Интенсивность линий интегральная

Величииа 5,- (ее не следует путать с интенсивностью источника рассеяния) является интегральной интенсивностью линии [c.488]

В этом методе измеряется зависимость интенсивности падающей (/о) и прошедшей волны 1 Х) и экспериментальные данные представляют через следующие величины пропускание [Т = У(1)//о] поглощение (/4=1- Т), оптическая плотность О [О = 1п(/о//( )]. Спектральные линии поглощения (испускания) не являются монохроматическими, вследствие чего физические величины, характеризующие переходы молекулярной системы из одного квантового состояния в другое, также энергетически размыты. Поэтому любая спектральная величина Р (сечение поглощения, коэффициент поглощения, коэффициенты Эйнштейна и др.) может быть трех типов Д - спектральная величина Ро - максимальная величина, соответствующая частоте Уо Р = Р /у - интегральная величина для спектральной линии. Интегральная и спектральная величины связаны следующим соотношением [c.115]

Интегральный эффект ХПЯ. Он означает отличие интегральной интенсивности всего мультиплета линий, принадлежащих отдельному спину, от соответствующей величины в условиях термодинамического равновесия. При этом в условиях ХПЯ интегральная интенсивность всего мультиплета может быть как положительной (А, положительный интегральный эффект ХПЯ, т.е. усиливается поглощение), так и отрицательный (Е, отрицательный эффект ХПЯ, т.е. появляется эмиссия). Отношение интегральной интенсивности линий мультиплета, относящихся к отдельному спину, к соответствующей равновесной величине есть коэффициент усиления спектральной линии. [c.79]

Мультиплетный эффект ХПЯ. Он означает разную степень поляризации спинов для различных линий мультиплета в спектре ЯМР. Например, предположим, что в результате рекомбинации радикалов образовалась диамагнитная молекула с двумя протонами, причем оказались заселенными только два состояния //2 и ц/у Если населенности этих двух состояний щ и щ оказались одинаковыми, линии дублетов на рис. 26 оказываются в противофазе, они имеют разные знаки. Но абсолютные значения интенсивности линий поглощения (А) и эмиссии (Е) в мультиплете равны между собой. В обсуждаемой гипотетической ситуации интегральная интенсивность всего мультиплета линий, относящегося к отдельному спину, равна нулю. Таким образом, при равной заселенности двух состояний -4/2 1 ц/ . [c.79]

Для определения размеров кристаллитов измеряли интегральную полуширину рефлексов полиэтилена 110, 220 и 002, а также линий эталонов, лежащих под брэгговскими углами, близкими к углам указанных отражений. Интегральную полуширину рефлексов вычисляли как отношение площади дифракционного максимума к его высоте после отделения рефлекса от фона. Истинную полуширину рефлекса, в предположении о гауссовом распределении интенсивности линий полиэтиленовых образцов и эталона, рассчитывали по формуле [c.341]

Интенсивность линии ЭПР радикала, вышедшего из клетки, пропорциональна поляризации спина в момент распада РП. Из приведенных расчетов следует, что линии ЭПР радикалов, вышедших из клетки, имеют разные знаки. Для каждого из радикалов пары имеется интегральный эффект ХПЭ. Спектр ЭПР двух радикалов может быть либо типа АЕ, либо типа ЕА. Из приведенных выше формул видно, что тип интегрального эффекта ХПЭ зависит от знака произведения обменного [c.101]

Корреляция между спектрами ЯМР и структурой исследованных соединений проведена на основании общих закономерностей характеристических химических сдвигов, интегральных интенсивностей линий протонного резонанса и генетического анализа спектров ЯМР алкилфенолов при последовательном переходе от незамещенного фенола к сложным алкилпроизводным. Установлены закономерности в химических сдвигах 5СН, 5СН, 5СН алкильных радикалов в зависимости от различных факторов (относительное положение по отношению к гидроксилу, симметрия радикала, число и положение других алкильных групп в кольце). [c.16]

Температурная зависимость среднеквадратичных сдвигов атомов железа из положений равновесия (статические искажения решетки), вычисленных из отношения интегральных интенсивностей линий карбонильного железа и эталона приведена на рис. 31. Как видно из рисунка, в интервале температур отжига 250—300 С наблюдается аномальное увеличение статических искажений. При [c.91]

Интегрирование. Для проверки предположения об индивидуальности соединения полезно провести интегрирование в обзорном спектре с SW=4000 Гц. Соответствующий интеграл приведен на рнс. 6.18. Результаты интегрирования для 15 линий спектра (с учетом линий S,s и Sis") приведены в табл. 6.6 предполагается при этом, что интегральные интенсивности линий 5,s и S,s" равны между собой. [c.225]

В ЯМР-спектроскопии интегральные интенсивности сигналов (т.е. площади под сигналами) пропорциональны числу магнитных ядер в образце. Так, в спектре этанола (рис. 5.28) соотношение интегральных интенсивностей линий, или просто интегралов, протонов метиленовой, гидроксильной и метильной групп составляет 2 1 3 в соответствии с числом протонов в каждой группе. [c.306]

В таблице приведены относительные интегральные интенсивности линий Ь-серии. За 100 %, как правило, принята интенсивность Ьц, в случаях,отмеченных , за 100 % принята интенсивность линии если после числа стоит значок Д, за 100 % принята интенсивность Ьр . [c.100]

Электронный спектр. Воздействие пучка рентгеновского излучения (РФЭС) или электронов (ОЭС) приводит к эмиссии электронов с поверхности образца. Электронный спектр представляет собой распределение эмитируемых электронов по кинетическим энергиям. Поскольку энергия источника возбуждения составляет единицы кэВ, то эмиссия электронов происходит с внутренних электронных уровней атома. Обычно в электронном спектре присутствует небольшое число характеристических линий. Фоновый сигнал электронного спектра формируется неупруго рассеянными электронами. Пример рентгеноэлектронного спектра приведен на рис. 11.33, а. Интенсивность оже-линий крайне мала. Устройство оже-спектрометров позволяет измерять не только спектр вторичных электронов, но и его первую производную по кинетической энергии электронов. Данный прием позволяет не только значительно повысить интенсивность линий, но и линеаризовать фоновый сигнал. На рис. 11.33, б изображен обзорный оже-электронный спектр поверхности серебра в интегральном и дифференциальном вариантах. [c.258]

Ширина линии ЭПР зависит от температуры образования угля и в некоторой степени от того, в каких условиях (вакуум или воздух) проведена карбонизация образца, что видно из рис. 34. В различиях ширины линий, полученных для образцов, карбонизованных в вакууме и на воздухе, проявляется кислородный эффект . Если кислород подводится к каменным углям или сахарам, нагретым выше 500°, или к активированному углю, нагретому выше 100°, то наблюдается заметное увеличение ширины линии ЭПР. Однако полная интегральная интенсивность линии ЭПР изменяется несильно. Таким образом, в этом эффекте полное число радикалов остается приблизительно постоянным, а уширение резонансной линии обусловлено взаимодействием с парамагнитной молекулой кислорода. Другие парамагнитные газы, а также растворы парамагнитных ионов в сильно пористых углях вызывают аналогичное уширение. Что касается адсорбции диамагнитных газов, то не известно, чтобы она влияла на сигнал ЭПР. Кислородный эффект полностью обратим, и можно считать, что кислород физически адсорбируется в виде молекул на достаточно близком расстоянии от неспаренных электронов, при котором происходит уширение за счет диполь-дипольного взаимодействия. При адсорбции кислорода на угле, приготовленном из сахарозы, время П спин-решеточной релаксации значительно уменьшается [184]. [c.97]

Увеличение частот и интегральных интенсивностей полос в ИК-спектрах фторированных стиролов по сравнению со стиролом (см. табл. 1 и 2) можно объяснить увеличением электронной плотности в связи и асимметрией ее распределения вследствие несимметричного замещения атомов водорода при двойной связи. В связи С=С фторированных стиролов деформированное я-электронное облако более прочно, чем в стироле, связано с ядрами атомов углерода, в результате чего поляризуемость связи С=С уменьшается. Это приводит к уменьшению интенсивностей линий с=с спектрах комбинационного рассеяния по сравнению со стиролом. [c.49]

Интегральная интенсивность линии пропорциональна (при яе очень сильных почернениях) логарифму площади соответствующего максимума, измеряемой над касательной к линии [c.119]

На рис. 18 показан спектр аргоновой плазменной струи в области 6500—2500 А (поперечный снимок струи на срезе сопла плазмотрона). Обработка подобных снимков производится следующим образом. Сплошной спектр фотометрируют по высоте в области 4500—2800 А через интервалы 50—100 А. Далее строят распределения интенсивности по высоте сплошного спектра на выбранных для измерения длинах волн. Из этих распределений интенсивности рассчитывают распределения коэффициента излучения по радиусу струи (в произвольных единицах) при помощи интегрального преобразования Абеля (см. измерение температуры методом абсолютных интенсивностей линий, стр. 201). По полученным значениям коэффициента излучения для оси струи строят график зависимости (26а) и по углу наклона прямой определяют температуру. [c.214]

Величина предела обнаружения линии зависит не только от е, но и от способа регистрации. В работе [748] показано, что оптимальным способом регистрации слабой спектральной линии во время экспозиции в присутствии значительного фона является так называемый корреляционный, т. е. согласованный прием, обеспечивающий достижение наименьших пределов обнаружения. Сущность этого способа регистрации состоит в том, что пропускаемая в каждый момент времени на приемник доля всего входного сигнала (линия -Ь фон) зависит от отношения интенсивности линии и фона во входном сигнале (т. е. в источнике света) в данный момент времени. Чем больше отношение 1я/1ф в источнике, тем большая доля входного сигнала регистрируется приемником и, наоборот в частности, в те моменты времени, когда излучение аналитической линии отсутствует, входной сигнал (состоящий уже только из фона) совсем не регистрируется приемником. Если во время экспозиции отношение /л//ф в источнике остается постоянным, то корреляционный прием сводится просто к непрерывному суммированию всего входного сигнала в течение всего времени экспозиции. Такой способ регистрации называется интегральным приемом. Он осуществляется при обычной фотографической регистрации спектра, а также при использовании метода накопления в случае фотоэлектрической регистрации. [c.43]

Поскольку мы приняли условие постоянства концентрации я в разряде в течение всего времени регистрации и предполагаем полную диссоциацию соединений определяемого элемента п = = По + г), то можем переписать выражения (58) и. (59) для регистрируемой интегральной интенсивности линии в виде [c.111]

Относительная интенсивность дифракционньи линий зависит от условий съемки, вида образца (плоский образец или шлиф, цилиндрический образец, съемка на прохождение или отражение в монохроматизированном или немонохроматизи-рованном излучении и т.д.). Интегральная 0т1н0сительная интенсивность линии // / д равна [c.176]

Измеряя относительные интенсивности линий, можно оценить число ядер, находя щихся в различных химических группировках или соединениях. Поскольку ширины линий могут отличаться, лучше определять площади сигналов, что в современных спектрометрах ЯМР производится путем интегральной записи интенсивности — площадь 1аписывается как высота прямоугольного участка интегральной кривой, соответствующей данному сигналу (рис. 6.42). [c.296]

Баргон И., Фишер X. и Йонсен Ю., изучая спектры ядерного магнитного резонанса (ЯМР) диамагнитных продуктов сразу после их образования, впервые наблюдали химически индуцированную неравновесную поляризацию ядерных спинов [5] интенсивность линий в спектре существенно превосходила соответствующую величину в условиях термодинамического равновесия. Вскоре было показано, что химически индуцированная поляризация ядер может привести и к эмиссии на резонансных частотах ЯМР. В продуктах химических реакций спектры ЯМР обнаруживают два типа эффекта ХПЯ - интегральный и мультиплетный. Интегральный эффект характеризует суммарную интенсивность отдельных мультиплетов в спектре ЯМР, которые возникают благодаря спин-спиновому взаимодействию ядер. Мультиплетный эффект характеризует появление эмиссии и усиленного поглощения линий внутри мультиплетов. Для иллюстрации на рис. 2 приведены Фурье-образы спада сигнала свободной индукции, полученные после действия 7г/4 и 37г/4 импульсов (два верхних спектра, соответственно). Эти результаты получены для фотолиза ди-терт-бутил кетона. Их сумма дает интегральный эффект ХПЯ, в то время как их разность (нижний спектр на рис. 2) дает мультиплетный эффект ХПЯ. [c.6]

В молекуле НТФ при нагреве ее от —196 до 20 °С 5 из 6 кислых протонов приобретают транслиционную подвижность- относительная интегральная интенсивность линии неподвижных протонов в спектре ЯМР Н (линия Б) понижается, и одиовремеино появляется новая компонента спектра В, отвечающая поглощению трансляционно-подвижных протонов Лишь- [c.401]

В импульсной спектроскопии ЯМР с фурье-преобразованием за время между импульсами успевают релаксировать ие все 5щра По этой причине спектроскопия ЯМР % ие является количественным методом в той же мере, как, например, спектроскопия ЯМР >Н, и на спектрах кривые интегральной интенсивности обычно не вычерчиваются, Полукояи-чественные взаимосвязи сущеструют только между сигналами атомов углерода, находящихся в аналогичном химическом окружении примером может служить отношение интенсивностей линий (около 2 2 1) резонансных сигналов ароматических атомов углерода на рис. 4.28. Можно добиться и количественных соотношений мея интенсивностями линий, если к изучаемому раствору добавить ацетилацетонат хрома (III). Парамагнитные ядра хрома повышают скорость релаксации, ие вызывая чрезме]№ого уширения линий. Химики неохотно используют этот реагент, поскольку его не всегда легко отделить от изучаемого вещества. [c.129]

Как было показано в разделе 1.4.2, эффекты насыщения могут существенно влиять на интенсивность резонансных линий. Так как значения времен продольной релаксации для различных групп в молекуле могут варьироваться в широких пределах, то возможно настолько сильное насыщение, что в результате будет наблюдатся полное исчезновение некоторых резонансных линий. Это происходит в том случае, если скорость повторения и соответственно длительность импульса, определяющая угол отклонения вектора намагниченности, выбираются слишком большими. Если же в образце присутствуют ядра с различными значениями времен релаксации и нужно провести измерение относительной интенсивности линий с достаточно высокой точностью, то необходимо построить эксперимент таким образом, чтобы соблюдался баланс между максимальной чувствительностью и правильным значением интегральной интенсивности резонансных линий. Максимальная чувствительность определяется углом Эрнста, а точное определение площади под резонансным сигналом достигается тогда, когда длительность интервала между импульсами выбирается из следующих соображений спин ядра с наибольшим значением времени релаксации должен полностью [c.66]

Использование в спектроскопии С-ЯМР обычных для протонного магнитного резонанса параметров — констант спин-сиино-вого взаимодействия и интегральной интенсивности линий — связано с преодолением ряда технических трудностей и требует индивидуального подхода в каждом конкретном случае. [c.77]

Возможности метода и его применение. Метод РФЭС позволяет проводить неразрушающий качествеюгый и количественный элементный и фазовый анализ поверхности твердого тела. РФЭС — метод интегрального анализа (диаметр рентгеновского пучка 1 см ). Однако современные РФЭ-спектрометры комплектуют острофокусными рентгеновскими трубками с диаметром пучка 100—500 мкм, что дает возможность применять РФЭС для локального анализа. Определять можно любые элементы от Ы до и. По положеншо линий в электронном спектре можно однозначно идентифицировать элементы, а по интенсивности линий — определять их содержание. [c.263]

Обычно интегральную интенсивность линий путем сопоставления со стандартом соотносят с концентрацией вещества. Интенсивность линии поглощения пропорциональна числу электронов с неспаренным спином и более или менее независима от типа атома, в состав электронной оболочки которого входит неспаренный электрон. Таким образом, можно использовать стандарт, имеющий химический состав, отличный по химическому составу от пробы, в то время как во всех других видах спектрометрических исследований лучшим видом эталонов являются растворы или смеси веществ, которые требуется определить. В общем случае, стандарты в спектрометрии ЭПР должны быть изготовлены из стабильного вещества, ширина линии ЭПР-спектра которого должна быть такой же, как и у спектра образца, и предпочтительно, чтобы число элек- [c.195]

На рис. 4 показаны спектры, полученные в одном из экспериментов со струей аргоновой плазмы. Рядом с поперечным снимком струи расположены спектр эталона и спектр дуги между железными электродами, снятый для построения характеристической кривой пластинки через 9-ступенчатый ослабитель. После фотометрирова-ния спектров и построения характеристических кривых для области— 4000 А, в которой находятся линии аргона, использовавшиеся для измерений температуры, получаем распределения интенсивностей данных линий по высоте. При этом интенсивности линий выражаются в единицах интенсивности излучения эталона, измеренной на тех,же длинах волн. Далее при помощи интегрального преобразования Абеля рассчитывается распределение коэффициента излучения каждой линии по радиусу струи и определяется эффективный диаметр излучающего слоя. [c.202]

На дифрактограмме определяли интегральную интенсивность линии О И, вычисляли ширину линии, вводили поправку на немонохроматичность излучения и определяли уширение линии (в раданах), обусловленное малыми размерами частиц. [c.113]

Рентгенографированию подвергали образцы в исходном состоянии и после микроударного воздействия различной продолжительности. Рентгенограммы снимали в дебаевской камере в хромовом излучении, фазовый состав определяли по относительной интегральной интенсивности линий. Для стали 12Х18Н9 фокусировали интерференционные линии (200) а и (ПО) а, для стали 25Х14Г2 — линии (1П) а и (101) таким образом были обнаружены у-, а- и 8-фазы. [c.111]

Поскольку параметры плазмы дуги — Г и л , дбщая концей-трация л частиц (атомов и ионов) элемента и интенсивность /(г) излучения линии меняются с изменением г, то регистрируемая интегральная интенсивность линии зависит не от какого-то одного значения Г и а от всего набора значений 7 (г) и Пе(г), характерного для столба данного конкретного дугового разряда.. Аналитическое выражение этой зависимости будет весьма сложным для его получения необходимо в каждом конкретном случае точаэ ать радиальное распределение Т г) и Пе г). Однако во многих случаях параметры столба дуговой плазмы п, следовательно, условия возбуждения линий можно в первом приближении удовлетворительно описать с помощью некоторых средних , единых для данного конкретного источника, так назьшаемых эффективных значений температуры Т ф, электронной концентрации и радиуса Яэф столба, которые достаточно просто установить экспериментально [244, 980]. - [c.101]

Все сделанные выше замечания, касающиеся характера получаемой информации о температуре плазмы при использовании ин- ёгральных интенсивностей лИний, a также о требованиях,. предъявляемых к этим линиям И к элементу, полностью относятся и -к. Ч Мерению электронной концентраций. Однако выбор линий здесь. ол е tpyдeн. Подобрав подходящие линии, можно по отношению ях интегральных интенсивностей и установленному значению Тдф сломощью формулы (61) найти (Обычно в угольной дуге [c.104]