Рассеяние некогерентное

Комптоновское рассеяние некогерентно, так как с увеличением интенсивности происходит случайное распределение соотношения [c.53]

Комптоновское рассеяние некогерентно, и рассеянное излучение не может интерферировать, поэтому мы не будем подробно на нем останавливаться, тем более, что это рассеяние незначительно для сравнительно мягкого излучения, используемого в структурном и фазовом анализе. [c.9]

Здесь 8 — сечение когерентного рассеяния, способного интерферировать с рассеянием от других ядер, а 5 — сечение некогерентного рассеяния. Эти сечения выражаются через веса обоих возможных состояний составного ядра, и и) [6], [c.79]

Для образца со степенью ориентации 300—500 % получают рентгенограмму по методике, описанной в работе VI. 2. Полученную рентгенограмму фотометрируют на микрофотометре с помощью приставки, позволяющей вращать рентгенограмму вокруг центра в горизонтальной плоскости. На экваторе рентгенограммы выбирают интенсивную дугу, расположенную возможно ближе к пятну от первичного пучка. Вращая рентгенограмму, измеряют по визуальной шкале изменение интенсивности прошедшего через рефлекс пучка света, причем измерения проводят через каждые 5°. Поскольку почернение дифракционного пятна определяется не только рассеянием рентгеновских лучей упорядоченно расположенными областями, но и некогерентным рассеянием, то фон, им обусловленный, необходимо исключить. Распределение фона на пленке от центра к периферии определяют фотометрированием по радиусу рентгенограммы в направлении, в котором отсутствуют рефлексы, обусловленные когерентным рассеянием. Фотометрирование по кругу и меридиану обязательно проводят при одинаковой настройке прибора. Почернение собственно дифракционного пятна в каждой точке дуги Еп рассчитывают по формуле [c.194]

При визуальной расшифровке электронограмм некогерентное рассея-ние можно не учитывать — человеческий глаз хорошо чувствует нарушения плавного спада интенсивности почернения фотопластинки и легко замечает максимумы и минимумы, соответствующие кривой когерентного рассеяния. [c.295]

Рассеяние рентгеновских лучей электронами может быть когерентным (без изменения длины волны) и некогерентным. Во втором случае часть энергии рентгеновского кванта при упругом соударении передается электрону (эффект Комптона, который наблюдается в основном для жесткого рентгеновского излучения). Интерференция когерентно рассеянного излучения приводит к дифракционным эффектам. Поскольку длины волн рентгеновских лучей сравнимы с межплоскостными расстояниями в кристаллах, то кристаллы играют роль дифракционных решеток. Представим кристалл как комплекс параллельных плоскостей, на которых расположены атомы. Вследствие периодического строения расстоя- [c.12]

Во всех предыдущих главах пренебрегалось некогерентным рассеянием его вклад не выделялся из фона, так как оно обычно значительно менее интенсивно, и интенсивность его плавно изменяется с увеличением угла, тогда как когерентно рассеянное излучение дает дискретные линии. [c.245]

Излучение не только поглощается веществом, но и рассеивается им, меняя направление. При когерентном рассеянии частота падающего света Го не изменяется. Один из видов некогерентного рассея- [c.213]

При прохождении излучения через пробу наряду с поглощением происходит его небольшое когерентное рассеяние (т. е. без изменения длины волны). Помимо этого, часть квантов рентгеновского излучения упруго рассеивается на слабо связанных электронах (эффект Комптона или некогерентное рассеяние). Вследствие потерь энергии комптоновское излучение по сравнению с первичным характеризуется большей длиной волны. [c.202]

Опыт показывает, что не все рассеянное излучение имеет ту же длину волны, что и первичное. Некоторая его часть рассеивается атомами некогерентно и участия в интерференции не принимает. В структурном анализе используется только когерентное рассеяние. [c.28]

Тогда изменение длины волны фотона при некогерентном рассеянии [c.32]

В структурном анализе имеет существенное значение не столько изменение длины волны при рассеянии рентгеновского излучения, сколько вклад некогерентного рассеяния в суммарную интенсивность рассеяния исследуемым веществом. Некогерентное рассеяние дает непрерывный фон, интенсивность которого возрастает с углом рассеяния. При больших значениях 5 не-когерентное рассеяние от элементов с малым атомным номером может превосходить когерентное в несколько раз (рис. 2.6). Поэтому оно всегда вычитается из общего рассеяния. Обычный способ учета ние заключается в вычислении его [c.33]

Таким образом, полная интенсивность независимого рассеяния одним атомом состоит из когерентной и некогерентной слагаемых [c.33]

Если в рассеянии участвует не одно ядро, а некоторый коллектив ядер, то рассеяние медленных нейтронов будет иметь когерентную и некогерентную составляющие. Когерентное рассеяние вызывается упорядоченным расположением ядер. В некогерентном рассеянии ядра участвуют несогласованно, что говорит о беспорядке в расположении ядер. Наличие у нейтрона магнитного момента приводит к магнитному рассеянию нейтронов веществом. Если магнитные моменты атомов или ионов рассеивателя ориентированы хаотически (парамагнетики), то магнитное рассеяние имеет диффузный характер. Если же последние [c.40]

Определяя из эксперимента распределение рассеянных нейтронов по углам и энергиям, можно посредством уравнений (2.128) и (2.129) найти вид функции 0(/ ,/) из анализа когерентного рассеяния и вид функции /) из анализа некогерентного рассеяния. [c.65]

Если все экспериментальные значения интенсивности умножить на нормирующий множитель, мы получим кривую рассеяния в электронных единицах. После нормировки 1 8) из нее следует вычесть интенсивность некогерентного рассеяния. [c.102]

Рассмотренные способы нормировки экспериментальных кривых интенсивности относятся к рентгенографии. Нормировка кривых рассеяния электронов осложняется из-за отсутствия функции некогерентного рассеяния. Ослабление некогерентного фона с помощью электронных фильтров не всегда обеспечивает необходимую точность определения структурных параметров исследуемых веществ по их электронограммам. [c.104]

Для проведения нентронографичсскнх исследовании используется несколько иная экспериментальная техника. При рассеянии на дисперсной частице пучка нейтронов суммарная интенсивность складывается из когерентной и некогерентной составляющих. Когерентная составляющая обусловлена упорядоченным расположением ядер атомов. В некогерентном рассеянии сказывается беспорядочность расположения ядер. Рассеяние нейтронов применяется для анализа веществ, обладающих магнитными свойствами (парамагнетики). Если магнитные моменты атомов разориентированы, то рассеяние является диффузным, Анализ данных по нейтронному рассеянию дает информацию о степени упорядоченности атомов парамагнетика. Следует отметить, что для анализа жидких дисперсных систем наиболее подходящим является рентгеноструктурный анализ. [c.102]

Первое слагаемое соответствует когерентному и некогерентному рассеяниям на атомах, составляющих молекулу [c.134]

Пусть параллельный пучок монохроматических рентгеновских лучей, длина волны которых X, падает на слой одноатомной жидкости. Рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов по всем возможным направлениям. Рассеянное излучение подразделяется иа когерентное и некогерентное. Когерентно рассеянное рентгеновское излучение имеет ту же длину волны, что и лучи, падающие на слой жидкости. Когерентно рассеянные лучи, по определению, имеют постоянные фазовые соотношения, зависящие от положений рассеивающих частиц жидкости, поэтому они интерферируют. [c.115]

В работе [13] рассмотрены возможности анализа угля с использованием источников Ре, ° d, Pu, Ат и полупроводникового 81 — и детектора с многоканальным спектрометром. Для Ре регистрировали рассеянное излучение и флуоресцентное излучение 81 и Са при применении Сс1 и Ри — когерентно и некогерентно рассеянное углем 7-излучение и флуоресцентное излучение Са, при использовании Ат — некогерентно рассеянное углем 7-излучение. Наименьшая погрешность определения зольности получена в первом случае. [c.35]

Если образец имеет нерегулярную структуру, т. е. содержит как аморфные, так и кристаллические участки, то рассеяние рентгеновских лучей протекает некогерентно и сопровождается изменением длины волны. [c.116]

Маленькие кристаллиты, имеющие различные ориентации кристаллических плоскостей, дают дифракцию в виде концентрических конусов (рис. 28.6). Эта дифракционная картина, зафиксированная на плоской пленке (рентгенограмма), состоит из сравнительно резких концентрических колец, расположенных на фоне некогерентного рассеяния, и по меньшей мере одного заметного аморфного гало (рис. 28.5 и 28.7). Дифракционные картины аморфного и кристаллического образцов существенно отличаются друг от друга (рис. 28.7). У хорошо закристаллизованного образца имеются две области отражения (рис. 28.6) прямое отражение (0° < < 20 < 90°) — концентрические конусы /, II и /// и обратное отражение (90° < 20 < 180°)—концентрические конусы IV и V. [c.118]

Постоянный член Pa соответствует релеевскому рассеянию, член первого порядка Pal связан с однофононным комбинационным рассеянием, а член Pa — с двухфононным комбинационным рассеянием, о котором пойдет речь в гл. 10. Заметим, что Pa = IPa l и) нб зависит ОТ фэз колебательпых собственных функций. Следовательно, релеевское рассеяние когерентно. Величина же Pa =комбинационное рассеяние некогерентно. [c.221]

Необходимо иметь в виду также, что характеристическое излучение трубки может мешать не только в результате на.пожения основной линии антикатода, но также и нало5кением в области длинных волн вследствие некогерентного рассеяния (эффект Комптона). Амплитуда лучей, рассеянных некогерентно, может равняться амплитуде лучей, рассеянных когерентно [c.231]

Реальные материалы могут быть оптически анизотропными и неоднородными. Оптическая неоднородность сред обусловлена сложной зависимостью диэлектрической проницаемости от пространственных координат. Опт>1ческие свойства дисперсных систем определяются совокупностью четырех факторов рассеянием света на отдельных частицах (рассеивателях), когерентным электромагнитным взаимодействием рассеивателей, интерференцией рассеянного света и некогерентным взаимным облучением частиц рассеянным ими светом [30]. [c.40]

При прохождении фотонов через среду возможны следующие процессы взаимодействия с веществом фотоэлектрический эффект, компто-новское (некогерентное) рассеяние, образование электронно-позитрон-ных пар, томпсон-рэлеевское (когереятное) рассеяние, флуоресценция, тормозное излучение, аннигиляционное излучение, когерентное излучение на молекулах, потенциальное (дельбруковское) рассеяние, томпсоновское рассеяние на ядрах, ядерное резонансное рассеяние, ядерный фотоэффект [33]. Наиболее важными для технологии являются первые три явления. [c.43]

Для ядер с нулевым спином выражения (III.14г) и (III.14е) приводят к формуле (III.14а). Сечение некогерентного рассеяния обращается в нуль S = 0. Величины и Ъ могут иметь противоположные знаки. Когерентное рассеяние может оказаться очень малым если при этом произведения wj и wj) окажутся равными по абсолютной величине. Подобный случай имеет место для протона (атом водорода), для которого 6 . = 1,04-10"i см, Ъ = = —0,47-10 1 см, / = Vg. Поэтому сечение некогерентпого рассеяния а = 81 10 см , а когерентного рассеяния S = 2-10 см . [c.80]

Для определения очень легких элементов целесообразно использовать комптоновское рассеяние. Как было показано в разд. 5.2.2.1, диффузно рассеянное излучение состоит из двух частей — когерентно и некогерентно 5ассеянного, причем длины волн в процессе рассеяния немного возрастают. Три определении легких элементов используют тот факт, что оба вида излучения рассеяния по-разному зависят от атомного номера элемента. Так, соотношение интенсивностей /коь/АпкоН рассеянных пробой характеристических рентгеновских линий материала трубки пропорционально соотношению С и Н в веществе пробы 122]. [c.217]

Для исключения некогерентной составляющей рассеяния Б. Уорреном была предложена методика получения кривых интенсивности, основанная на использовании флуоресцентного возбуждения (рис. 4.2). Узкий поток рентгеновского излучения, выходящий из трубки 1 с родие- Рис. 4.2. Схема экспериментальной установ-ВЫМ антикатодом, после от- 4 для исключения некогереитного излуче- [c.92]

Таким образом, секторная методика позволяет исключить быстро спадающий фон, вызванный некогерентным рассеянием, расширить угловую область измеряемой интенсивности и тем самым увеличить информацию о структуре вещества. Например, если на электронограммах, снятых без сектора, выявляются лишь три дифракционных максимума до 5 6 А , то на электронограммах того же вещевидны десять максимумов до 5 [c.96]

И. Д. Набитович, Я. И. Стецив и Я. В. Волощук предложили новый метод определения когерентной интенсивности и интенсивности фона по экспериментальной кривой рассеяния электронов. Изложим сущность этого метода. Известно, что экспериментально измеренная интенсивность рассеяния электронов включает некогерентный фон. Следовательно, [c.104]

Представления, связанные с В. в. и поворотной изомерией молекул, применяют в теории строения как низкомол., так и высокомол. соединений. Разработаны методы и схемы конформационных расчетов достаточно сложных молекулярных систем на основе мех. моделей, получили также развитие полуэмпирич и неэмпирич. квантовомех. расчеты потенциальных ф-ций В. в. молекул. Для изучения явлений В в. и поворотной изомерии молекул используют методы спектроскопии ИК, комбинац. рассеяния, микроволновой, УФ, ЯМР, ЭПР, а также методы газовой электронографии, поглощения ультразвука, некогерентного, неупругого рассеяния нейтронов, измерения дипольных моментов, диэлектрич. потерь и др. [c.393]

Рентгеноструктурный анализ Том 1 Издание 2 (1964) -- [ c.148 , c.151 ]

Физико-химический анализ гомогенных и гетерогенных систем (1978) -- [ c.28 ]

Введение в физическую химию и кристаллохимию полупроводников Издание 2 (1973) -- [ c.194 , c.196 , c.197 , c.214 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология