Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Совпадение линий

    При сравнении интенсивностей дифракционных максимумов исследуемой и эталонной рентгенограмм следует учитывать, что абсолютные величины, соотношения интенсивностей и характер пиков могут существенно изменяться в зависимости от состава смеси, размера кристаллов, условий ст,емки и т. д. Например, при совпадении линий двух фаз их интенсивности будут суммироваться и полученное значение интенсивности при данной величине d фактически ничему не будет соответствовать ири небольшом содерл<а-нии той или иной фазы ее слабые линии вообще могут отсутствовать на рентгенограмме. Однако, хотя совокупность ряда неблагоприятных факторов и может вызвать изменения в соотношении интенсивностей линий, в общем случае, как правило, соотношения интенсивностей определяемой фазы на рентгенограмме исследуемой смеси и на эталонной рентгенограмме должны соответствовать друг другу. [c.87]


    Так как поглощение излучения пропорционально числу атомов в основном состоянии, становится понятным, почему ААС является эффективным методом. Кроме того, спектры поглощения намного более просты, чем спектры испускания. В противоположность атомно-эмиссионной спектрометрии вероятность спектральных помех из-за совпадения линий мала. [c.40]

    Совпадения линий элементов в спектрах высокочастотной индуктивно-связанной плазмы [c.751]

    Селективность в методах ААС часто выше, чем в АЭС, поскольку абсорбционные спектры большинства элементов соответствуют переходам почти исключительно из основного состояния и содержат значительно меньшее количество спектральных линий, а это, в свою очередь, обусловливает малую вероятность совпадения линий разных элементов и малую возможность появления помех спектрального происхождения. [c.850]

Таблица 9ПП Совпадения линий элементов в атомноабсорбционной спектрометрии Таблица 9ПП <a href="/info/1469855">Совпадения линий элементов</a> в атомноабсорбционной спектрометрии
    И наконец, при сопоставлении величин hy, найденных в результате сернокислотной абсорбции прямым измерением и определенных разложением (водная абсорбция), было получено хорошее совпадение линия на рис. 111-7 проведена в соответствии с уравнением (П1.4), что свидетельствует о корректности полученного уравнения и тех предпосылок и методов, которые были использованы при его выводе. [c.133]

    Для упрощения анализа изменений состояния проточной части строят зависимости давлений в проточной части от давления в одной из линий отбора низкого давления. Эти зависимости строят по данным предыдущего и последующего испытаний на поле одного графика. Совпадение линий давлений в некоторых отборах по двум испытаниям свидетельствует о том, что давление в этих местах проточной части за время между испытаниями изменилось на одинаковую величину и вызвано изменением к. п. д. турбины в целом. По этим отборам можно определять величину теряемой мощности. Расхождение линий давления в каком-либо месте проточной части свидетельствует о местном изменении сечения (в результате износа уплотнений, лопаточного аппарата, оседания солей). [c.379]


    На рис. XIX. 12, а изображены изотермы поверхности ликвидуса, а на рис. XIX.12, б — солидуса системы Си—N1—Мп, по Парравано (1913), причем состав дан в весовых процентах. Из хода изотерм видно, что на диаграммах систем Си—Мп и N1—Мп имеются минимумы, на что указывает ход изотерм. На диаграмме системы Си—Мп температура надает от концов к некоторой средней точке диаграммы. Такое же падение имеется на диаграмме системы N1—Мп. Ход изотерм на диаграмме тройной системы указывает на то, что эти минимумы на диаграммах двойных систем соединяются друг с другом при помощи долины 1, проходящей иа обеих поверхностях диаграмм тройной системы причем линии, проведенные через самые нижние точки этих долин на обеих поверхностях, совпадают, что моншо показать, изобразив одну из этих диаграмм на кальке и наложив ее на другую. Это служит признаком того, что по этой линии указанные поверхности касаются друг друга. Совпадение линий наиболее низких точек станет особенно ясным, если вычертить также изотермы одной из поверхностей на кальке и наложить ее на диаграмму другой поверхности тогда окажется, что изотермы обеих поверхностей касаются друг друга как раз в точках этой линии. [c.237]

    Ж1 + Ж2+А(см. рис. XXI.2,б) становится все уже и при совпадении линии разреза со стороной АВ обращается в горизонтальную прямую. [c.272]

    Другой пример совпадения линий для различных групп веществ представлен на рис. 249, где сравниваются константы скорости сольволиза различных соединений. Некоторый разброс точек, вероятно, обусловлен неодинаковым значением температур. [c.322]

    В случае совпадения линий исследуемого спектра с линией, указанной на планшете атласа, следует проверить, действительно ли она относится к спектру элемента, указанного в атласе, или же это линия другого элемента, которая могла на спектрограмме совпасть с линией исследуемого элемента при разрешающей способности данного спектрографа. Начинают с того, что ищут в исследуемом спектре наиболее интенсивные линии предполагаемого элемента. Длину волны этих контрольных линий выписывают из таблиц (метод их нахождения в спектре см. п. 3, стр. 223). [c.222]

    При массовом анализе однотипных проб (например, легированных сталей, сплавов цветных металлов, однотипных руд) полезно заранее самим сделать специальный атлас, расшифровав по всем правилам спектр одного из образцов и пометив линии, пригодные для анализа. С этими атласами работают так же, как с атласами спектра железа, с нанесенными на них линиями других элементов. Наличие элемента устанавливают по совпадению линии спектра и атласа. При расшифровке спектра проб не нужно каждый раз исследовать наложения. [c.226]

    Нахождение в спектре заданных линий. Выбирают планшет атласа с изображением области спектра, содержаш,ей указанную преподавателем линию, и кладут планшет на экран проектора. Исследуемую пластинку помеш,ают на столик проектора, включают лампу и добиваются четкого изображения спектров на экране. Добиваются того, чтобы спектр железа на планшете соприкасался с изображением спектра железа на экране проектора. Перемещают столик с пластинкой вдоль спектра до совпадения линий с одинаковой длиной волны в обоих сравниваемых спектрах. Отыскивают в спектре железа линии, близкие по длине волны к искомой линии. Для нахождения этой линии далее поступают, как описано на стр. 223. Отождествленную линию отмечают на пластинке. [c.287]

    Выверку электродвигателя производят так же. как насоса, и с помощью тех же приспособлений. Но при этом особое внимание уделяют проверке соосности валов электродвигателя и приводной машины. Совпадение основных осей фундамента и агрегата в плане и в горизонтальной плоскости проверяют специальным приспособлением по струне толщиной 0,3-0,5 мм, натянутой поверх агрегатов (рис. 3.40) по центровым отметкам. Агрегат перемещают относительно струны, как в горизонтальном, так и в поперечном направлении до совпадения линий отвеса и риски на фундаменте, обозначающей ось машины. [c.805]

    В 1861 г. Кирхгофом была опубликована работа по спектральному анализу химического состава солнечной атмосферы, в которой он по совпадению линий испускания определенных элементов с фраунгоферовыми линиями солнечного спектра констатировал присутствие этих элементов на Солнце. В результате важнейшей областью применения атомной абсорбционной спектроскопии становятся астрофизика и астрохимия, выясняющие химический состав, физическое состояние и характер движения небесных тел. [c.9]

    Меняя экспериментальные условия анализа одного и того же материала, можно изменять вероятность совпадения линий. Эта вероятность зависит главным образом от способа возбуждения, практической разрешающей силы и ширины щели используемого спектрографа. Чем уже спектральные линии, тем меньше различие в длинах волн соседних линий, которые еще не накладываются друг на друга. Поэтому в качественном спектральном анализе ширину щели спектрографа следует подбирать эмпирически (разд. 5.2.4 и разд. 3.3.2 в [1а]). [c.19]

    Третья фаза серии операций охватывает те из них, которые позволяют учесть поправку на фон и, если необходимо, на совпадение линий или холостой опыт. К этой группе относятся также иногда необходимые специальные математические операции, например промежуточные операции в методе добавок. [c.101]


    Как можно видеть из рис. 6-4, следовало бы ожидать появления в спектре 16 резонансных линий, соответствующих винильным протонам. Однако фактически в спектре обнаруживается только 11 линий (см. рис. 6-3). Он оказывается точно таким, какого следовало бы ожидать при /ав=/вс=2/ас=1.5 Гц. В нижней части рис. 6-4 показано, каким образом это отнесение приводит к пяти совпадениям линий в точном соответствии с наблюдаемым спектром, приведенным на рис. [c.180]

    ОНО оставалось бы горизонтальным и не сходило с поля зрения. Фокусируют изображение выбранного участка спектра вращением рукоятки 10 и подбирают соответствующий лист-планшет атласа спектральных линий, пользуясь, например, дисперсионной кривой спектрографа и впечатанной на спектрограмму миллиметровой шкалой. После совпадения линий железа спектрограммы с линиями на планшете, находят наиболее интенсивные— последние лпнии исходного элемента, проверяя наличие элемента и по другим линиям в других участках спектра. [c.146]

    Слева указаны резонансные значения поля, соответствующие экстремумам или положениям, при которых поля совпадают. Для каждой линии указаны оси вращения. Внизу приведены направления магнитного поля, соответствующие экстремумам или совпадению линий. Если даны два направления, то верхнее из них соответствует вращению вокруг оси 1 >, а нижнее — вокруг оси <И0>. [c.145]

    Анализируя рис. ХП-18, видим, что совпадение линии сопряжения ЯтЕг с линией приводит при построении к бесконечному числу сту- [c.760]

    Для начальных этапов поиска в наиболее распространенной системе программ Джонсона-Банда, как и в большинстве других программ, используется специальный поисковый файл Р5, где перечислены все целочисленные значения Н (в шкале 10 /0 ) с указанием номеров карточек /СР1)8 всех фаз, у которых имеется линия с таким значением Н. Рентгенометрические данные для исследуемогообраэда и величина окна совпадения линий вводятся в ЭВМ, причем данные [c.50]

    Индицирование рентгенограмм, т.е. нахождение индексов отражений с те ми или иными значениями с(, является большей частью однозначным, если достаточно точно определены значения параметров решетки и межплоскостных расстояний. Чем ниже симметрия ячейки и больше ее параметры,, тем менее однозначно индицирование дебаеграммы этого вещества. Ин,цицирование затрудняется, если параметры решетки близки, т.е. величины А, в, С близки или кратны друг другу тогда наблюдается большое количество случайных совпадений линий с разными индексами. Число таких случайных совпадений резко уменьшается при повышении разрешающей способности камер, в частности применения фокусирующи к камер-монохроматоров. [c.67]

    В табл. 19-22 указано число линий, на которые расщепляются линии исходной ячейки (причем различной интенсивностью линий на этой стадии пренебрегают). В действитель-яости возможно случайное совпадение линий, и число их может быть поэтому меньше. Для каждого типа расщепления указан номер, под которым в табл. 23-26 даются матрицы перехода к новой ячейке, индексы линий в новой установке и их относительная интенсивность (соотношение множителей повторяемости). [c.98]

    Как уже упоминалось, из интенсивности линий на рентге-ногралолах порошка далеко не всегда можно рассчитать значения структурных факторов как из-за случайных совпадений линий с разными индексами, так и вследствие того, что в кубической, тетрагональной и гексагональной сингониях есть дифракционные классы, для которых множители повторяемости меньше максимально возможных для данной сингонии (т.е. измеряется суммарная интенсивность нескольких линий). Начиная с ромбической сингонии, такой проблемы нет, но возрастает число случайных совпадений. Это приводит к тому, что методы структурного анализа, разработанные в расчете на монокристалльные данные, оказываются малопригодными для обработки рентгенограм порошка. Поэтому основная область применения порошковых методов [c.186]

    Н. Бор на основании квантовомеханических расчетов показал, что последним редкоземельным элементом является элемент 71, стало ясно, что гафний — аналог циркония. Основываясь на выводах Бора, предсказавшего строение атома 72-го элемента и его основную валентность, Д. Костер и Г. Хевеши подвергли систематическому анализу рентгено-спектральным методом норвежские и гренландские цирконы. Совпадение линий рентгенограмм остатков после выщелачивания циркона кипящими растворами кислот с вычисленными по закону Г. Мозли для 72-го элемента позволило исследователям объявить об открытии элемента, который они назвали гафнием в честь города, где было сделано открытие (Hafnia — латинское название Копенгагена). Начавшийся после этого спор о приоритете между Г. Урбеном, Д. Костером и Г. Хевеши продолжался длительное время. В 1949 г. название элемента ггфний было утверждено Международной комиссией и принято всюду [10, 12, 15]. [c.214]

    При конструировании установок использованы высокоэнергетические магниты из сплава неодим-железо-бор (Кс1-Ге-В). Эти магниты обладают уникальными свойствами, они имеют относительную магнитную проницаемость, равную единице не только в первом и во втором, но и частично в третьем квадрантах петли магнитного гистерезиса. Гистерезисные свойства, выгодно отличающие высокоэнергетические магниты, являются следствием основных физических характеристик — высокого магнитного момента атомов в кристаллической решетке и чрезвычайно больших значений энергии константы кристаллографической анизотропии. Последнее свойство определяет повышенную устойчивость высокоэнергетических магнитов к размагничивающему воздействию внешних магнитных полей. В магнитном гистерезисе высокоэнергетических магнитов наблюдается практически полное совпадение линий возврата на характеристике В (Н) с предельной кривой размагничивания в полях, даже превышающих значение коэрцитивной силы по индукции. Основные характеристики редкоземельных магнитов типа М(12ре14В следующие-. [c.102]

    Анализируя рис. ХП-18, видим, что совпадение линии сопряжения / т т с линией РнпиРЕ] приводит при построении к бесконечному числу ступеней, и, следовательно, отрезок РМ соответствует минимальному орошению [c.760]

    Теоретически все линии спектра однозначно определяют эле-мент, ответственный за появление этих линий. В принципе заклю-чение о присутствии элемента можно сделать по появлению единственной спектральной линии при условии, что ее длина волны установлена с достаточной точностью. На практике, однако, точность определения длин волн ограничена фактической разрешающей силой использованного спектрографа, формой спектральных линий и точностью измерения их положения. Эти факторы становятся особенно неблагоприятными в случае многолинейчатых спектров, когда появляется возможность совпадения линий различных элементов с близкими длинами волн и вследствие этого опасность принять один элемент за другой. Поэтому из фактического присутствия линии нельзя автоматически делать вывод о том, что предполагаемый элемент реально существует в анализируемой пробе. Вообще говоря, необходимо, чтобы в спектре наблюдалось несколько аналитических линий. Поиски слишком большого числа аналитических линий требуют чрезмерных затрат труда и времени. Даже в сложных случаях для уверенной идентификации отдельного элемента нет необходимости искать более 3—4 линий. [c.17]

    В развитых спектрах влияние элементного состава анализирув мой пробы, сводящееся к совпадению линий, проявляется чаще, ч м [c.18]

    В простых спектрах. Вероятность совпадения зависит не только от элементного состава анализируемой пробы, но и от концентрации мешающих элементов. Влияние матрицы пробы, т. е. элемента, находящегося в пробе в наибольшей концентрации, существенно, так как рост концентрации элемента приводит к быстрому увеличению числа линий. Мешающие элементы, присутствующие в высоких концентрациях, вследствие ущирения контуров интенсивных линий могут также приводить к совпадению линий. [c.19]

    ЭВМ можно запрограммировать для решения очень разнообразных задач по обработке спектров. Так, с их помошью можно проводить качественный анализ, если ЭВМ будет записывать символы обнаруживаемых элементов с учетом возможных совпадений линий. С существенно большей надежностью можно применять также разные методы полуколичественной обработки спектров. Например, метод сравнения спектров, метод гомологических пар линий и другие можно применять с использованием значительно большего числа линий, т. е. более надежно, чем ручным способом. Очевидно, что с помощью ЭВМ в процессе калибровки по образцам известного состава можно определять также параметры, необходимые для программирования, например значения гомологических концентраций. [c.162]

    На рис. П-52 приведены условия равновесия газов при протекании ал-лотермического и автотермического процессов газификации. В первом из них на каждый моль углерода расходуется два моля водяного пара [80]. При таком соотношении в практических условиях процесса газификации лишь часть водяного пара, введенного в процесс, подвергается разложению. Совпадение линий, передающих ход изменения концентрации водяного пара и оксида углерода, обусловлено выбором соотношения НгО С. В общем случае линии, передающие изменения концентрации обоих компонентов в области температур, при которых остаточное количество метана мало, идут [c.164]


Смотреть страницы где упоминается термин Совпадение линий: [c.631]    [c.20]    [c.126]    [c.201]    [c.210]    [c.311]    [c.311]    [c.148]    [c.234]    [c.261]    [c.60]    [c.117]    [c.148]   
Смотреть главы в:

Эмиссионный спектральный анализ Том 1 -> Совпадение линий


Эмиссионный спектральный анализ Том 2 (1982) -- [ c.2 , c.18 , c.261 ]




ПОИСК







© 2025 chem21.info Реклама на сайте