без раетворения пробы с высокой чувствительностью (до 10 %) [830, 1204, 1239]. Методы, включающие растворение облученного образца и выделение 8Ь, используются редко [1659]. [c.126]

    Для определения хрома масс-спектральным методом используют главным образом приборы, в которых ионы получаются путем электронного удара и искрового разряда. Первые обычно используют в сочетании с предварительным концентрированием хрома в виде летучих соединений. Так, при анализе нержавеющей стали с использованием прибора с двойной фокусировкой типа МС-9 из анализируемой пробы выделяют хром в виде гексафторацетила-цетоната хрома(1П) [629]. Предел обнаружения 0,05 нг Сг. 8-Окси-хинолинат хрома(П1) применяют для определения нанограммовых количеств хрома [923] качественно этим методом можно определить 5-10" 3 хрома. Метод определения хрома в лунных образцах и геологических материалах включает процесс превращения. Сг (III) в летучий хелат по реакции с 1,1,1-трифторпентандио-ном-2,4 в запаянной трубке, экстракцию его гексаном и последующий анализ паров экстракта методом изотопного разбавления на масс-спектрометре [736]. Погрешность метода — 1 отн.%. [c.98]

    Сейчас аналитик стоит перед другой проблемой — каким спектральным методом воспользоваться для рещения данной конкретной задачи. Пятнадцать лет назад для анализа нефтепродуктов использовали лишь эмиссионные методы с дуговым и искровым источниками света. Атомно-абсорбционные методы еще завоевывали признание, а высокочастотная плазменная спектроскопия только разрабатывалась. В настоящее время эти новые методы во многих областях аналитической практики потеснили ставшие уже классическими эмиссионные методы анализа. В Советском Союзе издан ряд книг, посвященных эмиссионному [1—19] и атомйо-абсорбционному [15, 18, 20—23] методам анализа металлов, руд, минералов, объектов биосферы, чистых веществ. Эмиссиоиные методы анализа нефтепродуктов в обо1бщенном виде освещены лишь в одной книге [24], а атомно-абсорбционные методы —в одном обзоре [25]. [c.5]

    При спектральном анализе не проводящих электричество порошков с искровым юзбуждением спектров в качестве одного из электродов берут брикет из смеси анализируемого вещества с графитовым или каким-либо другим токопроводящим порошком. Так, один из вариантов спектрального метода определения циркония в гафнии, описанный Грейем и Фасселом [475], предусматривает предварительное изготовление проводящих брикетов. [c.182]

    Масс-спектральный метод вакуумной искры начал с 1954 г. применяться для определения примесей в полупроводниковых веществах [1]. Описание конструкции промышленного масс-анализатора с двойной фокусировкой, искровым источником ионов, фотографической регистрацией спектра масс и метод анализа некоторых твердых веществ при помощи этого прибора изложены в работе [2]. О конкретных применениях метода вакуумной искры для анализа ультрачистых веществ, сплавов, непроводящих материалов, химических элементов с низкой температурой плавления и микропримесей в жидкостях говорится в работах II—6]. [c.104]

    Даниэльсон и Сундквист [38] предложили новый метод в эмиссионной спектроскопии, основанный на применении ленточного аппарата в сочеташ1и с ионным обменом. В обычных спектральных методах непостоянство условий неблагоприятно влияет на результаты анализа. В ленточном аппарате [37, 38] проба в порошкообразной форме непрерывно наносится на липкую ленту, движущуюся через искровой промежуток с такой скоростью, что каждая искра испаряет новую порцию материала. На результаты влияют химический состав частиц и их физические свойства, но этот источник ошибок можно устранить, поглотив подлежащие определению элементы на подходящем ионите, который затем наносится на ленту. Этот метод, в течение ряда лет применявшийся для анализа металлов и руд, во многих отношениях превосходит обычные методы эмиссионной спектроскопии. [c.267]

    Э. В. Гусяцкая и А. К. Русанов [14] разработали ускоренный метод искрового спектрального анализа растворов, позволяющий определять бериллий в растворах в пределах 1,6 10 — 4 Ю %. Применение кадмия в качестве внутреннего стандарта и измерение относительной интенсивности линии бериллия 2348,61 А и кадмия 2288,02 А обеспечивает точность определения бериллия с вероятной ошибкой +5%. Этим методом можно определять 8 10 — 1 Ю % бериллия в алюминии, магнии и их сплавах. [c.44]

    Спектральным методом германий можно определять и в германийорганических соединениях [901]. С этой целью раствор гермаиийорга-нического соединения в шо-пропилбензоле испаряют из фульгуратс-ра, охлаждаемого замороженной смесью этиленгликоля и воды. Режим дуги—искровой. В качестве внутреннего стандарта используют кремний (линия 2881,58 А), вводимый в виде 0,3%-ного полиметил-фенилсилоксана. [c.321]

    В искровом источнике ионов (как в серии отдельных пробоев, так и при использовании униполярного триггерного разряда) образуются разнообразные ионы. Это может быть результатом совершенно различных механизмов, действующих либо в различных локальных областях, либо в разные интервалы времени. Например, многозарядные ионы (с зарядом десять или более) обычно образуются в высокочастотном искровом источнике. Такие ионы могут образоваться только в результате столкновений электронов. Поскольку порог ионизации для этих многозарядных ионов намного выше 1 кэВ, для их образования требуются электроны высоких энергий. С другой стороны, наличие большого числа отрицательных ионов указывает на то, что они никогда не сближаются с электронами, обладающими энергией больше 20 эВ. Они должны образовываться либо присоединением электронов с энергией ниже 1 эВ при поверхностном распылении, либо путем ионизации Саха—Ленгмюра с горячих пятен поверхности. Еще менее понятно образование отрицательно заряженных молекулярных ионов. Например, в случае графитовых электродов масс-спектральным методом обнаружены отрицательные частицы углерода вплоть до С (Хикем, Суини, 1963 Хинтенбергер и др., 1963). В случае металлических электродов в высокочастотной искре образуются многочисленные неорганические, металлоорганические и органические отрицательные молекулярные ионы (Шуи и др., 1964). Можно предположить, что эти молекулярные ионы образуются при столкновении с электронами низких энергий. С другой стороны, были обнаружены и положительно заряженные ионы углерода вплоть до Сз4 , а также Вега , А1д+, Рее , Сиз , Ti5+ и Mg5 (Францен, Хинтенбергер, 1961). [c.35]

    Химико-спектральный метод применен для определения 5 — 555 мкг мл вольфрама в препаратах урана (по линии 2397,1 А). Использована [770] техника введения раствора в искровой разряд с помощью транспортной системы. Предварительно выделяют вольфрам экстракцией раствором бензоилфенилгидроксилампна чувствительность определения 3,5 мкг мл W. [c.161]

    Работы Скотникова и др. [307—310] посвящены использованию эмиссионного спектрального метода для определения азота в металлах и окислах металлов. Используется зависимость логарифма отношения интенсивности аналитической линии N II 3995 А к интенсивности фона, расположенного близ нее, от концентрации при различных условиях проведения анализа и объектов различной природы. Установлено, что оптимальными условиями для определения азота являются следующие емкость искрового контура 300—400 мкф, индуктивность 5—10 мкгн, давление СО в разрядной камере 200—300 мм рт.ст. Сделаны попытки создать единые условия определения азота для широкого круга металлов (Сг, Ti, V) и их сплавов с использованием нестандартного генератора низковольтной искры и вакуумной камеры [308]. [c.125]

Рис. 5. Лазер. Световой импульс лазера фокусируется па пробу и испаряет ее. Проба может быть проводящей и непроводящей. На пути паров пробы сразу же возникает искровой разряд и пары анализируются спектральным методом. Применение лазера особенно удобио в биологических исследованиях (Jarell — Ash o., Waltham, Mass.). Рис. 5. Лазер. Световой <a href="/info/141572">импульс лазера</a> фокусируется па пробу и испаряет ее. Проба может быть проводящей и непроводящей. На <a href="/info/1543561">пути паров</a> пробы сразу же возникает <a href="/info/94135">искровой разряд</a> и пары анализируются <a href="/info/18866">спектральным методом</a>. <a href="/info/449719">Применение лазера</a> особенно удобио в <a href="/info/860334">биологических исследованиях</a> (Jarell — Ash o., Waltham, Mass.).
    Масс-спектральные методы, так же как в спектральном анализе, для определения газообразующих примесей применяются для трех целей 1) после предварительной вакуумной экстракции для окончательного определения 2) для измерения изотопных отношений в газовой фазе при анализе методом изотопного разбавления (см. ниже) 3) использование искровой масс-спектрометрии в случае совмещения процесса экстракции с ионизацией и последующим определением примеси. Обзор масс-спектральных методов онределешш газообразующих примесей сделан в работах [274, 410]. [c.237]

    Этот вывод был сделан на основании специально поставленных нами опытов, которые показали, что нанесение на электрод значительных количеств (доли миллиграмма) любого элемента приводит к резкому уменьшению интенсивности как дуговых, так и искровых спектральных линий всех микроэлементов. Воздействие основного компонента на плазму разряда, которое, во-обихе говоря, можно было бы также считать причиной ослабления линий примесей, неизбежно приводило бы к селективному усилению или ослаблению определенных групп спектральных линий. Подавление спектральных линий примесей спектром основного компонента пробы серьезно ограничивает метод медной искры, затрудняя достижение высокой относительной чувствительности анализа. [c.278]

    В настоящей работе описан прямой спектральный метод определения десяти примесей в пятиокиси тантала особой чистоты. Для повышения чувствительности определения микропримесей предложено использовать дуговой разряд, окруженный контролируемой атмосферой (70% аргона-[-30% Кислорода). Замена воздуха на контролируемую атмосферу в межэлектродном промежутке позволила резко увеличить величину отношений интенсивностей аналитических линий к фону за счет уменьшения последнего. Использование контролируемой атмосферы позволило успешно решить вопрос исключения загрязнений из воздуха лаборатории. Кроме того, при работе источника возбуждения спектра в смеси аргона с кислородом появилась возможность использования аналитических высокочувствительных искровых линий [1]. [c.20]

    Для исследования изотопного состава природных элементов при помощи спектрального метода ранее всего были использованы молекулярные спектры. В 1927—1929 гг. при помощи молекулярных спектров были открыты тяжелые изотопы углерода (С ), азота (М ) и кислорода (О и О ), которые не удалось обнаружить в то время масс-спектрометрическим методом. На основе молекулярных спектров были получены также первые данные о распространенности этих изотопов в природных условиях. В 1931 г. в естественном таллии по сверхтонкой структуре некоторых спектральных линий были найдены два изотопа и Т1205, Годом позже спектроскопическим методом по структуре ряда дуговых и искровых линий свинца был открыт его четвертый изотоп который не был отмечен первыми масс-спектрометриче- [c.152]

    Некоторые материалы, стандартизованные спектральными методами, были исследованы Халлиди и др. [130]. Авторы сообщили о точности 10%, достигаемой в случае, если условия работы искрового источника поддерживали постоянными и если применяли соответствующие методы калибровки. По мнению многих исследователей, работающих в этой области, наилучшим является абсолютный метод, для которого не требуется стандартов, хотя подходящие стандарты и будут, несомненно, доступны. [c.359]


Смотреть страницы где упоминается термин Искровой спектральный метод: [c.281]    [c.480]    [c.616]    [c.159]    [c.491]    [c.78]    [c.283]    [c.159]    [c.491]   
Методы количественного анализа (1989) -- [ c.14 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте