Отражения методы прямые

В количественном анализе широко используют метод прямого осаждения определяемого элемента радиоактивным реагентом известной концентрации и удельной активности. Применяют также титрование с использованием радиоактивных изотопов в качестве индикаторов. Для количественного анализа сложных смесей широко используют метод изотопного разбавления. В практику анализа малых примесей вошел так называемый активационный анализ. Все шире начинают использовать физические методы анализа по поглощению, отражению и преобразованию излучения радиоактивных изотопов, направляемого на анализируемый объект. [c.537]

Метод измерения прямого отражения (метод Лауэ) (рис. 28.8). Плоскую пленку помещают на расстоянии нескольких [c.118]

Приборы ПТС-1 и ПСС-2 предназначены для контроля толщины прозрачных и полупрозрачных покрытий (до 320 и 40 мкм соответственно) методом светового свечения [1]. Осветительная система этих приборов проектирует на контролируемое изделие изображение в виде светлой или темной черты, сформированное маской или оптической щелью. Часть света отражается от поверхности покрытия, а часть проходит внутрь материала покрытия, преломляется, отражается от основания изделия и выходит затем наружу со смещением относительно первого отраженного луча (см. 4.6). Угол падения 6 часто берут близким к 45°, что обеспечивает хорошие условия измерений и уменьшает в силу ортогональности падающего и отраженного лучей прямое прохождение света от осветителя в окуляр. Оператор, таким образом, наблюдает два смещенных изображения световых линий. Измерив расстояние между ними с помощью измерительной сетки и зная коэффициент прелом- [c.245]

Выбор фаз, составляющих начальный набор,— возможно, наиболее важный момент, обеспечивающий успех или неудачу в методах прямого решения фазовой пробле.мы. По какому же критерию можно определить, что выбор начальных фаз сделан верно, и как найти самое лучшее соотношение для стартовых отражений. Этот вопрос был детально изучен в [33] и, как правило, решается с учетом выборочного критерия, основанного на вероятности и частоте взаимодействий [c.248]

НОГО внутреннего отражения основан прямой метод анализа микропроб [24]. Если луч света входит в призму так, что угол его падения на поверхность раздела призма — образец больше критического, то происходит его полное внутреннее отражение. Отра- [c.258]

Оптический метод [112] определения пористости может быть использован для оценки пористости мембран из любого материала. По этому методу образец приводят в соприкосновение с поверхностью равнобедренной стеклянной призмы и позволяют смачивающей жидкости, поднимаясь по капиллярам мембраны, вступать в контакт со стеклом. Основание призмы представляет собой поверхность полного отражения. Пока поры образца не заполнены жидкостью, площадь контакта образца мембраны с этой поверхностью невелика и принимается за начальный уровень отсчета. По мере заполнения пор жидкостью растет доля площади основания призмы, на которой полное отражение нарушено. Автоматическая запись дает возможность получать кривые с выходом на плато, высота которого прямо пропорциональна пористости /о. [c.93]

При создании своего метода проф. Н.И. Белоконь исходил из предположения, что основным теплоизлучающим источником являются дымовые газы. Вследствие большой поглощающей способности дымовых газов при расчете прямой отдачи за температуру излучающего источника автор принимал температуру дымовых газов, покидающих топку. Им также было введено понятие об эквивалентной абсолютно черной поверхности, т.е. такой поверхности, излучение которой на радиантные трубы при температуре дымовых газов, покидающих топку, равно всему прямому и отраженному излучению в топке. В этом методе все излучающие источники (факел, кладка, дымовые газы), имеющие различную температуру, заменены излучающей абсолютно черной поверхностью, температура которой равна температуре дымовых газов, покидающих топку. Излучением такой условной поверхности при этой температуре передается такое же количество тепла, как и в реальной топке. [c.538]

Вопросы дифракции плоской акустической волны на некоторых отражателях рассмотрены в 1.4. Здесь будет показано, как использовать результаты дифракционной теории для расчета акустического тракта, т. е. как учесть особенности полей излучения и приема преобразователя. Кроме того, в этом разделе изложены приближенные и (более простые) способы расчета отражения, пригодные, когда размеры отражателя больше длины волны энергетическое приближение, основанное на представлениях лучевой акустики, и метод Кирхгофа. Согласно последнему каждую точку освещенной поверхности плоского отражателя рассматривают как вторичный излучатель волн, а поле отраженной волны вне отражателя считают равным нулю. В приводимом далее выводе формул акустического тракта не учтено затухание ультразвука. Чтобы учесть этот эффект, следует ввести во все формулы для контактных прямых преобразователей множитель e где г — расстояние от преобразователя до отражателя, а для преобразователей с акустической задержкой — множитель в котором Га и гв — средние пути ультразвука в задержке и изделии, а бл и бв — затухание ультразвука в этих средах. [c.108]

Автор все же обращает внимание читателя на то, что весь материал, связанный с проблемой прямого определения начальных фаз, требует обращения к концепциям совсем иного плана, чем те, которые рассматривались выше, и поэтому не может быть изложен столь же конспективно и прямолинейно. Учитывая, однако, что в современном РСА прямые методы определения начальных фаз отражений становятся главным инструментом расшифровки структур, представляется целесообразным изложить этот раздел несколько подробнее, чем остальные. В нем будут рассмотрены перечисленные ниже вопросы. [c.121]

Во время ряда опытов проведено непосредственное измерение локальных тепловых потоков в районе экранов по методу ЦКТИ 13], для чего был применен типовой двухсторонний переносной радиометр ЦКТИ, регистрирующий как прямые, падающие на экранные поверхности тепловые потоки (/пад, так и обратные, отраженные тепловые потоки от экранных поверхностей камеры охлаждения [c.43]

В работе [40] было получено, что максимальная глубина выхода вторичных электронов составляет 5Я, где Я приблизительно равна 1 нм для металлов и 10 нм для диэлектриков. Величина Я зависит от энергии вторичных электронов, так что всему энергетическому спектру вторичных электронов соответствует целый диапазон значений Я. Однако для оценок выше приведенные значения вполне достаточны. Большая длина пробега в диэлектриках является прямым следствием того факта, что неупругое рассеяние вторичных электронов происходит главным образом на электронах проводимости, которых очень много в металлах и существенно меньше в диэлектриках. Вероятность выхода как функция глубины была рассчитана методом Монте-Карло в работе [43]. Как показано на рис. 3.27, кривая зависимости вероятности выхода резко спадает с глубиной. По сравнению с гистограммой глубины выхода отраженных электронов, приведенной на рис. 3.25, глубина вторичных электронов составляет примерно /100 глубины выхода отраженных электронов. [c.60]

Ha опыте обычно фиксируют не AR, а относительную величину AR/Ro, которая не зависит ни от интенсивности падающего света, ни от дефокусировки его в ячейке, ни от диффузионного рассеивания света. Это позволяет избавиться от трудностей, связанных с необходимостью учета этих факторов в методе прямого зеркального отражения. Величины AR/Ro регистрируют в зависимости от среднего потенциала Во при заданной длине волны света (X= onst) либо от длины волны при 0 = onst. Впервые для изучения поверхностных свойств серебряного и золотого электродов метод модуляционной спектроскопии отражения был применен Дж. Фейнлейбом (11966). [c.183]

Количественный рентгенофазовый анализ, в задачу которого входит определение количественного содержания отдельных фаз в многофазовых поликристаллических материалах, основан на зависимости интенсивности дифракционных максимумов (отражений) от содержания определяемой фазы. С увеличением содержания той или иной фазы интенсивность ее отражений увеличивается. Однако для многофазовых препаратов зависимость между интенсивностью и содержанием данной фазы неоднозначна, поскольку величина интенсивности отражения определяемой фазы зависит не только от ее содержания, но и от показателя ослабления i, характеризующего степень ослабления рентгеновского пучка при прохождении через данное вещество. Указанный показатель ослабления исследуемого вещества зависит от показателей ослабления и содержания всех фаз, входящих в его состав. Таким образом, любой метод количественного анализа должен тем или иным способом учитывать или исключать влияние изменения показателя ослабления при изменении состава препаратов, нарушающего прямую пропорциональность между содержанием данной фазы и нитснсив-ностью ее дифракционного отражения. [c.89]

Детонация может также инициироваться при прохождении ударной волны по горючей смеси в ударной трубе. Если изменение давления в ударной волне не слишком велико, то в этом случае детонационные волны также распространяются со скоростью Чепмена — Шуге. Недавно путем подбора условий течения воздушного потока в сопле Лаваля были получены стоячие детонационные волны, неподвижные относительно лабораторной системы координат ]. Условия течения подбирались так, что отраженный маховский прямой скачок уплотнения располагался за выходом сопла. Если воздух предварительно подогрет до достаточно высокой температуры и в поток добавлено горючее (водород), то ударная волна поджигает смесь, и последующее горение превращает скачок в стационарную плоскую сильную детонационную волну. Ниже будет рассмотрена структура и скорость распространения детонационных волн, полученных описанными выше методами. [c.193]

Метод измерения прямого и обратного отражения (метод Дебая — Шерера) (рис. 28.9). По этому методу узким пучком мс5-нохроматических рентгеновских лучей облучают маленький цилиндрический образец, причем короткие участки дифракционных конусов (дуги) ограничены полоской пленки (рис. 28.10), которую [c.120]

Микрофотографирование певы — метод прямого определения размеров пузырысов. Фотосъемку ведут в отраженном или проходящем свете при увеличении в 10-100 раз. Пены, в которых размер пузырьков быстро изменяется, предварительно замораживают жидким кислородом или азотом. [c.268]

В методе прямого отражения, разработанном Парсонсом [128], измерялась интенсивность света, однократно и многократно отраженного от платиновых электродов, как функция длины волны и потенциала в области от О до 0,5 В (н.в.э.). При уменьшении длины волны до 2350 Я относительное изменение интенсивности отражения увеличивалось с потенциалом. К сожалению, эксперименты не проводились в области образования окисла, где другими исследователями [125, 126] были обнаружены наиболее удивительные эффекты. М етод прямого отражения, по-видимому, достаточно чувствителен и позволяет обнаружить существенные изменения в отражении, но форма (колоколооб- [c.451]

Прямые методы. Прямые методы состоят в определении молекулярной и кристаллической структуры непосредственно по интенсивностям дифрагированных лучей. В этих методах, которые не нуждаются ни в какой специальной информации о структуре, применяется прямая оценка фаз дифрагированных амплитуд. Математическая сложность прямых методов компенсируется стандартностью операций по определению кристаллической структуры. Открытие статистических соотношений, связываюших структурные амплитуды разных отражений, и быстрое использование их на практике, привело к развитию современных методов анализа кристаллических структур. [c.246]

Радиоактивные изотопы широко применяются в химическом анализе. С помощью радиоактивных реагентов проводится прямое определение радиоактивных изотопов методом осаждения, радиометрическое титрование, анализ методом изотоиного разбавления, кроме того, применение радиоактивных изотопов дает возможность использовать ряд физических методов анализа, основанных на поглощении, отражении радиоактивного излучения и возникновении втооичного излучения,а также проводить так называемый активационный анализ. [c.318]

Ультразвуковой контроль является единственным методом, позволяющим выявлять в тавровых и нахлесточ-ных соединениях внутренние трещины с раскрытием менее 0,2 мм и непровары в корне шва. Такие швы прозвучивают с помощью наклонных преобразователей отраженными и прямыми пучками лучей УЗК. [c.227]

Ионизационный или сцинтилляционный метод предусматривает использование специальных устройств-гониометров. Если при фотометоде все отраженные от образца лучи одновременно фиксируются фотопленкой, то при ионизационном методе установлен-пый на гониометре счетчик излучения непрерывно двигаясь по окружности, в центре которой установлен исследуемый образец последовательно фиксирует дифракционные максимумы, встречающиеся на пути его движения. Электрический сигнал от счетчика через специальные устройства подается па электронный самопишущий потенциометр. Отклонение пера потенциометра прямо пропорциопальпо мощности рентгеновского излучения, отраженного от образца. [c.117]

Одним из методов экспериментального определения акустических импедансов является метод стоячих волн (11 Указанный метод измерения заключается в определении сдвига фазы ме- жду отраженной и прямой волной по измеренным в интерферометре расположению минимума звукового давления и длины волны, а также модуля коэффициента отражения по измерен ным величинам звукового давления в максимуме и миниа ме стоячей волны. Этот метод прост в аппаратурном исполнении, не требует эталонных сопротивлений и эталонного источника, звука, обеспечивает высокую точность измерений. [c.144]

Вероятно, большее применение в этом случае смогут найти методы прямого определения размеров кристаллов по размерам отдельных отражений на рентгенограмме или диффракционной микрорентгенограмме - . [c.71]

Запись спектра пропускания образца на однолучевом спектрометре по методу прямого отклонения . Описанные выше усилительные системы в совокупности с инфракрасным монохроматором образуют спектрометр, который работает по методу прямого отклонения . Для получения спектра пропускания исследуемого образца Т =///о в функции К илп V производят две записи запись кривой распределения по спектру энергии излучения источника /о и запись I, производимую в прежних условиях, но с исследуемым образцом перед щелью спектрометра. Как было отмечено в 43, энергия, излучаемая в единичном спектральном интервале штифтом Нернста и силитовым стержнем, изменяется до ста раз при переходе от 1,5 до 25 р,. Для компенсации уменьшения энергии при переходе к длинноволновой области спектра обычно увеличивают поток энергии, поступающий на приемник, с помощью расширения щелей спектрометра. В некоторых приборах расширение щели производится автоматически по специальной программе, учитывающей как изменение распределения энергии источника по спектру, так и свойства оптической системы, дисперсию призм и потери энергии на поглощение и отражение в различных областях спектра. При работе на приборах, у которых отсутствует программное расширение щели, пропускание образца (кривые /о и I) записывают по участкам. [c.212]

Учет влияния стенок канала на движение частиц в методе отражений может быть проведен двумя способами. Первый способ заключается в наложении, диффузного поля возвратного течения жидкости на поле, индуцированное конечным числом частиц, осаждающихся в неограниченной среде. Второй способ предполагает модификацию изложенного выше метода с таким расчетом, чтобы учесть не только прямые взаимодействия всех частиц с пробной частицей, но и взаимодействия всех ча-стиЦ включая пробную, со стенками канала, используя процедуру отражений . И тот и другой способ дают одинаковые выражения для силы сопротивления, действующей на сферическую частицу, осаждающуюся в разбавленной суспе1ййм, т. е. при 1 [c.66]

В этом разделе описаны некоторые факторы, влияющие на из.неряе-мую интенсивность отраженных пучков, а также математическая процедура, используемая для расчета интенсивности любого отражения на основе данных о содержимом элементарной ячейки. Мы увидим, что измерение интенсивности само по себе не может дать достаточной информации для прямого расчета положения атомов, и поэтому должен использоваться итерационный метод, в котором сравниваются измеренные и рассчитанные интенсивности и применяемая атомная. модель улучшается до тех пор, пока не будет достигнуто адекватное соответствие двух наборов величин. [c.390]

Прямой метод описан в гл. 13 работы [3], и с ним необходимо познакомиться. Здесь же мы только укажем, что программа расчета прямых методов включает математическое соотношение, которое позволяет производить отнесение к сильным отражениям, основываясь на приближенных соотношениях между фазами групп отражений. Можно также оценить точность отнесения. Фазы можно приписать некоторым отражениям, а другие отражения получат фазы исходя из первоначального их набора. Если эту процедуру осуществить до того уровня, при котором фазы получают восемь или десять отражений одного независимого атома, то можно получить карту электронной плотности, показывающую содержимое ячейки. Как правило, процесс фазирования может требовать отнесения к некоторым точкам гипотетических значений, так что иногда находят до восьми возможных фазовых схем. Программа MULTAN 74 способна выбрать среди них наиболее вероятную. Она также включает алгоритм обработки данных, который учитывает предположительное число, тип и даже группировку атомов в элементарной ячейке (не их положения или ориентации, которые, естественно, неизвестны). Кроме того, MULTAN 74 облегчает поиск -карты для атомов в положении связывания, что приводит к согласованию предпола- [c.403]

При изложении своего метода проф. Белоконь исходит из предположения, что основным тенлоизлучающим источником являются топочные газы. Вследствие достаточно большой поглош,ающей способности дымовых газов при расчете прямой отдачи за температуру излучаюш его источника автор принил1ает температуру дымовых газов на перевале. Кроме того, им вводится понятие эквивалентной абсолютно черной поверхности, т. е. такой поверхности, излучение которой на радиантные трубы нри температуре дымовых газов на перевале равно всему прямому и отраженному излучению в топке. В этом методе все излучающие источники (факел, кладка, дымовые газы) с различной температурой заменены излучающей абсолютно черной поверхностью, температура которой равна температуре дымовых газов на перевале. [c.456]

Используют эхозеркальный метод (см. рис. В.З, б) и измеряют отношение максимальных амплитуд сигналов при прямом А и зеркальном В отражениях. В случае объемного дефекта (поры, шлаки) отношение А/В больше единицы. Плоскостные дефекты (трещины, непровары) с уг-, лом отклонения от вертикали не больше 20° имеют А/В меньше единицы. [c.197]

Основная схема контроля поковок — эхометодом, продольными волнами, прямым совмещенным преобразователем (ГОСТ 24507—80). Если имеется донная поверхность, параллельная поверхности ввода, применяют также зеркально-теневой метод. Он помогает обнаруживать рыхлоты и другие дефекты, дающие слабое отражение в обратном направлении. При этом, чтобы не увеличивать объем сканирования, отмечают как дефектные только те участки, в которых донный сигнал уменьщается до уровня фиксации эхометода, хотя чувствительность зеркально-теневого метода при этом довольно низкая. Для уменьщения мертвой зоны приповерхностный слой дополнительно контролируют РС-преобразователем, а объекты небольшой толщины (50 мм и менее) —только РС-преобразователем. [c.200]

При измерении углов отражения дифрактометрическим методом необходимо знать положение нуля счетчика, так как, в отличие от метода поликристалла с фотографической регистрацией, в дифрактометре регистрируется только одна половина дифракционного спектра. В хорошо отъюстированном дифрактометре плоскость образца совпадает с осью гониометрического устройства и с прямой линией, проходящей через центры коллимирующих щелей, формирующих первичный пучок, фокус трубки и центр приемной щели счетчика. Существует несколько методов калибровки дифрактометра по эталонам, по максимуму пучка, проходящего через узкую щель, установленную на оси гониометра, и т. д. [10]. Применение для калибровки эталонных веществ не обеспечивает наилучшей точности. В настоящее время широкое распространение получил метод калибровки, предложенный Турна-рп. Использование метода Турнари дает возмонгность определить положение нуля счетчика с точностью не хуже, чем 0,01°. [c.121]

Поэтому рентгеновские дифрактометры получили широкое распространение. Преимущество фотографического метода по сравнению с дифрактометрическим методом состоит в возможности получения пространственного распределения дифрагированного излучения это определяет специфику применения указанных методов. Если при фотографическом методе все отраженные от образца пучки излучения фиксируются фотопленкой, то при ионизационном методе установленный на гониометре счетчик излучения, иепрерыиио двигаясь по окружности, в центре которой установлен исследуемый образец, последовательно фиксирует дифракционные максимумы, встречающиеся на пути его движения. Электрический сигнал от счетчика через специальные устройства подается на электронный самопишущий потенциометр. Отклонение пера потенциометра прямо пропорционально мощности рентгеновского излучения, отраженного от образца. [c.117]

Современная неорганическая химия состоит из многих самостоятельных разделов, например химии комплексных соединений, химии неорганических полимеров, химии полупроводников, металлохимии, физико-химического анализа, химии редких металлов, радиохимии и т. п. Неорганическая химия давно перешагнула стадию описательной науки и в настоящее время переживает свое второе рождение в результате широкого привлечения квантовохимических методов, зонной модели энергетического спектра электронов, открытия валентнохимических соединений благородных газов, целенаправленного синтеза материалов с особыми физическими и химическими свойствами. На основе глубокого изучения зависимости между химическим строением и свойствами она успешно решает главную задачу создание новых неорганических веи еств с заданными свойствами. Неорганическая химия, как и любая естественная наука, руководствуется методологией диалектического материализма, следовательно, опирается на ленинскую теорию отражения От живого созерцания к абстрактному мышлению и от него к практике... . Живое созерцание осуществляется, как правило, при помощи эксперимента — наблюдения явлений в искусственно созданных условиях. Из экспериментальных методов важнейшим является метод химических реакций. Химические реакции — превращение одних веществ в другие путем изменения состава и химического строения. Во-первых, химические реакции дают возможность исследовать химические свойства вещества. Аналитическая химия использует химические реакции для установления качественного и количественного состава вещества. Кроме того, но химическим реакциям исследуемого вещества можно косвенно судить о его химическом строении. Прямые же методы установления химического строения в большинстве своем основаны на использовании физических явлений. Во-вторых, на основе химических реакций осуществляется неорганический синтез. За последнее время неорганический синтез достиг большого успеха, особенно в получении особочистых соединений в виде монокристаллов. Этому способствовало применение высоких температур и давлений, глубокого вакуума, внедрение бесконтейнерных способов синтеза и т. п. [c.7]

Здесь ff i обозначает порядок группы автоморфизмов нестянутого молекулярного графа -го изомера, а в знаменателе фигурной скобки стоит порядок группы автоморфизмов изолированного цикла. Сомножители 2, ге и [(/ 2) ]" отвечают соответственно зеркальному отражению цикла, его поворотам и перестановкам не образовавших циклических связей функциональных групп каждого из п звеньев цикла. Далее соотношение (1.21) приводит к перечислению упорядоченных деревьев заданного состава. После перенормировки перечислительной п, ф. (1.22) таких деревьев мы приходим к вероятностной п. ф. распределения молекул по числу в них циклов различного размера, которая может быть интерпретирована с точки зрения ветвящихся процессов [48, 49]. Само распределение впервые было найдено в работе [50] прямым комбинаторным вычислением чпсла способов сборки молекул с заданным вектором циклов. Такой метод, в отличие от только что описанного, более утомителен и труднее поддается обобщению на случай многокомпонентных систем. [c.172]

Второй, более распространенный подход к определению качества настройки-это включение радиочастотного зонда между выходом передатчика и датчиком (рис. 3.12). На выходе он дает сигнал, пропорциональный отраженной от датчика энергии, которая зависит от настройки контура н согласования сопротивлений. Обычно отраженный сигнал выводится на стрелочный измеритель, который может быть выполнен как встроенным в спектрометр, так и в виде отдельного блока (в ие очень дорогих спектрометрах). Это более прямой метод индикации согласова- [c.91]

Описанный метод, являясь самостоятельным, в то же время представляет собой вариант зонного электрофореза. Во всех модификациях последнего вдентификацию и количеств, определение в-в в зонах можно проводить как непосредственно на носителе, так и после элюирования. В обоих случаях используют методы радиоактивных ивдикаторов, фотометрию в прямом и отраженном свете, люминесцентный анализ. [c.438]

Использование сигнала отраженных электронов открывает некоторые интересные возможности улучшения пространственного разрешения. Подробное изучение [37] свойств отраженных электронов с целью улучшения пространственного разрешения позволило разработать эффективный метод, в котором используются электроны с малыми потерями энергии . Этот метод основан на наблюдении того факта, что чем дальше электрон проходит в образец от точки падения первичного пучка, тем больше будет у него потеря энергии. Отраженные электроны, которые испытали потерю лищь 1% своей начальной энергии, так называе.мые электроны с малой потерей энергии , могут пройти лишь несколько нанометров до их отражения от образца. Предполагается, что такие электроны с малой потерей энергии выходят из образца главным образом за счет акта однократного упругого рассеяния на большой угол. Для того чтобы сделать максимальной генерацию электронов с малыми потерями энергии и направить их траектории в малый телесный угол выхода, образец сильно наклоняют, в результате чего возникает угловое распределение с резким пиком в направлении прямого рассеяния. Детектор электронов помещается в направлении прямого рассеяния, для того чтобы сделать максимальным собираемую часть сигнала. Для отсечкн всех электронов с энергией ниже некоторого значения КЕа, где К обычно устанавливается равным 0,95—0,99, используется система с сеткой с регулируемым потенциалом. Высокоэнергетические электроны с энергией Е/ЕоЖ затем после сетки ускоряются высоким напряжением и регистрируются системой типа сцинтиллятор-фотоумножитель. На изображениях, получаемых с помощью этой детекторной системы в сочетании с электронной пушкой высокой яркости, обнаруживаются самые тонкие струк- [c.162]