Изменение отношения интенсивностей

При анализе газов для повышения чувствительности определения трудновозбудимых компонентов приходится применять разряд при низких давлениях. Однако такие источники являются примером неизотермической плазмы, и условия возбуждения в них не всегда выгодны для анализа. Например, многими исследователями отмечено, что именно в этих условиях особенно сильно сказывается присутствие третьего компонента оно приводит к изменению отношения интенсивностей линии примеси к линии основного вещества. Так, прибавление азота ослабляет линии гелия прибавление аргона — линии неона и гелия Р ]. Такое изменение возможно как за счет изменения электронной температуры, так и за счет ударов второго рода. [c.136]

Кроме силы тока при анализе газовых смесей важно поддерживать постоянным давление анализируемой смеси так, чтобы оно в точности совпадало с давлением эталонных смесей. Регулировать давление можно постепенной откачкой газа (см. 7) порциями однако такая откачка либо отнимает много времени (если расстояние между кранами мало), либо не позволяет точно установить давление. Обычно выбирается компромиссное решение можно, например, устанавливать давление с точностью не выше 10%, выбирая при этом рабочее давление таким образом, чтобы его изменение на 10% не вызывало заметного изменения отношения интенсивностей спектральных линий. [c.163]

Изучение временной развертки искры, которое может осуществляться механическим либо фотоэлектрическим способами (см., например, [961]), показало, что выделение определенной фазы искры позволяет в ряде случаев существенно повысить отношение /д//ф и соответственно улучшить пределы обнаружения примесей. Так [1133], при определении примеси кадмия в цинковых сплавах наблюдалось изменение отношения интенсивности линии С(1 2288 А к интенсивности сплошного фона от 0,05 для интервала 10— 15 мксек после пробоя межэлектродного промежутка до 0,4 для интервала 30—45 мксек. Предел обнаружения при этом изменялся [c.207]

В настоящее время хорошо известно, что ионные источники с магнитным полем в области ионизации могут дискриминировать ионы разной массы, т. е. пропускать через систему щелей ионы одной массы легче, чем ионы другой массы. Однако трудно допустить, что изменение интенсивности на 1% приведет к ощутимой дискриминации масс. Более правильно предположить, что в некоторых случаях причиной изменения отношений интенсивностей является несоответствие размеров щелей приемника ионов и величины размытости ионных пучков. Если ионный пучок малораспространенного изотопа попадает на коллектор через широкую щель, а ионный луч, соответствующий распространенному изотопу,— через щель, отсекающую некоторую часть пика, то при увеличении интенсивности будет наблюдаться изменение отношения ионных токов, и на самописце произойдет сдвиг фиксируемой линии. [c.55]

Изучение характера изменения во времени может дать ценную информацию, касающуюся выбора аналитических пар линий для тех спектральных методов, которые основаны на использовании общего излучения за все время экспозиции. Для спектрографического анализа наиболее подходящими оказываются такие пары линий X я г, для которых наблюдается одинаковый характер изменения X и г во времени. Или, выражаясь точнее, для количественного анализа в большей степени подходит пара линий, для которой величина 1х/1г изменяется во времени меньше всего, т. е. отношение интенсивностей меньше зависит от изменений в условиях возбуждения (например, температуры плазмы, ионного и электронного давления и т. д.). С учетом небольшого изменения этого практического правила его придерживаются и в спектрометрическом анализе. В этом случае вместо максимума интенсивности измеряют суммарную интенсивность линий на некотором участке длин волн (разд. 6.6). Поэтому при изучении изменений отношения интенсивностей линий пары х и г следует принимать во внимание интегральную интенсивность линий для их полных контуров. [c.272]

Параллельный сдвиг обусловлен изменением отношения интенсивностей линий, которое происходит в плазме источника света или вследствие некоторых оптических эффектов, например в спектрографе. При предположительно одинаковых условиях возбуждения изменения интенсивности излучения могут быть обусловлены атмосферными эффектами. Например, влажность или другие параметры воздуха могут воздействовать на химические процессы, происходящие на электродах, или непосредственно влиять на излучение плазмы. Изменение отношения интенсивностей вызвано главным образом оптическими и спектральными причинами. Поверхности оптических элементов приобретают электрический заряд вследствие заметной напряженности электрического поля, создаваемой при высоковольтном возбуждении, а также из-за высокочастотной утечки, емкостных и индуктивных токов. Поэтому частицы пыли, взвешенные в воздухе и обладающие относительно большой влажностью, или даже пары воды осаждаются на этих поверхностях в виде моно-молекулярного или очень тонкого слоя. В этом слое, состоящем из очень мелких частиц, происходит интерференция или рассеяние света, влияние которых зависит от длины волны. По этой причине заметно именяется отношение интенсивностей тех линий, для которых разность длин волн велика. [c.81]

Флюктуации температуры в лаборатории дают значительный вклад в изменение отношения интенсивностей, наблюдаемое в спектрографии. Влияние изменений температуры может проявляться двумя путями либо они могут приводить к изменению оптических параметров оптических элементов приборов, либо —к изменению их размеров. Вследствие зависимости от температуры показателя преломления в призменных спектрографах спектр смещается в направлении дисперсии (разд. 3.5.5 в [1а]). Поскольку плоская фотопластинка расположена неперпендикулярно оптической оси камеры, смещение спектра уменьшает резкость спектральных линий. Резкость линий может также уменьшаться вследствие изменения показателя преломления материала линз и, следовательно, фокусных расстояний объективов коллиматора и камеры, а также вследствие [c.81]

Рис. 5.38. Объяснение изменения отношения интенсивностей.

Для исключения матричного эффекта требуются наиболее сложные методы введения поправки. Эти способы можно разделить на две основные группы к одной из них относятся способы, в которых известны концентрация мешающего элемента (элементов) и изменение отношения интенсивностей линий аналитической пары, обусловленное мешающим эффектом, а к другой — способы, в которых эти величины неизвестны. Известное соотношение может быть либо математической корреляцией, либо предварительно экспериментально установленной простой графической зависимостью. В первом случае должны быть запрограммированы соответствующие уравнения, а во втором — кривую следует описать математической аппроксимацией необходимой точности. Это делают обычно с помощью полиномов разных степеней. Известно, что любую кривую теоретически можно аппроксимировать полиномом с заданной точностью. Чем сложнее кривая и чем выше точность аппроксимации, тем более высокой степени полиномы следует применять. Однако ЭВМ позволяет легко запрограммировать с заданной точностью константы и экспоненциальные члены полинома. [c.165]

Более сложный способ учета матричного эффекта требуется в том случае, когда неизвестно непосредственное влияние мещающих элементов на интенсивность аналитических линий или вообще не определена концентрация мешающих элементов, или, наконец, неизвестны элементы, ответственные за матричный эффект. Следовательно, возможность введения поправки зависит от двух условий. Прежде всего необходимо полное испарение (полное сжигание), т. е. должна быть исключена возможность любых изменений в условиях испарения пробы, приводящих к матричному эффекту. При этих условиях взаимное влияние элементов проявляется исключительно в плазме. Далее, должны быть известны значения параметров плазмы и количественная зависимость от них интенсивностей аналитических линий. Наиболее важными такими параметрами являются температура и электронное давление. Так, знание соответствующих соотношений и физических постоянных позволяет построить зависимость изменений интенсивности данных аналитических линий от температуры и электронного давления в плазме. Следовательно, если вследствие взаимного влияния элементов меняется температура и электронное давление в плазме, то можно рассчитать изменение отношения интенсивностей аналитических линий элементов, присутствующих в плазме в постоянных концентрациях. Таким способом отношение интенсивностей аналитических линий можно привести к стандартным условиям с заданными температурой и электронным давлением в плазме. В действительности это означает умножение на коэффициент, зависящий от температуры и электронного давления в плазме. Эти коэффициенты не зависят от концентрации определяемого элемента. Поэтому для введения соответствующих поправок к отношению интенсивностей можно построить аналитические кривые для данных стандартных температуры и электронного давления (разд. 4.4.2). [c.166]

Было показано, что наиболее сложно вводить поправку, исключающую эффект взаимного влияния элементов. Изменение состава матрицы, вызывающее изменения физического и химического состояния, которые сопровождаются изменением отношения интенсивностей линий аналитической пары, приводит также к изменению отношения интенсивностей других спектральных линий. Если в наличии имеется большое число стандартных образцов различного состава, соответствующих составу анализируемых проб, то в принципе возможно разработать автоматический способ учета поправки при работе на автоматическом фотометре в сочетании с ЭВМ. По существу способ учета начинается с подбора пары марок интенсивности , которые с наибольщей чувствительностью реагируют на изменения состава матрицы. На следующем этапе устанавливается соотношение между изменениями отношения интенсивностей этой пары марок и отношения интенсивностей линий аналитической пары. Обычно не бывает образцов, различающихся составом матрицы и содержащих определяемый элемент в одинаковой концентрации. Поэтому при отыскании упомянутых соотношений ЭВМ должна выполнить большой объем вычислений методом интерполяции. Эти интерполяции проводятся с данными измерения на образцах, валовые составы которых сильно различаются, а концентрации определяемых элементов близки друг к другу. Важные соотношения, найденные ЭВМ, можно хранить в ее запоминающем устройстве или записать на перфорированной или магнитной ленте. С их помощью можно без труда вводить поправки на матричный эффект в результаты анализа. [c.167]

Вследствие мешающего влияния фонового излучения, постепенного изменения отношения интенсивностей линий аналитической пары и медленного изменения характеристик измерительного устройства аналитическая кривая подвержена параллельным сдвигам и изменениям наклона. [c.226]

Другое применение этого же метода было разработано для быстрого анализа сплавов из иридия и платины и может также служить в равной мере для анализа других сплавов. Дело сводится здесь к тому, чтобы определить небольшие разности концентрации в добавленном иридии. Покажем на нескольких фотограммах, чего здесь можно достичь. На рис. 32 показано два снимка, в которых разница содержания иридия составляет около 12°]д. Фотограмма ясно показывает обратное изменение отношения интенсивностей линий платины и иридия при переходе от 14 к 16 /о иридия. Следовательно, 15-ти°/о сплав иридия может быть анализирован [c.62]

Возникает вопрос можно ли считать, что метод внутреннего стандарта в состоянии исключить влияние физических неоднородностей состава образцов, т. е. отклонения II типа (см. 7.8) На этот вопрос нельзя дать точного ответа. При анализе минералов были изучены изменения отношения интенсивностей в зависимости от размеров частиц и от длительности перетирания пробы, но оказалось, что эти эффекты были вызваны прежде всего неравномерным распределением внутреннего стандарта, а не размером частиц. Эти две возможные причины неоднородности образца трудно разделимы. [c.199]

Учет валового состава и плотности многокомпонентной пульпы в ряде случаев достаточно лишь оценить и притом весьма простым способом. Если в проточную камеру, на определенную глубину, ввести кольцо из циркония или какого-либо другого материала (т. е. внутренний стандарт), то изменения отношения интенсивностей аналитических линий к интенсивности -линии циркония будут характеризовать колебания химического состава. [c.263]

Вместе с тем наблюдающееся изменение отношения интенсивностей линий фаз MgO и V , качественно отражающее их количественное соотношение, указывает на развитие окислительно-восстановительного процесса взаимодействия, сопровождающегося уменьшением количества исходного MgO за счет его восстановления до элементарного Mg, определяемого спектральным и рентгенофазовым анализами конденсата. [c.92]

Как уже отмечалось, сила тока влияет и на ширину возбуждающих линий, что вызывает изменение отношения интенсивностей в максимуме узких и широких линий рассеяния при количественном анализе, основанном на табличных данных, это недопустимо. [c.291]

В ИКС деасфальтизированных смол [44] наблюдалось изменение отношения интенсивностей ПП 1700 и 1600 см , которое связывалось с изменением растворимости смол в ацетоне. ИКС пленок из раствора хлороформа использовались для изучения процессов старения битума [45]. Относительное содержание структур оценивалось по отношению оптических плотностей ПП 725, 1600 и 1700 см к Показано, что при непрерывном [c.32]

Различие в ходе функции возбуждения одиночных и триплетных линий объясняет изменение отношения интенсивностей двух спектральных линий разной мультиплетности с изменением давления. Давление газа определяет энергию электронов. При малых давлениях эта энергия велика и поэтому преобладают линии одиночников при больших давлениях, когда скорость электронов сравнительно мала, должны преобладать триплет-ные линии, функции возбуждения которых имеют максимум при более низких скоростях электронов. [c.16]

Существует несколько методов проведения анализа многокомпонентных смесей. Один из возможных методов анализа трехкомпонентной смеси применим лишь в том случае, когда на интенсивность спектральных линий влияет прибавление только одного из компонентов Разберем этот метод в применении к конкретному случаю. Основным компонентом смеси является гелий неон и аргон присутствуют как примеси в концентрациях от 0,8 до 7%. Прибавление неона заметно не меняет отношения интенсивностей линий аргона и гелия, а прибавление аргона вызывает изменение отношения интенсивностей линий гелия и неона. Это объясняется тем, что критические потенциалы гелия и неона отличаются друг от друга значительно меньше, чем критические потенциалы гелия и аргона. Поэтому прибавление неона к гелию мало изменяет электронную температуру, тем более что она уже резко снижена благодаря наличию в смеси аргона. [c.200]

Изменение отношения интенсивности полос поглощения 3650 и 3550 см- при разных температурах обработки образцов декатионированных цеолитов в работе [101а] рассматривается как результат изменения распределения гидроксильных групп по различным местам фиксации. [c.357]

Так же как и в спектрографическом анализе, аналитическая кривая строится с помощью образцов известного состава. В спектрометрическом анализе в принципе можно различать методы общей аналитической кривой и методы, основанные на использовании эталонных и корректирующих образцов. Однако вследствие возможности точного измерения отношения интенсивностей повторное построение аналитической кривой в каждой серии анализов становится излишним. Во всяком случае делать это было бы затруднительно, поскольку для точного построения нелинейного градуировочного графика необходимо большое число образцов. Однако аналитическая кривая, используемая в течение длительного периода времени, может не обеспечивать точных результатов анализа. Одной из причин этого является постепенное изменение отношения интенсивностей Ixllr, соответствующего концентрации с. При обсуждении спектрографического анализа (разд. 5.4.4) было показано, что это приводит к параллельному смещению аналитических кривых, построенных в координатах Ig , g(Ix/Ir). Это означает, что величины Jxlh умножаются на слегка меняющийся коэффициент, близкий к [c.222]

Небольшие изменения отношения интенсивностей / //, могут происходить из-за изменения характеристик фотоумножителя и электроники, подсоединенной к нему. Последнее обстоятельство сопровождается приблизительно параллельным смещением аналитической кривой и изменением ее наклона. Собственное усиление и чувствительность фотоумножителей также слегка меняются во времени. Параллельное смещение аналитических кривых и изменение их наклона заставляет использовать метод корректирующих образцов. Этот метод отличается от подобного в спектрографическом анализе тем, что здесь необходимо иметь только два корректирующих образца. Один из них должен содержать элемент х в концентрации, соответствующей нижнему, а другой — верхнему участку концентрационной области аналитической кривой. Обозначим эти две концентрации (знание которых не необходимо) через с и сг. При построении первичной аналитической кривой вместе со стандартными образцами измеряют величины и [1x11 г) 2 для корректирую- [c.223]

При анализе смесей, состоящих из трех компонентов, благоприятные условия создаются, когда на интенсивность спектральных линий влияет ирибавлеиие только одного из комнонентов. Так, например, для смеси Не, Кс, Аг в концентрациях от 0,8 до 7 % прибавление неона не меняет отношения интенсивностей линий аргона и гелия, а прибавление аргона вызывает изменение отношения интенсивностей линий гелия и пеона. [c.280]

Проведенные исследования по изменению интенсивности линий микронримесей показали, что паилучшие результаты получаются при применении конусообразного магнитного поля, создаваемого одноименными полюсами. Величиной, характеризующей действие магнитного поля на интенсивность линий указанных элементов, служит изменение отношения интенсивности измеряемой линии к интенсивности фона. Экспериментально была найдена зависимость между интенсивностью линий изучаемых элементов и расстоянием между магнитами, которое соответствовало 18, 23 и 35 лш. Установлено, что наибольшее увеличение интенсивности линий для большинства исследуемых примесей наблюдается при расстоянии 23 мм. При этом оно создает оптимальный объем облака дуги, способствующий большему увеличению интенсивности линий поэтому все дальнейшие исследования проводили нри расстоянии между магнитами, равном 23 мм, и напряженности магнитного поля в 200 э. Действие магнитного поля испытывали при токе от 5 до 10 а. Лучшие результаты были получены при 7 а. [c.133]

В тех случаях, когда ионные линии не возбуждаются вообще, стабильность может характеризоваться изменением отношения интенсивностей двух атомных линий с далеко отстоящими друг от друга верхними уровнями. Наконец, качество источника можно оценить по колебаниям интенсивности одной аналитической линии. Выбор того или иного способа оценки источника определяется характером задачи, и пока не установлено единого критерия для сравнения стабильности разных источников. Для искровых источников часто пользуются отношением интенсивностей двух линий uIA, = 2492,2 ЛиСпИ А,= 2489,7 Л ). [c.32]

Состав смесн, бывшей в трубке до анализа, также сказывается на длительности тренировки если мы должны после анализа чистого дейтерия анализировать естественный водород, то тренировка должна быть очень длительной наоборот, при анализе слшсей с близкими содержаниями водорода и дейтерия время тренировки мо)1 ет быть сильно сокращено. В обычных условиях достаточна тренировка в течение 5—10 мин. Во всех случаях лучше это время определить экспериментально, что особенно удобно делать при фотоэлектрической регистрации с применением пишущего потенциолютра. При этом окончание тренировки соответствует моменту, когда прекратится систематическое изменение отношения интенсивностей линий водорода и дейтерия и показания прибора начнут воспроизводиться с той степенью точности, которую обеспечивает аналитическая установка. [c.265]

В анализаторных системах известпо явлепие обмена между иарал1етрами, описывающими сигпал. Например, это обмен между иптепсивпостью и длительностью. При восприятии ритмического рисунка такой обмен выра кается в том, что изменение отношения длительностей может переходить в изменение отношения интенсивностей соответствующих ударных моментов. Рассмотрим в качестве примера двудольные ритмические рисунки с соотпопге-пиями долей, равными 2,2 и 1,8. В обоих случаях, согласно пред- [c.203]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология